JPH052043U - 差圧測定装置 - Google Patents

差圧測定装置

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JPH052043U
JPH052043U JP4767191U JP4767191U JPH052043U JP H052043 U JPH052043 U JP H052043U JP 4767191 U JP4767191 U JP 4767191U JP 4767191 U JP4767191 U JP 4767191U JP H052043 U JPH052043 U JP H052043U
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JP
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diaphragm
pressure
measuring device
differential pressure
liquid
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JP4767191U
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Inventor
隆史 宮下
Original Assignee
横河電機株式会社
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 温度特性が良好で、高精度な差圧測定装置を
実現する。 【構成】 受圧部と熱膨脹係数が異なり波形を成すセン
タダイアフラムと、該センタダイアフラムとシリコンダ
イアフラムとにより2分された封入液室とを具備してな
る差圧測定装置において、温度変化によるセンタダイア
フラムの変位による内圧変化を小さくするように前記2
個の封入液室の液量が相違するようにされた封入液を具
備したことを特徴とする差圧測定装置である。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、温度特性が良好で、高精度な差圧測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図5は、従来より一般に使用されている従来例の構成説明図で、例えば、実開 昭60―181642号に示されている。
【0003】 図において、 1はハウジングで、円柱状の首部1Aと、首部1Aの端部外周縁部1Cにおい て溶接接続されたブロック状の受圧部1Bとよりなる。 ハウジング1の両側に高圧側フランジ2、低圧側フランジ3が溶接等によって 固定されており、両フランジ2,3には測定せんとする圧力PH の高圧流体の導 入口4、圧力PL の低圧流体の導入口5が設けられている。
【0004】 ハウジング1内に圧力測定室6が形成されており、この圧力測定室6内にセン タダイアフラム7とシリコンダイアフラム8が設けられている。 センタダイアフラム7とシリコンダイアフラム8はそれぞれ別個に圧力測定室 6の壁に固定されており、センタダイアフラム7とシリコンダイアフラム8の両 者でもって圧力測定室6を2分している。 センタダイアフラム7と対向する圧力測定室6の壁には、バックプレ―ト6A ,6Bが形成されている。
【0005】 センタダイアフラム7は周縁部をハウジング1に溶接されている。 シリコンダイアフラム8は全体が単結晶のシリコン基板から形成されている。 シリコン基板の一方の面にボロン等の不純物を選択拡散して4っのストレンゲ ―ジ80を形成し、他方の面を機械加工、エッチングし、全体が凹形のダイアフ ラムを形成する。
【0006】 4っのストレインゲ―ジ80は、シリコンダイアフラム8が差圧ΔPを受けて 撓む時、2つが引張り、2つが圧縮を受けるようになっており、これらがホイ― トストン・ブリッジ回路に接続され、抵抗変化が差圧ΔPの変化として検出され る。 シリコンダイアフラム8は、首部1Aを2個のセンサ室81,82に分ける。
【0007】 支持体9の圧力測定室6側端面に、低融点ガラス接続等の方法でシリコンダイ アフラム8が接着固定されている。 ハウジング1と高圧側フランジ2、および低圧側フランジ3との間に、圧力導 入室10,11が形成されている。 この圧力導入室10,11内に隔液ダイアフラム12,13を設け、この隔液 ダイアフラム12,13と対向するハウジング1の壁10A,11Aに隔液ダイ アフラム12,13と類似の形状のバックプレ―トが形成されている。
【0008】 隔液ダイアフラム12,13とバックプレ―ト10A,11Aとで形成される 空間と、圧力測定室6は、連通孔14,15を介して導通している。 そして、隔液ダイアフラム12,13間にシリコンオイル等の封入液101, 102が満たされ、この封入液が連通孔16,17を介してシリコンダイアフラ ム8の上下面にまで至っている。 封入液101,102は、センタダイアフラム7とシリコンダイアフラム8と によって2分されているが、その量が、ほぼ均等になるように配慮されている。 18は、受圧部1Bとフランジ2,3との間に設けられたガスケットで、この 場合は、Oリングが使用されている。
【0009】 以上の構成において、高圧側から圧力が作用した場合、隔液ダイアフラム12 に作用する圧力が封入液101によってシリコンダイアフラム8に伝達される。 一方、低圧側から圧力が作用した場合、隔液ダイアフラム13に作用する圧力 が封入液102によってシリコンダイアフラム8に伝達される。
【0010】 この結果、高圧側と低圧側との圧力差に応じてシリコンダイアフラム8が歪み 、この歪み量がストレインゲ―ジ80によって電気的に取出され、差圧の測定が 行なわれる。
【0011】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、この様な装置においては、受圧部1Bは普通SUS304,3 16等のステンレスが使用され、センタダイアフラム7には恒弾性材や高張力鋼 が多く使われている。 また、シリコンダイアフラム8は耐圧が低く、および、直線性を良くするため に、センタダイアフラム7には波形が付けられ、高温過大圧印加時にシリコンダ イアフラム8に加わる圧力を低く押えている。 この様な構成において、周囲温度が変化すると、受圧部1Bとセンタダイアフ ラム7の熱膨脹係数差により、センタダイアフラム7に引張りあるいは圧縮の力 が加わるため、センタダイアフラム7は、隔液ダイアフラム12、あるいは、隔 液ダイアフラム13側に移動し、ゼロ点がシフトする問題を有する。
【0012】 本考案は、この問題点を、解決するものである。 本考案の目的は、温度特性が良好で、高精度な差圧測定装置を提供するにある 。
【0013】
【課題を解決するための手段】
この目的を達成するために、本考案は、受圧部と熱膨脹係数が異なり波形を成 すセンタダイアフラムと、該センタダイアフラムとシリコンダイアフラムとによ り2分された封入液室とを具備してなる差圧測定装置において、 温度変化によるセンタダイアフラムの変位による内圧変化を小さくするように 前記2個の封入液室の液量が相違するようにされた封入液を具備したことを特徴 とする差圧測定装置を構成したものである。
【0014】
【作用】 以上の構成において、高圧側から圧力が作用した場合、隔液ダイアフラムに作 用する圧力が封入液によってシリコンダイアフラムに伝達される。 一方、低圧側から圧力が作用した場合、隔液ダイアフラムに作用する圧力が封 入液によってシリコンダイアフラムに伝達される。 従って、高圧側と低圧側との圧力差に応じてシリコンダイアフラムが歪み、こ の歪み量がストレインゲ―ジによって電気的に取出され、差圧の測定が行なわれ る。
【0015】 而して、温度変化によるセンタダイアフラムの変位による内圧変化を小さくす るように2個の封入液室の液量が相違するようにされた封入液が設けられたので 、温度変化によるセンタダイアフラムの変位による出力変化を打消す事ができる 。 以下、実施例に基づき詳細に説明する。
【0016】
【実施例】
図1は本考案の一実施例の要部構成説明図である。
【0017】 図において、 103,104は、温度変化によるセンタダイアフラム7の変位による内圧変 化を小さくするように、2個の封入液室の液量が相違するようにされた封入液で ある。
【0018】 この場合は、隔液ダイアフラム12側の封入液103は、隔液ダイアフラム1 3側の封入液104より封入液量がより多く調整されている。即ち、温度変化時 に封入液103と封入液104の封入液量の差により生じる内圧変化量と、セン タダイアフラム7の変位により生ずる内圧変化量とが、大きさが同じで、符号が 逆になるように調節されている。
【0019】 また、この場合は、受圧部1Bは、SUS316ステンレス、センタダイアフ ラム7は高張力鋼が使用されている。 センタダイアフラム7は、一般に、図2に示す如く、平板を一方向に変形させ て、波形を成形する為、図3に示す如く、外周部から半径方向に圧縮力が加わる と、点線のように変形する。図4に示す如く、外周部から半径方向に引張り力が 加わると、点線のように変形する。 図2において、点線は成形前の平板、実線は成形後の状態を示す。
【0020】 以上の構成において、高圧側から圧力が作用した場合、隔液ダイアフラム12 に作用する圧力が封入液103によってシリコンダイアフラム8に伝達される。 一方、低圧側から圧力が作用した場合、隔液ダイアフラム13に作用する圧力 が封入液104によってシリコンダイアフラム8に伝達される。
【0021】 この結果、高圧側と低圧側との圧力差に応じてシリコンダイアフラム8が歪み 、この歪み量がストレインゲ―ジ80によって電気的に取出され、差圧の測定が 行なわれる。
【0022】 而して、温度変化によるセンタダイアフラム7の変位による内圧変化を小さく するように2個の封入液室の液量が相違するようにされた封入液103,104 が設けられたので、温度変化によるセンタダイアフラム7の変位による出力変化 を打消す事ができる。
【0023】 この結果、封入液103と封入液104との封入液量差を、温度変化によるセ ンタダイアフラム7の変位による出力変化を打消すような量に調整したので、温 度特性の良好な、高精度な差圧測定装置が得られる。
【0024】 一例として、 受圧部1B材質:ステンレス鋼(SUS 316、線膨脹係数 16x10-6/℃) センタダイアフラム7材質:高張力鋼(マルエ―ジング鋼、線膨脹係数 10x 10-6/℃) とし、温度が100℃上昇したとすると、膨脹係数差からセンタダイアフラム7 には、引張力が働き、隔液ダイアフラム13の方向に変位する。その変位による 斥容積を100mm3 とし、隔液ダイアフラム12,13の容積変化率を4mm3 / mmH2 Oとすると、 Pi =(2×100)/4=50mmH2 O (1) の内圧変化を生じ、差圧測定装置の出力としては、マイナスの出力変化となる。
【0025】 これに対して、封入液101の封入液量を、封入液102の封入液量より20 00mm3 多く封入して置けば、封入液101,102の膨脹係数を1×10-3/ ℃とすると、 Pi =(2000×10-3×100)/4=50mmH2 O (2) でプラスの出力変化となるため、(1)式と相殺されて、出力変化は現れない。
【0026】
【考案の効果】
以上説明したように、本考案は、受圧部と熱膨脹係数が異なり波形を成すセン タダイアフラムと、該センタダイアフラムとシリコンダイアフラムとにより2分 された封入液室とを具備してなる差圧測定装置において、 温度変化によるセンタダイアフラムの変位による内圧変化を小さくするように 前記2個の封入液室の液量が相違するようにされた封入液を具備したことを特徴 とする差圧測定装置を構成した。
【0027】 この結果、封入液と封入液との封入液量差を、温度変化によるセンタダイアフ ラムの変位による出力変化を打消すような量に調整したので、温度特性の良好な 、高精度な差圧測定装置が得られる。
【0028】 従って、本考案によれば、温度特性が良好で、高精度な差圧測定装置を実現す ることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例の要部構成説明図である。
【図2】図1の要部構成説明図である。
【図3】図1の動作説明図である。
【図4】図1の動作説明図である。
【図5】従来より一般に使用されている従来例の構成説
明図である。
【符号の説明】
1…ハウジング 1A…首部 1B…受圧部 1C…溶接部 2…高圧側フランジ 3…低圧側フランジ 4…導入口 5…導入口 6…圧力測定室 6A…バックプレ―ト 6B…バックプレ―ト 7…センタダイアフラム 8…シリコンダイアフラム 9…支持体 10…圧力導入室 10A…バックプレ―ト 11…圧力導入室 11A…バックプレ―ト 12…隔液ダイアフラム 13…隔液ダイアフラム 14…連通孔 15…連通孔 16…連通孔 17…連通孔 18…Oリング 80…ストレインゲ―ジ 81…センサ室 82…センサ室 103,104…封入液

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 【請求項1】受圧部と熱膨脹係数が異なり波形を成すセ
    ンタダイアフラムと、該センタダイアフラムとシリコン
    ダイアフラムとにより2分された封入液室とを具備して
    なる差圧測定装置において、温度変化によるセンタダイ
    アフラムの変位による内圧変化を小さくするように前記
    2個の封入液室の液量が相違するようにされた封入液を
    具備したことを特徴とする差圧測定装置。
JP4767191U 1991-06-24 1991-06-24 差圧測定装置 Withdrawn JPH052043U (ja)

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JP4767191U JPH052043U (ja) 1991-06-24 1991-06-24 差圧測定装置

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Effective date: 19950907