JPH06204299A - 超小型電子ボンド形成方法および組立体 - Google Patents
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Abstract
する。 【構成】 金線12がアルミボンドパッド28へ接合さ
れる。ボンディング装置10は100KHzよりも高周
波数の超音波エネルギを与えて適切な接合を行うための
界面温度を著しく低下させるように設計されている。発
熱体19がキャピラリ16およびトランスジューサ18
を介して界面32へ熱エネルギーを加えるため、IC1
4およびリードフレーム15を介して界面32を加熱す
るヒーターブロック22からの熱エネルギーが少くな
り、リードフレーム15は従来よりも低温に維持され錫
やはんだ等の低融点材ではんだづけを行うことができ
る。実施例では、リードフレーム15は錫(融点185
℃)めっきされおよそ165℃に維持される。(ボンデ
ィング工程中に)界面32は発熱体19からの熱エネル
ギーによりおよそ180℃に維持され、キャピラリ16
は酸化ベリリウム製として適切な熱伝導率を得ている。
Description
配線に関し、特に加熱超音波トランスジューサを利用し
たICの接続配線に関する。
は代表的に250℃〜380℃である。この温度範囲に
よりリードフレームの製造に使用できるめっき材の種類
が制限される。錫やはんだ等の低融点材を使用すればめ
っき原料のコストを低減できるだけでなく集積回路工程
のフレキシビリティが非常に高くなる(すなわち、IC
のボンディングに250℃〜380℃の温度を使用する
必要がない場合)。
温度では銀、ニッケル、銅、合金42等の現在広く使用
されている材料以外の材料の使用は制限される。
の工程では、良好なボールボンドおよびステッチボンド
を行うのに必要な熱を与えるヒーターブロックにより集
積回路およびリードフレームを実質的に加熱することに
よりICの接続配線に必要な高温を得ている。したがっ
て、チップおよびリードフレームはヒーターブロック表
面上に搭載されるため、ICチップとリードフレームの
温度はICの接続配線ボンディングに必要な温度と本質
的に同じとなる。
ICチップを低温に維持してより経済的な材料を使用で
きるような工程が必要とされている。前記したように、
低温とすることによるもう一つの望ましい特徴は工程上
のフレキシビリティが高くなることである。
による方法および装置を使用すれば大方解決される。す
なわち、本発明によりチップおよびリードフレームが従
来技術よりも低温に維持される低温ボンディング工程が
提供される。リードフレーム上に搭載されたICはリー
ドフレームのめっき材(例えば、錫もしくははんだ)の
融点よりも低温で加熱され、加熱されて界面にさらに熱
エネルギーを与える超音波トランスジューサによりボン
ドサイトとワイヤ間の接合界面にさらに熱が加えられ
る。
それはヒーターブロック上に保持されておよそ165℃
に加熱され、加熱された超音波トランスジューサにより
さらに熱エネルギーが加えられておよそ180℃の接合
界面温度とされる。このようにして、リードフレームの
錫めっきは融点よりも低温に維持されしかも界面ではボ
ンディング工程のための高温が得られる。
Hzよりも高い)高周波超音波エネルギーを利用するの
は、それによりいかなるICパッドの金属化およびいか
なる種類のリードフレーム(合金42、錫もしくははん
だめっき、Pdめっき等)に対しても最適接合が行える
ためである。トランスジューサからさらに熱を加えるこ
とによりワイヤとリードフレームの接続配線を行う条件
が得られる。
方法が提供され、該方法は、(a)導電性ボンドサイト
を設け、(b)接合端を有するワイヤを設け、(c)ワ
イヤの接合端をボンドサイトへ接触させ、接合端および
ボンドサイト間に界面を作り、(d)熱伝導性超音波ト
ランスジューサを設け、(e)トランスジューサを加熱
して界面に熱エネルギーを加える、ステップからなって
いる。
グ装置10をブロック図で示し、ワイヤ12および超小
型集積回路14がリードフレーム15上に搭載されてい
る。本発明によるボンディング装置10は(好ましくは
およそ180℃の)低温超音波熱圧着工程を使用してボ
ールボンドおよびステッチボンドを生成する。装置10
にはボンディングツールすなわちキャピラリー16、ト
ランスジューサ18、発熱体19、高周波超音波エネル
ギー源20、ヒーターブロック22、圧力源24が含ま
れ、装置10の残部は参照番号26のボックスで示され
ている。
サス州、ダラス、のテキサスインスツルメンツ社製16
メガビットDRAM(ダイナミックランダムアクセスメ
モリ)とすることができる。IC14は実質的に製造等
級単結晶シリコン基板を含んでいるが、他の材料を使用
することもできる。例えば、限定するものではないが、
IC4の基板としてヒ化ガリウムやゲルマニウムを使用
することができる。スタティックランダムアクセスメモ
リ等の他種のメモリICも本発明の範囲に入る。事実、
論理ダイやパワーデバイス等のリニア半導体も本発明の
対象とすることができる。さらに、IC14は必ずしも
VLSIチップである必要はなくMSIやSSIチップ
とすることができ、個別もしくは混成部品とすることが
できる。
いる。実施例では、ボンドサイト28は実質的にアルミ
合金(2%銅)で出来ている。1%シリコン、0.5%
銅等の他のアルミ合金を使用することもでき、ボンドサ
イト28には他の金属や合金を単独もしくはアルミニウ
ムと一緒に使用することができる。
合金製とすることもでき、他の金属や合金製のワイヤも
使用できる。ワイヤ終端12にはボンド端30が含まれ
ボールとして図示されているが、リードフレーム15に
おいてステッチボンディングを行う場合にはそれはステ
ッチ部とされる。
機能し、公知のように、ボンディング工程中に界面32
へ超音波エネルギーおよび圧力を加える。キャピラリ1
6は従来のものであり、実施例では酸化ベリリウム製で
ある。
しくはホーン)18はおよそ10cm長であり終端34
に4個の圧電結晶32を含んでいる。ホーン18は本体
部36およびキャピラリ16が搭載されるツールクラン
プ点40を有するテーパー先端38を含んでいる。ホー
ン18は長さが修正されており、圧電結晶の数およびツ
ールクランプ点40の位置決めが従来のホーンに較べて
修正されている。トランスジューサ18はツールクラン
プ点40が高周波超音波エネルギーを与えるための最適
点となるように短縮されている。有効トランスジューサ
長に関する以下の検討については、関連出願TI−14
570および添付テキストを参照されたい。
有効長はおよそ8.00cm(3.15インチ)であ
り、およそ62.5KHzでUSエネルギーを伝達して
トランスジューサの有効長に沿って1.25波長を配置
するように設計されている。
7.57cm(2.98インチ)である。実施例では、
トランスジューサ18は114KHz H.F.USエ
ネルギーを伝達して有効長に沿って2.25波長を配置
するように設計されている。
長は62.5KHzトランスジューサの有効長に較べて
低減される。この比較では、およそ1.32mm(52
ミル)の低減となる。長さの低減は使用するH.F.U
Sおよびトランスジューサの設計によって特定され、こ
れらのパラメータはさまざまな応用に対して変化する。
ワトロー社製5W28Vユニットであり、図2に示すよ
うにトランスジューサ18に搭載される。また、発熱体
19はトランスジューサ18の外部に搭載することもで
きる。発熱体19は電線44を介して給電される。発熱
体19はトランスジューサ18を加熱しキャピラリ16
を介して界面の導電加熱を行う。
はおよそ100KHzよりも高い範囲の交流信号を圧電
結晶32へ与えるように設計されている。好ましくは、
周波数はおよそ114KHzとされる。超音波源20は
従来のように結晶32へ接続される。
ム15およびIC14を介して界面32へ熱エネルギー
が加えられる。
あれば、(図示せぬ)付加熱源を組み込んで界面32に
付加熱エネルギーを加えることができる。しかしなが
ら、装置10を200℃よりも低温で使用する場合に
は、このような熱源は通常不要である。圧力源24は従
来のものであり、キャピラリ16を介して界面32へ圧
力を加える(押潰し)。
残部として制御回路、機械的アーマチュア等が含まれ
る。実施例では、ボンディング装置10は本発明の改良
点の一部もしくは全部を盛り込んだAbacus II
ボンダーである。Abacus II ボンダーはテ
キサス州、ダラスのテキサスインスツルメンツ社製であ
る。
一般的に、ボンドサイト28を有するIC14がリード
フレーム15等に搭載され、次に公知のように、(ボー
ルボンディングを行う場合)ワイヤ12を加熱してボー
ル30が形成される。次に、ボンド端30をボンドサイ
ト28に接触させて溶着すなわち接合を行う界面32を
作り出す。
を利用する場合には、代表的にキャピラリ16が接合端
30をボンドサイト28に位置決め固定し、トランスジ
ューサ18が超音エネルギーを与え且つ圧力源24がキ
ャピラリ16を介して押潰力を加える間に界面32へ熱
が加えられる。公知のように、前記した全ボンディング
ステップが代表的にボンダー26内の制御回路により制
御される。本出願において、高周波超音波エネルギー
(H.F.US)とはおよそ100KHzよりも高い周
波数を意味する。さらに、発熱体19はキャピラリ16
およびトランスジューサ18を介して界面32へ熱エネ
ルギーを導電的に加える。導電性を強化した実施例にお
いて、キャピラリ16は実質的に酸化ベリリウム製であ
る。
ーブロック22および発熱体19により加熱される。超
音波エネルギー源20から送出される超音波エネルギー
のある量は界面32において熱エネルギーへ変換される
が、それは本発明のこの背景に対する検討の範囲外であ
る。もちろん、超音波エネルギー20により供給される
熱エネルギーは界面32へ送出される総熱エネルギーの
第3の熱力学エネルギー成分であるが、ここではこの成
分を無視してヒーターブロック22から発生されたもの
でない熱エネルギーは全て発熱体19から発生されたも
のと仮定する。
フレーム15、IC14およびボンドサイト28を介し
て熱伝導により界面32を間接的に加熱する。同様に、
発熱体19はトランスジューサ18に対する導電性によ
り界面32を加熱し、トランスジューサ18はキャピラ
リ16と熱伝導を行って界面32へ熱を送る。ヒーター
ブロック22は200℃よりも低温(例えば、165
℃)に維持される。したがって、発熱体19からは熱が
送られず、界面32はおよそ165℃のままとされる。
したがって、発熱体19から送出される熱エネルギーは
ボールボンディング工程中に界面32をおよそ180℃
に維持するように予め定められる。
(例えば、200℃)に維持されるため、IC14やリ
ードフレーム15の構造に他の低融点材を使用すること
ができる。例えば、リードフレーム15に錫もしくはは
んだめっきを施すことができる(融点はそれぞれ165
℃および185℃)。したがって、ヒーターブロック2
2を低温で使用することにより製造材料および工程条件
を選択する際のフレキシビリティが向上する。錫および
はんだのもう一つの利点はリードフレームのはんだづけ
に使用される他の材料に較べて比較的低廉であることで
ある。
そ100KHz以上)を使用すれば接合性が強化される
ため、およそ180℃近くのボンディング温度で金線1
2を有効にボンドサイト28へ接合することができる。
関連出願TI−14570およびTI−15067を参
照されたい。
に説明してきたが、本発明は単なる例にすぎずそれに限
定されるものではない。さらに、同業者ならば、本説明
を読めば実施例の詳細にさまざまな変更を加えたり、別
の実施例を考えることができるものと思われる。このよ
うな変更や別の実施例は全て特許請求の範囲に入るもの
とする。
る。 (1) 超小型電子ボンド形成方法において、該方法
は、(a)導電性ボンドサイトを設け、(b)接合端を
有するワイヤを設け、(c)ワイヤの接合端をボンドサ
イトへ接触させ、接合端とボンドサイト間に界面を作
り、(d)熱伝導性超音波トランスジューサを設け、
(e)トランスジューサを加熱して界面に熱エネルギー
を加える、ステップからなる超小型電子ボンド形成方
法。
ボンドサイトは集積回路と一体的に形成され、集積回路
に隣接してリードフレームが固着され、集積回路にも熱
エネルギーが加えられる、超小型電子ボンド形成方法。
リードフレームは導電材によりめっきされ、ワイヤおよ
び導電材はそれぞれの融点を有し、集積回路に加えられ
る熱量は集積回路の温度が導電材の融点よりも低く、し
かもトランスジューサを介して加えられる熱エネルギー
により界面温度がワイヤの融点よりも高くなるように予
め定められる、超小型電子ボンド形成方法。
ワイヤは相当量の純粋金属を含んでいる、超小型電子ボ
ンド形成方法。
ワイヤは相当量の合金を含んでいる、超小型電子ボンド
形成方法。
集積回路の温度はおよそ165℃である、超小型電子ボ
ンド形成方法。
界面温度はおよそ200℃よりも低い、超小型電子ボン
ド形成方法。
界面温度はおよそ180℃である、超小型電子ボンド形
成方法。
される超小型電子装置。
置において、導電材は相当量の錫を含む、超小型電子装
置。
置において、導電材は相当量のはんだを含む、超小型電
子装置。
ジューサと、(b)動作上トランスジューサに接続され
トランスジューサに充分な熱エネルギーを与えて加熱す
る発熱体、からなる組立体。
いて、トランスジューサはその上にツールクランプ点を
含み、ボンディングツールがツールクランプ点に固定さ
れる、組立体。
いて、ボンディングツールはキャピラリである、組立
体。
いて、キャピラリは相当量の酸化ベリリウムを含む、組
立体。
サイト28へ接合する装置10が提供される。実施例で
は、金線12がアルミボンドパッド28へ接合される。
装置10はおよそ100KHzよりも高い周波数の超音
波エネルギーを与えて適切なボンディングを行うのに必
要な界面温度を著しく低下させるように設計されてい
る。発熱体19がキャピラリ16およびトランスジュー
サ18を介して界面32へ熱エネルギーを加える。した
がって、本発明によればIC14およびリードフレーム
15を介して界面32を加熱しているヒーターブロック
22からの熱エネルギーは少くなる。このようにして、
リードフレーム15は従来よりも低温に維持される。リ
ードフレーム15は低温であるため、(例えば、錫やは
んだ等の)低融点材ではんだづけすることができる。実
施例では、リードフレーム15は実質的に錫(融点18
5℃)によりめっきされおよそ165℃に維持される。
(ボンディング工程中に)界面32は発熱体19からの
熱エネルギーによりおよそ180℃に維持される。実施
例では、キャピラリ16は酸化ベリリウム製として適切
な熱伝導率を得ている。
み入れられている。 TI−15067、出願日1991年9月30日、第0
7/767,740号 TI−15645、出願日1991年9月30日、第0
7/767,731号 TI−14570、出願日1991年9月30日、第0
7/768,501号
合するのに使用するボンディング装置の部分ブロック、
部分略図である。
ューサの断面図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 超小型電子ボンド形成方法において、該
方法は、(a)導電性ボンドサイトを儲け、(b)接合
端を有するワイヤを設け、(c)ワイヤの接合端をボン
ドサイトに接触させ、接合端とボンドサイト間に界面を
作り、(d)熱伝導性超音波トランスジューサを設け、
(e)トランスジューサを加熱して界面に熱エネルギー
を加える、ステップからなる超小型電子ボンド形成方
法。 - 【請求項2】 (a)熱伝導性超音波トランスジューサ
と、(b)動作上トランスジューサに接続されトランス
ジューサに充分な熱エネルギーを与えて加熱する発熱
体、からなる組立体。
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