JPH0542338Y2 - - Google Patents
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- JPH0542338Y2 JPH0542338Y2 JP10416487U JP10416487U JPH0542338Y2 JP H0542338 Y2 JPH0542338 Y2 JP H0542338Y2 JP 10416487 U JP10416487 U JP 10416487U JP 10416487 U JP10416487 U JP 10416487U JP H0542338 Y2 JPH0542338 Y2 JP H0542338Y2
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- Japan
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- ceramic
- measuring tube
- electromagnetic flowmeter
- electrode part
- hip
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- Expired - Lifetime
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- Measuring Volume Flow (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
＜産業上の利用分野＞
本考案はセラミツクス電磁流量計に関するもの
である。
である。
更に詳述すれば、本考案はセラミツクス製の測
定管中に導電性物質が混入され電極部を形成した
セラミツクス電磁流量計において、その電極部及
びセラミツクス測定管の熱衝撃性の改善に関する
ものである。
定管中に導電性物質が混入され電極部を形成した
セラミツクス電磁流量計において、その電極部及
びセラミツクス測定管の熱衝撃性の改善に関する
ものである。
＜従来の技術＞
第３図は従来より一般に使用されている従来例
の構成説明図である。
の構成説明図である。
図において、１はセラミツクス製の円筒状の測
定管である。２，３は導電性粉末を混合し測定管
１と一体に焼成することにより形成された柱状の
サーメツトの電極部である。
定管である。２，３は導電性粉末を混合し測定管
１と一体に焼成することにより形成された柱状の
サーメツトの電極部である。
＜考案が解決しようとする問題点＞
このようなものにおいて、測定管の内面を急冷
又は急加熱させて、熱衝撃性試験を行なつてみる
と、測定管を形成しているセラミツクスの強度か
ら推定される温度より低い温度で破壊が生じる事
がわかつた。この原因は、例えば、測定管がアル
ミナ（Al2O3）、電極部が白金−アルミナ・サー
メツト（Pt−Al2O3）のばあい、白金とアルミナ
の熱伝導度の差によつて白金とアルミナの間で温
度差が生じ、そのために、電極部サーメツトの界
面に応力集中がおこる。このことと、サーメツト
中の欠陥が原因で推定温度より低い温度で破壊が
生じる。
又は急加熱させて、熱衝撃性試験を行なつてみる
と、測定管を形成しているセラミツクスの強度か
ら推定される温度より低い温度で破壊が生じる事
がわかつた。この原因は、例えば、測定管がアル
ミナ（Al2O3）、電極部が白金−アルミナ・サー
メツト（Pt−Al2O3）のばあい、白金とアルミナ
の熱伝導度の差によつて白金とアルミナの間で温
度差が生じ、そのために、電極部サーメツトの界
面に応力集中がおこる。このことと、サーメツト
中の欠陥が原因で推定温度より低い温度で破壊が
生じる。
本考案は、この問題点を解決するものである。
本考案も目的はセラミツクスと金属サーメツ
ト、あるいは導電性セラミツクス中の欠陥を少な
くし、且つ接合強度を向上させることによつて、
熱衝撃性の改善を図つたセラミツクス電磁流量計
を提供するにある。
ト、あるいは導電性セラミツクス中の欠陥を少な
くし、且つ接合強度を向上させることによつて、
熱衝撃性の改善を図つたセラミツクス電磁流量計
を提供するにある。
＜問題を解決するための手段＞
この目的を解決するために、本考案は測定流体
が流れるセラミツクス製の測定管中の測定電極部
又はアース電極部に導電性物質が埋め込み焼成さ
れたセラミツクス電磁流量計において、熱衝撃性
が改善されるようにHIP処理がされた測定管を具
備したことを特徴とするセラミツクス電磁流量計
を構成したものである。
が流れるセラミツクス製の測定管中の測定電極部
又はアース電極部に導電性物質が埋め込み焼成さ
れたセラミツクス電磁流量計において、熱衝撃性
が改善されるようにHIP処理がされた測定管を具
備したことを特徴とするセラミツクス電磁流量計
を構成したものである。
＜作用＞
以上の構成において、焼成成型されたセラミツ
クス電磁流量計は、HIP処理されることにより本
考案のセラミツクス電磁流量計が得られる。
クス電磁流量計は、HIP処理されることにより本
考案のセラミツクス電磁流量計が得られる。
＜実施例＞
第１図は本考案の一実施例の構成説明図であ
る。
る。
図において、１はセラミツクス性の円筒状の測
定管である。この場合は、アルミナが使用されて
いる。２，３は導電性粉末を混合し、測定管１と
一体に焼成することにより形成された柱状のサー
メツトの電極部である。この場合は、白金とアル
ミナのサーメツトが用いられている。而して測定
管１と電極部２，３はHIP処理がなされている。
定管である。この場合は、アルミナが使用されて
いる。２，３は導電性粉末を混合し、測定管１と
一体に焼成することにより形成された柱状のサー
メツトの電極部である。この場合は、白金とアル
ミナのサーメツトが用いられている。而して測定
管１と電極部２，３はHIP処理がなされている。
この様なセラミツクス電磁流量計は以下の如く
して作る。
して作る。
サーメツトからなる電極部を仮成形し、CIP
（等方静水圧加圧法）用ゴム型で、アルミナスプ
レー造粒体とともにCIP成形したものを、加工
し、1600〜1700℃で焼成し、理論密度の95％以上
の焼結体、即ち、電極部と一体成形された測定管
を得る。これを、たとえば、1350℃のアルゴンま
たは窒素雰囲気中で145MPaの圧力下でHIP（熱
間等方圧加圧法）する。
（等方静水圧加圧法）用ゴム型で、アルミナスプ
レー造粒体とともにCIP成形したものを、加工
し、1600〜1700℃で焼成し、理論密度の95％以上
の焼結体、即ち、電極部と一体成形された測定管
を得る。これを、たとえば、1350℃のアルゴンま
たは窒素雰囲気中で145MPaの圧力下でHIP（熱
間等方圧加圧法）する。
HIPとは、アルゴンなどのガスを圧力媒体と
し、1000Kg／cm2以上の圧力と1000℃以上の温度と
の相乗効果を利用して加圧処理する技術である。
し、1000Kg／cm2以上の圧力と1000℃以上の温度と
の相乗効果を利用して加圧処理する技術である。
この結果、電極部２，３のサーメツト中の欠陥
および測定管のセラミツクスの欠陥の除去がなさ
れ、より緻密化した焼結体を得ることができる。
また、白金とアルミナの接合も、より強度の高い
ものが得られる。
および測定管のセラミツクスの欠陥の除去がなさ
れ、より緻密化した焼結体を得ることができる。
また、白金とアルミナの接合も、より強度の高い
ものが得られる。
従つて、HIP処理することにより、セラミツク
スと金属サーメツト中の欠陥を少なくし、且つ、
接合強度を向上させることができ、熱衝撃性の改
善を図ることができる。
スと金属サーメツト中の欠陥を少なくし、且つ、
接合強度を向上させることができ、熱衝撃性の改
善を図ることができる。
第２図にHIP処理装置を示す。
図において、１０はセラミツクス電磁流量計測
定管、２０はセラミツクス電磁流量計測定管をい
れるカプセルである。３０はHIP装置で、圧力容
器３１、制御装置加熱電源３２、ヒータ３３、ガ
ス供給装置３４、真空ポンプ３５からなる。
定管、２０はセラミツクス電磁流量計測定管をい
れるカプセルである。３０はHIP装置で、圧力容
器３１、制御装置加熱電源３２、ヒータ３３、ガ
ス供給装置３４、真空ポンプ３５からなる。
なお、前述の実施例では、測定管がアルミナ、
電極が白金の場合について説明したが、測定管が
ジルコニア（ZrO2）、電極部がジルコニアと白金
のサーメツトでもよい。この場合、ジルコニアの
熱伝導度はアルミナより小さいので、界面には 大きな応力が生じる可能性がある。
電極が白金の場合について説明したが、測定管が
ジルコニア（ZrO2）、電極部がジルコニアと白金
のサーメツトでもよい。この場合、ジルコニアの
熱伝導度はアルミナより小さいので、界面には 大きな応力が生じる可能性がある。
これに対しては、例えば、1500℃のアルゴンガ
ス中で、100MPaの圧力下の条件でHIP処理する
ことにより、欠陥の除去ができ、接合強度も向上
し、熱衝撃性を改善できる。
ス中で、100MPaの圧力下の条件でHIP処理する
ことにより、欠陥の除去ができ、接合強度も向上
し、熱衝撃性を改善できる。
また、測定管が高耐熱衝撃性を有する窒化珪素
（Si3N4）、電極部が炭化珪素（SiC）あるいはタ
ングステンカーバイト（WC）、または窒化珪素
−炭化珪素あるいは窒化珪素−タングステンカー
バイト等の複合セラミツクス等で構成することも
できる。
（Si3N4）、電極部が炭化珪素（SiC）あるいはタ
ングステンカーバイト（WC）、または窒化珪素
−炭化珪素あるいは窒化珪素−タングステンカー
バイト等の複合セラミツクス等で構成することも
できる。
＜考案の効果＞
以上説明したように、本考案は測定流体が流れ
るセラミツクス製の測定管中の測定電極部又はア
ース電極部に導電性物質が埋め込み焼成されたセ
ラミツクス電磁流量計において、熱衝撃性が改善
されるようにHIP処理がされた測定管を具備した
ことを特徴とするセラミツクス電磁流量計を構成
したので、測定管や電極部の欠陥を除去し、焼結
性を改善することができる。
るセラミツクス製の測定管中の測定電極部又はア
ース電極部に導電性物質が埋め込み焼成されたセ
ラミツクス電磁流量計において、熱衝撃性が改善
されるようにHIP処理がされた測定管を具備した
ことを特徴とするセラミツクス電磁流量計を構成
したので、測定管や電極部の欠陥を除去し、焼結
性を改善することができる。
従つて、本考案によればセラミツクスと金属サ
ーメツト、あるいは導電性セラミツクス中の欠陥
を少なくし、且つ接合強度を向上させることによ
つて、熱衝撃性の改善を図つたセラミツクス電磁
流量計を実現することができる。
ーメツト、あるいは導電性セラミツクス中の欠陥
を少なくし、且つ接合強度を向上させることによ
つて、熱衝撃性の改善を図つたセラミツクス電磁
流量計を実現することができる。
第１図は本考案の一実施例の構成説明図、第２
図はHIP装置野構成説明図、第３図は従来より一
般に使用されている従来例の構成説明図である。 １……測定管、２，３……電極部。
図はHIP装置野構成説明図、第３図は従来より一
般に使用されている従来例の構成説明図である。 １……測定管、２，３……電極部。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 測定流体が流れるセラミツクス製の測定管中の
測定電極部又はアース電極部に導電性物質が埋め
込み焼成されたセラミツクス電磁流量計におい
て、 熱衝撃性が改善されるようにHIP処理がされた
測定管を具備したことを特徴とするセラミツクス
電磁流量計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10416487U JPH0542338Y2 (ja) | 1987-07-07 | 1987-07-07 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10416487U JPH0542338Y2 (ja) | 1987-07-07 | 1987-07-07 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS648629U JPS648629U (ja) | 1989-01-18 |
| JPH0542338Y2 true JPH0542338Y2 (ja) | 1993-10-26 |
Family
ID=31335638
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10416487U Expired - Lifetime JPH0542338Y2 (ja) | 1987-07-07 | 1987-07-07 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0542338Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8882704B2 (en) | 2002-08-02 | 2014-11-11 | Mallinckrodt Llc | Injector |
-
1987
- 1987-07-07 JP JP10416487U patent/JPH0542338Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8882704B2 (en) | 2002-08-02 | 2014-11-11 | Mallinckrodt Llc | Injector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS648629U (ja) | 1989-01-18 |
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