JPH0342622Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0342622Y2 JPH0342622Y2 JP1984154672U JP15467284U JPH0342622Y2 JP H0342622 Y2 JPH0342622 Y2 JP H0342622Y2 JP 1984154672 U JP1984154672 U JP 1984154672U JP 15467284 U JP15467284 U JP 15467284U JP H0342622 Y2 JPH0342622 Y2 JP H0342622Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detector
- energy
- power source
- slit
- focusing electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 7
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本考案は、光電子あるいはオージエ電子等を分
析するためのエネルギアナライザに関する。
析するためのエネルギアナライザに関する。
[従来の技術]
試料から発生した光電子或いはオージエ電子等
をエネルギアナライザに導いてエネルギスペクト
ルを得、試料の分析が行なわれている。第3図に
従来のエネルギアナライザの概略構成を示す。図
において、1は図示外の試料からX線等の照射に
より発生する例えば光電子2をエネルギ分析する
ための180°半球面型電極(以下半球面型電極と略
する)であり、該半球面型電極1は同心的に配置
された二つの半球電極1a,1bからなり、これ
らの半球電極間には分析用電源3から数V〜数十
Vの電圧が印加されている。該分析用電源3から
の電圧は、該分析用電源をコントロールする掃引
制御電源4により掃引される。5は半球面型電極
1の出射口に配置された出射スリツトで、光電子
2は図示外の入射スリツトを通過して半球電極1
a,1b間に入射しエネルギに応じて出射スリツ
ト5上の種々の個所に集束される。そして、エネ
ルギ掃引により順次異つたエネルギの電子が出射
スリツト5を通過してチヤンネルトロン型電子線
検出器6によつて検出される。前記出射スリツト
5と検出器6の間には、出射スリツトを通過した
電子をできる限り多く(効率良く)検出するため
筒状の集束電極7が配置されており、該集束電極
7にも掃引制御電源4より掃引電圧が印加されて
いる。8は前記検出器6のダイノード面に沿つて
加速電界を生じせしめるための高圧電源である。
をエネルギアナライザに導いてエネルギスペクト
ルを得、試料の分析が行なわれている。第3図に
従来のエネルギアナライザの概略構成を示す。図
において、1は図示外の試料からX線等の照射に
より発生する例えば光電子2をエネルギ分析する
ための180°半球面型電極(以下半球面型電極と略
する)であり、該半球面型電極1は同心的に配置
された二つの半球電極1a,1bからなり、これ
らの半球電極間には分析用電源3から数V〜数十
Vの電圧が印加されている。該分析用電源3から
の電圧は、該分析用電源をコントロールする掃引
制御電源4により掃引される。5は半球面型電極
1の出射口に配置された出射スリツトで、光電子
2は図示外の入射スリツトを通過して半球電極1
a,1b間に入射しエネルギに応じて出射スリツ
ト5上の種々の個所に集束される。そして、エネ
ルギ掃引により順次異つたエネルギの電子が出射
スリツト5を通過してチヤンネルトロン型電子線
検出器6によつて検出される。前記出射スリツト
5と検出器6の間には、出射スリツトを通過した
電子をできる限り多く(効率良く)検出するため
筒状の集束電極7が配置されており、該集束電極
7にも掃引制御電源4より掃引電圧が印加されて
いる。8は前記検出器6のダイノード面に沿つて
加速電界を生じせしめるための高圧電源である。
[考案が解決しようとする問題点]
しかし乍らこの様に構成された従来装置では、
該電子線検出器入射面は接地されているため、掃
引制御電源4で低エネルギを掃引した場合に、検
出器6と該集束電極7間に印加される電圧が小さ
なものとなり、集束電極7の集束レンズ作用が不
充分となる。そのため、出射スリツト5を通過し
た電子のうち検出器6に到達する割合が小さくな
る。又、チヤンネルトロン型電子線検出器の増倍
効率は、該入射電子のエネルギによつて異なり、
第2図の斜線部分で示すような数100eVの範囲で
最も効率が良いことが知られており(NUCLER
INSTRUMENT AND METHODS VOL97−
1971 P405〜408)、入射電子のエネルギが100eV
にも満たない低いエネルギ掃引時においては、検
出器の増倍効率も不充分であつた。これらの2つ
の理由により、従来装置においては、低いエネル
ギ領域の検出において感度が不充分であつた。本
考案は、以上の欠点を解消して、低いエネルギ領
域においても充分な感度で電子を検出することの
できるエネルギアナライザを提供することを目的
としている。
該電子線検出器入射面は接地されているため、掃
引制御電源4で低エネルギを掃引した場合に、検
出器6と該集束電極7間に印加される電圧が小さ
なものとなり、集束電極7の集束レンズ作用が不
充分となる。そのため、出射スリツト5を通過し
た電子のうち検出器6に到達する割合が小さくな
る。又、チヤンネルトロン型電子線検出器の増倍
効率は、該入射電子のエネルギによつて異なり、
第2図の斜線部分で示すような数100eVの範囲で
最も効率が良いことが知られており(NUCLER
INSTRUMENT AND METHODS VOL97−
1971 P405〜408)、入射電子のエネルギが100eV
にも満たない低いエネルギ掃引時においては、検
出器の増倍効率も不充分であつた。これらの2つ
の理由により、従来装置においては、低いエネル
ギ領域の検出において感度が不充分であつた。本
考案は、以上の欠点を解消して、低いエネルギ領
域においても充分な感度で電子を検出することの
できるエネルギアナライザを提供することを目的
としている。
[問題点を解決するための手段]
本問題点を解決するための本考案の構成は、対
向して配置された一対の電極と、該電極間にエネ
ルギ分析用電界を生ぜしめるための電源と、該エ
ネルギ分析用電界の出口に配置される出射スリツ
トと、エネルギー分析用電界を通過し該スリツト
を出射した電子を検出するための検出器と、該ス
リツトを通過した電子を該検出器に集束させるた
めの集束電極と、該集束電極及び前記電極にエネ
ルギ掃引電圧を印加するための掃引電源とを備え
た装置において、前記集束電極と検出器の間に一
定の電圧を与えるための電源を設けたことを特徴
としている。
向して配置された一対の電極と、該電極間にエネ
ルギ分析用電界を生ぜしめるための電源と、該エ
ネルギ分析用電界の出口に配置される出射スリツ
トと、エネルギー分析用電界を通過し該スリツト
を出射した電子を検出するための検出器と、該ス
リツトを通過した電子を該検出器に集束させるた
めの集束電極と、該集束電極及び前記電極にエネ
ルギ掃引電圧を印加するための掃引電源とを備え
た装置において、前記集束電極と検出器の間に一
定の電圧を与えるための電源を設けたことを特徴
としている。
[実施例]
以下図面に基づき本考案を詳述する。
第1図は本考案の一実施例を示したエネルギア
ナライザの概略構成図である。尚、第3図に示す
従来装置と同一構成要素には同一番号を付してそ
の説明を省略する。第1図の実施例装置は第3図
に示す従来装置と異なり、集束電極7と検出器6
の入射面との間に常に一定の電圧Eを印加する高
圧電源9が設けられている。この電圧Eとして
は、集束電極7の集束レンズ作用を最も強く働ら
かせるために100乃至400V程度が選ばれている。
ナライザの概略構成図である。尚、第3図に示す
従来装置と同一構成要素には同一番号を付してそ
の説明を省略する。第1図の実施例装置は第3図
に示す従来装置と異なり、集束電極7と検出器6
の入射面との間に常に一定の電圧Eを印加する高
圧電源9が設けられている。この電圧Eとして
は、集束電極7の集束レンズ作用を最も強く働ら
かせるために100乃至400V程度が選ばれている。
このように構成された装置において、掃引制御
電源4によりエネルギ掃引すると、該集束電極7
に印加される掃引電圧は例えば0から−1500Vに
わたつて変化するが、電源9により集束電極7と
電子線検出器6間の電圧は、常にEに保たれるた
め、該電極7の集束レンズ作用は低エネルギ領域
の掃引においても充分となる。又、該出射スリツ
ト5を通過し検出器6に入射する電子のエネルギ
は少くともEeVだけかさ上げされるため低いエネ
ルギ領域の掃引においても充分な効率で信号を増
倍することができる。
電源4によりエネルギ掃引すると、該集束電極7
に印加される掃引電圧は例えば0から−1500Vに
わたつて変化するが、電源9により集束電極7と
電子線検出器6間の電圧は、常にEに保たれるた
め、該電極7の集束レンズ作用は低エネルギ領域
の掃引においても充分となる。又、該出射スリツ
ト5を通過し検出器6に入射する電子のエネルギ
は少くともEeVだけかさ上げされるため低いエネ
ルギ領域の掃引においても充分な効率で信号を増
倍することができる。
[効果]
以上詳述した様に本考案によれば、該集束電極
に印加される掃引電圧に関係無く、集束電極と該
検出器間の電圧は常に一定であるため、低エネル
ギ領域の掃引においても集束レンズ作用が充分働
くと共に検出器に入射する電子の入射エネルギも
余り小さくならないため充分な感度で電子を検出
することができ、高精度のスペクトルを記録する
ことができる。
に印加される掃引電圧に関係無く、集束電極と該
検出器間の電圧は常に一定であるため、低エネル
ギ領域の掃引においても集束レンズ作用が充分働
くと共に検出器に入射する電子の入射エネルギも
余り小さくならないため充分な感度で電子を検出
することができ、高精度のスペクトルを記録する
ことができる。
第1図本考案の一実施例を示す構成図、第2図
は検出器の入射エネルギと検出効率の関係を表す
グラフ、第3図は従来装置の構成図である。 1:エネルギアナライザ、2:光電子、3:分
析用電源、4:掃引制御電源、5:出射スリツ
ト、6:電子線検出器、7:集束電極、8:検出
用加速電源、9:高圧電源。
は検出器の入射エネルギと検出効率の関係を表す
グラフ、第3図は従来装置の構成図である。 1:エネルギアナライザ、2:光電子、3:分
析用電源、4:掃引制御電源、5:出射スリツ
ト、6:電子線検出器、7:集束電極、8:検出
用加速電源、9:高圧電源。
Claims (1)
- 対向して配置された一対の電極と、該電極間に
エネルギ分析用電界を生ぜしめるための電源と、
該エネルギ分析用電界の出口に配置される出射ス
リツトと、エネルギー分析用電界を通過し該スリ
ツトを出射した電子を検出するための検出器と、
該スリツトを通過した電子を該検出器に集束させ
るためにスリツトと検出器との間に配置される集
束電極と、該集束電極及び前記一対の電極にエネ
ルギ掃引電圧を与えるための掃引電源とを備えた
装置において、前記集束電極と検出器との間に一
定の電圧を印加するための電源を設けたことを特
徴とするエネルギアナライザ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1984154672U JPH0342622Y2 (ja) | 1984-10-13 | 1984-10-13 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1984154672U JPH0342622Y2 (ja) | 1984-10-13 | 1984-10-13 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6170356U JPS6170356U (ja) | 1986-05-14 |
JPH0342622Y2 true JPH0342622Y2 (ja) | 1991-09-06 |
Family
ID=30712664
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1984154672U Expired JPH0342622Y2 (ja) | 1984-10-13 | 1984-10-13 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0342622Y2 (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5823157A (ja) * | 1981-07-31 | 1983-02-10 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58125353U (ja) * | 1982-02-19 | 1983-08-25 | 日本電子株式会社 | 負イオン検出装置 |
-
1984
- 1984-10-13 JP JP1984154672U patent/JPH0342622Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5823157A (ja) * | 1981-07-31 | 1983-02-10 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6170356U (ja) | 1986-05-14 |
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