JPH09281237A - レーザ測距装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 距離測定の精度低下の要因となる受光波形の
飽和状態を解消する。 【解決手段】 パルスレーザ光を目標物に向けて繰り返
し発射し、目標物からの反射レーザ光を受光して、目標
物までの距離を測定するレーザ測距装置であって、反射
レーザ光を集光する集光レンズ１と、集光レンズ１の光
軸上に配設され、反射レーザ光を受光する受光器２と、
受光器２を光軸方向に移動させるステージ３と、受光器
２から入力される受信信号に基づいて、反射レーザ光の
波形レベルを検出して制御信号ＣＴＬを出力する受信波
形モニタ回路５と、受信波形モニタ回路５の出力信号に
基づいて、ステージ３を駆動するステージドライブ回路
６とから構成されている。受信波形モニタ回路５は、受
光器２の受信波形が飽和状態にあることを検出したとき
は、ステージ３を駆動して、受光器２を、受信波形が飽
和状態を脱する方向に移動させる制御信号ＣＴＬを出力
する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、パルスレーザ光
を使用して、目的物までの距離測定を行うレーザ測距装
置に関する。

【０００２】

【従来の技術】パルスレーザ光を目標物に向けて発射
し、その反射光を受光して目標物までの距離を測定する
レーザ測距装置が、従来から使用されている。しかしな
がら、受光できるパルスレーザ光の光量は、目標物の反
射率、距離等に関係し、その変動範囲は１００ｄＢ以上
である。一方、パルスレーザ光を受ける受光器のダイナ
ミックレンジをこのように大きく採ることは困難であ
り、そこで各種の方法が提案されている。

【０００３】例えば、反射レーザ光をそのまま受光し
て、受信パルスの波形が飽和した場合は、飽和した程度
に応じた測定距離の誤差補正をして、測定精度の低下を
補う方法、装置が知られている。これによる補正処理
は、受信波形を使用して電気信号上で行っている。ま
た、別の方法として、例えば、特開平４−３６６７８５
号公報に記載されているように、パルスレベルを段階的
に変えた複数のパルスからなるレーザパルスを目標物に
向けて発射し、目標物からの反射光を受光して、この信
号を増幅した後、信号処理を行って、目標物までの距離
を測定する方法である。これは、レベルの異なる複数の
信号のうちから、目標判定のしきい値を越え、かつ、飽
和に達しない受信パルスを選んで、送信から受信パルス
のしきい値に達するまでの時間を以て、目標までの往復
時間とするものである。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前者の
従来技術では、電気回路のダイナミックレンジとの関係
から、補正できる範囲は６０ｄＢ程度に限られる。した
がって、このような補正処理だけでは、十分な補正範囲
をもつ補正が困難である。また、公報記載の従来方法で
は、各レベルの大きさは測定中に自由に変更できないた
め、目標物の反射係数、距離によっては、全てがしきい
値に達しなかったり、又は全てが飽和したり、あるい
は、低レベルのものはしきい値に達しないが、高レベル
のものが飽和したりするケースもあり、測定する目標物
の変化に対応して正しい測定が出来ないという問題があ
る。また、しきい値に達するまでの時間をレーザ光の往
復時間としているため、パルスの大きさにより誤差を伴
うという問題もある。このように、従来技術では、反射
パルスレーザ光をそのまま受光しているので、受光波の
信号が飽和してしまう、という問題があった。このた
め、受光波形のピーク位置が正確に判定できないため、
距離測定の精度が劣るという、欠点があった。

【０００５】この発明は、上述の事情に鑑みてなされた
もので、距離測定の精度低下をもたらす受光波形の飽和
状態を解消することのできるレーザ光距測装置を提供す
ることを目的としている。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１記載の発明は、パルスレーザ光を目標物に
向けて繰り返し発射し、該目標物からの反射光を受光し
て、該目標物までの距離を測定するレーザ測距装置であ
って、上記反射光を集光する集光光学系と、該集光光学
系の光軸上に配設され、上記反射光を受光する受光手段
と、該受光手段の受光量又は受信波形を監視すると共
に、該監視結果に基づいて、上記受光手段を上記光軸方
向に所定量移動させる制御を行う受光モニタ手段とを備
えてなることを特徴としている。

【０００７】また、請求項１記載の発明は、パルスレー
ザ光を目標物に向けて繰り返し発射し、該目標物からの
反射光を受光して、該目標物までの距離を測定するレー
ザ測距装置であって、上記反射光を集光する集光光学系
と、該集光光学系の光軸上に配設され、上記反射光を受
光する受光手段と、該受光手段の受光量又は受信波形を
監視すると共に、該監視結果に基づいて、上記受光手段
を上記光軸と直交する方向に所定量移動させる制御を行
う受光モニタ手段とを備えてなることを特徴としてい
る。

【０００８】また、請求項３記載の発明は、パルスレー
ザ光を目標物に向けて繰り返し発射し、該目標物からの
反射光を受光して、該目標物までの距離を測定するレー
ザ測距装置であって、上記反射光を集光する集光光学系
と、該集光光学系の光軸上に配設され、上記反射光を受
光する受光手段と、上記集光光学系と上記受光手段との
間に介挿され、該受光手段の受光面に入射する反射光量
を制限するピンホールを備えた光量制限板と、上記受光
手段の受光量又は受信波形を監視すると共に、該監視結
果に基づいて、上記光量制限板を上記光軸方向に所定量
移動させる制御を行う受光モニタ手段とを備えてなるこ
とを特徴としている。

【０００９】また、請求項４記載の発明は、パルスレー
ザ光を目標物に向けて繰り返し発射し、該目標物からの
反射光を受光して、該目標物までの距離を測定するレー
ザ測距装置であって、上記反射光を集光する集光光学系
と、該集光光学系の光軸上に配設され、上記反射光を受
光する受光手段と、上記集光光学系と上記受光手段との
間に介挿され、該受光手段の受光面に入射する反射光量
を制限するピンホールを備えた光量制限板と、上記受光
手段の受光量又は受信波形を監視すると共に、該監視結
果に基づいて、上記光量制限板を上記光軸と直交する方
向に所定量移動させる制御を行う受光モニタ手段とを備
えてなることを特徴としている。

【００１０】また、請求項５記載の発明は、請求項１，
２，３又は４記載のレーザ測距装置であって、上記受光
モニタ手段が、上記受光手段の受光量又は受信波形が飽
和状態にあるか否かを監視することを特徴としている。

【００１１】また、請求項６記載の発明は、請求項５記
載のレーザ測距装置であって、上記受光モニタ手段が、
上記受光手段の受光量又は受信波形が飽和状態にあるこ
とを検出したときは、上記受光手段又は光量制限板を、
上記受光量又は受信波形が飽和状態を脱する方向に移動
させる制御を行うことを特徴としている。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の実施の形態について説明する。説明は、実施例を用い
て具体的に行う。 ◇第１実施例 図１は、この発明の第１実施例であるレーザ測距装置の
受光部の電気的構成を示すブロック図である。この例の
レーザ測距装置の受光部は、同図に示すように、目標物
から戻ってくる反射パルスレーザ光ＲＥＦを集光する集
光レンズ１、集光された反射パルスレーザ光ＲＥＦを受
光する受光器２、及び受光器２を光軸方向Ｘに移動させ
るステージ３からなる受光光学系４と、受光器２から入
力される受信信号ＤＥＴに基づいて、反射パルスレーザ
光ＲＥＦの波形レベルを検出して制御信号ＣＴＬを出力
する受信波形モニタ回路５と、この受信波形モニタ回路
５の出力信号ＣＴＬに基づいて、ステージ３を駆動する
ステージドライブ回路６とから概略構成されている。

【００１３】上記構成において、図示せぬパルス送信部
から、数ｋＨｚで繰り返すパルスレーザ光を目標物に発
射すると、目標物からの反射パルスレーザ光ＲＥＦが、
受光光学系４の集光レンズ１に入射し、受光器２に集光
される。受光器２に入射した光量は、電気信号である受
信信号ＤＥＴに変換され、受信波形モニタ回路５に入力
される。受信波形モニタ回路５は、入力された受信信号
ＤＥＴに基づいて、受信信号レベルを検出し、検出され
たレベルに応じた制御信号ＣＴＬをステージドライブ回
路６に送出する。つまり、受信波形モニタ回路５は、検
出された受信信号レベルが、飽和（後述）しているか否
か、低くなり過ぎているか否かを絶えず監視し、飽和し
ている場合には、飽和しないレベルに落ちつかせる制御
信号ＣＴＬを出力する一方、低くなり過ぎている場合に
は、適度なレベルに落ちつかせる制御信号ＣＴＬを出力
する。ステージドライブ回路６は、入力される制御信号
ＣＴＬに基づいて、駆動信号ＤＲＶをステージ３に与
え、ステージ３を駆動することで、受光器２の位置は受
光光軸上で移動し、入射する光量を増減する。そして、
受光器２には、常に、ダイナミックレンジの範囲内の反
射光量が入射するようにする。

【００１４】次に、図２を参照して、この例の受光部に
採用される光量調整の原理について説明する。受光光学
系４内の集光レンズ１で集光される反射パルスレーザ光
ＲＥＦが、焦点位置Ｆｏで受光器２に入射した場合、す
なわち、受光器２の受光面位置が焦点位置Ｆｏに配置さ
れている場合は、目標物からの反射パルスレーザ光ＲＥ
Ｆは、焦点位置Ｆｏでは、同図に示すように、近似的に
スポットＳｐになり、受光器２の受光面積Ｓｄより小さ
いので、集光された反射パルスレーザ光ＲＥＦは、略１
００％受光器２に入射する。次に、受光器２を集光レン
ズ１に近づける方向に移動させると、つまり、ディフォ
ーカスすると、今度は、反射パルスレーザ光ＲＥＦの集
光面積Ｓｒが、受光器２の受光面積Ｓｄより大きくな
る。したがって、この場合は、反射パルスレーザ光ＲＥ
Ｆの集光面積Ｓｒと受光器２の受光面積Ｓｄの面積比に
応じた光量しか、受光器２に入射しないことになる。そ
れゆえ、受光器２をディフォーカスすることで、受光器
２に入射する光量を調整することができる。

【００１５】図３は、受光器２から出力される受信信号
ＤＥＴの波形を示している。受光器２により検出された
受信波形は、受光器２のダイナミックレンジを越える反
射光量が入射した場合（同図に破線で示す波形）は、受
信信号ＤＥＴは、飽和レベルＳＬを越えるため、飽和波
形ＳＷ（同図に実線で示す波形）となり、本来レーザ光
が持つパルス波形のようなピーク位置を持たなくなる。
したがって、反射パルスレーザ光ＲＥＦをそのまま受光
すると、レーザ測距装置に必要な情報である受信波形の
検出位置（ピーク位置）ＰＫを検出することができない
ということになる。しかし、上述の光量調整方法によっ
て、受信信号ＤＥＴに応じて受光器２の位置を光軸方向
Ｘ（集光レンズ１に近づく方向に）に動かすようにすれ
ば、受光器２に入射する光量を、ダイナミックレンジの
範囲内で調整することができる。これによって、受信信
号は飽和することなく、同図に示すように、飽和しない
パルス波形ＰＷを得ることができる。逆に、微弱波形が
検出される場合には、受光器２の位置を焦点位置Ｆｏの
方向に動かすようにすれば良い。

【００１６】このように、この例の構成によれば、受光
器２に入射する目標物からの反射光量を受信波形（飽和
波形ＳＷか、ピークを持つパルス波形ＰＷか、微弱波形
か）に応じて調整することができるため、近距離の目標
物、あるいは高反射率の目標物から、多量の反射パルス
レーザ光が入射し、集光する場合でも、受光器２のダイ
ナミックレンジ内で受信波形を取り出すことができる。
それゆえ、受光器２のダイナミックレンジ内で受信でき
る光量の範囲を増加できる。

【００１７】また、受光器２に入射する光量を受光器２
のダイナミックレンジの範囲内に制御しているため、受
信波形を飽和させることなく、レーザ光の持つパルス波
形を検出することができる。したがって、検出したパル
ス波形を利用して時間測定を高精度に行うことができ
る。さらに、受信波形は、常に飽和しない状態で検出で
きるため、飽和した受信波形に応じた補正処理、あるい
は、複数レベルのレーザパルスを発生する回路及びその
後の処理回路が不要となる。したがって、装置構成が簡
易となる。

【００１８】◇第２実施例 この例のレーザ測距装置の受光部は、同図に示すよう
に、目標物から戻ってくる反射パルスレーザ光ＲＥＦを
集光する集光レンズ７、集光されたパルスレーザ光ＲＥ
Ｆを受光する受光器８、集光レンズ７と受光器８との間
に介挿され、集光レンズ７を通過して受光器８に入射す
る反射パルスレーザ光ＲＥＦの受光量を制限するための
ピンホール９ａを備えた光量制限板９及びこの光量制限
板９を光軸方向Ｘに移動させるステージ１０からなる受
光光学系１１と、受光器８から入力される受信信号ＤＥ
Ｔに基づいて、反射パルスレーザ光ＲＥＦの波形レベル
を検出して制御信号ＣＴＬを出力する受信波形モニタ回
路１２と、この受信波形モニタ回路１２の出力信号ＣＴ
Ｌに基づいて、ステージ１０を駆動するステージドライ
ブ回路１３とから概略構成されている。

【００１９】上記構成において、図示せぬパルス送信部
から、数ｋＨｚで繰り返すパルスレーザ光を目標物に発
射すると、目標物からの反射パルスレーザ光ＲＥＦが、
受光光学系１１の集光レンズ７に入射し、受光器８に集
光される。このとき、ピンホール９ａによって、受光器
８に入射する光量が調整される。ここで、ピンホール９
ａは、受光器８の受光面積Ｓｄと略同等の開口径を持
ち、このピンホール９ａを備える光量制限板９は、ステ
ージ１０に取り付けられて受光光学系１１内を受光光軸
上で光軸と平行に移動する。すなわち、受光器８に入射
した光量は、電気信号である受信信号ＤＥＴに変換さ
れ、受信波形モニタ回路１２に入力される。受信波形モ
ニタ回路１２は、入力された受信信号ＤＥＴに基づい
て、受信信号レベルを検出し、検出されたレベルに応じ
た制御信号ＣＴＬをステージドライブ回路１３に送出す
る。ステージドライブ回路１３は、入力される制御信号
ＣＴＬに基づいて、駆動信号ＤＲＶをステージ１０に与
え、ステージ１０を駆動することで、ピンホール９ａの
位置を移動させる。

【００２０】それゆえ、この第２実施例の構成によれ
ば、ピンホール９ａの開口面積Ｓａとピンホール９ａが
移動した位置での反射パルスレーザ光ＲＥＦの集光面積
Ｓｂとの比（Ｓａ／Ｓｂ）に応じて、受光器８に入射す
る光量を調整できる。例えば、受光光学系１１の集光レ
ンズ７の有効径が５０ｍｍ、受光器８の有効径（又はピ
ンホール９ａの有効径）が０．５ｍｍの場合、光量の増
減は面積比（Ｓａ／Ｓｂ＝１／１０⁴）に比例するた
め、受光光量の調整を８０ｄＢの範囲で行うことができ
る。これは、受光器８のダイナミックレンジを８０ｄｂ
に増加させたことに相当する。

【００２１】◇第３実施例 図５は、この発明の第３実施例であるレーザ測距装置の
受光部の電気的構成を示すブロック図である。この例の
レーザ測距装置の受光部は、同図に示すように、目標物
から戻ってくる反射パルスレーザ光ＲＥＦを集光する集
光レンズ１４、集光されたパルスレーザ光ＲＥＦを受光
する受光器１５、集光レンズ１４と受光器１５との間に
介挿され、集光レンズ１４を通過して受光器１５に入射
する反射パルスレーザ光ＲＥＦの光量を制限するピンホ
ール１６ａを備えた光量制限板１６及びこの光量制限板
１６を光軸方向Ｘと直交する方向Ｙに移動させるアクチ
ュエータ１７からなる受光光学系１８と、受光器１５か
ら入力される受信信号ＤＥＴに基づいて反射パルスレー
ザ光ＲＥＦの波形レベルを検出して制御信号ＣＴＬを出
力する受信波形モニタ回路１９と、この受信波形モニタ
回路１９の出力信号ＣＴＬに基づいて、アクチュエータ
１７を駆動するアクチュエータドライブ回路２０とから
概略構成されている。

【００２２】上記構成において、図示せぬパルス送信部
から、数ｋＨｚで繰り返すパルスレーザ光を目標物に発
射すると、目標物からの反射パルスレーザ光ＲＥＦが、
受光光学系１８の集光レンズ１４に入射し、受光器１５
に集光される。このとき、ピンホール１６ａによって、
受光器１５に入射する光量が調整される。このピンホー
ル１６ａを備える光量制限板１６は、アクチュエータ１
７に取り付けられて、受光光学系１８内を光軸方向Ｘと
直交する方向Ｙに移動する。すなわち、受光器１５に入
射した光量は、電気信号である受信信号ＤＥＴに変換さ
れ、受信波形モニタ回路１９に入力される。受信波形モ
ニタ回路１９は、入力された受信信号ＤＥＴに基づい
て、受信信号レベルを検出し、検出されたレベルに応じ
た制御信号ＣＴＬをアクチュエータドライブ回路２０に
送出する。アクチュエータドライブ回路２０は、入力さ
れる制御信号ＣＴＬに基づいて、駆動信号ＡＤＲＶをア
クチュエータ１７に与え、アクチュエータ１７を駆動す
ることで、ピンホール１６ａの位置を光軸方向Ｘと直交
する方向Ｙに移動させる。

【００２３】次に、図６を参照して、この例の受光部に
採用される光量調整の原理について説明する。同図
（ｂ）に示すように、ピンホール１６ａの開口面積Ｓｈ
と、ピンホール１６ａが配置された位置での反射パルス
レーザ光ＲＥＦの集光面積Ｓｒとの重なりの比率によっ
て通過する光量を調整できる。すなわち、同図（ａ）に
示すように、ピンホール１６ａ内に集光面積Ｓｒがある
場合は、反射パルスレーザ光ＲＥＦは１００％通過す
る。また、アクチュエータ１７によってピンホール１６
ａの位置を、同図（ｂ）に示すように、光軸に対して直
角方向Ｙに移動させた場合は、ピンホール１６ａの開口
面積Ｓｈと、反射パルスレーザ光ＲＥＦの集光面積Ｓｒ
の重なっている部分のみ反射パルスレーザ光ＲＥＦが、
通過することになる。それゆえ、この第３実施例の構成
によっても、第１実施例及び第２実施例において述べた
と略同様の効果を得ることができる。

【００２４】以上、この発明の実施例を図面により詳述
してきたが、具体的な構成はこの実施例に限られるもの
ではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変
更等があってもこの発明に含まれる。例えば、ピンホー
ル９ａ，１６ａの形状は、真円に限定されない。また、
受信波形モニタ回路５，１２，１９は、ハードウェア構
成に限らず、ソフトウェア構成でも良く、ハードウェア
とソフトウェアとの混成でも良い。また、上述の第１実
施例においては、受信波形モニタ回路５の監視結果に基
づいて、受光器２を光軸方向Ｘに所定量移動させる制御
を行うようにした場合について述べたが、これに限ら
ず、例えば、受光器２を光軸と直交する方向Ｙに移動さ
せるようにしても良い。

【００２５】

【発明の効果】以上説明したように、この発明の構成に
よれば、受光手段に入射する目標物からの反射光量を受
光量又は受信波形（飽和波形か、ピークを持つパルス波
形か、微弱波形か）に応じて調整することができるた
め、近距離の目標物、あるいは高反射率の目標物から、
多量の反射光が入射し、集光する場合でも、受光手段の
ダイナミックレンジ内で受信波形を取り出すことができ
る。それゆえ、受光手段のダイナミックレンジ内で受信
できる光量の範囲を増加できる。

【００２６】また、常に、ピークを持つパルス波形を検
出できるので、検出したパルス波形を利用して時間測定
を高精度に行うことができる。さらに、受信波形は、常
に飽和しない状態で検出できるため、飽和した受信波形
に応じた補正処理、あるいは、複数レベルのレーザパル
スを発生する回路及びその後の処理回路が不要となる。
したがって、装置構成が簡易となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の第１実施例であるレーザ測距装置の
受光部の電気的構成を示すブロック図である。

【図２】同実施例の動作を説明するための図、具体的に
は、同装置に採用される光量調整の原理を説明するため
の図である。

【図３】同実施例の動作を説明するための図、具体的に
は、同装置の受光器から出力される受信波形を示す波形
図である。

【図４】この発明の第２実施例であるレーザ測距装置の
受光部の電気的構成を示すブロック図である。

【図５】この発明の第３実施例であるレーザ測距装置の
受光部の電気的構成を示すブロック図である。

【図６】同実施例の動作を説明するための図、具体的に
は、同装置に採用される光量調整の原理を説明するため
の図である。

【符号の説明】

１，７，１４ 集光レンズ ２，８，１５ 受光器（受光手段） ３，１０ ステージ ４，１１，１８ 受光光学系 ５，１２，１９ 受信波形モニタ回路 ６，１３，２０ ステージドライブ回路 ９，１６ 光量制限板 ９ａ，１６ａ ピンホール １７ アクチュエータ ２０ アクチュエータドライブ回路 ＲＥＦ 反射光（パルスレーザ光） ＤＥＴ 受信信号 ＣＴＬ 制御信号 ＤＲＶ 駆動信号 Ｆｏ 焦点位置 Ｓｒ 反射光の集光面積 Ｓｄ 受光器の受光面積 ＳＬ 飽和レベル ＰＫ 受信波形の検出位置（ピーク位置） ＳＷ 受信波形の飽和波形 ＰＷ 受信波形のパルス波形

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 パルスレーザ光を目標物に向けて繰り返
   し発射し、該目標物からの反射光を受光して、該目標物
   までの距離を測定するレーザ測距装置において、前記反
   射光を集光する集光光学系と、該集光光学系の光軸上に
   配設され、前記反射光を受光する受光手段と、該受光手
   段の受光量又は受信波形を監視すると共に、該監視結果
   に基づいて、前記受光手段を前記光軸方向に所定量移動
   させる制御を行う受光モニタ手段とを備えてなることを
   特徴とするレーザ測距装置。
2. 【請求項２】 パルスレーザ光を目標物に向けて繰り返
   し発射し、該目標物からの反射光を受光して、該目標物
   までの距離を測定するレーザ測距装置において、前記反
   射光を集光する集光光学系と、該集光光学系の光軸上に
   配設され、前記反射光を受光する受光手段と、該受光手
   段の受光量又は受信波形を監視すると共に、該監視結果
   に基づいて、前記受光手段を前記光軸と直交する方向に
   所定量移動させる制御を行う受光モニタ手段とを備えて
   なることを特徴とするレーザ測距装置。
3. 【請求項３】 パルスレーザ光を目標物に向けて繰り返
   し発射し、該目標物からの反射光を受光して、該目標物
   までの距離を測定するレーザ測距装置において、前記反
   射光を集光する集光光学系と、該集光光学系の光軸上に
   配設され、前記反射光を受光する受光手段と、前記集光
   光学系と前記受光手段との間に介挿され、該受光手段の
   受光面に入射する反射光量を制限するピンホールを備え
   た光量制限板と、前記受光手段の受光量又は受信波形を
   監視すると共に、該監視結果に基づいて、前記光量制限
   板を前記光軸方向に所定量移動させる制御を行う受光モ
   ニタ手段とを備えてなることを特徴とするレーザ測距装
   置。
4. 【請求項４】 パルスレーザ光を目標物に向けて繰り返
   し発射し、該目標物からの反射光を受光して、該目標物
   までの距離を測定するレーザ測距装置において、前記反
   射光を集光する集光光学系と、該集光光学系の光軸上に
   配設され、前記反射光を受光する受光手段と、前記集光
   光学系と前記受光手段との間に介挿され、該受光手段の
   受光面に入射する反射光量を制限するピンホールを備え
   た光量制限板と、前記受光手段の受光量又は受信波形を
   監視すると共に、該監視結果に基づいて、前記光量制限
   板を前記光軸と直交する方向に所定量移動させる制御を
   行う受光モニタ手段とを備えてなることを特徴とするレ
   ーザ測距装置。
5. 【請求項５】 前記受光モニタ手段は、前記受光手段の
   受光量又は受信波形が飽和状態にあるか否かを監視する
   ことを特徴とする請求項１，２，３又は４記載のレーザ
   測距装置。
6. 【請求項６】 前記受光モニタ手段は、前記受光手段の
   受光量又は受信波形が飽和状態にあることを検出したと
   きは、前記受光手段又は光量制限板を、前記受光量又は
   受信波形が飽和状態を脱する方向に移動させる制御を行
   うことを特徴とする請求項５記載のレーザ測距装置。