JPH06109840A - 距離検出装置 - Google Patents
距離検出装置Info
- Publication number
- JPH06109840A JPH06109840A JP4254505A JP25450592A JPH06109840A JP H06109840 A JPH06109840 A JP H06109840A JP 4254505 A JP4254505 A JP 4254505A JP 25450592 A JP25450592 A JP 25450592A JP H06109840 A JPH06109840 A JP H06109840A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- distance
- light
- intensity
- peak
- reflected light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
(57)【要約】
【目的】 送出パルスと受光パルスの時間間隔から前方
物体までの距離を、受光光の強度の如何にかかわらず正
確に測定する。 【構成】 光ビームを送出し物体からの反射光を受光し
て、その反射光を受けるまでの時間に基づいて前記物体
までの距離を演算する距離検出装置において、前記反射
光の強度を検出し、検出された強度に応じて演算された
前記物体までの距離を補正することを特徴とする。
物体までの距離を、受光光の強度の如何にかかわらず正
確に測定する。 【構成】 光ビームを送出し物体からの反射光を受光し
て、その反射光を受けるまでの時間に基づいて前記物体
までの距離を演算する距離検出装置において、前記反射
光の強度を検出し、検出された強度に応じて演算された
前記物体までの距離を補正することを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】 本発明は、例えば、車両の前方
物体までの距離等を検出する距離検出装置に関する。
物体までの距離等を検出する距離検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、距離検出装置として、例えば
特開昭５９−６０２７１号のように、パルス光を前方に
送出して、その反射波を受けるまでの時間に基づいて前
方物体までの距離を求めることにより距離検出を行なう
のが一般的である。この場合、上記時間測定は、送出パ
ルスのピーク検出時刻から反射パルス光のピーク検出時
刻までの時間を測定するようにしている。
特開昭５９−６０２７１号のように、パルス光を前方に
送出して、その反射波を受けるまでの時間に基づいて前
方物体までの距離を求めることにより距離検出を行なう
のが一般的である。この場合、上記時間測定は、送出パ
ルスのピーク検出時刻から反射パルス光のピーク検出時
刻までの時間を測定するようにしている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実際の
車両においては、反射光はピークを検出するための理想
的な性質をもってはいないために、次のような問題点を
起こしていた。図１の１〜４の領域で示すように、光ビ
ームの強度は分布をもっており、光を反射する車両上の
リフレクタが図１のどの領域の光を反射するかによっ
て、反射光のパルス形状が変動する。
車両においては、反射光はピークを検出するための理想
的な性質をもってはいないために、次のような問題点を
起こしていた。図１の１〜４の領域で示すように、光ビ
ームの強度は分布をもっており、光を反射する車両上の
リフレクタが図１のどの領域の光を反射するかによっ
て、反射光のパルス形状が変動する。
【０００４】図２において、１０は送出光のパルス強度
の時間変化であり、１１、１２、１３は夫々、図１の
５、６、７の領域にリフレクタがあった場合における反
射光の強度変化を示す。図２の１１は、受光したパルス
光の強度が強すぎて光電変換信号に飽和が発生している
場合を示し、１３は逆に強度が弱すぎて光電変換信号の
レベルがかなり落ちていることを示す。
の時間変化であり、１１、１２、１３は夫々、図１の
５、６、７の領域にリフレクタがあった場合における反
射光の強度変化を示す。図２の１１は、受光したパルス
光の強度が強すぎて光電変換信号に飽和が発生している
場合を示し、１３は逆に強度が弱すぎて光電変換信号の
レベルがかなり落ちていることを示す。
【０００５】通常、前方物体までの距離検出は、前述し
たように送出パルスと受信パルスのピーク間の時間を検
出するが、このピークは図２に示すように、所定のスラ
イスレベルを信号レベルが越えたか否かにより判断され
る。図２の例では、スライスレベルは１４、１５として
示される。ここで、送出パルス１０の強度は一定である
ために、そのピーク時刻の測定に誤差は発生しない。と
ころが、前述したように、受信光の強度は、車両上のリ
フレクタがどの領域の光を反射したかによって異なるか
ら、図２に示すように、受光ビームの光電変換信号が１
１の場合と１３の場合とでは、２０〜３０ナノ秒の差が
発生し、これが測定距離で３〜４．５ｍの誤差となって
現われてしまう。
たように送出パルスと受信パルスのピーク間の時間を検
出するが、このピークは図２に示すように、所定のスラ
イスレベルを信号レベルが越えたか否かにより判断され
る。図２の例では、スライスレベルは１４、１５として
示される。ここで、送出パルス１０の強度は一定である
ために、そのピーク時刻の測定に誤差は発生しない。と
ころが、前述したように、受信光の強度は、車両上のリ
フレクタがどの領域の光を反射したかによって異なるか
ら、図２に示すように、受光ビームの光電変換信号が１
１の場合と１３の場合とでは、２０〜３０ナノ秒の差が
発生し、これが測定距離で３〜４．５ｍの誤差となって
現われてしまう。
【０００６】また、信号が飽和しないようにするために
は、光電変換器への入力を制御する必要があるものの、
その制御は機械系を制御する必要があるために、高速な
測定には向いていなかった。そこで、本発明は上記従来
技術の欠点を解消するために提案されたもので、その目
的は、受光パルスの強度の相違に起因した測定誤差を解
消した距離測定装置を提案することを目的とする。
は、光電変換器への入力を制御する必要があるものの、
その制御は機械系を制御する必要があるために、高速な
測定には向いていなかった。そこで、本発明は上記従来
技術の欠点を解消するために提案されたもので、その目
的は、受光パルスの強度の相違に起因した測定誤差を解
消した距離測定装置を提案することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を達成するため
の本発明は、光ビームを送出し物体からの反射光を受光
して、その反射光を受けるまでの時間に基づいて前記物
体までの距離を演算する演算手段を備えた距離検出装置
において、前記反射光の強度を検出する手段と、検出さ
れた強度に応じて、前記演算手段により演算された前記
物体までの距離を補正する補正手段とを具備することを
特徴とする。
の本発明は、光ビームを送出し物体からの反射光を受光
して、その反射光を受けるまでの時間に基づいて前記物
体までの距離を演算する演算手段を備えた距離検出装置
において、前記反射光の強度を検出する手段と、検出さ
れた強度に応じて、前記演算手段により演算された前記
物体までの距離を補正する補正手段とを具備することを
特徴とする。
【０００８】かかる構成によると、反射光を受ける時刻
は、その反射光の強度に応じて所定の相関関係があるの
で補正が可能である。上記課題を達成するための他の構
成になる本発明は、光ビームを送出し物体からの反射光
を受光して、その反射光を受けるまでの時間に基づいて
前記物体までの距離を演算する距離検出装置において、
送出される光ビームの強度を補正する強度補正手段と、
前記反射光の受光強度を検出する手段と、検出された反
射光の受光強度が所定値となるように、前記強度補正手
段を制御して送出光ビームの強度を補正する制御手段と
を具備することを特徴とする。
は、その反射光の強度に応じて所定の相関関係があるの
で補正が可能である。上記課題を達成するための他の構
成になる本発明は、光ビームを送出し物体からの反射光
を受光して、その反射光を受けるまでの時間に基づいて
前記物体までの距離を演算する距離検出装置において、
送出される光ビームの強度を補正する強度補正手段と、
前記反射光の受光強度を検出する手段と、検出された反
射光の受光強度が所定値となるように、前記強度補正手
段を制御して送出光ビームの強度を補正する制御手段と
を具備することを特徴とする。
【０００９】かかる構成によると、送出光の強度は受光
強度が適性になるまで補正される。上記課題を達成する
ための他の構成になる本発明は、光ビームを送出し物体
からの反射光を受光して、その反射光を受けるまでの時
間に基づいて前記物体までの距離を演算する距離検出装
置において、前記反射光の受光強度を電気信号に変換す
る変換手段と、前記変換手段の前に設けられ、この変換
手段に入光する光量を制御する光量制御手段とを具備す
ることを特徴とする。
強度が適性になるまで補正される。上記課題を達成する
ための他の構成になる本発明は、光ビームを送出し物体
からの反射光を受光して、その反射光を受けるまでの時
間に基づいて前記物体までの距離を演算する距離検出装
置において、前記反射光の受光強度を電気信号に変換す
る変換手段と、前記変換手段の前に設けられ、この変換
手段に入光する光量を制御する光量制御手段とを具備す
ることを特徴とする。
【００１０】反射光を電気信号に変換する変換手段に入
光する光量は、光量制御手段により制御されるので電気
信号は例えば飽和するとか、過度に低くなるなどの問題
がなくなる。
光する光量は、光量制御手段により制御されるので電気
信号は例えば飽和するとか、過度に低くなるなどの問題
がなくなる。
【００１１】
【実施例】以下、添付図面を参照しながら本発明の好適
な実施例を４つ挙げて説明する。 〈第１実施例〉図３は本発明の第１の実施例の距離測定
システムのブロック図である。同図において、レーザ１
０２から発射された光ビームパルスは光学系１０３を介
して前方物体（物標）１０４に照射される。いつの時点
で照射するかは、コンピュータ１００により制御され
る。即ち、コンピュータ１００は送信回路１０１に対し
て、送信指令を送ると、送信回路１０１はレーザ１０２
を励起する。送信回路１０１は、カウンタ１０５に対し
て、時間計測のスタート命令を送る。
な実施例を４つ挙げて説明する。 〈第１実施例〉図３は本発明の第１の実施例の距離測定
システムのブロック図である。同図において、レーザ１
０２から発射された光ビームパルスは光学系１０３を介
して前方物体（物標）１０４に照射される。いつの時点
で照射するかは、コンピュータ１００により制御され
る。即ち、コンピュータ１００は送信回路１０１に対し
て、送信指令を送ると、送信回路１０１はレーザ１０２
を励起する。送信回路１０１は、カウンタ１０５に対し
て、時間計測のスタート命令を送る。
【００１２】物体１０４に照射された光の反射波は受光
光学系１０７を介してフォトセンサ１０９などの光電変
換器により受光される。電気信号は対数圧縮増幅器１１
０により対数変換されて広レンジ化が行なわれる。この
広レンジ化によりダイナミックレンジが拡大し、以降の
段での信号の飽和が防止される。低レベルカッタ１１３
は低レベル信号を除去することによりノイズを除去す
る。どの程度のレベルをカットするかはタイミング制御
回路１０６により距離に応じて制御される。
光学系１０７を介してフォトセンサ１０９などの光電変
換器により受光される。電気信号は対数圧縮増幅器１１
０により対数変換されて広レンジ化が行なわれる。この
広レンジ化によりダイナミックレンジが拡大し、以降の
段での信号の飽和が防止される。低レベルカッタ１１３
は低レベル信号を除去することによりノイズを除去す
る。どの程度のレベルをカットするかはタイミング制御
回路１０６により距離に応じて制御される。
【００１３】低レベル成分をカットされた信号は微分回
路１１１に送られる。この微分回路１１１は信号を微分
することにより、図４の（ｂ）に示すようにピークを検
出する。検出されたピーク信号は、ヒステリシスコンパ
レータ１１２に送られ、ここで、十分に大きなピークだ
けが選別される。図５に、コンパレータ１１２のヒステ
リシス特性を示す。このようにしてピークが検出される
と、ストップ命令がカウンタ０５に出されて、これによ
り距離測定のための時間測定が終了する。
路１１１に送られる。この微分回路１１１は信号を微分
することにより、図４の（ｂ）に示すようにピークを検
出する。検出されたピーク信号は、ヒステリシスコンパ
レータ１１２に送られ、ここで、十分に大きなピークだ
けが選別される。図５に、コンパレータ１１２のヒステ
リシス特性を示す。このようにしてピークが検出される
と、ストップ命令がカウンタ０５に出されて、これによ
り距離測定のための時間測定が終了する。
【００１４】かくして、微分回路によるピーク検出を行
なったうえで、さらに、ヒステリシスコンパレータによ
り所定以上の大きさのピークのみをもつものだけが反射
光として認識されるので測定制度が向上する。 〈第２実施例〉この図６に示した第２実施例は、図３の
第１実施例に対して、さらに、サンプルホールド回路１
１４とＡ／Ｄ変換器１１５とを追加したものである。
なったうえで、さらに、ヒステリシスコンパレータによ
り所定以上の大きさのピークのみをもつものだけが反射
光として認識されるので測定制度が向上する。 〈第２実施例〉この図６に示した第２実施例は、図３の
第１実施例に対して、さらに、サンプルホールド回路１
１４とＡ／Ｄ変換器１１５とを追加したものである。
【００１５】図７にこの第２実施例の測定原理を示す。
第１実施例の手法によれば、微分回路１１１への入力信
号に既に飽和が発生していれば、図７のｔ1においてピ
ークがあると誤検出してしまう。しかしながら、実際の
ピークは図７の時刻のｔ2の筈である。この第２実施例
は、時刻ｔ1とｔ2の間の時間が、飽和信号のピークレベ
ルの大きさｐに関係している点に着目する。換言すれ
ば、前もって、この飽和レベルの大きさｐと遅れ時間
（＝ｔ1−ｔ2）との相関関係をコンピュータ１００が所
定のメモリに記憶している。
第１実施例の手法によれば、微分回路１１１への入力信
号に既に飽和が発生していれば、図７のｔ1においてピ
ークがあると誤検出してしまう。しかしながら、実際の
ピークは図７の時刻のｔ2の筈である。この第２実施例
は、時刻ｔ1とｔ2の間の時間が、飽和信号のピークレベ
ルの大きさｐに関係している点に着目する。換言すれ
ば、前もって、この飽和レベルの大きさｐと遅れ時間
（＝ｔ1−ｔ2）との相関関係をコンピュータ１００が所
定のメモリに記憶している。
【００１６】そこで、図６のシステムでは、第１実施例
のコンパレータ１１２が所定の大きさのピークを検出し
直ちにストップ命令をカウンタ１０５に送ると同時に、
サンプルホールド回路１１４にホールド命令を送り、入
力信号をＡ／Ｄ変換するために、サンプルホールドす
る。ホールドされた信号は変換器１１５によりＡ／Ｄ変
換され、図７に示したようなデジタルデータがコンピュ
ータ１００に送られる。コンピュータ１００は、このデ
ジタルデータに基づいて、ピークレベルｐとピーク時刻
ｔ1とから、時刻ｔ2を前記メモリから読みだす。この時
刻ｔ2により、コンピュータ１００はカウンタ１０５に
ストップ命令を出すべきタイミングをコンパレータ１１
２に知らせる。
のコンパレータ１１２が所定の大きさのピークを検出し
直ちにストップ命令をカウンタ１０５に送ると同時に、
サンプルホールド回路１１４にホールド命令を送り、入
力信号をＡ／Ｄ変換するために、サンプルホールドす
る。ホールドされた信号は変換器１１５によりＡ／Ｄ変
換され、図７に示したようなデジタルデータがコンピュ
ータ１００に送られる。コンピュータ１００は、このデ
ジタルデータに基づいて、ピークレベルｐとピーク時刻
ｔ1とから、時刻ｔ2を前記メモリから読みだす。この時
刻ｔ2により、コンピュータ１００はカウンタ１０５に
ストップ命令を出すべきタイミングをコンパレータ１１
２に知らせる。
【００１７】かくして、この第２実施例によれば、飽和
が発生していても、ピークレベルの大きさにより飽和レ
ベルを推定し、それにより、飽和信号に基づいて演算し
た時刻ｔ1を補正して正確な時刻ｔ2を求めることがで
き、距離測定精度を改良することができる。 〈第３実施例〉この第３実施例のシステムは、受信信号
のレベルが適性となるように、送出光の強度を制御する
点に特徴がある。そのために、第１実施例に比して、図
８のシステムは、受信信号のレベルをデジタル的に把握
できるように、サンプルホールド回路１１４とＡ／Ｄ変
換器１１５が付加されている。
が発生していても、ピークレベルの大きさにより飽和レ
ベルを推定し、それにより、飽和信号に基づいて演算し
た時刻ｔ1を補正して正確な時刻ｔ2を求めることがで
き、距離測定精度を改良することができる。 〈第３実施例〉この第３実施例のシステムは、受信信号
のレベルが適性となるように、送出光の強度を制御する
点に特徴がある。そのために、第１実施例に比して、図
８のシステムは、受信信号のレベルをデジタル的に把握
できるように、サンプルホールド回路１１４とＡ／Ｄ変
換器１１５が付加されている。
【００１８】即ち、図８において、コンピュータ１００
は、常時、サンプルホールド回路１１４とＡ／Ｄ変換器
１１５に対して受信信号の値をデジタル値に変換せしめ
て、そのレベルを監視する。もし、過度に低いレベルの
信号や過度に飽和した信号のレベルが検出されたなら
ば、コンピュータ１００は送信回路２０１を介して送出
光レベル制御信号をレーザ０２に送る。例えば、受信信
号レベルが低いときは、送出光強度を上げ、逆の場合は
下げるようにする。
は、常時、サンプルホールド回路１１４とＡ／Ｄ変換器
１１５に対して受信信号の値をデジタル値に変換せしめ
て、そのレベルを監視する。もし、過度に低いレベルの
信号や過度に飽和した信号のレベルが検出されたなら
ば、コンピュータ１００は送信回路２０１を介して送出
光レベル制御信号をレーザ０２に送る。例えば、受信信
号レベルが低いときは、送出光強度を上げ、逆の場合は
下げるようにする。
【００１９】これにより、送出光の強度は、受信信号が
飽和せず、また、過度に低くもならないように制御され
るので、正確な距離測定が可能となる。 〈第４実施例〉この第４実施例は受信信号が適性となる
ように、光電変換を行なう前段階において受光量の制御
を行なうものである。そのために、この第４実施例にか
かわるシステムは、図９に示すように、電気信号により
通過光量を制御できる電気光学変調器１０８を追加し
た。
飽和せず、また、過度に低くもならないように制御され
るので、正確な距離測定が可能となる。 〈第４実施例〉この第４実施例は受信信号が適性となる
ように、光電変換を行なう前段階において受光量の制御
を行なうものである。そのために、この第４実施例にか
かわるシステムは、図９に示すように、電気信号により
通過光量を制御できる電気光学変調器１０８を追加し
た。
【００２０】この変調器１０８は、光を透過する時間と
遮断する時間の比率（デユーティ率）を制御する。図１
０にデユーティ率の変化特性を示す。この変化特性は、
基本的には、時間ｔの４乗に比例して増加する特性を有
する。理論的には、受光量は物体までの距離の４乗に反
比例する。距離と時間は比例するから、上記特性はｔ 4
に比例するようにした。尚、レーザ１０２が励起される
時刻（ｔ0）におけるデユーティ率は、この時刻におけ
る光を透過する時間幅をゼロとするためにデユーティ率
がゼロとなるように初期設定する。
遮断する時間の比率（デユーティ率）を制御する。図１
０にデユーティ率の変化特性を示す。この変化特性は、
基本的には、時間ｔの４乗に比例して増加する特性を有
する。理論的には、受光量は物体までの距離の４乗に反
比例する。距離と時間は比例するから、上記特性はｔ 4
に比例するようにした。尚、レーザ１０２が励起される
時刻（ｔ0）におけるデユーティ率は、この時刻におけ
る光を透過する時間幅をゼロとするためにデユーティ率
がゼロとなるように初期設定する。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の距離検出
装置によれば、受けた反射光の強度の相違に影響される
ことなく、距離測定を正確に行なうことができる。
装置によれば、受けた反射光の強度の相違に影響される
ことなく、距離測定を正確に行なうことができる。
【図１】 実施例及び従来の装置に用いられている光ビ
ームの強度分布を示す図。
ームの強度分布を示す図。
【図２】 従来技術の欠点を説明する図。
【図３】 本発明の第１の実施例の構成を説明する図。
【図４】 第１実施例における微分回路の動作を説明す
る図。
る図。
【図５】 第１実施例におけるヒステリシスコンパレー
タの動作を説明する図。
タの動作を説明する図。
【図６】 本発明の第２の実施例の構成を説明する図。
【図７】 第２実施例の動作原理を説明する図。
【図８】 本発明の第３の実施例の構成を説明する図。
【図９】 本発明の第４の実施例の構成を説明する
図。。
図。。
【図１０】 第４実施例のデユーティ特性を説明する
図。
図。
Claims (4)
- 【請求項１】 光ビームを送出し物体からの反射光を受
光して、その反射光を受けるまでの時間に基づいて前記
物体までの距離を演算する演算手段を備えた距離検出装
置において、 前記反射光の強度を検出する手段と、 検出された強度に応じて、前記演算手段により演算され
た前記物体までの距離を補正する補正手段とを具備する
距離検出装置。 - 【請求項２】 光ビームを送出し物体からの反射光を受
光して、その反射光を受けるまでの時間に基づいて前記
物体までの距離を演算する距離検出装置において、 送出される光ビームの強度を補正する強度補正手段と、 前記反射光の受光強度を検出する手段と、 検出された反射光の受光強度が所定値となるように、前
記強度補正手段を制御して送出光ビームの強度を補正す
る制御手段とを具備する距離検出装置。 - 【請求項３】 光ビームを送出し物体からの反射光を受
光して、その反射光を受けるまでの時間に基づいて前記
物体までの距離を演算する距離検出装置において、 前記反射光の受光強度を電気信号に変換する変換手段
と、 前記変換手段の前に設けられ、この変換手段に入光する
光量を制御する光量制御手段とを具備する距離検出装
置。 - 【請求項４】 請求項１乃至４の距離検出装置におい
て、前期光ビームはパルス光であり、前記物体までの距
離は、送出光のパルスのピーク時刻から反射光のピーク
の受信時刻までの時間に基づいて演算されることを特徴
とする距離検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25450592A JP3151066B2 (ja) | 1992-09-24 | 1992-09-24 | 距離検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25450592A JP3151066B2 (ja) | 1992-09-24 | 1992-09-24 | 距離検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06109840A true JPH06109840A (ja) | 1994-04-22 |
| JP3151066B2 JP3151066B2 (ja) | 2001-04-03 |
Family
ID=17265991
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25450592A Expired - Fee Related JP3151066B2 (ja) | 1992-09-24 | 1992-09-24 | 距離検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3151066B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1015847A1 (en) * | 1996-08-22 | 2000-07-05 | Laser Technology, Inc. | Compact laser-based distance measuring apparatus |
| JP2000346941A (ja) * | 1999-06-08 | 2000-12-15 | Mitsubishi Electric Corp | 距離測定装置 |
| JP2008267920A (ja) * | 2007-04-18 | 2008-11-06 | Ihi Corp | レーザ測距装置およびレーザ測距方法 |
-
1992
- 1992-09-24 JP JP25450592A patent/JP3151066B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1015847A1 (en) * | 1996-08-22 | 2000-07-05 | Laser Technology, Inc. | Compact laser-based distance measuring apparatus |
| EP1015847A4 (en) * | 1996-08-22 | 2001-01-24 | Laser Technology Inc | LASER-BASED COMPACT DISTANCE MEASUREMENT APPARATUS |
| JP2000346941A (ja) * | 1999-06-08 | 2000-12-15 | Mitsubishi Electric Corp | 距離測定装置 |
| JP2008267920A (ja) * | 2007-04-18 | 2008-11-06 | Ihi Corp | レーザ測距装置およびレーザ測距方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3151066B2 (ja) | 2001-04-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2008267920A (ja) | レーザ測距装置およびレーザ測距方法 | |
| US5633706A (en) | Optical distance measurement apparatus and method | |
| JPH1123709A (ja) | 距離測定装置 | |
| JP2941593B2 (ja) | 距離測定装置 | |
| KR20180130381A (ko) | 라이다 시스템 | |
| JPH06242240A (ja) | 距離測定装置 | |
| JP3225682B2 (ja) | 距離測定装置 | |
| JP3249592B2 (ja) | 距離検出方法 | |
| JPH06109840A (ja) | 距離検出装置 | |
| EP1474868B1 (en) | Method and arrangement for performing triggering and timing of triggering | |
| JPH07128438A (ja) | レーダー測距装置の距離補正方法 | |
| US5204732A (en) | Optical distance measuring apparatus | |
| US6211505B1 (en) | Method and apparatus for checking shape | |
| JPH06249962A (ja) | 車両用レーダ装置 | |
| JPH05264719A (ja) | レーザレーダ装置 | |
| JP3249003B2 (ja) | 距離計測装置 | |
| JP2500733B2 (ja) | レ―ザ測距装置 | |
| JP2765291B2 (ja) | レーザレーダ装置 | |
| JPH09281237A (ja) | レーザ測距装置 | |
| JPH0769422B2 (ja) | パルスレーザ測距装置 | |
| JP2743038B2 (ja) | レーザー光による水中測距装置 | |
| JPH04307387A (ja) | 測距装置 | |
| JPH05134042A (ja) | 車載用測距装置および方法 | |
| JPH07198846A (ja) | 距離測定装置 | |
| JPH06160523A (ja) | 測距装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20001218 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |