JPH0573550U - 差圧測定装置 - Google Patents

差圧測定装置

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JPH0573550U
JPH0573550U JP1226392U JP1226392U JPH0573550U JP H0573550 U JPH0573550 U JP H0573550U JP 1226392 U JP1226392 U JP 1226392U JP 1226392 U JP1226392 U JP 1226392U JP H0573550 U JPH0573550 U JP H0573550U
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JP
Japan
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housing
hermetic terminal
fixing ring
differential pressure
strain
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Withdrawn
Application number
JP1226392U
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English (en)
Inventor
秀樹 桑山
英治 田谷
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ハーメチック端子のガラスにクラックを発生
させることなくハーメチック端子をハウジングに実質的
に溶接固定し得る差圧測定装置を提供するにある。 【構成】 ハウジング内に設けられた歪み―電気信号変
換素子と、該変換素子に封入液を介して測定圧力を伝達
する圧力伝達機構と、変換素子のリードに一端が接続さ
れハウジングに設けられたハーメチック端子とを具備す
る差圧測定装置において、ハーメチック端子の外周に設
けられシールリングを介してハウジングに接続された鍔
部と鍔部に接続されハウジングと鍔部を挟持する固定リ
ングと、固定リングとハウジングとの接合部分の外周面
に設けられ冷却時の体積収縮によりハウジングと固定リ
ングの鍔部への挟持力を発生させる溶接部とを具備した
ことを特徴とする差圧測定装置である。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、ハーメチック端子のガラスにクラックを発生させることなくハーメ チック端子をハウジングに実質的に溶接固定し得る差圧測定装置に関するもので ある。
【0002】
【従来の技術】
図2は従来より一般に使用されている従来例の構成説明図で、例えば、実開昭 60―181642号に示されている。 図において、ハウジング1の両側にフランジ2,3が溶接等によって固定され ており、両フランジ2,3には測定せんとする圧力の導入口4,5が設けられて いる。ハウジング1内に圧力測定室6が形成されており、この圧力測定室6内に センタダイアフラム7とシリコンダイアフラム8が設けられている。
【0003】 センタダイアフラム7とシリコンダイアフラム8はそれぞれ別個に圧力測定室 6の壁に固定されており、センタダイアフラム7とシリコンダイアフラム8の両 者でもって圧力測定室6を2分している。センタダイアフラム7と対向する圧力 測定室6の壁には、バックプレ―ト6A,6Bが形成されている。 センタダイアフラム7は周縁部をハウジング1に溶接されている。 シリコンダイアフラム8は全体が単結晶のシリコン基板から形成されている。
【0004】 シリコン基板の一方の面にボロン等の不純物を選択拡散して4っのストレンゲ ―ジ80を形成し、他方の面を機械加工、エッチングし、全体が凹形のダイアフ ラムを形成する。4っのストレインゲ―ジ80は、シリコンダイアフラム8が差 圧ΔPを受けてたわむ時、2つが引張り、2つが圧縮を受けるようになっており 、これらがホイ―トストン・ブリッジ回路に接続され、抵抗変化が差圧ΔPの変 化として検出される。
【0005】 81は、ストレインゲ―ジ80に一端が取付けられたリ―ドである。 82は、リ―ド81の他端が接続されたハ―メチック端子である。 ハーメチック端子82は、図3に示す如く、ハーメチック端子ボディ821、 リードピン822、封着ガラス823よりなり、装置の高耐圧を維持しながら小 型化を図るために、ハウジング1に鍔部824が直接溶接固定825されている 。
【0006】 支持体9は、ハ―メチック端子を備えており、支持体9の圧力測定室6側端面 に低融点ガラス接続等の方法でシリコンダイアフラム8が接着固定されている。 ハウジング1とフランジ2、およびフランジ3との間に、圧力導入室10,1 1が形成されている。この圧力導入室10,11内に隔液ダイアフラム12,1 3を設け、この隔液ダイアフラム12,13と対向するハウジング1の壁10A ,11Aに隔液ダイアフラム12,13と類似の形状のバックプレ―トが形成さ れている。
【0007】 隔液ダイアフラム12,13とバックプレ―ト10A,11Aとで形成される 空間と、圧力測定室6は、連通孔14,15を介して導通している。そして、隔 液ダイアフラム12,13間にシリコンオイル等の封入液101,102が満た され、この封入液が連通孔16,17を介してシリコンダイアフラム8の上下面 にまで至っている、封入液101,102はセンタダイアフラム7とシリコンダ イアフラム8とによって2分されているが、その量が、ほぼ均等になるように配 慮されている。
【0008】 以上の構成において、導入口4側から圧力が作用した場合、隔液ダイアフラム 12に作用する圧力が封入液101によってシリコンダイアフラム8に伝達され る。 一方、導入口5側から圧力が作用した場合、隔液ダイアフラム13に作用する 圧力が封入液102によってシリコンダイアフラム8に伝達される。 この結果、圧力差に応じてシリコンダイアフラム8が歪み、この歪み量がスト レインゲ―ジ80に因って電気的に取出され、差圧の測定が行なわれる。
【0009】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、この様な装置においては、ハーメチック端子82は装置の高耐 圧を維持しながら小型化を図るために、ハウジング1に鍔部824が直接溶接固 定825されている。このような固定方法では、溶接時に発生した熱により、ハ ーメチック端子82を構成している封着ガラス823にクラックが発生し易い。 本考案は、この問題点を、解決するものである。 本考案の目的は、ハーメチック端子のガラスにクラックを発生させることなく ハーメチック端子をハウジングに実質的に溶接固定し得る差圧測定装置を提供す るにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
この目的を達成するために、本考案は、金属よりなるハウジング内に設けられ た歪み―電気信号変換素子と、該歪み―電気信号変換素子に封入液を介して測定 圧力を伝達する圧力伝達機構と、前記歪み―電気信号変換素子に一端が接続され 前記封入液中を通り電気信号を取出すリ―ドと一端が該リードに接続され前記ハ ウジングに設けられたハーメチック端子とを具備する差圧測定装置において、 前記ハーメチック端子の外周に設けられ一面側がシールリングを介して前記ハ ウジングに接続された鍔部と該鍔部の他面側に接続され前記ハウジングと該鍔部 を挟持する固定リングと、該固定リングと前記ハウジングとの接合部分の外周面 に設けられ冷却時の体積収縮により前記ハウジングと前記固定リングの前記鍔部 への挟持力を発生させる溶接部とを具備したことを特徴とする差圧測定装置を構 成したものである。
【作用】
以上の構成において、ハウジングの両側面から圧力が作用した場合、隔液ダイ アフラムに作用する圧力が封入液によってシリコンダイアフラムに伝達される。 この結果、両圧力の差に応じてシリコンダイアフラムが歪み、この歪み量がス トレインゲ―ジに因って電気的に取出され、差圧の測定が行なわれる。
【0011】 而して、固定リングとハウジングとの接合部分の外周面に設けられ冷却時の体 積収縮により、ハウジングと固定リングの鍔部への挟持力を発生させる溶接部が 設けられているので、ハーメチック端子の鍔部がハウジングに直接溶接されず、 溶接時に発生した熱により、ハーメチック端子を構成している封着ガラスにクラ ックが発生することが無い。 以下、実施例に基づき詳細に説明する。
【0012】
【実施例】
図1は本考案の一実施例の要部構成説明図である。 図において、図2,図3と同一記号の構成は同一機能を表わす。 以下、図2,図3と相違部分のみ説明する。 21は、ハーメチック端子82の外周に設けられ一面側211がシールリング 22を介して、ハウジング1に接続された鍔部である。
【0013】 23は、鍔部21の他面側212に接続され、ハウジング1と鍔部21を挟持 する固定リングである。 24は、固定リング23とハウジング1との接合部分の外周面に設けられ冷却 時の体積収縮により、ハウジング1と固定リング22の鍔部21への挟持力を発 生させる溶接部である。
【0014】 以上の構成において、ハウジング1の両側面から圧力が作用した場合、隔液ダ イアフラム12,13に作用する圧力が封入液101,102によってシリコン ダイアフラムに伝達される。 この結果、両圧力の差に応じてシリコンダイアフラム8が歪み、この歪み量が ストレインゲ―ジ80に因って電気的に取出され、差圧の測定が行なわれる。
【0015】 而して、固定リング23とハウジング1との接合部分の外周面に設けられ冷却 時の体積収縮により、ハウジング1と固定リング23の鍔部21への挟持力を発 生させる溶接部24が設けられているので、ハーメチック端子82の鍔部21が ハウジング1に直接溶接されず、溶接時に発生した熱により、ハーメチック端子 82を構成している封着ガラス823にクラックが発生することが無い。
【0016】 この結果、ハーメチック端子82を直接溶接しないため、ハーメチック端子8 2の封着ガラス823に熱衝撃が加わらず、封着ガラス823にクラックガ生じ 無い。 なお、前述の実施例においては、センサは半導体センサのものについて説明し たが、これに限ることはなく、要するに、ハーメチック端子82を使用して信号 を取出すものであれば良い。 また、ハウジング1の構造もこれに限る事は無いことは勿論である。
【0017】
【考案の効果】
以上説明したように、本考案は、金属よりなるハウジング内に設けられた歪み ―電気信号変換素子と、該歪み―電気信号変換素子に封入液を介して測定圧力を 伝達する圧力伝達機構と、前記歪み―電気信号変換素子に一端が接続され前記封 入液中を通り電気信号を取出すリ―ドと一端が該リードに接続され前記ハウジン グに設けられたハーメチック端子とを具備する差圧測定装置において、 前記ハーメチック端子の外周に設けられ一面側がシールリングを介して前記ハ ウジングに接続された鍔部と該鍔部の他面側に接続され前記ハウジングと該鍔部 を挟持する固定リングと、該固定リングと前記ハウジングとの接合部分の外周面 に設けられ冷却時の体積収縮により前記ハウジングと前記固定リングの前記鍔部 への挟持力を発生させる溶接部とを具備したことを特徴とする差圧測定装置を構 成した。
【0018】 この結果、ハーメチック端子82を直接溶接しないため、ハーメチック端子8 2の封着ガラス823に熱衝撃が加わらず、封着ガラス823にクラックガ生じ 無い。
【0019】 従って、本考案によれば、ハーメチック端子のガラスにクラックを発生させる ことなくハーメチック端子をハウジングに実質的に溶接固定し得る差圧測定装置 を実現することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例の要部構成説明図である。
【図2】従来より一般に使用されている従来例の構成説
明図である。
【図3】図2の要部詳細説明図である。
【符号の説明】
1…ハウジング 2…フランジ 3…フランジ 4…導入口 5…導入口 6…圧力測定室 6A…バックプレ―ト 6B…バックプレ―ト 7…センタダイアフラム 8…シリコンダイアフラム 9…支持体 10…圧力導入室 11…圧力導入室 10A…バックプレ―ト 11A…バックプレ―ト 12…隔液ダイアフラム 13…隔液ダイアフラム 14…連通孔 15…連通孔 16…連通孔 21…鍔部 22…シールリング 23…固定リング孔 24…溶接部 80…ストレインゲ―ジ 81…リ―ド 82…ハ―メチック端子 821…ハーメチック端子ボディ 822…リードピン 823…封着ガラス 101…封入液 102…封入液

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】金属よりなるハウジング内に設けられた歪
    み―電気信号変換素子と、 該歪み―電気信号変換素子に封入液を介して測定圧力を
    伝達する圧力伝達機構と、 前記歪み―電気信号変換素子に一端が接続され前記封入
    液中を通り電気信号を取出すリ―ドと一端が該リードに
    接続され前記ハウジングに設けられたハーメチック端子
    とを具備する差圧測定装置において、 前記ハーメチック端子の外周に設けられ一面側がシール
    リングを介して前記ハウジングに接続された鍔部と該鍔
    部の他面側に接続され前記ハウジングと該鍔部を挟持す
    る固定リングと、 該固定リングと前記ハウジングとの接合部分の外周面に
    設けられ冷却時の体積収縮により前記ハウジングと前記
    固定リングの前記鍔部への挟持力を発生させる溶接部と
    を具備したことを特徴とする差圧測定装置。
JP1226392U 1992-03-12 1992-03-12 差圧測定装置 Withdrawn JPH0573550U (ja)

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