JPH057581Y2 - - Google Patents

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JPH057581Y2
JPH057581Y2 JP10467084U JP10467084U JPH057581Y2 JP H057581 Y2 JPH057581 Y2 JP H057581Y2 JP 10467084 U JP10467084 U JP 10467084U JP 10467084 U JP10467084 U JP 10467084U JP H057581 Y2 JPH057581 Y2 JP H057581Y2
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JP
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electrode
sample
grid electrode
potential
secondary electrons
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JP10467084U
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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、走査電子顕微鏡を用いて半導体デバ
イス等の電位を測定する装置の改良に関する。
[従来の技術] 近時、電子部品、特に半導体デバイスの機能試
験のため測定個所に電子ビームを照射して2次電
子を放出させ、そのエネルギーをスペクトロメー
タにより測定する電位測定装置が提案されてい
る。第2図はこのような装置の従来例を示す構成
図である。図中1は電子ビーム2が照射される半
導体デバイス等の試料であり、該試料1は図では
示していないが走査電子顕微鏡の試料室に配置さ
れている。この試料1には駆動電源10より駆動
電位Vsが与えられている。3は電子ビームの照
射により試料1の測定個所から放出される2次電
子で、該2次電子3は2次電子補捉電極4をその
先端に有しシンチレータ、ライトパイプ、光電子
増倍管などで構成された2次電子検出器5によつ
て検出される。6は試料1の電子ビーム入射側の
試料近傍に配置され、電源E1から正の電位(例
えば1KV)が与えられた吸引電極である。該吸
引電極6はネツト状に形成されており、試料1よ
り放出された二次電子が試料表面に存在する静電
界によつて引き戻されて、測定誤差を生ずるのを
防止するための電極である。7はネツト状に形成
され試料1に対して数Vだけ負の電位が与えられ
た格子電極であり、該格子電極7は吸引電極6に
より吸引され加速された2次電子に逆電界をかけ
て一定値に達しない低エネルギの2次電子3′の
通過を阻止し、2次電子の選別を行なうためのも
のである。8はネツト状に形成された偏向電極
で、該偏向電極8は格子電極7を通過した2次電
子3を2次電子検出器5の方向に偏向するための
電極であり、該偏向電極8には電源E2より正の
電位(例えば500V)が印加されている。そのた
め、該偏向電極8で偏向された2次電子3は、2
次電子補捉電極4により加速されて2次電子検出
器5によつて検出される。9は2次電子検出器5
よりの信号によつて格子電極7の格子電圧Vgを
制御して2次電子検出電流Isを一定にするための
負帰還回路である。
この様な装置において、試料1から放出された
二次電子は、吸引電極6により吸引加速され格子
電極7に向つて飛行するが、格子電極7によつて
形成された逆電界により減速されて一定のエネル
ギーを有する二次電子3のみが格子電極7を通過
する。つまり、格子電極7に印加される格子電圧
Vgによつて、該格子電極7を通過できる2次電
子のエネルギーが決定される。第3図はこの関係
を示しており、2次電子検出電流Isは第3図の斜
線部分を積分することにより求めることができ
る。又、試料1の試料電圧Vsを一定に保ち試料
1と略平行に配置された格子電極7に印加する格
子電圧Vgを変化させると、理想的には2次電子
検出電流Isは試料電圧Vs<0では第4図のイに
示す曲線で表わされ、Vs=0ではロ、同様にVs
>0の場合はハの様にエネルギー軸上を試料電圧
Vsだけ移動したものとなる。従つて、この移動
量に対応した信号を得ることによつて試料電圧
Vsを間接的に測定することができる。そこで、
第4図に示す様に、試料電圧Vsが変化した場合
でも2次電子検出電流Isが特定の値Is0となるよ
うに負帰還回路10によつて格子電圧Vgを制御
(Vg−Vs=一定となるように)し、その際Vgを
表わす信号をオシロスコープ等に導いて表示し、
試料電位Vsを測定している。
[考案が解決しようとする問題点] 以上のように構成された従来装置においては、
格子電極7の電位Vgが変化すると、電極7,8
間に形成される偏向電界が変化するため、2次電
子検出器5の2次電子補捉効率が変化する。その
ため、2次電子の検出特性は第4図に示した理想
的なものから外れた第5図に示すようなものとな
る。この第5図より明らかなように、試料電位
Vsが正の大きな値(Vs>0)をとる場合には、
曲線ハは直線Is=Is0と交わらなくなつたり、傾
斜がこの直線に近いものになつたりして、前述し
た帰還制御が適切に行ない得なくなる。そのた
め、試料の電位Vsを正確に測定することができ
ない。
[問題点を解決するための手段] 本考案の構成は、電子ビームを試料の測定個所
に照射し、該試料から放射する2次電子を2次電
子検出器により検出して試料の電位を測定する装
置において、前記試料の電子ビーム入射側に配置
され前記2次電子を吸引するための吸引電極と、
該吸引電極と一定の間隔をおいて配置され2次電
子を減速するための格子電極と、前記二次電子検
出器と格子電極の間に設けられた負帰還回路と、
該格子電極と2次電子検出器の間に設けられた2
次電子を偏向するための偏向電極とを備えた装置
において、該格子電極の電位の変化に基づく格子
電極、偏向電極間の電圧変化を相殺するように、
前記偏向電極に印加する電圧を変化させるための
手段を具備したことを特徴としている。
[実施例] 以下本考案の実施例を添付図面に基づき詳述す
る。
第1図は本考案の一実施例を示す構成図であ
り、第2図に示す従来装置と同一部分には同一番
号を付してその説明を省略する。第1図の本考案
装置が第2図の従来装置と異なる点は、負帰還回
路10で制御される格子電極7に印加する格子電
圧Vgの変化に応じて偏向電極の偏向電圧Vdも変
化する様に構成した点にある。
この様な装置では、格子電圧Vgの変化に応じ
て偏向電極の電位Vdが変化して、電極7,8間
の電位差が一定に保たれるので、前記偏向電界は
格子電圧Vgの変化に関わらず一定に保持される。
そのため、2次電子検出器5の検出効率も一定と
なる。又、偏向電極8と2次電子検出器5間の電
界は、格子電圧Vgが変化することにより変化す
るが、偏向電極8の電位変化幅が大きくても数十
Vであるのに対して、2次電子補捉電極4の電位
は10KV以上であるので、相対的には軌道の変化
は小さく、事実上この部分の電界の変化による2
次電子補捉効率の変化は無視できる。従つて、2
次電子検出系の検出特性は第4図に示した理想的
なものに近くなり、試料電圧Vsが正の大きな値
(Vs>0)をとる場合にも正確に試料電位Vsを
測定することができる。
[効果] 以上の様に本考案によれば、電子ビームを試料
の測定個所に照射し、該試料から放射する2次電
子を2次電子検出器により検出して試料の電位を
測定する装置において、試料の電位範囲が広く変
化する場合にも、正確に測定を行なうことが可能
となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例の構成図、第2図は
従来装置の構成図、第3図は2次電子のエネルギ
ー分布と検出信号との関係を示すための図、第4
図は2次電子測定系の理想的な検出特性を示すた
めの図、第5図は従来装置を説明するための図で
ある。 1……電子線、2……試料、3……二次電子、
4……二次電子補捉電極、5……二次電子検出
器、6……吸引電極、7……格子電極、8……偏
向電極、9……負帰還回路、10……駆動電源。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 電子ビームを試料の測定個所に照射し、該試料
    から放射する2次電子を2次電子検出器により検
    出して試料の電位を測定する装置において、前記
    試料の電子ビーム入射側に配置され前記2次電子
    を吸引するための吸引電極と、該吸引電極と一定
    の間隔をおいて配置され2次電子を減速するため
    の格子電極と、前記二次電子検出器と格子電極の
    間に設けられた負帰還回路と、該格子電極と2次
    電子検出器の間に設けられた2次電子を偏向する
    ための偏向電極とを備えた装置において、該格子
    電極の電位の変化に基づく格子電極、偏向電極間
    の電圧変化を相殺するように、前記偏向電極に印
    加する電圧を変化させるための手段を具備したこ
    とを特徴とする走査電子顕微鏡を用いた電位測定
    装置。
JP10467084U 1984-07-11 1984-07-11 走査電子顕微鏡を用いた電位測定装置 Granted JPS6119774U (ja)

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JP10467084U JPS6119774U (ja) 1984-07-11 1984-07-11 走査電子顕微鏡を用いた電位測定装置

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JP10467084U JPS6119774U (ja) 1984-07-11 1984-07-11 走査電子顕微鏡を用いた電位測定装置

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JPS6119774U JPS6119774U (ja) 1986-02-05
JPH057581Y2 true JPH057581Y2 (ja) 1993-02-25

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JP10467084U Granted JPS6119774U (ja) 1984-07-11 1984-07-11 走査電子顕微鏡を用いた電位測定装置

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JP2015028851A (ja) * 2013-07-30 2015-02-12 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線装置

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JPS6119774U (ja) 1986-02-05

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