JPH06100856A - Ｘ線ｃｔ用シンチレータ材料 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ用シンチレータ材料Info
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- JPH06100856A JPH06100856A JP27791592A JP27791592A JPH06100856A JP H06100856 A JPH06100856 A JP H06100856A JP 27791592 A JP27791592 A JP 27791592A JP 27791592 A JP27791592 A JP 27791592A JP H06100856 A JPH06100856 A JP H06100856A
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- Japan
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- scintillator material
- ray
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 身体頭頂部の断面を画像処理する場合にもア
ーチファクトを生じることがないＸ線ＣＴ用シンチレー
タ材料を提供する。 【構成】 シンチレータ材料の感度分布には材料側面か
らの光の漏れに起因する「片落ち」が生じる。アーチフ
ァクトが生じるかどうかは、各素子ごとの感度分布のば
らつきの大きさに起因する。このＸ線ＣＴ用セラミック
スシンチレータ材料はＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料内の密
度分布が０．３％以内であることからこの密度分布に相
関する感度分布の各素子間におけるばらつきが小さく、
アーチファクトを生じない。
ーチファクトを生じることがないＸ線ＣＴ用シンチレー
タ材料を提供する。 【構成】 シンチレータ材料の感度分布には材料側面か
らの光の漏れに起因する「片落ち」が生じる。アーチフ
ァクトが生じるかどうかは、各素子ごとの感度分布のば
らつきの大きさに起因する。このＸ線ＣＴ用セラミック
スシンチレータ材料はＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料内の密
度分布が０．３％以内であることからこの密度分布に相
関する感度分布の各素子間におけるばらつきが小さく、
アーチファクトを生じない。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＸ線を検出する放射線検
出器に用いられるシンチレータ材料に関するものであ
り、特にＸ線ＣＴに用いられる放射線検出器に適用され
るシンチレータ材料に関するものである。
出器に用いられるシンチレータ材料に関するものであ
り、特にＸ線ＣＴに用いられる放射線検出器に適用され
るシンチレータ材料に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線診断装置の一つにコンピュータ断層
撮影装置（Computerized Tomography:以下ＣＴ装置と称
する）がある。このＣＴ装置は扇状のファンビームＸ線
を照射するＸ線管と多数のＸ線検出素子を並設したＸ線
検出器を被検体の断層面の中央に対向して配置して構成
され、Ｘ線検出器に向けてＸ線管からファンビームＸ線
を照射し、１回照射を行なう毎に断層面に対して例えば
角度を１度ずつ変えてゆくことによってＸ線吸収データ
を収集した後、このデータをコンピュータで解析するこ
とによって断層面の個々の位置のＸ線吸収率を算出し、
その吸収率に応じた画像を構成するものである。従来か
らこのＣＴ装置にはキセノンガス検出器が用いられてい
る。このキセノンガス検出器はガスチャンバにキセノン
ガスを封入し、多数配列した電極間に電圧を印加すると
共にＸ線を照射すると、Ｘ線がキセノンガスを電離し、
Ｘ線の強度に応じた電流信号を取り出す事ができ、それ
により画像が構成される。しかし、このキセノンガス検
出器では高圧のキセノンガスをガスチャンバに封入する
ため厚い窓が必要であり、そのためＸ線の利用効率が悪
く感度が低いという問題がある。また、高解像度のＣＴ
装置を得るためには電極板の厚みを極力薄くする必要が
あり、そのように電極板を薄くすると外部からの振動に
よって電極板が振動しノイズが発生するという問題があ
る。そこでＧｄ2Ｏ2Ｓ：Ｐｒ系セラミックスシンチレー
タ材料とフォトダイオードを組み合わせた検出器の開発
が進められている。このセラミックシンチレータ材料を
用いた検出器では、検出素子を小型化し、チャンネル数
を増やすことが容易であることから、高解像度のＣＴ装
置を得ることが可能となる。
撮影装置（Computerized Tomography:以下ＣＴ装置と称
する）がある。このＣＴ装置は扇状のファンビームＸ線
を照射するＸ線管と多数のＸ線検出素子を並設したＸ線
検出器を被検体の断層面の中央に対向して配置して構成
され、Ｘ線検出器に向けてＸ線管からファンビームＸ線
を照射し、１回照射を行なう毎に断層面に対して例えば
角度を１度ずつ変えてゆくことによってＸ線吸収データ
を収集した後、このデータをコンピュータで解析するこ
とによって断層面の個々の位置のＸ線吸収率を算出し、
その吸収率に応じた画像を構成するものである。従来か
らこのＣＴ装置にはキセノンガス検出器が用いられてい
る。このキセノンガス検出器はガスチャンバにキセノン
ガスを封入し、多数配列した電極間に電圧を印加すると
共にＸ線を照射すると、Ｘ線がキセノンガスを電離し、
Ｘ線の強度に応じた電流信号を取り出す事ができ、それ
により画像が構成される。しかし、このキセノンガス検
出器では高圧のキセノンガスをガスチャンバに封入する
ため厚い窓が必要であり、そのためＸ線の利用効率が悪
く感度が低いという問題がある。また、高解像度のＣＴ
装置を得るためには電極板の厚みを極力薄くする必要が
あり、そのように電極板を薄くすると外部からの振動に
よって電極板が振動しノイズが発生するという問題があ
る。そこでＧｄ2Ｏ2Ｓ：Ｐｒ系セラミックスシンチレー
タ材料とフォトダイオードを組み合わせた検出器の開発
が進められている。このセラミックシンチレータ材料を
用いた検出器では、検出素子を小型化し、チャンネル数
を増やすことが容易であることから、高解像度のＣＴ装
置を得ることが可能となる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし従来の検出器に
用いられるセラミックシンチレータ材料については、次
のような問題があった。Ｘ線ＣＴの多数のシンチレータ
検出器に感度分布のばらつきがあると、特に身体頭頂部
の断面を画像処理する場合、アーチファクトと呼ばれる
リング状の虚像を生じ易いという問題があった。したが
って本発明は以上の従来の問題に鑑みてなされたもので
あって、身体頭頂部の断面を画像処理する場合にもアー
チファクトを生じることがないＸ線ＣＴ用シンチレータ
材料を提供することを目的とする。
用いられるセラミックシンチレータ材料については、次
のような問題があった。Ｘ線ＣＴの多数のシンチレータ
検出器に感度分布のばらつきがあると、特に身体頭頂部
の断面を画像処理する場合、アーチファクトと呼ばれる
リング状の虚像を生じ易いという問題があった。したが
って本発明は以上の従来の問題に鑑みてなされたもので
あって、身体頭頂部の断面を画像処理する場合にもアー
チファクトを生じることがないＸ線ＣＴ用シンチレータ
材料を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明者は以上の目的を
達成するため種々検討した結果、感度分布の支配要因で
ある密度分布を一定レベル以下に押さえることが有効で
あることを見いだした。すなわち感度と密度との間には
図８に示す関係が成立する。これより、試料の厚さ×密
度が０．７２５ｇ／cm2以上では、感度と密度との間に
は、負の相関関係が成立する。よって、密度分布の凸部
には感度分布の凹部が、密度分布の凹部には、感度分布
の凸部が対応する。本発明者はかかる知見に基づき本発
明を創出するに至った。本発明は以上の知見に基づくも
のでＸ線ＣＴ用セラミックスシンチレータ材料はＧｄ2
Ｏ2Ｓ：Ｐｒ系材料内の密度分布が、０．３％以内であ
ることを特徴とする。本発明に言うところの材料内の密
度分布とはγ線の透過率分布を用いて求めた密度分布で
ある。かかる密度分布は０．３％以内が好ましく、さら
に好ましくは０．２％以下であるのがよい。密度分布が
０．３％を越えると感度分布のばらつきが顕著となり、
かかるシンチレータ材料を用いてなるＸ線ＣＴでは身体
頭頂部の断面を画像処理する場合にアーチファクトを生
じ好ましくない。
達成するため種々検討した結果、感度分布の支配要因で
ある密度分布を一定レベル以下に押さえることが有効で
あることを見いだした。すなわち感度と密度との間には
図８に示す関係が成立する。これより、試料の厚さ×密
度が０．７２５ｇ／cm2以上では、感度と密度との間に
は、負の相関関係が成立する。よって、密度分布の凸部
には感度分布の凹部が、密度分布の凹部には、感度分布
の凸部が対応する。本発明者はかかる知見に基づき本発
明を創出するに至った。本発明は以上の知見に基づくも
のでＸ線ＣＴ用セラミックスシンチレータ材料はＧｄ2
Ｏ2Ｓ：Ｐｒ系材料内の密度分布が、０．３％以内であ
ることを特徴とする。本発明に言うところの材料内の密
度分布とはγ線の透過率分布を用いて求めた密度分布で
ある。かかる密度分布は０．３％以内が好ましく、さら
に好ましくは０．２％以下であるのがよい。密度分布が
０．３％を越えると感度分布のばらつきが顕著となり、
かかるシンチレータ材料を用いてなるＸ線ＣＴでは身体
頭頂部の断面を画像処理する場合にアーチファクトを生
じ好ましくない。
【０００５】本発明シンチレータ材料においては、残光
を低減するためにＣｅを含有せしめることができる（特
公昭60-4856号参照）。また、本発明シンチレータ材料
は公知の焼結法によって製造することができるが、この
際焼結助剤としてＬｉＧｅＦ、（ＮＨ）ＧｅＦ、ＮａＧ
ｅＦ等（特開昭63-18286号参照）を添加することもでき
る。
を低減するためにＣｅを含有せしめることができる（特
公昭60-4856号参照）。また、本発明シンチレータ材料
は公知の焼結法によって製造することができるが、この
際焼結助剤としてＬｉＧｅＦ、（ＮＨ）ＧｅＦ、ＮａＧ
ｅＦ等（特開昭63-18286号参照）を添加することもでき
る。
【０００６】
【作用】一般にシンチレータ材料においては、その感度
分布には材料側面からの光の漏れに起因する「片落ち」
が生じる。この片落ちは材料の光吸収係数が大きくなる
と小さくなる。しかしアーチファクトが生じるかどうか
は、各素子ごとの感度分布のばらつきの大きさに起因
し、光吸収係数が小さく片落ちが大きい素子を用いる場
合であっても、すべての素子が同じ感度分布であればア
ーチファクトの発生を抑制できる。本発明のＸ線ＣＴ用
セラミックスシンチレータ材料は材料内の密度分布が、
０．３％以内であることからこの密度分布に相関する感
度分布の各素子間におけるばらつきが小さくなる結果と
して身体頭頂部の断面を画像処理する場合にもアーチフ
ァクトを生じない様にすることが可能となった。
分布には材料側面からの光の漏れに起因する「片落ち」
が生じる。この片落ちは材料の光吸収係数が大きくなる
と小さくなる。しかしアーチファクトが生じるかどうか
は、各素子ごとの感度分布のばらつきの大きさに起因
し、光吸収係数が小さく片落ちが大きい素子を用いる場
合であっても、すべての素子が同じ感度分布であればア
ーチファクトの発生を抑制できる。本発明のＸ線ＣＴ用
セラミックスシンチレータ材料は材料内の密度分布が、
０．３％以内であることからこの密度分布に相関する感
度分布の各素子間におけるばらつきが小さくなる結果と
して身体頭頂部の断面を画像処理する場合にもアーチフ
ァクトを生じない様にすることが可能となった。
【０００７】
【実施例】次に本発明のシンチレータ材料の実施例につ
き説明する。実施例１ Ｇｄ2Ｏ2Ｓ：Ｐｒ（Ｐｒ６００ppm添加）の平均粒径４
４．２μm、粒度分布幅４８．９μm（累積粒度分布曲線
における９０％粒径と１０％粒径の差）の原料粉末を１
３００℃、１０００atm、２ｈｒの条件で熱間静水圧プ
レス（ＨＩＰ）焼結することによってシンチレータ材料
を得た。実施例２ Ｇｄ2Ｏ2Ｓ：Ｐｒ（Ｐｒ６００ppm添加）の平均粒径４
４．２μm、粒度分布幅４８．９μmの原料粉末を１２７
０℃、１０００atm、２ｈｒの条件で熱間静水圧プレス
（ＨＩＰ）焼結することによってシンチレータ材料を得
た。実施例 ３ Ｇｄ2Ｏ2Ｓ：Ｐｒ（Ｐｒ６００ppm添加）の平均粒径４
４．２μm、粒度分布幅４８．９μmの原料粉末を１３３
０℃、１０００atm、２ｈｒの条件で熱間静水圧プレス
（ＨＩＰ）焼結することによってシンチレータ材料を得
た。比較例１ Ｇｄ2Ｏ2Ｓ：Ｐｒ（Ｐｒ６００ppm添加）の平均粒径４
０．０μm、粒度分布幅５１．４μmの原料粉末を１３０
０℃、１０００atm、２ｈｒの条件で熱間静水圧プレス
（ＨＩＰ）焼結することによってシンチレータ材料を得
た。比較例２ Ｇｄ2Ｏ2Ｓ：Ｐｒ（Ｐｒ６００ppm添加）の平均粒径４
０．０μm、粒度分布幅５１．４μmの原料粉末を１２７
０℃、１０００atm、２ｈｒの条件で熱間静水圧プレス
（ＨＩＰ）焼結することによってシンチレータ材料を得
た。比較例３ Ｇｄ2Ｏ2Ｓ：Ｐｒ（Ｐｒ６００ppm添加）の平均粒径４
０．０μm、粒度分布幅５１．４μmの原料粉末を１３３
０℃、１０００atm、２ｈｒの条件で熱間静水圧プレス
（ＨＩＰ）焼結することによってシンチレータ材料を得
た。以上の各実施例および比較例のシンチレータ材料に
つき密度分布を測定し、さらに感度分布を測定した。測
定は以下のようにして行った。密度分布の測定 密度分布の測定装置は、クレーブゼーゲ社製ガンマデン
ソマットを用いた。測定は、６６２ＫｅＶのγ線（137
ＣSから放出されるγ線）を使用、アパーチャサイズφ
４mm、積算時間２５５秒で行い、感度分布評価区間２０
mmを３mmピッチで７点測定した。感度分布の測定 感度分布の測定装置は、日立メディコ株式会社製Ｘ線Ｃ
Ｔ装置ＣＴ−Ｗ８００を用いた。Ｘ線源からでたＸ線
（１２０Ｋｖ、３００ｍＡ）１を、図１に示すスリット
幅２mmのコリメーター２を通し、ＳＰＤ（シリコンフォ
トダイオード）３上におかれた試料４に照射し、このＳ
ＰＤ３と試料４を走査することにより、試料４の長手方
向の感度分布を測定した。なお試料４上面には、蛍光反
射板を取り付け、測定領域は、試料４の長手方向の中心
２０mmの区間とした。以上の密度分布及び感度分布の測
定結果を図２乃至図７に示す。
き説明する。実施例１ Ｇｄ2Ｏ2Ｓ：Ｐｒ（Ｐｒ６００ppm添加）の平均粒径４
４．２μm、粒度分布幅４８．９μm（累積粒度分布曲線
における９０％粒径と１０％粒径の差）の原料粉末を１
３００℃、１０００atm、２ｈｒの条件で熱間静水圧プ
レス（ＨＩＰ）焼結することによってシンチレータ材料
を得た。実施例２ Ｇｄ2Ｏ2Ｓ：Ｐｒ（Ｐｒ６００ppm添加）の平均粒径４
４．２μm、粒度分布幅４８．９μmの原料粉末を１２７
０℃、１０００atm、２ｈｒの条件で熱間静水圧プレス
（ＨＩＰ）焼結することによってシンチレータ材料を得
た。実施例 ３ Ｇｄ2Ｏ2Ｓ：Ｐｒ（Ｐｒ６００ppm添加）の平均粒径４
４．２μm、粒度分布幅４８．９μmの原料粉末を１３３
０℃、１０００atm、２ｈｒの条件で熱間静水圧プレス
（ＨＩＰ）焼結することによってシンチレータ材料を得
た。比較例１ Ｇｄ2Ｏ2Ｓ：Ｐｒ（Ｐｒ６００ppm添加）の平均粒径４
０．０μm、粒度分布幅５１．４μmの原料粉末を１３０
０℃、１０００atm、２ｈｒの条件で熱間静水圧プレス
（ＨＩＰ）焼結することによってシンチレータ材料を得
た。比較例２ Ｇｄ2Ｏ2Ｓ：Ｐｒ（Ｐｒ６００ppm添加）の平均粒径４
０．０μm、粒度分布幅５１．４μmの原料粉末を１２７
０℃、１０００atm、２ｈｒの条件で熱間静水圧プレス
（ＨＩＰ）焼結することによってシンチレータ材料を得
た。比較例３ Ｇｄ2Ｏ2Ｓ：Ｐｒ（Ｐｒ６００ppm添加）の平均粒径４
０．０μm、粒度分布幅５１．４μmの原料粉末を１３３
０℃、１０００atm、２ｈｒの条件で熱間静水圧プレス
（ＨＩＰ）焼結することによってシンチレータ材料を得
た。以上の各実施例および比較例のシンチレータ材料に
つき密度分布を測定し、さらに感度分布を測定した。測
定は以下のようにして行った。密度分布の測定 密度分布の測定装置は、クレーブゼーゲ社製ガンマデン
ソマットを用いた。測定は、６６２ＫｅＶのγ線（137
ＣSから放出されるγ線）を使用、アパーチャサイズφ
４mm、積算時間２５５秒で行い、感度分布評価区間２０
mmを３mmピッチで７点測定した。感度分布の測定 感度分布の測定装置は、日立メディコ株式会社製Ｘ線Ｃ
Ｔ装置ＣＴ−Ｗ８００を用いた。Ｘ線源からでたＸ線
（１２０Ｋｖ、３００ｍＡ）１を、図１に示すスリット
幅２mmのコリメーター２を通し、ＳＰＤ（シリコンフォ
トダイオード）３上におかれた試料４に照射し、このＳ
ＰＤ３と試料４を走査することにより、試料４の長手方
向の感度分布を測定した。なお試料４上面には、蛍光反
射板を取り付け、測定領域は、試料４の長手方向の中心
２０mmの区間とした。以上の密度分布及び感度分布の測
定結果を図２乃至図７に示す。
【０００８】図５乃至図７に示すように各比較例のシン
チレータ材料では密度分布が０．３％を越え、最大０．
７％程度に達し、それに伴い各比較例のシンチレータ材
料の感度分布のばらつきは大きい。これに対し、各実施
例のシンチレータ材料では密度分布のばらつきが０．３
％未満でそれに伴い感度分布のばらつきは小さいことが
わかる。
チレータ材料では密度分布が０．３％を越え、最大０．
７％程度に達し、それに伴い各比較例のシンチレータ材
料の感度分布のばらつきは大きい。これに対し、各実施
例のシンチレータ材料では密度分布のばらつきが０．３
％未満でそれに伴い感度分布のばらつきは小さいことが
わかる。
【０００９】
【発明の効果】以上のように本発明のＸ線ＣＴ用セラミ
ックスシンチレータ材料によれば、材料内の密度分布
が、０．３％以内であるため、感度分布のばらつきが小
さくなる結果として、身体頭頂部の断面を画像処理する
場合にもアーチファクトを生じない様にすることが可能
となる。
ックスシンチレータ材料によれば、材料内の密度分布
が、０．３％以内であるため、感度分布のばらつきが小
さくなる結果として、身体頭頂部の断面を画像処理する
場合にもアーチファクトを生じない様にすることが可能
となる。
【図１】 本発明実施例で使用した感度の測定装置を示
す模式図である。
す模式図である。
【図２】 本発明実施例１のシンチレータ材料の密度分
布と感度分布とを示す図である。
布と感度分布とを示す図である。
【図３】 本発明実施例２のシンチレータ材料の密度分
布と感度分布とを示す図である。
布と感度分布とを示す図である。
【図４】 本発明実施例３のシンチレータ材料の密度分
布と感度分布とを示す図である。
布と感度分布とを示す図である。
【図５】 本発明の実施例と対比する比較例１のシンチ
レータ材料の密度分布と感度分布とを示す図である。
レータ材料の密度分布と感度分布とを示す図である。
【図６】 本発明の実施例と対比する比較例２のシンチ
レータ材料の密度分布と感度分布とを示す図である。
レータ材料の密度分布と感度分布とを示す図である。
【図７】 本発明の実施例と対比する比較例３のシンチ
レータ材料の密度分布と感度分布とを示す図である。
レータ材料の密度分布と感度分布とを示す図である。
【図８】 Ｘ線透過率及び感度と試料厚さ×密度との関
係を示す参考図である。
係を示す参考図である。
１ Ｘ線 ２ コリメーター ３ ２４チャンネルＳＰＤ ４ 試料
Claims (2)
- 【請求項１】 Ｇｄ2Ｏ2Ｓ：Ｐｒ系材料内の密度分布
が、０．３％以内であることを特徴とするＸ線ＣＴ用セ
ラミックスシンチレータ材料。 - 【請求項２】 材料厚さ（cm）と材料密度（ｇ／cm3）
との積が０．７２５ｇ／cm2以上である請求項１に記載
のＸ線ＣＴ用シンチレータ材料。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4277915A JP2917269B2 (ja) | 1992-09-22 | 1992-09-22 | Ｘ線ｃｔ用シンチレータ材料 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4277915A JP2917269B2 (ja) | 1992-09-22 | 1992-09-22 | Ｘ線ｃｔ用シンチレータ材料 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06100856A true JPH06100856A (ja) | 1994-04-12 |
| JP2917269B2 JP2917269B2 (ja) | 1999-07-12 |
Family
ID=17590071
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4277915A Expired - Fee Related JP2917269B2 (ja) | 1992-09-22 | 1992-09-22 | Ｘ線ｃｔ用シンチレータ材料 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2917269B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010023970A1 (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-04 | コニカミノルタエムジー株式会社 | 放射線画像変換パネル及びその製造方法 |
| US8461536B2 (en) | 2008-07-18 | 2013-06-11 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | Radiation scintillator and radiation image detector |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01269083A (ja) * | 1988-04-21 | 1989-10-26 | Hitachi Ltd | 放射線検出素子 |
| JPH047391A (ja) * | 1990-04-24 | 1992-01-10 | Hitachi Metals Ltd | 放射線ｃｔ用シンチレータ材料 |
-
1992
- 1992-09-22 JP JP4277915A patent/JP2917269B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01269083A (ja) * | 1988-04-21 | 1989-10-26 | Hitachi Ltd | 放射線検出素子 |
| JPH047391A (ja) * | 1990-04-24 | 1992-01-10 | Hitachi Metals Ltd | 放射線ｃｔ用シンチレータ材料 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8461536B2 (en) | 2008-07-18 | 2013-06-11 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | Radiation scintillator and radiation image detector |
| WO2010023970A1 (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-04 | コニカミノルタエムジー株式会社 | 放射線画像変換パネル及びその製造方法 |
| US8368025B2 (en) | 2008-08-28 | 2013-02-05 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | Radiation image conversion panel and production method thereof |
| JP5402933B2 (ja) * | 2008-08-28 | 2014-01-29 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像変換パネル及びその製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2917269B2 (ja) | 1999-07-12 |
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