JPH06112543A - 圧電体、強誘電体薄膜素子及びその製造方法 - Google Patents
圧電体、強誘電体薄膜素子及びその製造方法Info
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Abstract
結晶粒からなる第一強誘電体層と、緻密な構造の第二強
誘電体層とからなり、第二強誘電体層上に電極層が形成
されていることを特徴とする圧電体、強誘電体薄膜素
子。基板上に水熱法により大きな結晶粒からなる第一強
誘電体層を形成し、次にゾルゲル法により緻密な構造の
第二強誘電体層を形成することで製造できる。 【効果】 厚膜化が容易で信頼性が高く、高い圧電ひず
み定数を持つ圧電素子を歩留まりよく提供できた。容易
なプロセスで作製することができるため、低コストで微
細化も可能である。
Description
置等に圧電素子として用いられる圧電体、強誘電体薄膜
素子に関する。
す)に代表される圧電体、強誘電体薄膜は、スパッタ
法、ゾルゲル法、CVD法、水熱法等で形成することが
できる。膜厚を厚くするためには、成膜する堆積時間を
増加させたり、成膜を複数回繰り返すことにより対応し
ている。ペロブスカイト構造を得るために、通常500
〜700℃の酸素雰囲気中でアニールが行なわれてい
る。
り、スピンコートと焼成を繰り返すことで容易に薄膜を
得ることができる。また水熱法は、安価な原料から平均
結晶粒径数μmの薄膜が得られ、厚膜化も容易である。
強誘電体薄膜はフォトエッチング工程を用いたパターニ
ングが可能で、バルクのように切り出し、位置合わせ、
張り付け等をする必要がない。
体、強誘電体薄膜の水熱法以外の製造方法は、1μm以
上の厚い膜を製造するには適さず、非常に長時間を要し
たり、厚膜化できてもクラックが発生するなどの問題を
有していた。インクジェット記録装置等に圧電素子とし
て用いる場合、2μm〜20μm程度の膜厚が必要とな
る。水熱法は厚膜化が容易である上、結晶粒径が大き
く、優れた特性の圧電体、強誘電体薄膜素子を製造でき
る可能性がある。ところが、水熱法で得られた強誘電体
薄膜の表面は、結晶粒に起因する段差が大きく、その上
に断線なく電極を形成するのは困難であった。
るもので、その目的とするところは、厚膜化が容易で素
子信頼性が高く、高い圧電ひずみ定数と高いヤング率を
持つ圧電体、強誘電体薄膜素子及びその製造方法を提供
するところにある。
体薄膜素子は、基板上に形成される強誘電体薄膜が大き
な結晶粒からなる第一強誘電体層と、緻密な構造の第二
強誘電体層とからなり、第二強誘電体層上に電極層が形
成されていることを特徴とする。
製造方法は、基板上に水熱法により大きな結晶粒からな
る第一強誘電体層を形成し、次にゾルゲル法により緻密
な構造の第二強誘電体層を形成することを特徴とする。
されており(大門ら、日本セラミックス協会1991年
会予稿2C16)、数μmの立方体状PZT結晶粒子か
らなる、20μm程度の膜厚の強誘電体薄膜が得られて
いる。結晶粒子を1μm以上にする手法は他に例がな
く、水熱法の大きな特徴となっている。一方ゾルゲル法
を用いるとチタン、ジルコニウム、鉛のアルコキシドま
たはアセテートを酸で加水分解したゾルを塗布すること
により緻密な膜ができる。ペロブスカイト構造を得るた
めに、通常500〜700℃の酸素雰囲気中でアニール
が行なわれているが、表面は塗布時と同様透明な鏡面で
ある。
ルゲル法で形成するとエッジ部のショートがなく、乾式
法に比べレベリング特性に優れている。そのため、配線
段差のある素子の信頼性が、格段に改善される。同様
に、水熱法で得られた強誘電体膜厚の表面段差も、ゾル
ゲル法による強誘電体薄膜を積層することで、その上に
断線なく電極を形成することが可能となる。
ジルコニウム0.104モル、四塩化チタン0.096
モルを、1リットルの2規定水酸化カリウム水溶液に溶
かした。シリコン基板上に白金電極を形成し、用意した
混合液中に浸し、オートクレーブを用いて160℃で3
0時間加熱した。オートクレーブから基板を取り出し、
200℃で1時間乾燥させたところ、白金電極上に厚さ
10μmのPZT薄膜が形成できた。平均粒径5μmの
立方体状PZT結晶粒子で構成されていた。
リリットルの酢酸に溶かし、30分間還流した。室温に
もどし、ジルコニウムテトラブトキシド0.052モ
ル、チタンテトライソプロポキシド0.048モルを溶
解させ、1モルの水と少量のジエチレルグリコールを滴
下し、充分に攪拌して加水分解させた。2−メトキシエ
タノールで希釈した後、超音波照射により均質なゾルと
した。シリコン基板のPZT薄膜上に調整したゾルをス
ピンコートで塗布し、室温で1時間水平に静置した後、
600℃の酸素雰囲気中で15時間加熱した。約0.3
μmの膜厚で、クラックを生じることなく緻密なPZT
薄膜が積層できた。水熱法で作製した大きな結晶粒から
なる第一強誘電体層の凹部には厚く、凸部には薄くゾル
ゲル法で作製した緻密な構造の第二強誘電体層が形成さ
れたいた。
的に示す。11が水熱法で作製した大きな結晶粒からな
る第一強誘電体層である。12がゾルゲル法で作製した
緻密な構造の第二強誘電体層である。二層間の界面は観
察されず、表面には凹凸があるものの、滑らかでありク
ラックもなかった。
し、物性を測定したところ比誘電率1200、圧電ひず
み定数100pC/Nと優れた特性を示した。また、ヤ
ング率は5.8×1010N/m2 であった。PZT薄膜
を王水で溶かしICPで化学分析したところ、モル比は
(Pb:Zr:Ti)=(1:0.52:0.48)で
あり、原料仕込組成と同一であった。
の振動板上に前述の方法でPZT薄膜を形成した後、フ
ォトエッチングにより幅0.2mm、長さ4mmにパタ
ーニングした。電極を形成し圧電素子としてインクを吐
出させたところ、充分な吐出力が得られた。図2にこの
圧電体薄膜素子の概念を模式的に表す断面図を示す。4
8ノズル構成のインクジェット記録装置を作製して印字
すると、良好な印字品質が得られた。電極の断面は皆無
であり、製造安定性、特性の再現性も大変優れていた。
ンタン0.02モル、オキシ塩化ジルコニウム0.11
モル、四塩化チタン0.09モルを、1リットルの1.
5規定水酸化カリウム水溶液に溶かした。シリコン基板
上に白金電極を形成し、用意した混合液中に浸し、オー
トクレーブを用いて130℃で50時間加熱した。オー
トクレーブから基板を取り出し、200℃で1時間乾燥
させたところ、白金電極上に厚さ20μmのランタン添
加PZT(以下PLZTと記す)薄膜が形成できた。平
均粒径8μmの立方体状PLZT結晶粒子で構成されて
いた。
コニウム0.055モル、硝酸ランタン0.01モルを
水に溶かして混合溶液とし、6規定アンモニア水中に攪
拌しながら滴下し共沈水酸化物を得た。更にこの懸濁溶
液に四塩化チタン0.045モルを水に溶かして滴下
し、混合水酸化物を得た。濾過、洗浄後800℃に加熱
し、平均粒径0.2μmのPLZT微粒子を得た。
ランタン0.01モルを20ミリリットルの酢酸に溶か
し、30分間還流した。室温にもどし、ジルコニウムテ
トラブトキシド0.055モル、チタンテトライソプロ
ポキシド0.045モルを溶解させ、1モルの水と少量
のジエチレングリコールを滴下し、充分に攪拌して加水
分解させた。プロパノールで希釈した後、平均粒径0.
2μmのPLZT微粒子を添加し、超音波照射により均
質なゾルとした。
ゾルをスピンコートで塗布し、室温で1時間水平に静置
した後、400℃に加熱した。その上に再度同じゾルを
スピンコートで塗布し、室温で1時間水平に静置した
後、700℃の酸素雰囲気中で15時間加熱した。約
0.8μmの膜厚で、クラックを生じることなく、粒界
の無い緻密なPLZT薄膜が積層できた。二層間の界面
は観察されず、表面には凹凸があるものの、滑らかであ
った。
し、物性を測定したところ比誘電率1000、圧電ひず
み定数130pC/Nと優れた特性を示した。また、電
極の断線は皆無であった。ヤング率は5.5×1010N
/m2 であった。実施例1と同様にフォトエッチングに
より容易に素子化することができ、圧電体、強誘電体薄
膜素子としての特性も優れていた。
度条件を変えることにより、平均粒径の異なった強誘電
体結晶粒子からなる薄膜を形成できる。但し、平均粒径
の小さい薄膜の製造には高温が必要で、圧力の点から製
造が困難となる。膜厚は、時間で管理することができ
る。第一強誘電体層を各種条件で形成し、実施例1と同
様の方法で圧電体、強誘電体薄膜素子とした際の素子特
性、製造安定性を表1に示す。
には、強誘電体結晶粒子の大きさが、1μm以上10μ
m以下である必要がある。また、第二強誘電体層をスパ
ッタ法、ゾルゲル法、CVD法で形成した際の上電極の
信頼性を表2に示す。
り、レベリングされた緻密な構造の第二強誘電体層を形
成することで、上電極の断線不良は発生しないことがわ
かった。スパッタ法、CVD法で長時間製膜を続けて厚
くしても、ほとんど改善はみられなかった。
は強誘電体酸化物の組成比や原料の種類になんら限定さ
れるものでは無い。水熱法やゾルゲル法の製膜条件も種
々可能である。
電体薄膜素子は、断線不良が発生せず素子信頼性が高い
上、高い圧電ひずみ定数と高いヤング率を持つ圧電体、
強誘電体薄膜素子を提供できた。
の製造方法により、厚膜化が容易で、高特性の圧電素子
を歩留まりよく提供できた。容易なプロセスで作製する
ことができるため、低コストで微細化が求められる高性
能の圧電体、強誘電体薄膜素子として広く応用すること
ができる。
念を模式的に表す断面図である。
記録装置に用いる圧電体薄膜素子の概念を模式的に表す
断面図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 基板上に形成される強誘電体薄膜が、大
きな結晶粒からなる第一強誘電体層と、緻密な構造の第
二強誘電体層とからなり、第二強誘電体層上に電極層が
形成されていることを特徴とする圧電体、強誘電体薄膜
素子。 - 【請求項2】 前記強誘電体薄膜における大きな結晶粒
からなる第一強誘電体層の平均結晶粒径が、1μm以上
10μm以下であることを特徴とする請求項1記載の圧
電体、強誘電体薄膜素子。 - 【請求項3】 基板上に水熱法により大きな結晶粒から
なる第一強誘電体層を形成し、次にゾルゲル法により緻
密な構造の第二強誘電体層を形成することを特徴とする
圧電体、強誘電体薄膜素子の製造方法。
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---|---|---|---|
JP25839992A JP3254750B2 (ja) | 1992-09-28 | 1992-09-28 | 強誘電体薄膜素子、インクジェット記録装置および強誘電体薄膜素子の製造方法 |
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JPH06112543A true JPH06112543A (ja) | 1994-04-22 |
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JP25839992A Expired - Lifetime JP3254750B2 (ja) | 1992-09-28 | 1992-09-28 | 強誘電体薄膜素子、インクジェット記録装置および強誘電体薄膜素子の製造方法 |
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- 1992-09-28 JP JP25839992A patent/JP3254750B2/ja not_active Expired - Lifetime
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