JPH05326996A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH05326996A JPH05326996A JP4127114A JP12711492A JPH05326996A JP H05326996 A JPH05326996 A JP H05326996A JP 4127114 A JP4127114 A JP 4127114A JP 12711492 A JP12711492 A JP 12711492A JP H05326996 A JPH05326996 A JP H05326996A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- type
- emitter layer
- type gaas
- emitter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】 高い光電変換効率が得られる化合物半導体太
陽電池を提供する。 【構成】 高不純物濃度のp形半導体基板1、高不純物
濃度のp形半導体キャリアブロック層3、p形半導体ベ
ース層4、n形半導体エミッタ層5、n形半導体窓層
6、高不純物濃度のn形半導体コンタクト層7、反射防
止膜、並びに表面裏面電極より構成される化合物半導体
太陽電池。 【効果】 エミッタ層の膜厚を薄くすることにより、ホ
トキャリアを主としてp形ベース層で発生させることに
より、ホトキャリアの有効活用が可能となるため、良好
な特性を持つ素子を得ることができる。
陽電池を提供する。 【構成】 高不純物濃度のp形半導体基板1、高不純物
濃度のp形半導体キャリアブロック層3、p形半導体ベ
ース層4、n形半導体エミッタ層5、n形半導体窓層
6、高不純物濃度のn形半導体コンタクト層7、反射防
止膜、並びに表面裏面電極より構成される化合物半導体
太陽電池。 【効果】 エミッタ層の膜厚を薄くすることにより、ホ
トキャリアを主としてp形ベース層で発生させることに
より、ホトキャリアの有効活用が可能となるため、良好
な特性を持つ素子を得ることができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高効率太陽電池に関す
る。
る。
【0002】
【従来の技術】従来の一般的な化合物半導体太陽電池
は、図3の断面図(S.P.Tobin et al.,1987,IEEEPhotov
oltaic Specialist Conference,1492)に例示するよう
に、高不純物濃度のn形 GaAs基板11上に高不純
物濃度のn形バッファ層12を介してn形ベース層13
を2μm、次に2×1018cm-3以上の高濃度にドーピ
ングされた高不純物濃度のp形エミッタ層14を0.5
μm、高不純物濃度のp形AlGaAs窓層15を0.
05μm、さらに高不純物濃度のp形GaAsコンタク
ト層16を順次積層し、しかる後に基板裏面並びに表面
に電極8、9をそれぞれ形成した、表面電極8の下のコ
ンタクト層16以外のコンタクト層は除去し、除去した
部分にARコート膜10を形成した構造である。
は、図3の断面図(S.P.Tobin et al.,1987,IEEEPhotov
oltaic Specialist Conference,1492)に例示するよう
に、高不純物濃度のn形 GaAs基板11上に高不純
物濃度のn形バッファ層12を介してn形ベース層13
を2μm、次に2×1018cm-3以上の高濃度にドーピ
ングされた高不純物濃度のp形エミッタ層14を0.5
μm、高不純物濃度のp形AlGaAs窓層15を0.
05μm、さらに高不純物濃度のp形GaAsコンタク
ト層16を順次積層し、しかる後に基板裏面並びに表面
に電極8、9をそれぞれ形成した、表面電極8の下のコ
ンタクト層16以外のコンタクト層は除去し、除去した
部分にARコート膜10を形成した構造である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこの様な
従来の化合物半導体太陽電池に於いては、電極の接触抵
抗を低くするために、エミッタ層は高濃度にドーピング
し、薄層化していた。従って、ホトキャリアは主として
n形ベース層で発生するが、ベース層の小数キャリアの
拡散長が短いため、光励起キャリアの収集が十分でな
く、高効率を得ることが困難であった。
従来の化合物半導体太陽電池に於いては、電極の接触抵
抗を低くするために、エミッタ層は高濃度にドーピング
し、薄層化していた。従って、ホトキャリアは主として
n形ベース層で発生するが、ベース層の小数キャリアの
拡散長が短いため、光励起キャリアの収集が十分でな
く、高効率を得ることが困難であった。
【0004】
【課題を解決するための手段】上述した従来の欠点は、
n形半導体をエミッタ層とし、エミッタ層の膜厚を薄く
することにより、ホトキャリアを主としてp形ベース層
で発生させ、拡散長の長い電子を小数キャリアとしてホ
トキャリアの有効活用を図ることにより改善される。
n形半導体をエミッタ層とし、エミッタ層の膜厚を薄く
することにより、ホトキャリアを主としてp形ベース層
で発生させ、拡散長の長い電子を小数キャリアとしてホ
トキャリアの有効活用を図ることにより改善される。
【0005】
【作用】エミッタ層を薄くすることにより、光励起キャ
リアの有効活用が可能となり、高効率化を図れる。
リアの有効活用が可能となり、高効率化を図れる。
【0006】
【実施例】以下図を用いて本発明を詳細に説明する。
【0007】図1は本発明になる化合物半導体太陽電池
の一実施例を示す概略構成図である。図において、1は
高不純物濃度のp形GaAs基板、2は高不純物濃度の
p形GaAsバッファ層、3は高不純物濃度のp形Al
GaAsキャリアブロック層、4はp形GaAsベース
層、5はn形GaAsエミッタ層、6はn形AlGaA
s窓層、7は高不純物濃度のn形GaAsコンタクト
層、8は下部電極、9は上部電極、また10は反射防止
膜である。各層の厚さ並びにキャリア濃度は以下の通り
である。バッファ層:膜厚0.5μm、キャリア濃度2
×1018cm-3、ブロック層:膜厚0.05μm、キャ
リア濃度2×1018 cm-3、ベース層:膜厚3.5μ
m、キャリア濃度1×1017cm-3、エミッタ層:膜厚
0.05μm、キャリア濃度7×1017cm-3、窓層:
膜厚0.03μm、キャリア濃度2×1018cm-3、コ
ンタクト層:膜厚0.2μm、キャリア濃度4×1019
cm-3。
の一実施例を示す概略構成図である。図において、1は
高不純物濃度のp形GaAs基板、2は高不純物濃度の
p形GaAsバッファ層、3は高不純物濃度のp形Al
GaAsキャリアブロック層、4はp形GaAsベース
層、5はn形GaAsエミッタ層、6はn形AlGaA
s窓層、7は高不純物濃度のn形GaAsコンタクト
層、8は下部電極、9は上部電極、また10は反射防止
膜である。各層の厚さ並びにキャリア濃度は以下の通り
である。バッファ層:膜厚0.5μm、キャリア濃度2
×1018cm-3、ブロック層:膜厚0.05μm、キャ
リア濃度2×1018 cm-3、ベース層:膜厚3.5μ
m、キャリア濃度1×1017cm-3、エミッタ層:膜厚
0.05μm、キャリア濃度7×1017cm-3、窓層:
膜厚0.03μm、キャリア濃度2×1018cm-3、コ
ンタクト層:膜厚0.2μm、キャリア濃度4×1019
cm-3。
【0008】本構造の太陽電池は、従来構造の太陽電池
に比べ、光電変換効率が10%改善されることが確認さ
れた。
に比べ、光電変換効率が10%改善されることが確認さ
れた。
【0009】図2に本発明による太陽電池の効率のシミ
ュレーション結果を示す。図からも明らかなように、エ
ミッタ層のキャリア濃度が1×1016〜5×1019cm
-3、またエミッタ層の膜厚が0.01〜0.2μmにお
いて従来素子に比べ良好な光電変換効率が得られること
が確認された。
ュレーション結果を示す。図からも明らかなように、エ
ミッタ層のキャリア濃度が1×1016〜5×1019cm
-3、またエミッタ層の膜厚が0.01〜0.2μmにお
いて従来素子に比べ良好な光電変換効率が得られること
が確認された。
【0010】なお本発明は、以上説明した実施例に限定
されるものではなく、GaAs,InAs,AlAs,
GaP,InP,AlP,GaSb,AlSb、Si、
及びこれらのうちの2ないし3の化合物の混晶からなる
半導体より構成されても同様に本発明の目的を満たすこ
とは明かである。さらに上記実施例では、キャリアブロ
ック層にAlGaAsの単層膜を用いていたが、異なる
2乃至3個の半導体薄膜を多層重ねた構造を採用しても
良い。
されるものではなく、GaAs,InAs,AlAs,
GaP,InP,AlP,GaSb,AlSb、Si、
及びこれらのうちの2ないし3の化合物の混晶からなる
半導体より構成されても同様に本発明の目的を満たすこ
とは明かである。さらに上記実施例では、キャリアブロ
ック層にAlGaAsの単層膜を用いていたが、異なる
2乃至3個の半導体薄膜を多層重ねた構造を採用しても
良い。
【0011】
【発明の効果】本発明による化合物半導体太陽電池で
は、エミッタ層の膜厚を薄くすることにより、ホトキャ
リアを主としてp形ベース層で発生させることにより、
ホトキャリアの有効活用が可能となるため、良好な特性
を持つ素子を得ることができる。
は、エミッタ層の膜厚を薄くすることにより、ホトキャ
リアを主としてp形ベース層で発生させることにより、
ホトキャリアの有効活用が可能となるため、良好な特性
を持つ素子を得ることができる。
【図1】本発明による太陽電池の断面図。
【図2】本発明の太陽電池の変換効率のシミュレーショ
ン結果。
ン結果。
【図3】従来技術による太陽電池の断面図。
1・・・・高不純物濃度のp形GaAs基板 2・・・・高不純物濃度のp形GaAsバッファ層 3・・・・高不純物濃度のp形AlGaAsキャリアブ
ロック層 4・・・・p形GaAsベース層 5・・・・高不純物濃度のn形GaAsエミッタ層 6・・・・高不純物濃度のn形AlGaAs窓層 7・・・・高不純物濃度のn形GaAsコンタクト層 8・・・・表面電極 9・・・・裏面電極 10・・・・ARコート膜 11・・・・高不純物濃度のp形GaAs基板 12・・・・高不純物濃度のp形GaAsバッファ層 13・・・・p形GaAsベース層 14・・・・高不純物濃度のn形GaAsエミッタ層 15・・・・高不純物濃度のn形AlGaAs窓層 16・・・・高不純物濃度のn形GaAsコンタクト層
ロック層 4・・・・p形GaAsベース層 5・・・・高不純物濃度のn形GaAsエミッタ層 6・・・・高不純物濃度のn形AlGaAs窓層 7・・・・高不純物濃度のn形GaAsコンタクト層 8・・・・表面電極 9・・・・裏面電極 10・・・・ARコート膜 11・・・・高不純物濃度のp形GaAs基板 12・・・・高不純物濃度のp形GaAsバッファ層 13・・・・p形GaAsベース層 14・・・・高不純物濃度のn形GaAsエミッタ層 15・・・・高不純物濃度のn形AlGaAs窓層 16・・・・高不純物濃度のn形GaAsコンタクト層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 蕨迫 光紀 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 内田 陽子 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内
Claims (2)
- 【請求項1】半導体基板、キャリアブロック層、ベース
層、エミッタ層、窓層、コンタクト層、反射防止コート
層および表面・裏面電極で構成される化合物半導体太陽
電池において、p形半導体をベ−ス層とし、n形半導体
をエミッタ層とし、エミッタ層のドーピング濃度が1×
1016〜5×1019cm-3、膜厚が0.01〜0.2μ
mでることを特徴とする太陽電池。 - 【請求項2】前記ベ−ス層及びエミッタ層が、GaA
s,InAs,AlAs,GaP,InP,AlP,G
aSb,AlSb、及びこれらのうちの2ないし3の化
合物の混晶からなることを特徴とする請求項1記載の太
陽電池。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4127114A JPH05326996A (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4127114A JPH05326996A (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05326996A true JPH05326996A (ja) | 1993-12-10 |
Family
ID=14951958
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4127114A Pending JPH05326996A (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05326996A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08162659A (ja) * | 1994-12-06 | 1996-06-21 | Japan Energy Corp | 太陽電池 |
KR20150014298A (ko) * | 2013-07-29 | 2015-02-06 | 엘지전자 주식회사 | 화합물 반도체 태양 전지 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5680178A (en) * | 1979-12-05 | 1981-07-01 | Mitsubishi Electric Corp | Gaas solar cell |
JPS5975677A (ja) * | 1982-10-25 | 1984-04-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 太陽電池 |
JPS6338267A (ja) * | 1986-08-01 | 1988-02-18 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | GaAs太陽電池とその製造方法 |
JPS63261882A (ja) * | 1987-04-20 | 1988-10-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 半導体素子 |
-
1992
- 1992-05-20 JP JP4127114A patent/JPH05326996A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5680178A (en) * | 1979-12-05 | 1981-07-01 | Mitsubishi Electric Corp | Gaas solar cell |
JPS5975677A (ja) * | 1982-10-25 | 1984-04-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 太陽電池 |
JPS6338267A (ja) * | 1986-08-01 | 1988-02-18 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | GaAs太陽電池とその製造方法 |
JPS63261882A (ja) * | 1987-04-20 | 1988-10-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 半導体素子 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08162659A (ja) * | 1994-12-06 | 1996-06-21 | Japan Energy Corp | 太陽電池 |
KR20150014298A (ko) * | 2013-07-29 | 2015-02-06 | 엘지전자 주식회사 | 화합물 반도체 태양 전지 |
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