JPH0537602A - データ伝送システムの自動折り返し試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 Ｖ２５ｂｉｓインターフェースの信号を伝送
する場合にも、自動折り返し機能を持たせることを可能
とする。 【構成】 Ａ局の測定部１３は、連続する４エンベロー
プからなり各エンベロープはデータ１００１００という
ビットパターンのデータを含み、各エンベロープのステ
ータスビットはエンベロープ単位に１／０が交番するパ
ターンとなっている折り返しコードを出力する。Ｂ局の
データコード検出回路１１０はビットパターンが１００
１００であるデータを検出し、それが４エンベロープ分
連続すると論理“１”の信号を出力する。Ｓビットコー
ド検出回路１１１はステータスビットが連続する４エン
ベロープで１０１０と変化したとき論理“１”の信号を
出力する。このときアンド回路１１２は論理“１”の信
号を出力し、折り返し保持回路１１４はセットされ、折
り返し回路１１５は折り返し経路を設定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、データ伝送システムの
折り返し試験方式に関し、特にＣＣＩＴＴ勧告Ｖ２５ｂ
ｉｓインターフェースの公衆網と高速ディジタル専用線
を接続する場合の、高速ディジタル専用線部分のデータ
伝送装置における自動折り返し試験方式に関するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】一般に、高速ディジタル専用線を通じて
データ伝送を行う場合、端末からのデータおよび制御信
号は、図３に示すようなエンベロープを組み、それを単
位として多重化して伝送する。図中、Ｆはフレーミング
ビット、Ｄ１〜Ｄ６はデータビット、Ｓは制御信号を伝
送するためのステータスビットである。

【０００３】従来、専用線だけを用いるデータ伝送で
は、制御信号Ｓが０のときには、データビットＤ１〜Ｄ
６は伝送する必要がないため、自動折り返しコードを、
データを特定のビットパターンとし、ステータスビット
を０とした例えばＦ１００１０００として自動折り返し
制御を行っていた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかし、図４に示す公
衆網と接続するＶ２５ｂｉｓインターフェースにおいて
は次のような問題が生じる。図中、多重化装置３２，３
４は高速ディジタル回線３３によって接続され、多重化
装置３２には端末３１がＶ２５ｂｉｓインターフェース
３９を通じて接続されている。そして、多重化装置３４
はＮＣＵ３５を通じて公衆回線３６に接続され、端末３
８はＶ２５ｂｉｓインターフェース３１０を通じてＮＣ
Ｕ３７に、ＮＣＵ３７は公衆網３６にそれぞれ接続され
ている。

【０００５】このようなシステムでは、接続フェーズで
は制御信号Ｓが０の状態でＮＣＵとの間でデータのやり
取りが行われ、データ伝送フェーズでは制御信号Ｓが１
の状態で端末間のデータ伝送が行われる。自動折り返し
コードに前述のＦ１００１０００を使用した場合、デー
タ伝送フェーズではＳ＝１であるため自動折り返しコー
ドが誤検出されることはない。しかし、接続フェーズで
はＳ＝０の状態で端末とＮＣＵ間の接続データ伝送が行
われるので、自動折り返しコードを誤検出する場合があ
り、従って自動折り返し機能を持たせることは不可能で
ある。

【０００６】本発明の目的は、このような問題を解決
し、Ｖ２５ｂｉｓインターフェースの信号を伝送する場
合にも、自動折り返し機能をもたせることが可能なデー
タ伝送システムの自動折り返し方式を提供することにあ
る。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明は、第１および第
２の局が回線によって接続され、エンベロープ形式でデ
ータを伝送するデータ伝送システムのための自動折り返
し試験方式において、連続する複数のエンベロープから
なり、各エンベロープに含まれるデータは第１のビット
パターンを有し、各エンベロープのステータスビットを
配列してなるデータは、すべて０およびすべて１のパタ
ーンを除く第２のビットパターンを有した折り返しコー
ドを生成するコード生成手段と、このコード生成手段が
生成した前記折り返しコードを回線に送出するコード送
出手段とを前記第１の局に設け、回線を通じ、連続して
受け取った所定数のエンベロープの前記データが、すべ
て前記所定のビットパターンを有するとき第１の検出信
号を出力する第１のコード検出手段と、回線を通じ、連
続して受け取った所定数のエンベロープのステータスビ
ットを配列してなるデータが前記第２のビットパターン
を有するとき第２の検出信号を出力する第２の検出手段
と、前記第１および第２の検出手段がそれぞれ前記第１
および第２の検出信号を出力したとき、折り返し回路を
形成する折り返し回路形成手段とを前記第２の局に設け
ることを特徴とする。

【０００８】

【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。図１に本発明の自動折り返し方式にもとづく
データ伝送システムの一例を示す。このシステムは図４
に示したデータ伝送システムの多重化装置３２、高速デ
ィジタル回線３３、ならびに多重化装置３４の部分に相
当する。以下では、Ａ局から折り返しコードを送出し、
Ｂ局で折り返し回路を形成する場合を例に説明する。

【０００９】まず、通常のデータ伝送時には、Ａ局に入
力されるデータ信号ＳＤおよび制御信号ＲＳは、エンベ
ロープ組み立て回路１１でエンベロープに組み立てら
れ、多重化回路１４で多重化されて高速ディジタル専用
線１６を経由してＢ局に入力される。Ｂ局では、分離回
路１７により該当チャネルが分離され、次にエンベロー
プ分解回路１９によってデータ信号と制御信号とが分離
され、受信データＲＤと制御データＣＤとして出力され
る。Ｂ局に入力されるデータ信号ＳＤおよび制御信号Ｒ
Ｓも同様にしてＡ局に送られ、受信データＲＤと制御デ
ータＣＤとして出力される。

【００１０】次に、自動折り返し試験をＡ局からＢ局に
実施する場合について説明する。Ａ局では、測定部１３
がエンベロープ組み立て回路１１およびエンベロープ分
離回路１２の代りに接続され、測定部１３より折り返し
コードが送出される。この折り返しコードは、図２に示
すように、連続する４つのエンベロープからなり、各エ
ンベロープはデータビットＤ０〜Ｄ６として１００１０
０というビットパターンのデータを含み、各エンベロー
プのステータスビットはエンベロープ単位に１／０が交
番するパターンとなっている。測定部１３が送出した折
り返しコードは、多重化回路１４から高速ディジタル専
用線１６に送出され、Ｂ局に入力される。

【００１１】Ｂ局では、データコード検出回路１１０が
分離回路１７の出力から、ビットパターンが１００１０
０であるデータを検出し、そのようなデータが４エンベ
ロープ分連続すると、論理“１”の信号を出力する。ま
た、Ｓビットコード検出回路１１１は、ステータスビッ
トを監視し、ステータスビットが連続する４つのエンベ
ロープで１，０，１，０と変化した場合、すなわちＳビ
ットコードが１０１０となった場合には論理“１”の信
号を出力する。アンド回路１１２は検出回路１１０，１
１１が共に論理“１”の信号を出力すると論理“１”の
信号を出力し、その結果、Ｄフリップフロップである折
り返し保持回路１１４はセットされ、論理“１”の信号
を出力する。そして、折り返し回路１１５は折り返し保
持回路１１４が論理“１”の信号を出力すると、実線で
示すように折り返し経路を設定する。Ｂ局で折り返され
たデータおよびステータスビットは、エンベロープ組み
立て回路１１６、多重化回路１８、高速ディジタル専用
線１６、ならびに分離回路１５を通じて測定部１３に入
力され、折り返しパスが確立する。

【００１２】測定部１３は、送出した折り返しコードが
返ってきたことを確認すると、ステータスビットＳは、
１０１０の交番パターンで送出し続け、データビットＤ
１〜Ｄ６は疑似ランダムパターンで出力する。そして出
力したデータビットと返ってきたデータビットとを照合
することにより伝送路品質を測定する。なお、Ｂ局にお
ける折り返し解除の条件は、ステータスビットＳが１０
１０のパターン以外のパターンとなることであるから、
データビットとして疑似ランダムパターンを送出しても
折り返しは保持されたままである。

【００１３】測定を終了するときは、測定部１３と多重
化回路１４および分離回路１５との接続を解除する。そ
れにより、Ｂ局のＳビットコード検出回路１１１はステ
ータスビットの１０１０のパターンを検出できなくな
り、論理“０”の信号を出力するので、反転回路１１３
から論理“１”の信号が出力され、折り返し保持回路１
１４はリセットされる。その結果、折り返し回路１１５
は折り返し状態を解除し、点線で示す接続となって通常
のデータ伝送を行う状態となる。

【００１４】なお、ステータスビットＳに多重化される
制御信号ＲＳの変化は、接続フェーズとデータ伝送フェ
ーズの切り替え時およびデータ伝送フェーズにおけるポ
ーリング間隔でしか変化しないため、どのような状態に
おいてもエンベロープ上で１０１０のパターンが発生す
ることはない。

【００１５】また、接続フェーズ（ステータスビットＳ
＝０）においては、当然、折り返しコードを誤検出する
ことはないため、Ｖ２５ｂｉｓインターフェースの信号
を伝送する場合にも、自動折り返し機能を持たせること
が可能である。

【００１６】

【発明の効果】以上説明したように本発明の自動折り返
し試験方式にもとづくデータ伝送システムでは折り返し
コードとして、連続する複数のエンベロープからなり、
各エンベロープに含まれるデータは第１のビットパター
ンを有し、各エンベロープのステータスビットを配列し
てなるデータは、すべて０およびすべて１のパターンを
除く第２のビットパターンを有したコードが用いられる
ので、Ｖ２５ｂｉｓインターフェースの信号を伝送する
場合にも、自動折り返し機能を持たせることが可能であ
る。その結果、保守性の良いデータ伝送システムを実現
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の自動折り返し試験方式にもとづくデー
タ伝送システムを示すブロック図である。

【図２】図１のデータ伝送システムで用いられる折り返
しコードを示す図である。

【図３】従来のデータ伝送システムで送受信されるエン
ベロープを示す図である。

【図４】端末がＶ２５ｂｉｓインターフェースによって
接続され、さらに公衆網を通じてデータ伝送が行われる
システムの一例を示す図である。

【符号の説明】

１１，１１６ エンベロープ組み立て回路 １２，１９ エンベロープ分解回路 １３ 測定部 １４，１８ 多重化回路 １５，１７ 分離回路 １６ 高速ディジタル専用線 １１０ データコード検出回路 １１１ Ｓビットコード検出回路 １１２ アンド回路 １１３ 反転回路 １１４ 折り返し保持回路 １１５ 折り返し回路

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】第１および第２の局が回線によって接続さ
   れ、エンベロープ形式でデータを伝送するデータ伝送シ
   ステムのための自動折り返し試験方式において、 連続する複数のエンベロープからなり、各エンベロープ
   に含まれるデータは第１のビットパターンを有し、各エ
   ンベロープのステータスビットを配列してなるデータ
   は、すべて０およびすべて１のパターンを除く第２のビ
   ットパターンを有した折り返しコードを生成するコード
   生成手段と、 このコード生成手段が生成した前記折り返しコードを回
   線に送出するコード送出手段とを前記第１の局に設け、 回線を通じ、連続して受け取った所定数のエンベロープ
   の前記データが、すべて前記所定のビットパターンを有
   するとき第１の検出信号を出力する第１のコード検出手
   段と、 回線を通じ、連続して受け取った所定数のエンベロープ
   のステータスビットを配列してなるデータが前記第２の
   ビットパターンを有するとき第２の検出信号を出力する
   第２の検出手段と、 前記第１および第２の検出手段がそれぞれ前記第１およ
   び第２の検出信号を出力したとき、折り返し回路を形成
   する折り返し回路形成手段とを前記第２の局に設けるこ
   とを特徴とするデータ伝送システムの自動折り返し試験
   方式。
2. 【請求項２】前記所定数のエンベロープは４つのエンベ
   ロープであり、前記第１のビットパターンは１００１０
   ０であり、前記第２のビットパターンは１０１０である
   ことを特徴とする請求項２記載のデータ伝送システムの
   自動折り返し試験方式。