JPH06102287A - 微小電気信号測定用プローブ - Google Patents
微小電気信号測定用プローブInfo
- Publication number
- JPH06102287A JPH06102287A JP25245792A JP25245792A JPH06102287A JP H06102287 A JPH06102287 A JP H06102287A JP 25245792 A JP25245792 A JP 25245792A JP 25245792 A JP25245792 A JP 25245792A JP H06102287 A JPH06102287 A JP H06102287A
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- JP
- Japan
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- contact
- measured
- contactor
- common potential
- electric signal
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 共通電位用接触子と被測定電気信号用接触子
とが被測定回路の測定対象端子と安定に接触して、微小
電気信号を確実に測定する。 【構成】 共通電位用接触子２ａ、２ｂ、２ｃに弾力性
のある部材を用いその先端部を内側に折り曲げたＬ字状
にする。又は、先端部の直径を大きくし、又は先端部の
表面を粗くやすりのように加工する。この先端部の形状
により被測定回路の信号端子、接地端子への接触性が向
上し、信号測定中の非接触を阻止して微小電気信号を確
実に検出する。
とが被測定回路の測定対象端子と安定に接触して、微小
電気信号を確実に測定する。 【構成】 共通電位用接触子２ａ、２ｂ、２ｃに弾力性
のある部材を用いその先端部を内側に折り曲げたＬ字状
にする。又は、先端部の直径を大きくし、又は先端部の
表面を粗くやすりのように加工する。この先端部の形状
により被測定回路の信号端子、接地端子への接触性が向
上し、信号測定中の非接触を阻止して微小電気信号を確
実に検出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はオシロスコープなどに使
用し、被測定回路の入出力微小電気信号を測定するため
の微小電気信号測定用プローブに関する。
用し、被測定回路の入出力微小電気信号を測定するため
の微小電気信号測定用プローブに関する。
【０００２】
【従来の技術】図４の（ａ）および（ｂ）はそれぞれ従
来の微小電気信号測定用プローブの先端部分の構成例１
および構成例２を示している。図４（ａ）において、１
１は先端が針状の形状を持つ被測定電気信号用接触子、
１２は被測定電気信号用接触子１１と同様の形状の共通
電位用接触子であり、絶縁支持部１４内で測定器からの
同軸ケーブル１３の中心導体に被測定電気信号用接触子
１１が接続され、また、外部導体に共通電位用接触子１
２が接続されている。
来の微小電気信号測定用プローブの先端部分の構成例１
および構成例２を示している。図４（ａ）において、１
１は先端が針状の形状を持つ被測定電気信号用接触子、
１２は被測定電気信号用接触子１１と同様の形状の共通
電位用接触子であり、絶縁支持部１４内で測定器からの
同軸ケーブル１３の中心導体に被測定電気信号用接触子
１１が接続され、また、外部導体に共通電位用接触子１
２が接続されている。
【０００３】図４（ｂ）において、２１は先端が針状の
形状の被測定電気信号用接触子、２２は弾力性を持った
棒状部材を用いた共通電位用接触子であり、絶縁支持部
２４内で測定器からの同軸ケーブル２３の中心導体に被
測定電気信号用接触子２１が接続され、また、外部導体
に共通電位用接触子２２が接続されている。
形状の被測定電気信号用接触子、２２は弾力性を持った
棒状部材を用いた共通電位用接触子であり、絶縁支持部
２４内で測定器からの同軸ケーブル２３の中心導体に被
測定電気信号用接触子２１が接続され、また、外部導体
に共通電位用接触子２２が接続されている。
【０００４】次に、この従来例の構成における動作につ
いて説明する。共通電位用接触子１２を被測定回路の接
地端子に接触させ、また、被測定電気信号用接触子１１
を測定する対象の信号端子に接触させることにより微小
な電気信号の測定を行う。被測定回路の信号端子と接地
端子の間隔がプローブの接触子の間隔と異なる場合、図
４（ｂ）に示すように共通電位用接触子２２の弾性たわ
みにより被測定回路の接地端子、信号端子間に適合させ
ることができる。
いて説明する。共通電位用接触子１２を被測定回路の接
地端子に接触させ、また、被測定電気信号用接触子１１
を測定する対象の信号端子に接触させることにより微小
な電気信号の測定を行う。被測定回路の信号端子と接地
端子の間隔がプローブの接触子の間隔と異なる場合、図
４（ｂ）に示すように共通電位用接触子２２の弾性たわ
みにより被測定回路の接地端子、信号端子間に適合させ
ることができる。
【０００５】このように、上記従来の微小電気信号測定
用プローブでも微小電気信号を測定することができる。
用プローブでも微小電気信号を測定することができる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の図４（ａ）に示す微小電気信号測定用プローブでは
被測定電気信号用接触子１１と共通電位用接触子１２と
の間が固定であるため、図５に示すように微小電気信号
測定用プローブ自体の被測定回路に対する支持角度の微
小な変化３６により、共通電位用接触子１２と接地端子
３４とは接触するものの被測定電気信号用接触子１１と
信号端子３５との間に隙間が発生して非接触となる問題
があった。
来の図４（ａ）に示す微小電気信号測定用プローブでは
被測定電気信号用接触子１１と共通電位用接触子１２と
の間が固定であるため、図５に示すように微小電気信号
測定用プローブ自体の被測定回路に対する支持角度の微
小な変化３６により、共通電位用接触子１２と接地端子
３４とは接触するものの被測定電気信号用接触子１１と
信号端子３５との間に隙間が発生して非接触となる問題
があった。
【０００７】また、図４（ｂ）に示す微小電気信号測定
用プローブでは共通電位用接触子２２の弾性たわみを利
用しているため信号端子と接触子の接触圧力を高めるこ
とができず、さらに、図６に示すように微小電気信号測
定用プローブ自体の被測定回路に対する支持角度の微小
な変化４４により共通電位用接触子２２の安定形状が形
状４１から形状４３のように変化し、その結果として被
測定回路の端子４２と共通電位用接触子２２との接触点
位置が大きく移動し、場合によっては非接触となってし
まうという問題があった。
用プローブでは共通電位用接触子２２の弾性たわみを利
用しているため信号端子と接触子の接触圧力を高めるこ
とができず、さらに、図６に示すように微小電気信号測
定用プローブ自体の被測定回路に対する支持角度の微小
な変化４４により共通電位用接触子２２の安定形状が形
状４１から形状４３のように変化し、その結果として被
測定回路の端子４２と共通電位用接触子２２との接触点
位置が大きく移動し、場合によっては非接触となってし
まうという問題があった。
【０００８】ここで共通電位用接触子２２に働く外力は
法線方向に発生する応力４５と端子４２との間の摩擦力
４６であるが、摩擦力４６は著しく小さいため図示され
るように接触点位置が大きく移動してしまうものであ
る。
法線方向に発生する応力４５と端子４２との間の摩擦力
４６であるが、摩擦力４６は著しく小さいため図示され
るように接触点位置が大きく移動してしまうものであ
る。
【０００９】本発明は、このような従来の課題を解決す
るものであり、共通電位用接触子と被測定電気信号用接
触子とが被測定回路の測定対象端子と安定に接触して、
微小電気信号を確実に測定できる優れた微小電気信号測
定用プローブの提供を目的とする。
るものであり、共通電位用接触子と被測定電気信号用接
触子とが被測定回路の測定対象端子と安定に接触して、
微小電気信号を確実に測定できる優れた微小電気信号測
定用プローブの提供を目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の微小電気信号測定用プローブは、被測定電
気信号用接触子と、弾性導電部材を用い先端部に被測定
回路における接地端子と接触する部位に滑り止め加工を
施した共通電位用接触子とを備える構成である。この構
成にあって、共通電位用接触子の先端部に滑り止め加工
は、少なくとも先端部を折り曲げたＬ字形状、先端部の
直径が大きい円柱形状又は表面がやすり状の荒い形状に
構成している。
に、本発明の微小電気信号測定用プローブは、被測定電
気信号用接触子と、弾性導電部材を用い先端部に被測定
回路における接地端子と接触する部位に滑り止め加工を
施した共通電位用接触子とを備える構成である。この構
成にあって、共通電位用接触子の先端部に滑り止め加工
は、少なくとも先端部を折り曲げたＬ字形状、先端部の
直径が大きい円柱形状又は表面がやすり状の荒い形状に
構成している。
【００１１】さらに、これらの構成に加え、複数の共通
電位用接触子を交換して取り付ける接続取り付け部と、
被測定電気信号用接触子が固定され、かつ、この被測定
電気信号用接触子に中心導体を接続するとともに、接続
取り付け部に外部導体を接続する同軸ケーブルが取り付
けられる絶縁支持部を備える構成である。
電位用接触子を交換して取り付ける接続取り付け部と、
被測定電気信号用接触子が固定され、かつ、この被測定
電気信号用接触子に中心導体を接続するとともに、接続
取り付け部に外部導体を接続する同軸ケーブルが取り付
けられる絶縁支持部を備える構成である。
【００１２】
【作用】このような構成により、本発明の微小電気信号
測定用プローブは、プローブ支持角が変化しても共通電
位用接触子と被測定回路の接地端子との摩擦力及び形状
により発生する応力により、接触点での接触位置変動が
小さくなり、安定した接触が確保されて微小電気信号を
確実に測定できる。
測定用プローブは、プローブ支持角が変化しても共通電
位用接触子と被測定回路の接地端子との摩擦力及び形状
により発生する応力により、接触点での接触位置変動が
小さくなり、安定した接触が確保されて微小電気信号を
確実に測定できる。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の微小電気信号測定用プローブ
の実施例を図面を参照して詳細に説明する。
の実施例を図面を参照して詳細に説明する。
【００１４】図１は実施例の全体構成を示している。図
１において、１は先端が針状の形状の被測定電気信号用
接触子であり、絶縁支持部４内で図示しない測定器から
の同軸ケーブルの中心導体に接続されている。
１において、１は先端が針状の形状の被測定電気信号用
接触子であり、絶縁支持部４内で図示しない測定器から
の同軸ケーブルの中心導体に接続されている。
【００１５】２ａは弾力を有した棒状部材の共通電位用
接触子であり、絶縁支持部４内で図示しない測定器から
の同軸ケーブル３の外部導体に接続されるとともに、先
端部が内側に折り曲げられたＬ字状に形成されている。
なお、このＬ字状の向き方向を多種の被測定回路の接地
端子に対応して変えて確実に接触できるようにする。
接触子であり、絶縁支持部４内で図示しない測定器から
の同軸ケーブル３の外部導体に接続されるとともに、先
端部が内側に折り曲げられたＬ字状に形成されている。
なお、このＬ字状の向き方向を多種の被測定回路の接地
端子に対応して変えて確実に接触できるようにする。
【００１６】図２の（ａ）および（ｂ）は図１中の共通
電位用接触子２ａに代わる他の形状の共通電位用接触子
の例１および例２を示している。図２（ａ）に示す共通
電位用接触子２ｂは先端の太さを変えてあり、先端部の
直径が大きくなっている。
電位用接触子２ａに代わる他の形状の共通電位用接触子
の例１および例２を示している。図２（ａ）に示す共通
電位用接触子２ｂは先端の太さを変えてあり、先端部の
直径が大きくなっている。
【００１７】図２（ｂ）に示す共通電位用接触子２ｃは
先端部の表面を粗く、例えば、やすりのように加工して
ある。
先端部の表面を粗く、例えば、やすりのように加工して
ある。
【００１８】共通電位用接触子２ａ、２ｂ、２ｃは絶縁
支持部４にねじ込んで同軸ケーブル３の外部導体に接触
する構成、すなわち、交換可能に構成されている。又
は、個別の絶縁支持部４に共通電位用接触子２ａ、２
ｂ、２ｃのそれぞれ固定して同軸ケーブル３の外部導体
と接続させる構成にし、必要に応じてこの共通電位用接
触子２ａ、２ｂ、２ｃを取り付けた絶縁支持部４及び同
軸ケーブル３を、この同軸ケーブル３の図示しない端部
に取り付けられたプラグごと交換するようにしても良
い。
支持部４にねじ込んで同軸ケーブル３の外部導体に接触
する構成、すなわち、交換可能に構成されている。又
は、個別の絶縁支持部４に共通電位用接触子２ａ、２
ｂ、２ｃのそれぞれ固定して同軸ケーブル３の外部導体
と接続させる構成にし、必要に応じてこの共通電位用接
触子２ａ、２ｂ、２ｃを取り付けた絶縁支持部４及び同
軸ケーブル３を、この同軸ケーブル３の図示しない端部
に取り付けられたプラグごと交換するようにしても良
い。
【００１９】次に、この実施例の構成における動作、機
能について説明する。被測定電気信号用接触子１が被測
定回路の測定する信号端子に接触し、共通電位用接触子
２ａ（２ｂ、２ｃ）が被測定回路の接地端子に接触す
る。この際、信号端子及び接地端子間の距離が被測定電
気信号用接触子１と共通電位用接触子２ａ（２ｂ、２
ｃ）との間隔と異なっていても、共通電位用接触子２ａ
（２ｂ、２ｃ）の弾性たわみにより、被測定電気信号用
接触子１と共通電位用接触子２ａ（２ｂ、２ｃ）の間隔
を狭く又は広くして接続できる。
能について説明する。被測定電気信号用接触子１が被測
定回路の測定する信号端子に接触し、共通電位用接触子
２ａ（２ｂ、２ｃ）が被測定回路の接地端子に接触す
る。この際、信号端子及び接地端子間の距離が被測定電
気信号用接触子１と共通電位用接触子２ａ（２ｂ、２
ｃ）との間隔と異なっていても、共通電位用接触子２ａ
（２ｂ、２ｃ）の弾性たわみにより、被測定電気信号用
接触子１と共通電位用接触子２ａ（２ｂ、２ｃ）の間隔
を狭く又は広くして接続できる。
【００２０】図３は、この場合の共通電位用接触子２ａ
（２ｂ、２ｃ）に加わる外力と弾性たわみを示してい
る。図３において、共通電位用接触子２ａ（２ｂ、２
ｃ）が初期状態では形状５にたわんでいるが、プローブ
支持角度が変化して変化８を有する場合、被測定回路の
接地端子６との間に接地端子６の法線方向の応力９に加
え、滑り止めによる外力１０が発生する。これにより従
来例の場合と異なる弾性たわみの形状７となり、確実に
共通電位用接触子２ａ（２ｂ、２ｃ）と接地端子６との
接触が維持できることになる。
（２ｂ、２ｃ）に加わる外力と弾性たわみを示してい
る。図３において、共通電位用接触子２ａ（２ｂ、２
ｃ）が初期状態では形状５にたわんでいるが、プローブ
支持角度が変化して変化８を有する場合、被測定回路の
接地端子６との間に接地端子６の法線方向の応力９に加
え、滑り止めによる外力１０が発生する。これにより従
来例の場合と異なる弾性たわみの形状７となり、確実に
共通電位用接触子２ａ（２ｂ、２ｃ）と接地端子６との
接触が維持できることになる。
【００２１】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の微小電気信号測定用プローブは、プローブ支持角が変
化しても共通電位用接触子と被測定回路の接地端子との
摩擦力及び形状により発生する応力により、接触点での
接触位置変動が小さくなり、安定した接触が確保されて
微小電気信号を確実に測定できるという効果を有する。
の微小電気信号測定用プローブは、プローブ支持角が変
化しても共通電位用接触子と被測定回路の接地端子との
摩擦力及び形状により発生する応力により、接触点での
接触位置変動が小さくなり、安定した接触が確保されて
微小電気信号を確実に測定できるという効果を有する。
【図１】本発明の微小電気信号測定用プローブの実施例
における構成を示す斜視図
における構成を示す斜視図
【図２】（ａ）は図１中の共通電位用接触子に代わる他
の形状の共通電位用接触子の例１を示す斜視図 （ｂ）は図１中の共通電位用接触子に代わる他の形状の
共通電位用接触子の例２を示す斜視図
の形状の共通電位用接触子の例１を示す斜視図 （ｂ）は図１中の共通電位用接触子に代わる他の形状の
共通電位用接触子の例２を示す斜視図
【図３】実施例における共通電位用接触子に加わる外力
と弾性たわみを説明するための説明図
と弾性たわみを説明するための説明図
【図４】（ａ）は従来の微小電気信号測定用プローブの
構成例１を示す斜視図 （ｂ）は従来の微小電気信号測定用プローブの構成例２
を示す斜視図
構成例１を示す斜視図 （ｂ）は従来の微小電気信号測定用プローブの構成例２
を示す斜視図
【図５】図４（ａ）に示す従来の微小電気信号測定用プ
ローブの測定状態を説明するための説明図
ローブの測定状態を説明するための説明図
【図６】従来例における共通電位用接触子に加わる外力
と弾性たわみを説明するための説明図
と弾性たわみを説明するための説明図
１ 被測定電気信号用接触子 ２ａ、２ｂ、２ｃ 共通電位用接触子 ３ 同軸ケーブル ４ 絶縁支持部
Claims (3)
- 【請求項１】 被測定電気信号用接触子と、弾性導電部
材を用い先端部に被測定回路における接地端子と接触す
る部位に滑り止め加工を施した共通電位用接触子とを備
える微小電気信号測定用プローブ。 - 【請求項２】 上記共通電位用接触子の先端部に滑り止
め加工は、少なくとも先端部を折り曲げたＬ字形状、先
端部の直径が大きい円柱形状又は表面がやすり状の荒い
形状であることを特徴とする請求項１記載の微小電気信
号測定用プローブ。 - 【請求項３】 請求項１又は２記載の構成に加え、上記
複数の共通電位用接触子を交換して取り付ける接続取り
付け部と、被測定電気信号用接触子が固定され、かつ、
この被測定電気信号用接触子に中心導体を接続するとと
もに、接続取り付け部に外部導体を接続する同軸ケーブ
ルが取り付けられる絶縁支持部を備えることを特徴とす
る微小電気信号測定用プローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25245792A JPH06102287A (ja) | 1992-09-22 | 1992-09-22 | 微小電気信号測定用プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25245792A JPH06102287A (ja) | 1992-09-22 | 1992-09-22 | 微小電気信号測定用プローブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06102287A true JPH06102287A (ja) | 1994-04-15 |
Family
ID=17237652
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25245792A Pending JPH06102287A (ja) | 1992-09-22 | 1992-09-22 | 微小電気信号測定用プローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06102287A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021170040A (ja) * | 2015-12-18 | 2021-10-28 | テラビュー リミテッド | 試験システム |
-
1992
- 1992-09-22 JP JP25245792A patent/JPH06102287A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021170040A (ja) * | 2015-12-18 | 2021-10-28 | テラビュー リミテッド | 試験システム |
| US11921154B2 (en) | 2015-12-18 | 2024-03-05 | Teraview Limited | Test system |
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