JPH0573261B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0573261B2 JPH0573261B2 JP61161145A JP16114586A JPH0573261B2 JP H0573261 B2 JPH0573261 B2 JP H0573261B2 JP 61161145 A JP61161145 A JP 61161145A JP 16114586 A JP16114586 A JP 16114586A JP H0573261 B2 JPH0573261 B2 JP H0573261B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- circuit package
- cold plate
- temperature sensor
- screw
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 claims description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 claims description 3
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 4
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/46—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids
- H01L23/473—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids by flowing liquids
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、集積回路パツケージ温度検出構造に
関する。
関する。
電子計算機等の電子装置では多数の集積回路素
子を搭載した基板を複数枚、架に実装し、架に取
り付けたフアンにより強制空冷を行い、その排気
温度を観測し、排気温度が規定値以上になると、
集積回路素子の破壊を防ぐ為に、装置への給電を
停止する等の処置を行うのが一般的である。
子を搭載した基板を複数枚、架に実装し、架に取
り付けたフアンにより強制空冷を行い、その排気
温度を観測し、排気温度が規定値以上になると、
集積回路素子の破壊を防ぐ為に、装置への給電を
停止する等の処置を行うのが一般的である。
近年、素子の大規模集積化、実装の高密度化に
伴い、架内の発熱密度が極度に高くなつており、
これらを使用した装置では液体冷却方式を採用し
た集積回路パツケージを使用している。この方式
では集積回路パツケージ毎に温度センサを用意
し、集積回路パツケージの温度を検出し、温度が
規定以上になると、給電を停止する等の保護処置
を行つている。
伴い、架内の発熱密度が極度に高くなつており、
これらを使用した装置では液体冷却方式を採用し
た集積回路パツケージを使用している。この方式
では集積回路パツケージ毎に温度センサを用意
し、集積回路パツケージの温度を検出し、温度が
規定以上になると、給電を停止する等の保護処置
を行つている。
従来の集積回路パツケージ温度検出構造を第４
図を参照して説明する。
図を参照して説明する。
すなわちプリント板１上の集積回路パツケージ
２に細い通し溝１２を用意する。この溝１２に、
温度センサ８をセンサ出力を伝える為のフレキシ
ブルプリント板１０に接続し、又センサ出力を外
部へ伝える為の接続用コネクタ１１をフレキシブ
ルプリント板１０の補強板１４に接続したサブア
ツセンブリ（第５図にサブアツセンブリのみの斜
視図を示す）を挿入固定する。この集積回路パツ
ケージ２に、冷媒の供給口５−１、排出口５−２
を持つコールドプレート３を固定用ネジ４を用い
て密着させ、供給口５−１、排出口５−２の間に
冷媒を循環させることにより集積回路パツケージ
２を冷却し、接続用コネクタ１１にセンサ信号取
り出しのケーブル・コネクタ１３を接続し、信号
を取り出すことにより集積回路パツケージ２の温
度を検出監視し必要な保護処理を行つていた。
２に細い通し溝１２を用意する。この溝１２に、
温度センサ８をセンサ出力を伝える為のフレキシ
ブルプリント板１０に接続し、又センサ出力を外
部へ伝える為の接続用コネクタ１１をフレキシブ
ルプリント板１０の補強板１４に接続したサブア
ツセンブリ（第５図にサブアツセンブリのみの斜
視図を示す）を挿入固定する。この集積回路パツ
ケージ２に、冷媒の供給口５−１、排出口５−２
を持つコールドプレート３を固定用ネジ４を用い
て密着させ、供給口５−１、排出口５−２の間に
冷媒を循環させることにより集積回路パツケージ
２を冷却し、接続用コネクタ１１にセンサ信号取
り出しのケーブル・コネクタ１３を接続し、信号
を取り出すことにより集積回路パツケージ２の温
度を検出監視し必要な保護処理を行つていた。
上記の従来の集積回路パツケージ温度検出構造
ではフレキシブルプリント板１０の一部、補強板
１４、接続用コネクタ１１、すなわちセンサ出力
の信号経路の一部が集積回路パツケージ２より部
分的に飛び出ることになる。このように飛び出し
部分があると、集積回路パツケージ２の着脱持ち
運び時等に、この飛び出し部分がぶつかり、上記
信号経路の構成部品に損傷を与えるという問題点
があつた。
ではフレキシブルプリント板１０の一部、補強板
１４、接続用コネクタ１１、すなわちセンサ出力
の信号経路の一部が集積回路パツケージ２より部
分的に飛び出ることになる。このように飛び出し
部分があると、集積回路パツケージ２の着脱持ち
運び時等に、この飛び出し部分がぶつかり、上記
信号経路の構成部品に損傷を与えるという問題点
があつた。
又信号取り出し用のゲーブル・コネクタ１３を
接続用コネクタ１１に接続したまま集積回路パツ
ケージ２の取りはずしを行い、上記信号経路の構
成部品及びケーブル・コネクタ１３に損傷を与え
ることもあるという問題点もあつた。
接続用コネクタ１１に接続したまま集積回路パツ
ケージ２の取りはずしを行い、上記信号経路の構
成部品及びケーブル・コネクタ１３に損傷を与え
ることもあるという問題点もあつた。
さらにコールドプレート３を集積回路パツケー
ジ２に密着させる時、ケーブル・コネクタ１３の
ケーブルを間にはさんだまま密着させ前記ケーブ
ルを切ることもあるという欠点もあつた。
ジ２に密着させる時、ケーブル・コネクタ１３の
ケーブルを間にはさんだまま密着させ前記ケーブ
ルを切ることもあるという欠点もあつた。
本発明の構造は、集積回路の搭載に集積回路パ
ツケージと、前記集積回路パツケージに密着して
装備された冷媒により前記集積回路の冷却を行な
うコールドプレートとを備えた構造における集積
回路パツケージ温度検出構造において、先端に温
度センサを装着し内部に前記温度センサのリード
線導出孔を有するネジと、前記集積回路パツケー
ジには予め定めた前記集積回路の温度測定位置に
前記温度センサを位置するように前記ネジに対応
するタツプを設け、前記コールドプレートには前
記集積回路パツケージのタツプに対応する位置に
前記ネジの通し穴を設け、前記集積回路パツケー
ジおよび前記コールドプレートを介して前記ネジ
を挿入し前記集積回路の温度測定位置に前記温度
センサを位置したとき前記コールドプレートから
突出する前記ネジの前記コールドプレートに設け
られた他の突出部より低くして構成される。
ツケージと、前記集積回路パツケージに密着して
装備された冷媒により前記集積回路の冷却を行な
うコールドプレートとを備えた構造における集積
回路パツケージ温度検出構造において、先端に温
度センサを装着し内部に前記温度センサのリード
線導出孔を有するネジと、前記集積回路パツケー
ジには予め定めた前記集積回路の温度測定位置に
前記温度センサを位置するように前記ネジに対応
するタツプを設け、前記コールドプレートには前
記集積回路パツケージのタツプに対応する位置に
前記ネジの通し穴を設け、前記集積回路パツケー
ジおよび前記コールドプレートを介して前記ネジ
を挿入し前記集積回路の温度測定位置に前記温度
センサを位置したとき前記コールドプレートから
突出する前記ネジの前記コールドプレートに設け
られた他の突出部より低くして構成される。
次に本発明の実施例について図面を参照して説
明する。
明する。
第１図は本発明の一実施例を示す分解斜視図で
ある。第１図に於いて、１はプリント板、２は集
積回路パツケージであり、３がその内部を冷媒が
流れるコールドプレートで、５−１が冷媒の供給
口、５−２が冷媒の排出口である。４がコールド
プレート３を集積回路パツケージ２に密着固定さ
せるための固定ネジである。７は内部が空洞にな
つた温度センサ挿入用のネジであり、その先端に
温度センサ８が用意してあり温度センサ挿入用ネ
ジ７の空洞部を通して、信号を取り出すためのリ
ード線９を持つ。このサブアセンブリのＡ−Ａ断
面図が第２図に示してある。空洞部はリード線９
を外部に引出すのに十分であればよい。
ある。第１図に於いて、１はプリント板、２は集
積回路パツケージであり、３がその内部を冷媒が
流れるコールドプレートで、５−１が冷媒の供給
口、５−２が冷媒の排出口である。４がコールド
プレート３を集積回路パツケージ２に密着固定さ
せるための固定ネジである。７は内部が空洞にな
つた温度センサ挿入用のネジであり、その先端に
温度センサ８が用意してあり温度センサ挿入用ネ
ジ７の空洞部を通して、信号を取り出すためのリ
ード線９を持つ。このサブアセンブリのＡ−Ａ断
面図が第２図に示してある。空洞部はリード線９
を外部に引出すのに十分であればよい。
コールドプレート３には、第２図のサブアセン
ブリを通すための通し穴６−１があり、集積回路
パツケージ２には第２図のサブアセンブリを固定
するためのタツプ６−２が用意してある。コール
ドプレート３と集積回路パツケージ２をネジ４で
密着させた後、第２図のサブアセンブリをタツプ
６−２の底面に温度センサ８が密着するまで挿入
する。
ブリを通すための通し穴６−１があり、集積回路
パツケージ２には第２図のサブアセンブリを固定
するためのタツプ６−２が用意してある。コール
ドプレート３と集積回路パツケージ２をネジ４で
密着させた後、第２図のサブアセンブリをタツプ
６−２の底面に温度センサ８が密着するまで挿入
する。
第３図に集積回路パツケージ２、コールドプレ
ート３、第２図のサブアセンブリを密着させた状
態のＢ−Ｂ断面図を示す。第３図において、集積
回路基板１６に集積回路１７が搭載されておりこ
れを熱伝導板１８が支えて集積回路パツケージを
構成しプリント板１に搭載されている。集積回路
１７で生じた熱は熱伝導板１８、コールドプレー
ト３に伝わり、供給口５−１から流入し冷媒流路
１５を貫流して排出口５−２に流出する冷媒によ
り外部へ運ばれ集積回路１７が冷却される。第３
図に示すように温度センサ８により、集積回路パ
ツケージ２の温度（定常状態では集積回路１７の
温度と同じ）を測定しリード線９により図示せぬ
温度検出回路に接続される。ここで使用される温
度センサ８としては、サーミスタ、熱電対、半導
体温度センサいずれであつてもよい。温度センサ
挿入用ネジの高さは第３図の挿入状態でコールド
プレート２上に突出する部分が冷媒排出口５−２
より低くなるようにしてある。
ート３、第２図のサブアセンブリを密着させた状
態のＢ−Ｂ断面図を示す。第３図において、集積
回路基板１６に集積回路１７が搭載されておりこ
れを熱伝導板１８が支えて集積回路パツケージを
構成しプリント板１に搭載されている。集積回路
１７で生じた熱は熱伝導板１８、コールドプレー
ト３に伝わり、供給口５−１から流入し冷媒流路
１５を貫流して排出口５−２に流出する冷媒によ
り外部へ運ばれ集積回路１７が冷却される。第３
図に示すように温度センサ８により、集積回路パ
ツケージ２の温度（定常状態では集積回路１７の
温度と同じ）を測定しリード線９により図示せぬ
温度検出回路に接続される。ここで使用される温
度センサ８としては、サーミスタ、熱電対、半導
体温度センサいずれであつてもよい。温度センサ
挿入用ネジの高さは第３図の挿入状態でコールド
プレート２上に突出する部分が冷媒排出口５−２
より低くなるようにしてある。
よつて集積回路パツケージ２よりセンサの信号
経路構成部品が飛び出すことがないので集積回路
パツケージ２の着脱時、持ち運び時等にセンサの
信号経路に損傷を与えることがない。又第２図に
示すサブアセンブリをはずさなければ、コールド
プレート３がはずれないので、センサ信号用ケー
ブルを接続したまま集積回路パツケージ２を取り
はずすことによる信号経路の損傷もなく、コール
ドプレート３と集積回路パツケージを密着する
時、信号用のリード線を両者の間にはさむことも
なくなる。
経路構成部品が飛び出すことがないので集積回路
パツケージ２の着脱時、持ち運び時等にセンサの
信号経路に損傷を与えることがない。又第２図に
示すサブアセンブリをはずさなければ、コールド
プレート３がはずれないので、センサ信号用ケー
ブルを接続したまま集積回路パツケージ２を取り
はずすことによる信号経路の損傷もなく、コール
ドプレート３と集積回路パツケージを密着する
時、信号用のリード線を両者の間にはさむことも
なくなる。
本発明の集積回路パツケージ温度検出構造は上
記構造としたため集積回路パツケージに用意した
温度センサの信号経路が、集積回路パツケージか
ら飛び出ることがなくなり、従来のようにコール
ドプレート及び集積回路パツケージ操作時に温度
センサの信号経路に損傷を与えることをなくすこ
とができるという効果がある。
記構造としたため集積回路パツケージに用意した
温度センサの信号経路が、集積回路パツケージか
ら飛び出ることがなくなり、従来のようにコール
ドプレート及び集積回路パツケージ操作時に温度
センサの信号経路に損傷を与えることをなくすこ
とができるという効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示す分解斜視図、
第２図は第１図のサブアセンブリのＡ−Ａ断面図
であり、第３図は第１図の組立てられた状態での
Ｂ−Ｂ断面図、第４図は従来例を示す分解斜視
図、第５図は従来の温度検出構造のサブアセンブ
リである。 １……プリント板、２……集積回路パツケー
ジ、３……コールドプレート、４……固定用ネ
ジ、５−１……供給口、５−２……排出口、６−
１……通し穴、６−２……固定用タツプ、７……
温度センサ挿入用ネジ、８……温度センサ、９…
…リード線、１０……フレキシブルプリント板、
１１……接続用コネクタ、１２……通し溝、１３
……ケーブル・コネクタ、１４……補強板、１５
……冷媒流路、１６……集積回路基板、１７……
集積回路、１８……熱伝導板。
第２図は第１図のサブアセンブリのＡ−Ａ断面図
であり、第３図は第１図の組立てられた状態での
Ｂ−Ｂ断面図、第４図は従来例を示す分解斜視
図、第５図は従来の温度検出構造のサブアセンブ
リである。 １……プリント板、２……集積回路パツケー
ジ、３……コールドプレート、４……固定用ネ
ジ、５−１……供給口、５−２……排出口、６−
１……通し穴、６−２……固定用タツプ、７……
温度センサ挿入用ネジ、８……温度センサ、９…
…リード線、１０……フレキシブルプリント板、
１１……接続用コネクタ、１２……通し溝、１３
……ケーブル・コネクタ、１４……補強板、１５
……冷媒流路、１６……集積回路基板、１７……
集積回路、１８……熱伝導板。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 集積回路を搭載した集積回路パツケージと、
前記集積回路パツケージに密着して装備され冷媒
により前記集積回路の冷却を行なうコールドプレ
ートとを備えた構造における集積回路パツケージ
温度検出構造において、 先端に温度センサを装着し内部に前記温度セン
サのリード線導出孔を有するネジと、 前記集積回路パツケージには予め定めた前記集
積回路の温度測定位置に前記温度センサを位置す
るように前記ネジに対応するタツプを設け、 前記コールドプレートには前記集積回路パツケ
ージのタツプに対応する位置に前記ネジの通し穴
を設け、 前記集積回路パツケージおよび前記コールドプ
レートを介して前記ネジを挿入し前記集積回路の
温度測定位置に前記温度センサを位置したときに
前記コールドプレートから突出する前記ネジの部
分が前記コールドプレートに設けられた他の突出
部より低いことを特徴とする集積回路パツケージ
温度検出構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61161145A JPS6316648A (ja) | 1986-07-08 | 1986-07-08 | 集積回路パツケ−ジ温度検出構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61161145A JPS6316648A (ja) | 1986-07-08 | 1986-07-08 | 集積回路パツケ−ジ温度検出構造 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6316648A JPS6316648A (ja) | 1988-01-23 |
| JPH0573261B2 true JPH0573261B2 (ja) | 1993-10-14 |
Family
ID=15729447
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61161145A Granted JPS6316648A (ja) | 1986-07-08 | 1986-07-08 | 集積回路パツケ−ジ温度検出構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6316648A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4975766A (en) * | 1988-08-26 | 1990-12-04 | Nec Corporation | Structure for temperature detection in a package |
| US20110232866A1 (en) * | 2010-03-29 | 2011-09-29 | Zaffetti Mark A | Integral cold plate and honeycomb facesheet assembly |
| JP5926928B2 (ja) * | 2011-11-04 | 2016-05-25 | 昭和電工株式会社 | パワー半導体モジュール冷却装置 |
-
1986
- 1986-07-08 JP JP61161145A patent/JPS6316648A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6316648A (ja) | 1988-01-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0359007B1 (en) | Structure for temperature detection in integrated circuit package | |
| US6092926A (en) | Thermal monitoring system for semiconductor devices | |
| US5737171A (en) | Switched management of thermal impedence to reduce temperature excursions | |
| US20060158049A1 (en) | Integrated electric motor and drive, optimized for high-temperature operation | |
| JP3494188B2 (ja) | 集積回路素子用冷却装置 | |
| JP2009027051A (ja) | 電子機器の冷却装置 | |
| JPH0573261B2 (ja) | ||
| JP3352820B2 (ja) | パワートランジスタの異常発熱保護装置 | |
| US6835994B2 (en) | Power semiconductor module | |
| JPH0732217B2 (ja) | 集積回路パッケージの温度検出構造 | |
| WO2002011147A3 (de) | Integrierte schaltung mit temperatursensor | |
| JPS61171157A (ja) | 集積回路パツケ−ジ | |
| JPH0145982B2 (ja) | ||
| US4833569A (en) | Plug-in power supply module | |
| JPS642397A (en) | Cooling structure of package for electronic circuit | |
| JPH0770674B2 (ja) | 集積回路パッケージの温度検出構造 | |
| JPS5873145A (ja) | 半導体パツケ−ジ | |
| JP2020101522A (ja) | 熱監視のためのシステムおよび方法 | |
| JPH06132469A (ja) | 集積回路素子及び該素子を有する電子機器装置 | |
| JP2503713B2 (ja) | 集積回路パッケ―ジ | |
| JPH04240753A (ja) | 集積回路パッケージの温度検出構造および温度センサキャリア | |
| JPS608427Y2 (ja) | 樹脂封止形半導体装置 | |
| JPH09287778A (ja) | 電装品集約ボード構造 | |
| JPH0992992A (ja) | 電気機器 | |
| JP2506492Y2 (ja) | 半導体式熱感知器 |