JPH056311U - 高さ測定装置 - Google Patents

高さ測定装置

Info

Publication number
JPH056311U
JPH056311U JP909491U JP909491U JPH056311U JP H056311 U JPH056311 U JP H056311U JP 909491 U JP909491 U JP 909491U JP 909491 U JP909491 U JP 909491U JP H056311 U JPH056311 U JP H056311U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
height
coil
image
sample
deflection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP909491U
Other languages
English (en)
Inventor
孝 島谷
勝人 後藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyu Denshi Co Ltd
Original Assignee
Sanyu Denshi Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanyu Denshi Co Ltd filed Critical Sanyu Denshi Co Ltd
Priority to JP909491U priority Critical patent/JPH056311U/ja
Publication of JPH056311U publication Critical patent/JPH056311U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本考案は、ステレオ像を用いて高さを測定す
る高さ測定装置に関し、左画像および右画像を同一画面
上に表示して両者の差をもとに高さを測定することを目
的とする。 【構成】 上段のコイルでビームを偏向して下段のコイ
ルでビームを元の位置に振り戻す偏向コイル2を備え、
この偏向コイル2によってビームを異なる角度で傾斜し
て試料に照射し、生成した左画像および右画像を1つの
画面上に重畳して表示し、下段(あるいは上段)のコイ
ルに電流を重畳して流し、ある画像を一致させた後、被
測定対象の画像を一致させ、これら両者のときの電流差
を検出して高さを測定するように構成する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、ステレオ像を用いて高さを測定する高さ測定装置に関するものであ る。
【0002】
【従来の技術】
従来、走査型電子顕微鏡などを用いて試料をステレオ観察(立体観察)する場 合、図3に示すように、対物レンズ23の下方に2段の偏向コイル21、22を 設け、上段の偏向コイル21に図示のように例えば正方向の矩形電流を流して左 方向にビームを振り、下段の偏向コイル22に図示のように例えば負方向の矩形 電流を流して元の位置に振り戻す。これにより、試料に対して傾斜した角度から ビームを照射し、この状態で対物レンズ23の上部にある図示外の走査コイルで 2次元的に走査し、試料からの2次電子を検出器で検出し、ステレオ像を構成す る1つの画像(左画像)を表示する。同様にして、上段の偏向コイル21および 下段の偏向コイル22に逆極性の電流を流し、ステレオ像を構成するもう1つの 画像(右画像)を表示する。これら2つの画像(左画像、右画像)を人がステレ オ眼鏡で観察してステレオ像(立体像)を観察するようにしている。このステレ オ観察装置を用い、試料の高さを測定することが望まれている。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
上述したステレオ観察装置は、異なる傾斜した方向(振り角)からビームを試 料に照射した状態で、ビームで試料上を2次元走査した左画像および右画像をス テレオ眼鏡を通して観察し、ステレオ感を認識するようにしているのみで、試料 の高さを測定することが行われていなかった。
【0004】 本考案は、左画像および右画像を同一画面上に表示して両者の差をもとに高さ を測定することを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】
図1を参照して課題を解決するための手段を説明する。 図1において、偏向コイル2は、上段のコイルでビームを偏向して下段のコイ ルでビームを元の位置に振り戻すコイルである。
【0006】
【作用】
本考案は、図1に示すように、偏向コイル2によってビームを異なる角度で傾 斜して試料に照射し、生成した左画像および右画像を1つの画面上に重畳して表 示し、下段(あるいは上段)のコイルに電流を重畳して流し、ある画像を一致さ せた後、被測定対象の画像を一致させ、これら両者の電流などの差を検出して高 さを測定するようにしている。また、同一画像の距離差を求めて高さを測定する ようにしている。
【0007】 従って、左画像および右画像を同一画面上に表示して両者の差をもとに高さを 測定することが可能となる。
【0008】
【実施例】
次に、図1および図2を用いて本考案の実施例の構成および動作を順次詳細に 説明する。 図1において、対物レンズ1は、ビームを絞って試料上に照射するものである 。
【0009】 偏向コイル2は、上段のコイルおよび下段のコイルの2つから構成されるもの である。上段のコイルに矩形電流を流してビームを偏向し、下段のコイルに矩形 電流を流して偏向したビームを振り戻し、ビームを傾斜した角度で試料を照射す るようにしている。 偏向駆動回路3は、偏向角用VR(偏向角用可変抵抗器)5からの信号(電圧 )をもとに、矩形電流を偏向コイル2の上段のコイルに供給し、ビームを偏向さ せるものである。
【0010】 偏向駆動回路4は、偏向角用VR5および高さ測定用VR6からの信号の和を もとに、矩形電流を偏向コイル2の下段のコイルに供給し、偏向されたビームを 振り戻させるものである。 偏向角用VR5は、ビームを偏向するための矩形電流の大きさを調整するもの である。
【0011】 高さ測定用VR6は、ここでは偏向コイル2の下段のコイルに高さ測定用の電 流、即ち、左画像と右画像とを一致させるための電流を供給させるものである。 次に、動作を詳細に説明する。 (1) 偏向駆動回路3からの矩形電流を偏向コイル2の上段のコイルに供給 してビームを偏向する。偏向駆動回路3からの矩形電流を偏向コイルの下段のコ イルに供給して偏向されたビームを振り戻し、ビームを傾斜した角度から試料を 照射する。そして、対物レンズ1の上方に配置した図示外の走査コイルに水平走 査電流および垂直走査電流を供給し、試料上のビームを2次元的に走査する。こ れにより、2つの振り角からビームを試料にそれぞれ照射して2次元的に走査し たときの左画像および右画像を、1つの画面上に重畳して表示する。このときに 、試料に対する振り角(偏向角)は、偏向角用VR5を調整して所望の角度(例 えば5度)に調整する。
【0012】 (2) (1)で1つの画面上に左画像および右画像を重畳して表示した状態 で、図1の高さ測定用VR6を調整し、高さを測定しようとする基準となる物体 の2重像を1つに一致させる。このときの、例えば測定用VR6のツマミの回転 角θ1を記憶あるいはそのときの電流値I1を記憶する。 (3) 次に、高さを測定しようとする被測定物体の2重像を、測定用VR6 を調整して1つに一致させる。このときの測定用RV6のツマミの回転角θ2あ るいはそのときの電流値I2を記憶する。
【0013】 (4) 高さは、(2)で記憶した回転角θ1(あるいは電流I1)と(3) で記憶した回転角θ2(あるいは電流I2)をもとに、 高さH=(θ2−θ1)×K1・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ あるいは 高さI=(I2−I1)×K2・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ K1、K2:高さが判明している試料を用いて校正した定数 として測定する。
【0014】 次に、図2を用いて詳細に説明する。 図2の(イ)は、図1の偏向コイル2の下段のコイルの部分を取り出した要部 の模式図を示す。この下段のコイルは、図1の高さ測定用VR6によって、流れ る電流を設定して振り角(偏向角)θを調整する。以下測定方法を説明する。 (1) 図2の(イ)の高さH1の試料上の点で、異なる2つの振り角でビー ムを試料に照射したときの左画像および右画像が一致するように、図1の高さ測 定用VR6を調整する。この調整は、図2の(ロ)の○で示す左画像および右画 像を一致させ、このときに、図2の(ハ)に示す、高さ測定用VR6のツマミの 回転位置Aを記憶する。
【0015】 (2) 次に、測定対象の図2の(イ)の高さH2の試料上の点で、左画像お よび右画像が一致するように、図1の高さ測定用VR6を調整する。この調整は 、図2の(ロ)の☆で示す左画像および右画像を一致させ、このときに、図2の (ハ)に示す、高さ測定用VR6のツマミの回転位置Bを記憶する。 (3) (1)、(2)で測定したツマミの回転位置A、回転位置Bをもとに 、高さを ΔH=(B−A)×θ0・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ として求める。ここで、θ0は、予め高さの判明した試料を用い、校正した値で ある。
【0016】 図2の(ロ)は、画面上で異なる高さにある物体○、☆の表示例を示す。高さ を測定する場合は上述したように、物体○を一致させたときの回転位置A、物体 ☆を一致させたときの回転位置Bを記憶し、上記式で高さを求める。 図2の(ハ)は、図1の高さ測定用VR6のツマミの例を示す。
【0017】 図2の(ニ)は、自動高さ計測の例を示す。これは、オペレータが左画像の☆ 、○、および右画像の☆、○の位置の比較範囲を矩形に示すように指定すると、 CPUが自動的に左画像の○と右画像の○の位置を一致させたときの電流値を求 め、次に、左画像の☆と右画像の☆の位置を一致させたときの電流値を求め、両 者の差から○の物体と☆の物体との2点間の高さを自動測定する。
【0018】
【考案の効果】
以上説明したように、本考案によれば、左画像および右画像を同一画面上に表 示して両者の差をもとに高さを測定する構成を採用しているため、ステレオ像を 用いて容易に試料の高さを正確に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の1実施例構成図である。
【図2】本考案の具体例説明図である。
【図3】従来技術の説明図である。
【符号の説明】
1:対物レンズ 2:偏向コイル 3、4:偏向駆動回路 5:偏向角用VR 6:高さ測定用VR

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ステレオ像を用いて高さを測定する高さ
    測定装置において、上段のコイルでビームを偏向して下
    段のコイルでビームを元の位置に振り戻す偏向コイル
    (2)を備え、 この偏向コイル(2)によってビームを異なる角度で傾
    斜して試料に照射し、生成した左画像および右画像を1
    つの画面上に重畳して表示し、上記下段(あるいは上
    段)のコイルに電流を重畳して流し、ある画像を一致さ
    せた後、被測定対象の画像を一致させ、これら両者の電
    流などの差を検出して高さを測定するように構成したこ
    とを特徴とする高さ測定装置。
  2. 【請求項2】 ステレオ像を用いて高さを測定する高さ
    測定装置において、上段のコイルでビームを偏向して下
    段のコイルでビームを元の位置に振り戻す偏向コイル
    (2)を備え、 この偏向コイル(2)によってビームを異なる角度で傾
    斜して試料に照射し、生成した左画像および右画像を1
    つの画面上に重畳して表示し、同一画像の距離差を求め
    て高さを測定するように構成したことを特徴とする高さ
    測定装置。
JP909491U 1991-02-27 1991-02-27 高さ測定装置 Pending JPH056311U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP909491U JPH056311U (ja) 1991-02-27 1991-02-27 高さ測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP909491U JPH056311U (ja) 1991-02-27 1991-02-27 高さ測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH056311U true JPH056311U (ja) 1993-01-29

Family

ID=11711032

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP909491U Pending JPH056311U (ja) 1991-02-27 1991-02-27 高さ測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH056311U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09115861A (ja) * 1995-10-20 1997-05-02 Hitachi Ltd 試料を加工する装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5828524A (ja) * 1981-07-30 1983-02-19 Toyota Motor Corp ヘリカル型吸気ポ−トの流路制御装置
JPH01140007A (ja) * 1987-11-26 1989-06-01 Jeol Ltd 高さ測定装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5828524A (ja) * 1981-07-30 1983-02-19 Toyota Motor Corp ヘリカル型吸気ポ−トの流路制御装置
JPH01140007A (ja) * 1987-11-26 1989-06-01 Jeol Ltd 高さ測定装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09115861A (ja) * 1995-10-20 1997-05-02 Hitachi Ltd 試料を加工する装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9129773B2 (en) Charged particle beam apparatus
CN104040676A (zh) 带电粒子线装置以及倾斜观察图像显示方法
JPH05299048A (ja) 電子線装置および走査電子顕微鏡
JP4750958B2 (ja) 電子線装置、電子線装置用データ処理装置、電子線装置のステレオ画像作成方法
JP3101114B2 (ja) 走査電子顕微鏡
JP3970656B2 (ja) 透過電子顕微鏡による試料観察方法
JPS6134221B2 (ja)
WO2012042738A1 (ja) 走査電子顕微鏡
JP2001210263A (ja) 走査電子顕微鏡、そのダイナミックフォーカス制御方法および半導体デバイスの表面および断面形状の把握方法
JPH056311U (ja) 高さ測定装置
JP2002270127A (ja) 電子線装置用データ処理装置、電子線装置のステレオ測定方法
WO2022070498A1 (ja) 荷電粒子線装置及びそれを用いる試料観察方法
JP2004335320A (ja) 荷電粒子線装置
JP3499690B2 (ja) 荷電粒子顕微鏡
JP3400608B2 (ja) 走査電子顕微鏡
JP2716997B2 (ja) 断面形状測定法及び断面形状比較検査法並びにそれらの装置
JPH08212951A (ja) 走査電子顕微鏡における自動軸調整装置
JP2002075263A5 (ja)
JP4677109B2 (ja) 基準テンプレートの製造方法及び当該方法によって製造された基準テンプレート
JPS63266747A (ja) 試料像表示装置
JP4275786B2 (ja) 電子顕微鏡
JPH1083782A (ja) 走査電子顕微鏡
JP2564746B2 (ja) 測長装置
JPH0238368Y2 (ja)
TW202115759A (zh) 聚焦離子束裝置