JPH05313185A - 液晶表示装置 - Google Patents

液晶表示装置

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JPH05313185A
JPH05313185A JP10314492A JP10314492A JPH05313185A JP H05313185 A JPH05313185 A JP H05313185A JP 10314492 A JP10314492 A JP 10314492A JP 10314492 A JP10314492 A JP 10314492A JP H05313185 A JPH05313185 A JP H05313185A
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敏彦 小関
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明の目的は、リバースチルトにより劣下さ
れていた液晶表示装置の表示イメージの品質を改善する
ことである。 【構成】ラビング方向の上流にある表示電極の表示領域
の縁の光遮断層は、表示電極の周縁に形成されて開口の
縁を限定する薄い光遮断層と、この薄い光遮断層に縁が
位置づけられた厚い光遮断層とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0002】
【産業上の利用分野】本発明は、光遮断層が薄膜トラン
ジスタの上に形成されている液晶表示装置(LCD)に
関する。
【0003】
【従来の技術】
【0004】ブラックマトリクスと呼ばれる光遮断層が
LCD装置に設けられてきた。光遮断層は、表示イメー
ジのコントラストを改善するために表示電極の表示領域
のみを露出するように設計される。LCD装置は、例え
ばガラスのような互いに離された第1及び第2の透明絶
縁基板並びにこの間隔に保持された液晶材料を有する。
代表的な薄膜トランジスタ(TFT)型のLCD装置
においては、表示領域のみを露出するパターンの光遮断
層は第1基板に形成され、次いで酸化錫をドープした酸
化インジウム(ITO)の共通電極が形成され、そして
例えばポリイミドのような配向層が形成される。共通電
極全体は一定の基準電位に保たれるので、例えばCr等
の薄い金属層が光遮断層として使用されることができ
る。
【0005】第2基板上には、水平方向の金属ゲート線
及び垂直方向の金属データ線が形成される。ゲート及び
データ線の各交点には、TFT及びITOの表示電極を
含む表示セルが形成される。そして、保護層及び配向層
がこの構造の上に形成される。第1及び第2基板の外側
に偏光板が配置され、そしてLCD装置に光を当てるた
めの光源が設けられる。データ及びゲート線の夫々接続
されたデータ線ドライバ及びゲート線ドライバが選択的
に附勢され、この選択された表示電極及び共通電極の間
の液晶に電圧を印加してイメージを表示する。共通電極
基板と呼ばれる第1基板に光遮断層が形成され、そして
TFT基板と呼ばれる第2基板に表示電極が形成される
ので、光遮断層の開口を表示電極に整列させるように両
基板は注意深く組立てられねばならない。この問題を解
決するために、光遮断層をTFT基板上に形成すること
が提案された。しかしながら次の問題点が生じる。即
ち、金属の光遮断層はTFT基板上に使用されることが
できない。何故ならば、金属層は、例えば保護層の如き
絶縁層と例えばデータ及びゲート線と共に望ましくない
容量効果を生じるからである。
【0006】この問題点を解決するために、本発明の発
明者は、TFT基板上の光遮断層として例えばフォトレ
ジストのような感光性の有機材料を用いることを試み
た。光を十分に遮断するに必要な光学濃度を実現するた
めには、厚いフォトレジスト層が必要である。第8図は
セルの平面図であり、そして第9図は第8図のA−Aで
見た第2ガラス基板上の断面構造を示す。第1ガラス基
板は第9図に示されていない。ゲート線若しくはゲート
電極は第2ガラス基板に形成される。ゲート絶縁層が形
成され、TFTのチャネル領域として働く無定形Si層
が形成され、そしてITOの表示電極が形成される。無
定形Si層の上にN+ 無定形Si層及びAl層が形成さ
れ、TFTのチャネルの右側でドレイン電極を形成し、
左側でソース電極を形成する。ドレイン領域はデータ線
から延長され、そして、ソース電極は表示電極に接続さ
れる。この構造を覆うように保護層が形成される。次
に、厚い黒色のフォトレジスト層即ち光遮断層が表示電
極を露出するように形成される。そして配向膜が全体の
構造の上に形成される。この分野で周知の如く、電圧が
印加されない時に液晶分子を一方向に整列するために、
第8図に示すように配向層がラビングされる。液晶分子
Bで示すように、液晶分子は同じ方向にチルトすること
を要求される。しかしながら、ラビング方向の上流の光
遮断層の開口の縁に近い液晶分子Aは、第9図に示すよ
うに逆の方向にチルト即ち傾く。これを逆の傾き(リバ
ースチルト)と呼ぶ。このリバースチルトは、厚いフォ
トレジスト層により生じる大きな段差Hに基づいて発生
する。第10図は第9図の開口の簡略図であり、保護層
及び配向層は示されていない。リバースチルトは、ラビ
ング方向の上流のLで示される領域で生じる。ノーマル
チルト領域とリバースチルト領域との境界は、一種のデ
ィスクリネーション・ライン(転傾線)を形成し、そし
てリバースチルト転傾線とも呼ばれる。光源からの光
は、リバースチルト転傾線に沿って液晶を通過する。第
8図の線は、電圧が液晶に印加されない時にラビング方
向の上流の上側の縁及び左側の縁に沿って現れる連続的
なリバースチルト転傾線を示す。リバースチルト転傾線
は、LCD装置がノーマルホワイト・モードで動作して
いる時に問題を生じる。ノーマルホワイト・モードで
は、偏光板は交差されそして液晶分子はツイストされて
いる。電圧が液晶に印加されない時、光源からの光はL
CD装置を通過し、それにより白色が表示される。電圧
が印加されると、光は偏光板により遮断され、そして黒
色が表示される。しかしながら、電圧が印加された時に
もしもリバースチルトが生じると、光源からの光はリバ
ースチルト転傾線を通過し、その結果黒イメージ内に白
い線が生じ、これによりコントラストを低下ししかも残
像効果を増大する。このようにして表示品質がリバース
チルトにより著しく低下させる。
【0007】特願昭63−162521(特開平2−1
3927号公報)は、LCD装置の矩形表示電極の角部
に発生するリバースチルトを、この表示電極の角部を拡
張して、リバースチルトを拡張領域で生じさせることに
より解決する。この特許出願63−162521は、本
発明と異なった手法でリバースチルトを解決する手法を
示している。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、厚い光遮断
層をTFT基板に用いることにより生じるリバースチル
トの問題を解決する。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、共通電極が形
成されている第1透明絶縁基板と、一方向に形成された
ゲート線、一方向に交差する他方向に形成されたデータ
線、ゲート線及びデータ線の各交点に形成され、薄膜ト
ランジスタ及び表示電極を有する液晶表示セル並びに各
表示電極の表示領域を露出する開口を有する光遮断層を
有する第2透明絶縁基板と、第1及び第2基板の間に保
持された液晶材料とを含む液晶表示装置に関する。本発
明に従うと、ラビング方向の上流にある開口の縁の上記
光遮断層は、表示電極の周縁に形成され開口の縁を限定
する薄い光遮断層と、この薄い光遮断層上に縁が位置づ
けられた厚い光遮断層とより成る。薄い光遮断層は、逆
チルトされた液晶分子を通る光を遮断する。薄い光遮断
層の厚さは0.5μm以下である。薄い光遮断層は金属
層であり、厚い光遮断層は黒色のフォトレジスト層であ
る。金属層はゲート線に使用される金属層である。金属
層はデータ線に使用される金属層である。フォトレジス
ト層は青色顔料、黄色顔料及び紫色顔料を含む。フォト
レジストは赤色顔料、青色顔料、黄色顔料及び紫色顔料
を含む。
【0010】
【実施例】液晶表示装置は、例えばガラス板のような第
1透明絶縁基板、例えばガラス板のような第2透明絶縁
基板並びに第1及び第2基板の間に保持された正の誘電
異方性の液晶材料を含む。第1基板は、共通電極及び配
向層を有する。第2基板は、水平方向に延びるゲート
線、垂直方向に延びるデータ線並びにゲート及びデータ
線の交点に夫々形成された液晶表示セルを有する。液晶
表示セルは、薄膜トランジスタ及び表示電極を含み、そ
して表示電極の開口で限定される露出領域は、画素(ペ
ル)と呼ばれる。第2基板の構造の表面は、配向層によ
り覆われる。第1基板の配向層は、第1方向にラビング
され、そして第2基板の配向層は、第1方向に直交する
第2方向にラビングされ、それにより液晶分子は90゜
だけツイストされる。第1基板の構造は、これがこの分
野で周知であるので詳しく説明せず又図示しない。
【0011】第1図は、第2基板上の表示電極の簡略化
した構造を示す。ゲート絶縁層2、表示電極(ITO)
3、薄い光遮断層5及び厚い黒色フォトレジスト層4即
ち厚い光遮断層が、ガラス基板1上に形成される。本発
明によると、ラビング方向の上流に位置する表示電極3
の周縁に、薄い光遮断層5及び厚い黒色フォトレジスト
層4が形成される。薄い光遮断層5及び厚い黒色フォト
レジスト層4の上面までの高さH1に基づき、リバース
チルトが部分Lに生じる。距離Lは、5−10μmであ
る。薄い光遮断層5の目的は、部分Lにあるリバースチ
ルトされた液晶分子を光が通過しないようにすることで
ある。しかしながら、光遮断層5の厚さが大きいと、リ
バースチルトが部分L1で生じる。本発明の発明者は、
光遮断層5の厚さが0.5μm以下であるならば、部分
L1にリバースチルトが生じないこと、そして上述の2
つの条件即ち、光遮断能力及び0.5μm以下の厚さを
満足する材料が、ゲート線及びデータ線としてLCD装
置内に存在することを見い出した。ゲート線及びデータ
線の厚さの例は、夫々3000Å及び4500Åであ
る。ゲート線及びデータ線のための金属材料を薄い光遮
断層5として使用することは次のような附加的な効果を
生じる。即ち、薄い光遮断層5は、ゲート線若しくはデ
ータ線の形成と同時に形成され得ることである。言い代
えると、薄い光遮断層5は、LCD装置の製造工程の数
を増大することなく形成され得る。
【0012】上述の理由で、ラビング方向の上流にある
表示領域の縁の光遮断層は、表示電極3の周縁に形成さ
れ開口の縁6を限定する薄い光遮断層5及び縁7が薄い
光遮断層5の上に位置づけられる厚い黒色フォトレジス
ト層即ち黒色感光性有機材料層4より成る。縁即ちエッ
ジ6は縁7から距離Lだけ離されている。薄い光遮断層
5は、リバースチルトを解決するためにラビング方向の
上流にある開口の縁に形成される必要がある。しかしな
がら、全ての液晶表示セルが同じ開口率を有することが
望ましいので、第1図に示す如く、ラビング方向の下流
の縁にも薄い光遮断層5を形成することが望ましい。開
口率とは、液晶表示セルの全面積に対する、光の通過す
る面積の比を意味する。薄い光遮断層5は第1図におい
て、表示電極3の上に形成されているが、第4−7図に
関して後述する如く、層5は表示電極3の下側に形成さ
れることができる。
【0013】第2図は本発明の第1実施例を示し、ここ
で薄い光遮断層5はデータ線に用いられる金属層により
形成される。第2図の平面図は、データ線及びゲート線
の交点の表示セルを示す。右上りのハッチングはゲート
線に用いられる金属層を表わし、そして左上りのハッチ
ングはデータ線に用いられる金属層を表わす。表示セル
はTFT及びITO等の表示電極3を含む。表示電極3
の開口は、データ線10の光遮断層5により限定される。
矢印9はラビング方向を示す。第2図は又、各製造工程
における断面A−A及びB−Bの断面を示す。製造工程
を説明すると、工程1において、例えばAl、Ti、C
u、Mo、Cr、Ta等の金属層11がスパッタリング・
プロセスによりガラス基板1の上に附着される。平面図
で示されているゲート線11及び基準電圧線11Aが、フ
ォトレジストを用いる通常の選択的エッチング・プロセ
スにより形成される。工程2において、例えばSi
2、SiNxの如き透明絶縁層2がCVDプロセスに
より全表面に附着される。工程3において、CVDプロ
セスにより真性無定形Si層が附着され、そして選択的
にエッチングされてTFTの能動即ちチャネル領域13が
形成される。工程4において、例えばITOの如き透明
導電層が附着され、そして表示電極3を形成するように
選択的にエッチングされる。工程5において、例えばA
l、Ti、Cu、Mo、Cr、Ta等の金属層5が附着
され、そして薄い光遮断層5、データ線10並びにTFT
のソース(S)及びドレイン(D)電極を形成するよう
に選択的にエッチングされる。工程6において、低い透
過率の黒色フォトレジスト層4がスピン・コーティング
により附着され、第1図に示す構造を形成するように選
択的にエッチングされる。黒色フォトレジスト層4はネ
ガティブ・フォトレジストであり、光が当たった部分は
現像液により溶解されず、光が当らない部分は溶解され
る。
【0014】第3図は、この分野で周知である第2図の
液晶セルの等価回路である。第2図の基準電圧線11A
に重なる表示電極の部分、絶縁層12及び基準電圧線1
1Aは第3図の貯蔵コンデンサCSを構成する。貯蔵コ
ンデンサCSは、周知のように、LCD装置の1フレー
ム期間、電荷を貯蔵する。第4図は、本発明の第2実施
例を示し、ここで薄い光遮断層5は、ゲート線に用いら
れる金属材料で形成される。第4図の平面図は、データ
線10及びゲート線11の交点の表示セルを示す。このセ
ルの等価回路は第3図に示されている。第4図は又各製
造工程における線A−A及びB−Bの断面を示す。矢印
9はラビング方向を示す。製造工程を説明すると、工程
1において、金属層がガラス基板1の全面に附着され、
そしてゲート線11、基準電圧線11A及び薄い光遮断
層5Aを形成するために選択的にエッチングされる。工
程2において、透明絶縁層2が附着される。工程3にお
いて、TFTの真性無定形Siの能動領域13が形成され
る。工程4において、ITOの如き透明な表示電極3が
形成される。工程5において、TFTのドレイン(D)
及びソース(S)並びに金属データ線10が形成される。
工程6において、低透過率の厚い黒色フォトレジスト層
4が表示電極3の表示領域を露出するように形成され
る。
【0015】第5図は、本発明の第3実施例を示し、こ
こで開口の縁の薄い光遮断層5は、4つの部分即ち部分
5A、5B、5C、及び5Dにより形成されている。部
分5A及び5Cはゲート線11の金属により形成され、
そして部分5B及び5Dはデータ線10の金属により形
成されている。第6図は本発明の第4実施例を示し、こ
こで、基準電圧線11Aは薄い光遮断層5の上側水平部
分として共通的に用いられ、そしてこの薄い光遮断層5
の左右垂直部分は、上側水平部分から延長されている。
基準電圧線11Aはゲート線11と同時に形成される。
言い代えると、基準電圧線11A、即ち薄い光遮断層5は
ゲート線11の金属で作られる。第2及び3図を参照し
て説明したように、表示電極3と重なる基準電圧線11
Aは、貯蔵コンデンサCSの一方の電極として働く。第
2図、第4図、第5図及び第7図の実施例では、表示電
極3に重なる基準電圧線11Aの部分の巾は残りの部分
よりも広い。第6図の実施例では、光遮断層5の左右の
垂直部分が貯蔵コンデンサCSの一方の電極として使用
されるので、表示電極3の上部と重なる基準電圧線11
Aの巾が減少されることができる。上述の理由により、
開口即ち表示電極3の表示領域の長さL2は他の実施例
よりも長く、これにより大きな開口率が実現される。そ
して厚い黒色フォトレジスト層4の縁7Aは、基準電圧
線11Aの上側で、厚い黒色フォトレジスト層の縁7B
から離されて即ち不連続であり、従って垂直な縁7Aに
沿って生じるリバースチルトは、水平な縁7Bに沿って
生じるリバースチルトから隔てられ即ち不連続であり、
これにより第8図の部分Aにより示される斜めのリバー
スチルトが完全に防止される。矢印9はラビング方向を
示す。
【0016】第7図は本発明の第5の実施例を示し、こ
こで、薄い光遮断層5は、ラビング方向9の上流のみに
形成されている。即ち、薄い光遮断層5は、表示電極3
の開口の上側の縁及び左側の縁に設けられている。薄い
光遮断層5はゲート線10の金属で作られている。しか
しながら、この薄い光遮断層5はデータ線10の金属で
作られることができる。ネガティブ・フォトレジスト層
即ち透明の有機材料は、以下より成る。 バインダ・ポリマー : 300g モノマー : 165g 光重合開始剤 : 10g 熱重合禁止剤 : 80mg 溶媒 : 2750g 光遮断層として働く黒色ネガティブ・フォトレジストを
与えるために、次のような種類の顔料が透明なネガティ
ブ・フォトレジストに分散される。顔料は、例えばジア
ントラキノンのような赤色顔料、例えば銅フタロシアニ
ンのような青色顔料、例えばイソインドリンのような黄
色顔料及び例えばジオキサジンのような紫色顔料であ
る。これらの顔料は、黒色のネガティブ・フォトレジス
トを与えるために混合される。黒色を与えるための顔料
の組合わせは次のとおりである。 例1 例2 赤色顔料 5重量% − 青色顔料 35重量% 20重量% 黄色顔料 40重量% 20重量% 紫色顔料 20重量% 60重量% 1.5以下の光学濃度を示す黒色の光遮断層を生じるた
めに、これらの顔料はネガティブ・フォトレジスト中に
分散される。光学濃度は、層の厚さ及びこの層中に分散
される顔料の重量%によって決定される。前述の実施例
で使用された光遮断層4は、厚さが2μmあり、そして
層4中に分散されている顔料の重量%は36重量%であ
り、そしてその光学濃度は2.0である。光学濃度の値
1.5は、要求される表示イメージのコントラストを与
えるために必要な最小値であることが、本発明の発明者
により見い出された。もしも光学濃度が1.5よりも小
さいと、層4を通って光が薄膜トランジスタに通過し、
その結果、液晶表示セルの電圧一光透過特性が変動し
て、表示品質が低下する。1.5の光学濃度を生じるた
めの光遮光断層4の厚さ及びこの層中に分散されている
顔料の重量%は次の通りである。 厚さ(μm) 重量% 光学濃度 0.8 67.5 1.5 0.9 60.0 1.5 1.0 54.0 1.5 1.1 49.0 1.5 1.5 36.0 1.5 2.0 27.0 1.5 2.5 21.6 1.5
【0017】
【発明の効果】本発明は、リバースチルトにより劣下さ
れていた表示イメージの品質を改善する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の表示電極並びに薄い及び厚い光遮断層
の構造を示す図である。
【図2】本発明の第1実施例を示す図である。
【図3】液晶表示セルの回路を示す図である。
【図4】本発明の第2実施例を示す図である。
【図5】本発明の第3実施例を示す図である。
【図6】本発明の第4実施例を示す図である。
【図7】本発明の第5実施例を示す図である。
【図8】リバースチルトによりイメージが劣下された液
晶表示セルの平面図である。
【図9】図8の線A−Aに沿って得られる断面図であ
る。
【図10】図9に示す構造の表示電極を示す図である。
【符号の説明】
1 ……… ガラス基板 2 ……… ゲート絶縁層 3 ……… 表示電極 4 ……… 厚い光遮断層 5 ……… 薄い光遮断層 6 ……… 縁 7 ……… 縁 9 ……… ラビング方向 10 ……… データ線 11 ……… ゲート線 11A …… 基準電圧線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 27/12 A 29/784 (72)発明者 小関 敏彦 神奈川県大和市下鶴間1623番地14 日本ア イ・ビー・エム株式会社 大和事業所内 (72)発明者 高野 秀夫 神奈川県大和市下鶴間1623番地14 日本ア イ・ビー・エム株式会社 大和事業所内 (72)発明者 山中 秀峰 神奈川県大和市下鶴間1623番地14 日本ア イ・ビー・エム株式会社 大和事業所内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】共通電極が形成されている第1透明絶縁基
    板と、一方向に形成された線、上記一方向に交差する他
    方向に形成されたデータ線、上記ゲート線及びデータ線
    の各交点に形成され薄膜トランジスタ及び表示電極を有
    する液晶表示セル並びに各表示電極の表示領域を露出す
    る開口を有する光遮断層を有する第2透明絶縁基板と、
    上記第1及び第2基板の間に保持された液晶材料とを含
    む液晶表示装置において、 ラビング方向の上流にある上記開口の縁の上記光遮断層
    は、上記表示電極の周縁に形成された上記開口の縁を限
    定する薄い光遮断層と、該薄い光遮断層上に縁が位置づ
    けられた厚い光遮断層とより成ることを特徴とする上記
    液晶表示装置。
  2. 【請求項2】上記薄い光遮断層は、逆チルトされた液晶
    分子を通る光を遮断することを特徴とする請求項1の液
    晶表示装置。
  3. 【請求項3】上記薄い光遮断層の厚さは 0.5μm以
    下であることを特徴とする請求項2の液晶表示装置。
  4. 【請求項4】上記薄い光遮断層は金属層であり、上記厚
    い光遮断層は黒色のフォトレジスト層である請求項1の
    液晶表示装置。
  5. 【請求項5】上記金属層は上記ゲート線に使用される金
    属層である請求項4の液晶表示装置。
  6. 【請求項6】上記金属層は上記データ線に使用される金
    属層である請求項4の液晶表示装置。
  7. 【請求項7】上記フォトレジスト層は青色顔料、黄色顔
    料及び紫色顔料を含む請求項4の液晶表示装置。
  8. 【請求項8】上記フォトレジストは赤色顔料、青色顔
    料、黄色顔料及び紫色顔料を含む請求項4の液晶表示装
    置。 【0001】
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