JPH0583963B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は磁気デイスク・磁気テープ・光デイス
クなどの情報記憶体の欠陥などにより生ずるドロ
ツプアウトを検出するためのドロツプアウト検出
装置に関する。

（従来の技術） 従来のドロツプアウト検査装置は、情報記憶体
に周期的な信号を記録再生し前記情報記憶体から
の再生信号を得るための記録再生部と、前記記録
再生信号がドロツプアウトエラーレベルよりも大
きい時に比較出力を発生する比較器と、前記比較
出力が供給されるごとに一定時間発生しドロツプ
アウトが検出されているときに消滅する単安定出
力を週力する単安定マルチバイブレータを含んで
構成される。

次に従来のドロツプアウト検査装置について図
面を参照して説明する。

第１０図は従来のドロツプアウト検査装置の一
例を示す回路図であり、第１１図ａ〜ｃは第１０
図に示す従来例の動作を説明するための波形図で
ある。

第１０図に示すドロツプアウト検査装置はフリ
ツプフロツプ２８と記録増幅回路２９と磁気ヘツ
ド３０と再生増幅回路３１とからなる記録再生部
２並びに比較器５及び単安定マルチバイブレータ
３２を含んで構成される。

以下に第１０図に示すドロツプアウト検査装置
の動作を第１１図を参照して説明する。

一定の周波数の記録クロツク信号が入力される
と、フリツプフロツプ２８及び記録増幅回路２９
を通して磁気ヘツド３０に記録クロツク信号１の
パルスが生ずるごとに反転する記録電流を供給す
ることにより情報記録体に記録クロツク信号１の
周波数の２分の１の周波数の信号を記録し、前記
情報記憶体に記録された信号を磁気ヘツド３０で
再生し再生増幅回路３１で増幅して再生信号３を
得る。再生信号３とドロツプアウトエラーレベル
４とは、第１１図ａに示すように、比較器５で比
較される。この比較器５からの比較出力６は、第
１１図ｂに示すように再生信号３の波高値がドロ
ツプアウトエラーレベル４より大きい間は記録ク
ロツク信号１の周期のほぼ２倍の周期のパルスが
あり、小さいときにはパルスが欠落するような信
号となる。このような比較出力６は単安定マルチ
バイブレータ３２に供給される。この単安定マル
チバイブレータ３２は、単一のパルスが入力した
時には該単安定マルチバイブレータ３２の出力の
パルス幅が記録クロツク信号１の２倍より大きく
かつ４倍より小さくなるように時定数の値すなわ
ち単安定マルチバイブレータ３２中のコンデンサ
Ｃ及び抵抗Ｒの値が調節されている。このとき前
記単安定マルチバイブレータ３２からの単安定出
力３３は、第１１図ｃに示すようにパルスが記録
クロツク信号１のほぼ２倍の周期で供給されると
きには高レベルとなり、ドロツプアウトによりパ
ルスが欠落したときには低レベルとなるような出
力となり、ドロツプアウトを検出することができ
る。

（発明が解決しようとする問題点） このような従来のドロツプアウト検査装置は、
記録周波数が変わつたときには、前記単安定マル
チバイブレータの時定数を再調節する必要があ
り、種々の周波数でドロツプアウト検査をする場
合には非常に多くの検査時間を必要とするという
問題があつた。

本発明の目的は、種々の周波数においてドロツ
プアウト検査をする場合においても回路を再調整
することなく短時間で検査することのできるドロ
ツプアウト検査装置を提供することにある。

（問題点を解決するための手段） 前述の問題点を解決するために本発明が提供す
る手段は、記録クロツク信号の周波数の２分の１
の周波数の信号を情報記憶体に記録再生する記録
再生部と、前記記録再生部の出力である再生信号
がドロツプアウトエラーレベルよりも大きいとき
にパルスが現れる比較出力を出力する比較器とを
有し、情報記憶体のドロツプアウトを検査する装
置であつて、前記比較出力に前記パルスが現れた
時に初期値がＮに設定されこの初期値Ｎの設定の
後に前記記録クロツク信号の加算計数又は減算計
数をするカウンター回路と、前記カウンター回路
が前記加算計数をする場合にはそのカウンター回
路から計数値出力がＮ＋ｎ（ｎは正数）以上とな
つたことを検出し、また前記カウンター回路が前
記減算計数をする場合にはそのカウンター回路か
らの計数値出力がＮ−ｎ以下となつたことを検出
する計数値検査回路とを備え、前記ｎが３以上で
あることを特徴とする。

（作用） 次に図面を参照して本発明の作用を説明する。
但し、以下の説明は本発明の作用の理解を容易に
するために図面を参照して行うが、その説明及び
対応する図面は本発明の技術的範囲を限定するも
のではない。

第１図は本発明のドロツプアウト検査装置の基
本構成を示すブロツク図であり、第２図ａ〜ｃは
第１図に示す本発明のドロツプアウト検査装置の
動作を示す波形図、第２図ｄはこれら波形図の各
タイミングにおける計数値出力８を示す図であ
る。第１図に示すドロツプアウト検査装置は記録
再生部２と比較器５とカウンター７と計数値検査
回路９とを含んで構成される。

以下に第１図に示す本発明のドロツプアウト検
査装置の動作を第２図を参照して説明する。

第２図ｃに示す一定周波数の記録クロツク信号
１を記録再生部２に入力して、情報記憶体に記録
クロツク信号１の周波数の２分の１の周波数の信
号を記録・再生して再生信号３を得る。再生信号
３とドロツプアウトエラーレベル４とは第２図ａ
に示すように比較器５に入力されて比較され、こ
の比較器５からの比較出力６は、第２図ｂに示す
ように再生信号３の波高値がドロツプアウトエラ
ーレベル４より大きい間は記録クロツク信号１の
周期のほぼ２倍の周期のパルスがあり、小さいと
きにはパルスが欠落するような信号となる。この
ような比較出力６をカウンター７にロード信号と
して入力して比較出力６のパルスが発生した時に
カウンター７に初期値Ｎをロードする。更に記録
クロツク信号１をカウンター７にクロツク信号と
して入力して加算計数又は減算計数する。

カウンター７を加算動作で用いる場合にはこの
カウンター７からの計数値出力８は第２図ｄに示
すように、ドロツプアウトが生じていない状態で
比較出力６のパルスが記録クロツク信号１の周期
のほぼ２倍の周期で発生するときにはＮからＮ＋
２の間の値となり、ドロツプアウトによりパルス
が欠落したときにはＮ＋３以上の値となる。この
ような計数値出力８を計数値検査回路９に入力
し、この計数値検査回路９は計数値出力８がＮ＋
ｎ以上となつたときにパルスの検査出力４０を発
生するよう構成することによりドロツプアウトを
検出することができる。ここで前述のようにドロ
ツプアウトが生じていない間のカウンター計数値
出力８はＮからＮ＋２の間の値であり、１ビツト
のドロツプアウトが生ずるとカウンター計数値出
力８はＮ＋３及びＮ＋４、２ビツトのドロツプア
ウトが生ずるとカウンター計数値出力８はＮ＋５
及びＮ＋６となる。従つてｎの値は３以上で検出
したいドロツプアウトの大きさに応じて変わる。
たとえば２ビツト以上のドロツプアウトのみを検
出したい場合にはｎの値は５または６とすればよ
い。特に１ビツト以上のすべてのドロツプアウト
を検出したい場合にはｎの値は３または４としな
ければならない。

カウンター７を減算動作で用いる場合もまつた
く同様に考えることができ、この場合には計数値
検査回路９はカウンター７からの計数値出力８が
Ｎ−ｎ以下となつたときにパルスを発生するよう
な検査出力を出力するよう構成する。

第１図に示す本発明のドロツプアウト検査装置
において記録再生部２と比較器５には従来と同様
のものを用いることができる。カウンター７と計
数値検査回路９との部分の具体的な実施例につい
て以下に述べる。

実施例 １ 第３図は第１図に示す本発明のドロツプアウト
検査装置におけるカウンター７及び計数値検査回
路９の部分の第１の実施例を示す回路図であり、
カウンターとしては２ビツト加算カウンター１０
を用い、計数値検査回路としてはアンド（AND）
回路１１を用いている。

第３図において比較器からの比較出力６は２ビ
ツト加算カウンター１０にリセツト信号として接
続され、また記録クロツク信号１は２ビツト加算
カウンター１０にクロツク信号として接続されて
いる。また２ビツト加算カウンター１０からの上
位ビツト力と下位ビツト出力とはともにアンド回
路１１に入力されており、このアンド回路１１か
らの出力はドロツプアウト検査出力４０となると
共に２ビツト加算カウンター１０にイネーブル信
号として接続されている。

比較出力６にパルスが現れると２ビツト加算カ
ウンター１０に初期値Ｎの値として“０”がロー
ドされた後記録クロツク信号１が加算計数され
る。ドロツプアウトが生じていない状態では２ビ
ツト加算カウンター１０からの計数値出力は
“０”、“１”または“２”であり、従つてアンド
回路１１からのドロツプアウト検査出力４０は
“０”となる。１ビツトのドロツプアウトが生ず
ると２ビツト加算カウンター１０からの計数値出
力は“３”となり、従つてアンド回路１１からの
ドロツプアウト検査出力４０は１となるとともに
２ビツト加算カウンター１０は計数動作を止め、
ドロツプアウト状態が続いている間そのままの状
態が保持される。ドロツプアウト状態が終了して
比較出力６にパルスが現れると、２ビツト加算カ
ウンター１０に初期値Ｎとして“０”がロードさ
れアンド回路１１からのドロツプアウト検査出力
は“０”となつて２ビツト加算カウンター１０は
計数動作が可能な状態となる。

第３図に示す第１の実施例の回路を備えるドロ
ツプアウト検査装置を用いて磁気デイスクのドロ
ツプアウト検査を行なうことにより、10KHz以下
から20MHz以上までの広い周波数範囲にわたつて
回路を再調整することなく１ビツト以上のすべて
のドロツプアウトを検査することができ、検査時
間を大幅に短縮することができた。

実施例 ２ 第４図は第１図に示した本発明のドロツプアウ
ト検査装置におけるカウンター７及び計数値検査
回路９の部分の第２の実施例を示す回路図であ
り、カウンターとしては２ビツト加算カウンター
１０を用い、計数値検査回路としてはアンド回路
１１とフリツプフロツプ１２とにより構成される
回路を用いている。

第４図において比較器からの比較出力６は２ビ
ツト加算カウンター１０にリセツト信号として接
続され、また記録クロツク信号１は２ビツト加算
カウンター１０にクロツク信号として接続されて
いる。また２ビツト加算カウンター１０からの上
位ビツト出力と下位ビツト出力とは共にアンド回
路１１に入力されており、このアンド回路１１か
らの出力はフリツプフロツプ１２にセツト信号と
して接続され、このフリツプフロツプ１２からの
出力がドロツプアウト検査出力４０となる。また
比較出力６はフリツプフロツプ１２にリセツト信
号として接続されている。

比較出力６にパルスが現れるとフリツプフロツ
プ１２がリセツトされてそのフリツプフロツプ１
２からのドロツプアウト検査出力４０は“０”と
なるとともに、２ビツト加算カウンター１０に初
期値Ｎとして“０”がロードされた後記録クロツ
ク信号１が加算計数される。第１の実施例の場合
と同様にドロツプアウトが生じていない状態では
アンド回路１１からの出力は“０”である。１ビ
ツトのドロツプアウトが生じて２ビツト加算カウ
ンター１０からの計数値出力が３になるとアンド
回路１１からの出力は１となりフリツプフロツプ
１２がセツトされてそのフリツプフロツプ１２か
らのドロツプアウト検査出力４０は１となる。ド
ロツプアウト状態が続いている間２ビツト加算カ
ウンター１０は加算計数動作を続け、アンド回路
１１からの出力は“０”になつたり“１”になつ
たりするがフリツプフロツプ１２はセツト状態が
保持される。ドロツプアウト状態が終了して比較
出力６にパルスが現れると２ビツト加算カウンタ
ー１０に初期値“０”がロードされるとともにフ
リツプフロツプ１２はリセツトされてそのフリツ
プフロツプ１２からのドロツプアウト検査出力４
０は“０”となる。

第４図に示す第２の実施例の回路を備えるドロ
ツプアウト検査装置を用いて磁気デイスクのドロ
ツプアウト検査を行なうことにより、10KHz以下
から20MHz以上までの広い周波数範囲にわたつて
回路を再調整することなく、１ビツト以上のすべ
てのドロツプアウトを検査することができ、検査
時間を大幅に短縮することができた。

実施例 ３ 第５図は第１図に示す本発明のドロツプアウト
検査装置におけるカウンター７及び計数値検査回
路９の部分の第３の実施例を示す回路図であり、
カウンターとしては２ビツト減算カウンター１３
を用い、計数値検査回路としてはノア（NOR）
回路１４を用いている。

第５図において比較器からの比較出力６は２ビ
ツト減算カウンター１３にセツト信号として接続
され、また記録クロツク信号１は２ビツト減算カ
ウンター１３にクロツク信号として接続されてい
る。また２ビツト減算カウンター１３からの上位
ビツト出力と下位ビツト出力とはともにノア回路
１４に入力されており、このノア回路１４からの
出力はドロツプアウト検査出力４０となるととも
に２ビツト減算カウンター１３にイネーブル信号
として接続されている。

比較出力６にパルスが現れると２ビツト減算カ
ウンター１３に初期値３がロードされた後記録ク
ロツク信号１が減算計数される。ドロツプアウト
が生じていない状態では２ビツト減算カウンター
１３からの計数値出力は３，２又は１であり、従
つてノア回路１４からのドロツプアウト検査出力
４０は“０”となる。１ビツトのドロツプアウト
が生ずると２ビツト減算カウンター１３からの計
数値出力は“０”となり、従つてノア回路１４か
らのドロツプアウト検査出力４０は“１”となる
とともに２ビツト減算カウンター１０は計数動作
を止め、ドロツプアウト状態が続いている間その
ままの状態が保持される。ドロツプアウト状態が
終了して比較出力６にパルスが現れると２ビツト
減算カウンター１３からの計数値出力が３とな
り、ノア回路１４からのドロツプアウト検査出力
４０が“０”となつて２ビツト減算カウンター１
０は計数可能な状態となる。

第５図に示す第３の実施例の回路を備えるドロ
ツプアウト検査装置を用いて磁気デイスクのドロ
ツプアウト検査を行なうことにより、10KHzから
20MHz以上までの広い周波数範囲にわたつて回路
を再調整することなく１ビツト以上のすべてのド
ロツプアウトを検査することができ、検査時間を
大幅に短縮することができた。

実施例 ４ 第６図は第１図に示す本発明のドロツプアウト
検査装置におけるカウンター７及び計数値検査回
路９の部分の第４の実施例を示す回路図であり、
カウンターとしては２ビツト減算カウンター１３
を用い、計数値検査回路としてはノア（NOR）
回路１４とフリツプフロツプ１２とにより構成さ
れる回路を用いている。

第６図において比較器からの比較出力６は２ビ
ツト減算カウンター１３にセツト信号として接続
され、また記録クロツク信号１は２ビツト減算カ
ウンター１３にクロツク信号として接続されてい
る。また２ビツト減算カウンター１３からの上位
ビツト出力と下位ビツト出力とは共にノア回路１
４に入力されており、このノア回路１４からの出
力はフリツプフロツプ１２にセツト信号として接
続されて、このフリツプフロツプ１２からの出力
がドロツプアウト検査出力４０となる。また比較
出力６は、フリツプフロツプ１２にリセツト信号
として接続されている。

第６図に示した回路の動作は前記第１から第３
の実施例の回路の動作と同様に考えることがで
き、同様の効果をもたらすことができる。

実施例 ５ 第７図は第１図に示す本発明のドロツプアウト
検査装置におけるカウンター７及び計数値検査回
路９の部分の第５の実施例を示す回路図であり、
カウンターとしては３ビツト加算カウンター１５
を用い、計数値検査回路としては３ビツト加算カ
ウンター１５からの３ビツトの出力のうちの最上
位ビツトを取り出す回路１６を用いている。

第７図において比較器からの比較出力６は３ビ
ツト加算カウンター１５にリセツト信号として接
続され、比較出力６にパルスが現れると３ビツト
加算カウンター１５に初期値Ｎとして“０”がロ
ードされるよう構成されている。また記録クロツ
ク信号１は３ビツト加算カウンター１５にクロツ
ク信号として接続されている。また最上位ビツト
取り出し回路１６により３ビツト加算カウンター
１５からの３ビツトの出力のうちの最上位ビツト
が選択して取り出されドロツプアウト検査出力４
０となると共に３ビツト加算カウンター１５にイ
ネーブル信号として接続されている。

１ビツトのドロツプアウトが生じて３ビツト加
算カウンター１５からの計数値出力が４になると
ドロツプアウト検査出力４０が１になり、３ビツ
ト加算カウンター１５は加算動作を止める。ドロ
ツプアウト状態が終わつて比較出力６にパルスが
現れると３ビツト加算カウンター１５からの計数
値出力は“０”となりドロツプアウト検査出力４
０は“０”となるとともに３ビツト加算カウンタ
ー１５は加算動作が可能な状態となる。

第７図に示す第５の実施例の回路を備えるドロ
ツプアウト検査装置を用いることにより、前記第
１から第４の実施例と同様の効果をもたらすこと
ができた。

実施例 ６ 第８図は第１図に示す本発明のドロツプアウト
検査装置におけるカウンター７及び計数値検査回
路９の部分の第６の実施例を示す回路図であり、
カウンターとしては３ビツト減算カウンター１７
を用い、計数値検査回路としてはノア回路１８を
用いている。

第８図において比較器からの比較出力６は３ビ
ツト減算カウンター１７にロード信号として接続
され比較出力６にパルスが現れると３ビツト減算
カウンター１７に初期値Ｎとして初期値信号１９
にセツトされている値がロードされる。この実施
例においては初期値信号１９には“４”がセツト
されている。また記録クロツク信号１は３ビツト
減算カウンター１７にクロツク信号として接続さ
れている。また３ビツト減算カウンター１７から
の３ビツトの出力は共にノア（NOR）回路１８
に入力されており、このノア回路１８からの出力
はドロツプアウト検査出力４０となるとともに３
ビツト減算カウンター１７にイネーブル信号とし
て接続されている。

１ビツトのドロツプアウトが生じて３ビツト減
算カウンター１７からの計数値出力が“０”にな
るとドロツプアウト検査出力４０が“１”とな
り、３ビツト減算カウンター１７は減算動作を止
める。ドロツプアウト状態が終わつて比較出力６
にパルスが現れると３ビツト減算カウンター１７
からの計数値出力は“４”となりドロツプアウト
検査出力４０が“０”となるともに３ビツト減算
カウンター１７は減算動作が可能な状態となる。
第８図に示す第６の実施例の回路を備えるドロツ
プアウト検査回路を用いることにより、前記第１
から第５の実施例と同様の効果をもたらすことが
できた。

実施例 ７ 第８図に示す回路と同じ構成の回路で３ビツト
減算カウンター１７の初期値信号１９に初期値と
して“６”を入力することにより、10KHz以下か
ら20MHz以上の広い範囲の周波数にわたつて回路
を再調整することなく２ビツト以上の大きさのド
ロツプアウトに限定して検査することができ、検
査時間を大幅に短縮することができた。

実施例 ８ 第９図は本発明のドロツプアウト検査装置の第
８の実施例を示すブロツク図である。

第１から第８の実施例においては再生信号の正
領域についてのドロツプアウトを検査する回路に
ついて述べたが第８の実施例においては正・負両
領域のドロツプアウトを検査する回路を示す。

第９図のドロツプアウト検査装置は記録クロツ
ク信号１の周波数の２分の１の周波数の信号を記
録再生し、大きさが同じで極性の異なる２つの再
生信号２８と２９とを出力する記録再生部２０が
用いられ、それぞれの再生信号が第１図に示した
本発明のドロツプアウト検査装置の基本構成に示
した比較器５、カウンター７、計数値検査回路９
と同様な構成の比較器２１，２２、カウンター２
３，２４、計数値検査回路２５，２６によりドロ
ツプアウト検査され、それぞれの計数値検査回路
２５，２６からの検査出力がともにアンド回路２
７に入力されて、再生信号のいずれか一方の極性
の領域にドロツプアウトが生じた場合にドロツプ
アウト検査出力４０にパルスが現れるよう構成さ
れている。

第９図に示すドロツプアウト検査装置でカウン
ター及び計数値検査回路として前記第１から第８
の実施例に示した回路を用いることにより10KHz
以下から20MHz以上の広い周波数範囲にわたつて
再生信号の両極性の領域のドロツプアウトを検出
することができ、検査時間を大幅に短縮すること
ができた。

（発明の効果） 以上のように本発明のドロツプアウト検査装置
により、広い周波数範囲にわたつてのドロツプア
ウト検査を行なう場合においても、回路を再調整
することを要せず検査時間を大幅に短縮すること
ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のドロツプアウト検査装置の基
本構成を示すブロツク図、第２図ａ〜ｃは第１図
に示す装置の動作を説明するための波形図、第２
図ｄはこれら波形図の各タイミングにおける計数
値出力８を示す図、第３図〜第８図は本発明のド
ロツプアウト検査装置のカウンター及び計数値検
査回路の部分の互いに異なる実施例をそれぞれ示
す回路図、第９図は本発明のドロツプアウト検査
装置の別の実施例を示すブロツク図、第１０図は
従来のドロツプアウト検査装置のブロツク図、第
１１図ａ〜ｃは第１０図に示す装置の動作を説明
するための波形図である。 １……記録クロツク信号、２，２０……記録再
生部、３，２８，２９……再生信号、４……ドロ
ツプアウトエラーレベル、５，２１，２２……比
較器、６……比較出力、７，２３，２４……カウ
ンター、８……計数値出力、９，２５，２６……
計数値検査回路、１０……２ビツト加算カウンタ
ー、１１，２７……アンド回路、１２，２８……
フリツプフロツプ、１３……２ビツト減算カウン
ター、１４，１８……ノア回路、１５……３ビツ
ト加算カウンター、１７……３ビツト減算カウン
ター、１９……初期値信号、２９……記録増幅回
路、３０……磁気ヘツド、３１……再生増幅回
路、３２……単安定マルチバイブレータ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 記録クロツク信号の周波数の２分の１の周波
   数の信号を情報記憶体に記録再生する記録再生部
   と、前記記録再生部の出力である再生信号がドロ
   ツプアウトエラーレベルよりも大きいときにパル
   スが現れる比較出力を出力する比較器とを有し、
   情報記憶体のドロツプアウトを検査する装置にお
   いて、前記比較出力に前記パルスが現れた時に初
   期値がＮに設定され前記記録クロツク信号の加算
   計数又は減算計数をするカウンター回路と、前記
   カウンター回路が前記加算計数をする場合にはそ
   のカウンター回路からの計数値出力がＮ＋ｎ（ｎ
   は正数）以上となつたことを検出し、また前記カ
   ウンター回路が前記減算計数をする場合にはその
   カウンター回路からの計数値出力がＮ−ｎ以下と
   なつたことを検出する計数値検査回路とを備え、
   前記ｎが３以上であることを特徴とするドロツプ
   アウト検査装置。 ２ ｎの値を４以下としたことを特徴とする特許
   請求の範囲第１項記載のドロツプアウト検査装
   置。