JPH0563878B2 - - Google Patents

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JPH0563878B2
JPH0563878B2 JP61078624A JP7862486A JPH0563878B2 JP H0563878 B2 JPH0563878 B2 JP H0563878B2 JP 61078624 A JP61078624 A JP 61078624A JP 7862486 A JP7862486 A JP 7862486A JP H0563878 B2 JPH0563878 B2 JP H0563878B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sense amplifier
switch transistors
selection signal
column selection
input
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP61078624A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS62234292A (ja
Inventor
Machio Segawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP61078624A priority Critical patent/JPS62234292A/ja
Publication of JPS62234292A publication Critical patent/JPS62234292A/ja
Publication of JPH0563878B2 publication Critical patent/JPH0563878B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体記憶装置に関し、特に情報の読
出し、書込みが任意の記憶番地に対して、随時、
等速で可能な半導体記憶装置に関する。
〔従来の技術〕
従来のこの種の半導体記憶装置について図面を
参照して説明する。
第3図に一例を示すように従来のこの種の半導
体記憶装置においては、組をなす二本のデイジツ
ト線D・の一端にのみセンスアンプS1が配置
されていた。
行デコーダ1により一本のワード線Wを介して
選択された全てのメモリセルMの情報が各組のデ
イジツト線Dまたはに伝えられ、これらの情報
がセンスアンプS1で差動増幅され、その差動増幅
出力は各組のデイジツト線Dおよびに伝えられ
る。列デコーダ2は一つの列選択信号Yにより一
組のデイジツト線D・にそれぞれ直列に接続さ
れたスイツチトランジスタT1・T2をオンにする。
これらスイツチトランジスタT1・T2を介して一
組のデイジツト線D・の情報が入出力バスI/
O・/Oに伝えられる。ワード線Wにより選択
されたその他のメモリセルMの情報もセンスアン
プS1で差動増幅されるが、これら情報に対応す
るスイツチトランジスタT1・T2がオフであるた
め入出力バスI/O・/Oには伝えられない。
第3図に示す従来例を高集積度化すると、一本
のデイジツト線Dまたはに接続されるメモリセ
ルMの数が増加し、そのため寄生容量が増加して
センスアンプS1の感度が悪くなる。この問題を
解決するため、デイジツト線D・を多分割して
寄生容量を減少させるということが行われる。し
かし、デイジツト線D・の多分割により、入出
力バスI/O・/Oにつながるスイツチトラン
ジスタT1・T2の数も増加するため、入出力バス
I/O・/Oの寄生容量が増加する。よつて、
センスアンプ1はメモリセルMの情報を差動増幅
するのに加えて、情報を入出力バスI/O・/
Oに転送するために増幅することが必要となる。
高集積度化とデイジツト線D・の多分割とによ
り、センスアンプS1の消費電力中、メモリセル
Mの情報の差動増幅のための分と入出力バスI/
O・/Oへの転送のための増幅の分とが等しく
なるか、あるいは後者の方が大きくなる。
列選択信号Yにより選択されたデイジツト線
D・に対応する一つのセンスアンプS1のみが
このとき動作していれば十分であるが、第3図に
示す従来例ではその他の全てのセンスアンプS1
も動作している。
〔発明が解決しようとする問題点〕
以上説明したように従来の半導体記憶装置は、
動作する必要のないセンスアンプも全て動作する
ので消費電力が大きいという欠点がある。
本発明の目的は、上記欠点を解消して消費電力
の小さい半導体記憶装置を供給することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の半導体記憶装置は、第一のセンスアン
プと、この第一のセンスアンプの差動端子のそれ
ぞれにそれぞれの一方の端が接続されて組をなす
二本のデイジツト線と、これら二本のデイジツト
線のそれぞれと1対1に対応し、列選択信号によ
つてオンオフ制御される二つの第一のスイツチト
ランジスタと、これら二つの第一のスイツチトラ
ンジスタのそれぞれを直列に介して差動端子のそ
れぞれが前記二本のデイジツト線のそれぞれの他
方の端に接続され、前記列選択信号によつて動
作・非動作が制御される第二のセンスアンプと、
この第二のセンスアンプの前記差動端子のそれぞ
れを挟んで前記第一のスイツチトランジスタのそ
れぞれと直列に接続され、前記列選択信号によつ
てオンオフ制御される二つの第二のスイツチトラ
ンジスタとを備えて構成される。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
第1図は本発明の一実施例を示すブロツク図、
第2図a,bは、第1図におけるセンスアンプS
2・S3を示す回路図である。
第2図aに図示すように、センスアンプS2の
二つの差動端子のそれぞれにデイジツト線D・
の一端が接続され、これらデイジツト線D・が
一つの組をなしている。センスアンプS2の共通
端子にはセンスアンプイネーブル信号SAE(第1
図では省略した)が加えられ、センスアンプイネ
ーブル信号SAE入力時のみセンスアンプS2が
動作する。デイジツト線D・とワード線Wの交
点にメモリセルMが配置される。各ワード線Wは
行デコーダ1に接続されている。第2図bに図示
するように、一組のデイジツト線D・の他端が
それぞれスイツチトランジスタT3・T4を直列に
介してセンスアンプS3の二つの差動端子のそれ
ぞれに接続されている。またこれら差動端子のそ
れぞれはスイツチトランジスタT1・T2をそれぞ
れ直列に介して入出力バスI/O・/Oに接続
されている。これらスイツチトランジスタT1
T4は列選択信号Yによりオンオフ制御されるの
で、列デコーダ2により列選択信号Yが選択され
ていないセンスアンプS3に対応するデイジツト
線D・は入出力バスI/O・/Oに接続され
ない。センスアンプS3の共通端子にはトランジ
スタT5を介してセンスアンプイネーブル信号
SAEが加えられ、トランジスタT5も列選択信号
Yによりオンオフ制御されるので、列選択信号Y
が選択されていないセンスアンプS3はセンスア
ンプイネーブル信号SAE入力時にも動作しない。
行デコーダ1により一本のワード線Wを介して
選択された全てのメモリセルMの情報が各組のデ
イジツト線Dまたはに伝えられ、センスアンプ
イネーブル信号SAEの入力時にこれらの情報が
センスアンプS2で差動増幅され、その差動増幅
出力は各組のデイジツト線Dおよびに伝えられ
る。列デコーダ2は一つの列選択信号Yにより、
一組のデイジツト線D・に接続されたスイツチ
トランジスタT1〜T4とこれらスイツチトランジ
スタに接続されたセンスアンプ3のトランジスタ
T5とをオンする。その結果、列選択信号Yに対
応するデイジツト線D・の情報がセンスアンプ
イネーブル信号SAEの入力時にセンスアンプS
3により増幅されて入出力バスI/O・/Oに
伝えられる。
一つのメモリセルMの情報を入出力バスI/
O・/Oに転送する際全てのセンスアンプS2
とそのメモリセルMに対応する一つのセンスアン
プS3が動作する。
センスアンプS3は寄生容量の大きい入出力バ
スI/O・/Oを駆動する必要があるため消費
電力が大きくなるが、一時期に一つしか動作しな
い。
センスアンプS2は、メモリセルMの情報を差
動増幅するのみでよく、寄生容量の大きい入出力
バスI/O・/Oを駆動する必要はないので消
費電力はきわめて小さく、全てのセンスアンプS
2の消費電力の総和も一つのセンスアンプS3の
消費電力と較べて無視できる。
〔発明の効果〕
以上詳細に説明したように本発明の半導体記憶
装置は、第一のセンスアンプにメモリセルの情報
の差動増幅のみを行わせしめることにより第一の
センスアンプの消費電力を小さくし、第一のセン
スアンプにより差動増幅された情報を入出力バス
に転送する第二のセンスアンプのうち列選択信号
で選択された一つのみしか差動させないので、消
費電力が小さいという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の半導体記憶装置の一実施例を
示すブロツク図、第2図a,bは第1図における
センスアンプS2,S3を示す回路図、第3図は
従来の半導体記憶装置の一例を示すブロツク図で
ある。 1……行デコーダ、2……列デコーダ、D・
……デイジツト線、I/O・/O……入出力バ
ス、M……メモリセル、S2,S3……センスア
ンプ、T1〜T4……スイツチトランジスタ、W…
…ワード線、Y……列選択信号。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 第一のセンスアンプと、 この第一のセンスアンプの差動端子のそれぞれ
    にそれぞれの一方の端が接続されて組をなす二本
    のデイジツト線と、 これら二本のデイジツト線のそれぞれと1対1
    に対応し、列選択信号によつてオンオフ制御され
    る二つの第一のスイツチトランジスタと、 これら二つの第一のスイツチトランジスタのそ
    れぞれを直列に介して差動端子のそれぞれが前記
    二本のデイジツト線のそれぞれの他方の端に接続
    され、前記列選択信号によつて動作・非動作が制
    御される第二のセンスアンプと、 この第二のセンスアンプの前記差動端子のそれ
    ぞれを挟んで前記第一のスイツチトランジスタの
    それぞれと直列に接続され、前記列選択信号によ
    つてオンオフ制御される二つの第二のスイツチト
    ランジスタと を備えることを特徴とする半導体記憶装置。
JP61078624A 1986-04-04 1986-04-04 半導体記憶装置 Granted JPS62234292A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61078624A JPS62234292A (ja) 1986-04-04 1986-04-04 半導体記憶装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61078624A JPS62234292A (ja) 1986-04-04 1986-04-04 半導体記憶装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62234292A JPS62234292A (ja) 1987-10-14
JPH0563878B2 true JPH0563878B2 (ja) 1993-09-13

Family

ID=13667035

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61078624A Granted JPS62234292A (ja) 1986-04-04 1986-04-04 半導体記憶装置

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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2599747B2 (ja) * 1988-03-10 1997-04-16 沖電気工業株式会社 半導体メモリの制御方法
JP2605890B2 (ja) * 1989-10-18 1997-04-30 日本電気株式会社 センス増幅回路
JPH0430385A (ja) * 1990-05-25 1992-02-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体記憶装置

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JPS62234292A (ja) 1987-10-14

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