JPH05297069A - 電子回路の検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【構成】 検査用端子板４に対し基板押さえ板３によっ
て電子回路基板を押接させてこの電子回路基板の動作を
検査する装置であって、電子回路基板を検査用端子板４
上に搬入するコンベア装置２を伸縮脚２ａで支持するこ
とにより、基板押さえ板３に伴って降下するようにし
た。 【効果】 電子回路基板が位置ずれした場合において
も、基板押さえ板３の降下によるこの電子回路基板の破
損を防止できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板上に構成
された電子回路の動作状態等を検査するための電子回路
の検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、種々の電子装置等においては、導
体パターンが被着形成されたプリント基板とこのプリン
ト基板に取付けられた電子素子とにより、該プリント基
板上に構成される電子回路が用いられている。この電子
回路の作成にあたっては、各電子素子を正確に上記プリ
ント基板上の所定の位置に取付けることが必要である。
したがって、特に一のプリント基板上に多数の電子素子
を取付ける場合等にあっては、各電子素子の取付けの後
に、これら電子素子と該プリント基板とによって構成さ
れた電子回路が所定の特性を有して所定の動作を行える
か否かを検査する必要がある。

【０００３】上記電子回路の検査を行うにあたっては、
電子回路の検査装置が用いられている。この電子回路の
検査装置は、図１４及び図１５に示すように、上記各電
子素子が取付けられたプリント基板、すなわち、電子回
路基板１０１が載置されてこの電子回路基板１０１を水
平方向に搬送するコンベア装置１０２を有している。こ
のコンベア装置１０２は、基台１０７に対して、図示し
ない支持部材を介して、図１４中矢印ｈ₁ で示す所定の
高さ位置に支持されている。このコンベア装置１０２
は、一対の互いに平行な搬送ガイドレールと、これら搬
送ガイドレールの長手方向に送り操作される搬送ベルト
とを有して構成されている。上記電子回路基板１０１
は、上記各搬送ガイドレール間に渡されるようにしてこ
れら搬送ガイドレール上に載置されるとともに、上記搬
送ベルトによって、該各搬送ガイドレールに沿って水平
方向に搬送される。このコンベア装置１０２は、上記電
子回路基板１０１を、前工程である他の検査や電子素子
の取付けが行われた位置より、この電子回路の検査装置
による検査が行われる位置まで搬入し、また、次工程が
行われる位置まで搬出する。

【０００４】そして、この電子回路の検査装置は、上記
コンベア装置１０２の上方側に配設された基板押さえ機
構１０３を有している。この基板押さえ機構１０３は、
上記電子回路基板１０１と略々同様の大きさを有する平
板状に構成された基板押さえ板１０３ａを有している。
この基板押さえ板１０３ａは、ガイドシャフト１０３ｄ
により、上記コンベア装置１０２上に載置される電子回
路基板１０１に対し略々平行に相対向するように水平と
なされるとともに、上下方向に移動可能に支持されてい
る。そして、この基板押さえ板１０３ａの下面部には、
複数の基板押さえ棒が垂下されている。この基板押さえ
板１０３ａは、第１のシリンダ１０３ｆの駆動シャフト
１０３ｅが取付けられており、該第１のシリンダ１０３
ｆによって、図１４中矢印ａで示すように、初期状態よ
り下方側に降下操作可能となされている。

【０００５】また、この電子回路の検査装置は、上記コ
ンベア装置１０２の下方側に配設された検査用端子板１
０４を有している。この検査用端子板１０４は、上記電
子回路基板１０１と略々同様の大きさを有する平板状に
構成されている。この検査用端子板１０４は、上記コン
ベア装置１０２上に載置される電子回路基板１０１に対
し略々平行に相対向するように水平となされるととも
に、上下方向に移動可能に支持されている。そして、こ
の検査用端子板１０４の上面部には、複数の検査用の接
触端子となる接触ピン１０４ｃが垂設されている。これ
ら接触ピン１０４ｃは、それぞれケーブル１１を介して
測定手段１０に接続されている。この測定手段１０は、
種々の測定回路等を有して構成され、上記各接触ピン１
０４ｃを介して、上記電子回路基板１０１上の電子回路
の動作状態を検査する。この検査用端子板１０４は、第
２のシリンダ１０４ｆの駆動シャフトが取付けられてお
り、該第２のシリンダ１０４ｆによって、図１４中矢印
ｂで示すように、初期状態より上方側に上昇操作可能と
なされている。

【０００６】この電子回路の検査装置においては、図１
５に示すように、上記コンベア装置１０２上に載置され
た電子回路基板１０１が所定位置まで搬入されると、上
記基板押さえ板１０３ａが降下操作されるとともに、上
記検査用端子板１０４が上昇操作される。すると、上記
電子回路基板１０１は、上記各基板押さえ棒の下端部と
上記各接触ピン１０４ｃの上端部とに挟持された状態と
なる。このとき、上記各接触ピン１０４ｃは、上記電子
回路基板１０１上のそれぞれ所定の導体パターン上に当
接されて、該導体パターンに対し導通状態となされてい
る。ここで、図１５中矢印ｈ₂ で示す上記コンベア装置
１０２の上記基台１０７よりの高さ位置は、図１４中矢
印ｈ₁ で示した上記所定の高さ位置のままに保持されて
いる。そして、上記測定手段１０は、上記ケーブル１１
及び上記各接触ピン１０４ｃを介して、上記電子回路の
動作状態等を検査する。

【０００７】そして、この電子回路の検査装置において
は、上記測定手段１０による検査が終了すると、上記基
板押さえ板１０３ａが上昇操作されて初期位置に復帰さ
れるとともに、上記検査用端子板１０４が降下操作され
て初期位置に復帰される。上記電子回路基板１０１は、
上記コンベア装置１０２によって、次工程が行われる位
置まで搬出される。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
な電子回路の検査装置においては、上記基板押さえ板１
０３ａと上記検査用端子板１０４との双方を昇降操作す
る必要があり、これら基板押さえ板１０３ａ及び検査用
端子板１０４の双方に対応してシリンダ１０３ｆ，１０
４ｆを配設する必要があるため、構成が複雑である。

【０００９】また、この電子回路の検査装置において
は、上記各接触ピン１０４ｃが、上記検査用端子板１０
４とともに、上記電子回路の検査の開始前と終了後に上
昇及び降下操作される。そして、これら接触ピン１０４
ｃに接続されたケーブル１１は、このような上記各接触
ピン１０４ｃの上昇及び降下操作の度に屈伸変位される
ので、断線を生じ易い。

【００１０】そして、この電子回路の検査装置において
は、上記検査用端子板１０４の上面部には、図１６に示
すように、位置決めピン１０４ａが少なくとも２本垂設
されている。この位置決めピン１０４ａは、上記電子回
路基板１０１のプリント基板に穿設された位置決め孔
（証穴）１１５に挿通されることにより、該電子回路基
板１０１を精確に位置決めするためのものである。すな
わち、この位置決めピン１０４ａと上記各接触ピン１０
４ｃとの位置関係は、上記位置決め孔１１５と上記各接
触ピン１０４ｃが接触すべき上記導体パターン上の部位
との位置関係に対し、合同なものとなされている。

【００１１】この電子回路の検査装置においては、上記
基板押さえ板１０３ａの降下操作前の上記コンベア装置
１０２上における上記電子回路基板１０１の停止位置が
精確でないと、該基板押さえ板１０３ａが降下操作され
たときに、図１６に示すように、上記位置決めピン１０
４ａが上記位置決め孔１１５に挿入されない虞れがあ
る。上記位置決めピン１０４ａが上記位置決め孔１１５
に挿入されないて上記基板押さえ板１０３ａがさらに降
下操作されると、上記電子回路基板１０１は、上記基板
押さえ棒１０３ｂと上記位置決めピン１０４ａとに挟持
されて、プリント基板を破損される虞れがある。

【００１２】さらに、この電子回路の検査装置において
は、上記位置決めピン１０４ａは、上記検査用端子板１
０４よりの突出高さが、上記接触ピン１０４ｃよりも充
分に高くなされている必要がある。これは、上記位置決
めピン１０４ａと上記位置決め孔１１５とによる上記電
子回路基板１０１の位置決めが、該電子回路基板１０１
と上記各接触ピン１０４ｃとが接触した状態では行えな
いためである。

【００１３】そして、上記位置決めピン１０４ａの突出
高さが充分に大きいため、図１７に示すように、上記電
子回路基板１０１が上記検査用端子板１０４に対して傾
きを生ずると、上記電子回路基板１０１の各位置決め孔
に対して各位置決めピン１０４ａが挿通されない虞れが
ある。すなわち、この電子回路の検査装置においては、
上記各位置決めピン１０４ａが上記各接触ピン１０４ｃ
の先端部よりもさらに上方に突出されているため、図１
７中に矢印ｅで示す該位置決めピン１０４ｃの該各接触
ピン１０４ｃよりも上方側に位置する部分が上記各位置
決め孔に挿通されることとなる。そして、上記位置決め
ピン１０４ｃの上記各接触ピン１０４ｃよりも上方側に
位置する部分が上記各位置決め孔内を通過しているとき
に、上記電子回路基板１０１が上記検査用端子板１０４
に対して平行になっていないと、図１７中矢印ｄで示す
上記各位置決めピン１０４ａ間の距離と上記各位置決め
孔間の水平方向についての距離が異なってしまうので、
上記各位置決め孔に対する上記各位置決めピン１０４ａ
の挿通が行えなくなるのである。なお、上記電子回路基
板１０１は、この電子回路基板１０１を構成する各電子
素子の上記プリント基板上における重量バランスの偏り
や上記接触ピン１０４ｃの配置位置の偏りに依って、上
記基板押さえ棒１０３ｂ及び上記位置決めピン１０４ａ
により接触されたときに、傾きを生じ易くなる。

【００１４】このような状態で上記基板押さえ板１０３
ａが降下操作されると、上記電子回路基板１０１は、上
記基板押さえ棒１０３ｂと上記位置決めピン１０４ａと
に挟持されて、プリント基板を破損される虞れがある。

【００１５】なお、この電子回路の検査装置において
は、上記基板押さえ板１０３ａを降下操作する前に上記
コンベア装置１０２上において上記電子回路基板１０１
を位置決めして停止させる構成としては、図１８に示す
ように、上記コンベア装置１０２の各ガイドレール間に
ストッパ部材１０５を配設し、このストッパ部材１０５
に上記電子回路基板１０１を当接させるものが用いられ
ている。

【００１６】しかしながら、この電子回路の検査装置に
おいては、上記電子回路基板１０１は、上記ストッパ部
材１０５に当接されたときに、このストッパ部材１０５
に対してバウンド（弾み）を生じてしまい、該ストッパ
部材１０５より離間するので、精確な位置決めがなされ
ることが困難である。また、上記ストッパ部材１０５に
緩衝機構を設け、このストッパ部材１０５に対する上記
電子回路基板１０１の衝突による衝撃を和らげても、こ
の電子回路基板１０１を精確に位置決めして停止させる
ことは困難であった。このように、上記コンベア装置１
０２上における上記電子回路基板１０１の停止位置を精
確となすことができないことは、上述のような該電子回
路基板１０１の破損の原因となる。

【００１７】さらに、図１８に示すように、シリンダ１
０６を設けて、このシリンダ１０６によって上記電子回
路基板１０１を上記ストッパ１０５に押接させる構成も
考えられるが、構成の複雑化を招来するとともに、該電
子回路基板１０１の迅速な位置決めが行えない。

【００１８】そこで、本発明は、上述の実情に鑑みて提
案されるものであって、被検査物となる電子回路基板を
コンベア装置上において迅速に精確な位置にて停止させ
ることができ、この電子回路基板に検査用の接触ピンが
接触されるときの該電子回路基板の破損が防止され、さ
らに、上記電子回路基板が精確な位置にて停止されなく
とも、少なくとも該電子回路基板の破損だけは防止でき
るようになされた電子回路の検査装置を提供することを
目的とする。

【００１９】

【課題を解決するための手段】上述の課題を解決し上記
目的を達成するため、本発明に係る電子回路の検査装置
は、被検査物となる電子回路基板が載置されてこの電子
回路基板を搬送するコンベア装置と、上記コンベア装置
の上方側に配設され該コンベア装置側に降下操作されて
上記電子回路基板を押圧支持する基板押さえ機構と、上
記コンベア装置の下方側に配設され上記電子回路基板を
当接支持して位置決めする位置決め部材と、上記コンベ
ア装置の下方側に配設され上記電子回路基板の導体パタ
ーン部が接触される接触ピンとを備え、上記コンベア装
置は、上記基板押さえ機構の降下に伴って、上記電子回
路基板が上記位置決め部材及び上記接触ピンに当接され
る位置まで降下されてなるものである。

【００２０】また、本発明は、上述の電子回路の検査装
置において、上記位置決め部材をして、コンベア装置に
対する接離方向に所定の移動可能範囲内において移動可
能に支持されることとし、該コンベア装置に接近する方
向に付勢されることとしたものである。

【００２１】さらに、本発明は、上述の各電子回路の検
査装置において、電子回路基板のコンベア装置上におけ
る水平方向についての位置を検出する位置センサ装置
と、この位置センサ装置による位置検出に応じて上記コ
ンベア装置による上記電子回路基板の搬送を停止させる
制御装置とを設けることとしたものである。

【００２２】

【作用】本発明に係る電子回路の検査装置においては、
被検査物となる電子回路基板を搬送するコンベア装置
は、このコンベア装置の上方側に配設された基板押さえ
機構の上記電子回路基板を押圧支持するための降下に伴
って、下方側に配設された位置決め部材及び接触ピンに
対し該電子回路基板を当接させる位置まで降下されるの
で、上記位置決め部材及び上記接触ピンを上昇させるこ
となく、該位置決め部材による該電子回路基板の位置決
め及び該接触ピンの該電子回路基板上の所定部位への接
触を可能となす。

【００２３】また、上述の電子回路の検査装置におい
て、上記位置決め部材を、上記コンベア装置に対する接
離方向に所定の移動可能範囲内において移動可能に支持
され該コンベア装置に接近する方向に付勢されたものと
した場合には、この位置決め部材は、上記電子回路基板
が水平方向に位置ずれした状態で上記基板押さえ機構及
び上記コンベア装置が降下操作されたときには、付勢力
に抗して上記コンベア装置より離間する方向に移動され
るので、該電子回路基板を破損させない。

【００２４】さらに、上述の各電子回路の検査装置にお
いて、上記電子回路基板の上記コンベア装置上における
水平方向についての位置を検出する位置センサ装置と、
この位置センサ装置による位置検出に応じて上記コンベ
ア装置による上記電子回路基板の搬送を停止させる制御
装置とを設けた場合には、該電子回路基板を該コンベア
装置上において精確な位置にて停止させることができ、
したがって、上記基板押さえ機構及び上記コンベア装置
が降下操作される前の該電子回路基板の位置決めを精確
に行うことができる。

【００２５】

【実施例】以下、本発明の具体的な実施例を図面を参照
しながら説明する。本発明に係る電子回路の検査装置
は、導体パターンが被着形成されたプリント基板とこの
プリント基板に取付けられた電子素子とにより該プリン
ト基板上に構成された電子回路の動作状態等を検査する
ための装置である。

【００２６】この電子回路の検査装置は、図１に示すよ
うに、上記各電子素子が取付けられたプリント基板、す
なわち、被検査物となる電子回路基板１が載置されてこ
の電子回路基板１を水平方向に搬送するコンベア装置２
を有している。このコンベア装置２は、互いに平行に配
設される一対の搬送レール部材から構成され、基台部７
の上面部に、複数の伸縮脚２ａを介して、所定の高さ位
置に水平に支持されている。このコンベア装置２の上記
各搬送レール部材には、図２に示すように、これら搬送
レール部材の長手方向に送り操作される無端搬送ベルト
２ｂが取付けられている。この無端搬送ベルトは、上記
搬送レール部材の両端側に対をなして取付けられたベル
トプーリ間に掛け回され、該各ベルトプーリの回転に伴
って送り操作される。上記伸縮脚２ａは、伸縮可能とな
された軸部と、この軸部の回りに外巻装された圧縮コイ
ルバネとを有して構成されている。したがって、上記コ
ンベア装置２は、このコンベア装置２の重量と上記圧縮
コイルバネの弾性力の均衡位置である初期位置より下方
側に降下されると、該圧縮コイルバネの弾発力により、
初期位置に復帰する上行方向に弾性付勢される。

【００２７】上記電子回路基板１は、上記コンベア装置
２の各搬送レール部材間に渡されるようにして上記各無
端搬送ベルト２ｂ，２ｂ上に載置されるとともに、これ
ら無端搬送ベルト２ｂ，２ｂによって、図１中矢印Ａで
示すように、該各搬送レール部材に沿って水平方向に搬
送される。このコンベア装置２は、図１３に示すよう
に、前工程である他の検査や電子素子の取付けを行う装
置のコンベア装置３０によって、図１３中矢印Ｊで示す
ように、搬送された上記電子回路基板１を、図１３中矢
印Ｋで示すように、この電子回路の検査装置による検査
が行われる位置まで搬入し、また、次工程が行われる位
置まで搬出するためのものである。

【００２８】そして、この電子回路の検査装置は、基板
押さえ機構を構成する基板押さえ板３を有している。こ
の基板押さえ板３は、上記電子回路基板１と略々同様の
大きさを有する平板状に構成され、上記コンベア装置２
の上方側に配設されている。この基板押さえ板３は、図
３及び図４に示すように、後端側部分をガイドシャフト
３ｇを介して支持され、上記コンベア装置２上に載置さ
れる電子回路基板１の上面部に対し略々平行に相対向す
るように水平となされている。この基板押さえ板３は、
上記ガイドシャフト３ｇに沿って、上記コンベア装置２
に対する接離方向である上下方向に移動可能となされて
いる。

【００２９】この基板押さえ板３は、後端側部分に、基
板押さえ機構を構成する駆動シリンダ３ｆの駆動シャフ
ト３ｅが取付けられており、該駆動シリンダ３ｆによっ
て、図４中矢印Ｂで示すように、図３に示す初期状態よ
り下方側に降下操作可能となされている。そして、上記
基板押さえ板３の下面部には、複数の基板押さえ棒３
ｂ，３ｄ及びコンベア押圧棒３ｃが垂下されている。こ
れら基板押さえ棒３ｂ，３ｄは、上記電子回路基板１が
上記基板押さえ板３に対向されたときに該電子回路基板
１上の電子素子が取付けられない平坦部に対向する位置
となされて配設されている。上記コンベア押圧棒３ｃ
は、上記コンベア装置２の各搬送レール部材２の上面部
に対向する位置に配設されている。

【００３０】また、この電子回路の検査装置において、
上記コンベア装置２の下方側には、検査用端子板４が配
設されている。この検査用端子板４は、上記電子回路基
板１と略々同様の大きさを有する平板状に構成されてい
る。この検査用端子板４は、上記コンベア装置２上に載
置される電子回路基板１に対し略々平行に相対向するよ
うに、複数の支持部材４ｄを介して水平となされて支持
されている。この検査用端子板４は、図３及び図４中に
矢印Ｈで示すように、上記基台部７の上面部よりの所定
の高さ位置に保持されている。

【００３１】上記検査用端子板４には、図６乃至図８及
び図１０に示すように、複数の検査用の接触端子となる
接触ピン４ｃが垂設されるようにして取付けられてい
る。これら接触ピン４ｃは、針状の軸部が上記検査用端
子板４に対して出没可能となされて支持されており、図
示しない弾性部材により、該軸部を上方、すなわち、該
検査用端子板４より突出させる方向に弾性付勢されてい
る。これら接触ピン４ｃは、それぞれケーブル１１を介
して測定手段１０に接続されている。この測定手段１０
は、種々の測定回路等を有して構成され、上記各接触ピ
ン４ｃを介して、上記電子回路基板１上の電子回路の動
作状態を検査するように構成されている。上記ケーブル
１１は、上記検査用端子板４が上記基台部７に対して一
定の位置に保持されているため、この電子回路の検査装
置の動作に伴って屈伸されることがなく、該基台部７等
に固着させることができ、断線等の事故が防止されてい
る。

【００３２】そして、この電子回路の検査装置におい
て、上記検査用端子板４には、図６乃至図１０に示すよ
うに、位置決め部材となる位置決めピン４ａが、少なく
とも２本、垂設されるようにして取付けられている。こ
れら位置決めピン４ａは、図１１に示すように、円筒状
に形成された支持筒部１８と、この支持筒部１８内に挿
通され該支持筒部１８に対し図１１中矢印Ｆ及び矢印Ｇ
で示す軸方向に移動可能となされた軸部１７とを有して
構成されている。上記支持筒部１８は、基端側の外周面
部に取付けネジ部１９が形成されている。そして、上記
軸部１７の基端側部分と上記支持筒部１８の基端部との
間には、該軸部１７に外巻装された引っ張りコルバネ２
０が配設されている。上記軸部１７の先端側には、略々
円錐状に尖らされたテーパ部１６が形成されている。

【００３３】上記位置決めピン４ａにおいては、上記軸
部１７が上記支持筒部１８に対して、図１１中矢印Ｆで
示すように、上記テーパ部１６を上記支持筒部１８に接
近させる方向に移動されると、上記引っ張りコイルバネ
２０が引っ張られ、図１１中矢印Ｇで示すように、この
引っ張りコイルバネ２０は、上記テーパ部１６を上記支
持筒部１８より離間させる方向に弾性付勢する。

【００３４】上記各位置決めピン４ａは、上記検査用端
子板４に穿設された位置決めピン取付け孔に上記支持筒
部１８を挿通させ、上記止めネジ部１９にナット２７が
螺合されることにより、該検査用端子板４に取付けられ
る。このとき、上記軸部１７は、上記テーパ部１６を略
々垂直上方側、すなわち、上記コンベア装置２の側に向
けている。

【００３５】上記各位置決めピン４ａは、上記電子回路
基板１のプリント基板に穿設された位置決め孔（証穴）
１５に上記軸部１７のテーパ部１６を挿入させることに
より、該電子回路基板１を上記検査用端子板４に対して
精確に位置決めするためのものである。すなわち、この
位置決めピン４ａと上記各接触ピン４ｃとの位置関係
は、上記位置決め孔１５と上記各接触ピン４ｃが接触す
べき上記プリント基板の導体パターン上の部位との位置
関係に対し、合同なものとなされている。

【００３６】そして、上記複数の基板押さえ棒３ｂ，３
ｄのうち、上記位置決めピン４ａの軸部１７に対向する
基板押さえ棒３ｄは、下端部に、上記テーパ部１６が嵌
入される凹部１４を有している。

【００３７】また、上記検査用端子板４には、図１０に
示すように、位置決め部材となる水平保持ピン４ｂが、
複数本、垂設されるようにして取付けられている。これ
ら水平保持ピン４ｂは、図１２に示すように、円筒状に
形成された支持筒部２５と、この支持筒部２５内に挿通
され該支持筒部２５に対し図１２中矢印Ｆ及び矢印Ｇで
示す軸方向に移動可能となされた軸部２３とを有して構
成されている。上記支持筒部２５は、基端側の外周面部
に取付けネジ部２６が形成されている。そして、上記軸
部２３の先端側部分と上記支持筒部１８の先端部との間
には、該軸部２３に外巻装された圧縮コルバネ２４が嵌
装されている。上記軸部２３の先端側には、略々半球形
状となされた当接部２２が形成されている。

【００３８】上記水平保持ピン４ｂにおいては、上記軸
部２３が上記支持筒部２５に対して、図１２中矢印Ｆで
示すように、上記当接部２２を上記支持筒部２５に接近
させる方向に移動されると、上記圧縮コイルバネ２４が
圧縮され、図１２中矢印Ｇで示すように、この圧縮コイ
ルバネ２４は、上記当接部２２を上記支持筒部２５より
離間させる方向に弾性付勢する。

【００３９】上記各水平保持ピン４ｂは、上記検査用端
子板４に穿設された水平保持ピン取付け孔に上記支持筒
部２５を挿通させ、上記止めネジ部２６にナット２７が
螺合されることにより、該検査用端子板４に取付けられ
る。このとき、上記軸部２３は、上記当接部２２を略々
垂直上方側、すなわち、上記コンベア装置２の側に向け
ている。

【００４０】そして、この電子回路の検査装置には、上
記コンベア装置２により搬送される電子回路基板１を上
記基板押さえ板３の下方位置にて停止させるための基板
停止機構が設けられている。この基板停止機構は、上記
基板押さえ板３に取付けられた位置センサ装置６と、上
記コンベア装置２の上記各搬送レール部材間に配設され
たストッパ部材５とを有して構成されている。

【００４１】上記位置センサ装置６は、光学的センサ等
を有して構成され、対向する位置に上記電子回路基板１
が存するか否かを検出する。この位置センサ装置６は、
上記基板押さえ板３の一側部（図２中の左側側部）の近
傍に取付けられている。この位置センサ装置６より出力
される位置検出信号は、上記コンベア装置２の駆動を制
御する図示しない制御装置に送られる。上記ストッパ部
材５は、図２及び図１３に示すように、シリンダ２８の
駆動軸に支持されることにより、初期位置にある上記コ
ンベア装置２の各搬送レール部材２間であって上記基板
押さえ板３の一側部に対応する位置に対して、進退操作
可能に配設されている。

【００４２】上述のように構成された本発明に係る電子
回路の検査装置においては、図１３に示すように、上記
コンベア装置２上に載置された電子回路基板１は、前工
程のコンベア装置３０等より搬入され、上記コンベア装
置２により搬送される。この電子回路基板１は、上記基
板押さえ板３の下方側位置に、この基板押さえ板３の他
側部（図２中の右側側部）側より進入する。このとき、
上記基板押さえ板３及び上記コンベア装置２の高さ位置
は、図３に示す初期高さ位置となされている。

【００４３】上記電子回路基板１が上記基板押さえ板３
に略々重なる位置まで搬送されると、上記位置センサ装
置６は、上記電子回路基板１の進行方向先端側部分を検
出し、上記制御装置に位置検出信号を送る。このとき、
この制御装置は、上記コンベア装置２における上記無端
搬送ベルト２ｂの送り操作を停止させる。また、このと
き、上記ストッパ部材５が上記各搬送レール部材間に進
入されており、上記電子回路基板１は、進行方向先端部
を該ストッパ部材５に接近させている。上記無端搬送ベ
ルト２ｂは、上記制御装置により停止操作されたとき、
この無端搬送ベルト２ｂ及び上記電子回路基板１の慣性
により、さらに、僅かながら送られる。このように上記
無端搬送ベルト２ｂが慣性によって送られることによ
り、上記電子回路基板１は、上記ストッパ部材５に当接
する位置まで進行する。この電子回路基板１は上記スト
ッパ部材５に当接するが、上記無端搬送ベルト２ｂの送
り操作が停止されているため、これら電子回路基板１及
びストッパ部材５間に生ずる衝撃は、極小さいものであ
る。したがって、上記電子回路基板１の上記ストッパ部
材５に当接したときの該ストッパ部材５よりのバウンド
（弾み）は、極小さな距離に抑えられている。このと
き、上記位置センサ装置６は、依然として、上記電子回
路基板１の存在を検出している。この電子回路基板１の
停止している位置は、略々、上記検出用端子板４の上方
である所定の停止位置となっている。

【００４４】また、上記制御装置は、上記位置センサ装
置６よりの検出信号が送られたとき、上記駆動シリンダ
３ｆを制御し、図４中矢印Ｂで示すように、上記基板押
さえ板３を降下させる。すると、この基板押さえ板３
は、上記各基板押さえ棒３ｂ，３ｄを介して上記電子回
路基板１の上面部を押圧するととに、上記コンベア押圧
棒３ｃを介して上記コンベア装置２の上面部を押圧す
る。上記コンベア装置２は、上記伸縮脚２ａの圧縮コイ
ルバネの付勢力に抗して、図７中矢印Ｄで示すように、
上記検査用端子板４に接近する方向に降下される。ま
た、上記電子回路基板１も、上記コンベア装置２及び上
記各基板押さえ棒３ｂ，３ｄに追従して、降下される。
このとき、上記ストッパ部材５は、上記シリンダ２８に
より、上記基板押さえ板３や電子回路基板１等に当接し
ない位置に退避される。

【００４５】上記位置決めピン４ａのテーパ部１６は、
上記電子回路基板１のプリント基板に穿設された位置決
め孔１５に挿通される。そして、このテーパ部１６は、
図７に示すように、上記基板押さえ棒３ｄの下端部の凹
部１４に嵌入される。上記電子回路基板１は、図１０に
示すように、上記各基板押さえ棒３ｂ，３ｄの下端部
と、上記各位置決めピン４ａ及び上記各水平保持ピン４
ｂとに挟持された状態となる。上記電子回路基板１は、
上記位置決めピン４ａのテーパ部１６が上記位置決め孔
１５に挿通されことにより、精確に位置決めされる。

【００４６】この電子回路の検査装置においては、上記
基板押さえ板３の降下操作前の上記コンベア装置２上に
おける上記電子回路基板１の停止位置が若干ずれていて
も、該基板押さえ板３が降下操作されたときには、図９
に示すように、上記位置決め孔１５の縁部が上記テーパ
部１６の斜面部を滑ることにより、図９中矢印Ｅで示す
ように、該電子回路基板１は、該位置決め孔１５を上記
位置決めピン４ａの軸部１７に接近させる方向に水平に
移動される。このとき、上記コンベア装置２は、上記コ
ンベア押圧棒３ｃにより下方側に押圧されて上記電子回
路基板１より離間されており、該電子回路基板１の移動
を阻害することがない。したがって、この場合にも、上
記テーパ部１６は、上記位置決め孔１５内に嵌入され、
上記電子回路基板１の精確な位置決めを行う。

【００４７】また、上記水平保持ピン４ｂは、上記電子
回路基板１の下面部の複数の箇所を略々等しい押圧力で
押圧支持することにより、この電子回路基板１の水平な
状態を維持させる。さらに、この水平保持ピン４ｂの先
端側部分は、半球状の当接部２２となされているため、
上記電子回路基板１との摺接が円滑となされており、上
記位置決め孔１５の縁部が上記テーパ部１６の斜面部を
滑ることによる上記電子回路基板１の水平方向への移動
を阻害することがない。

【００４８】そして、上記基板押さえ板３がさらに降下
操作されることにより、図８に示すように、上記各接触
ピン４ｃは、上記電子回路基板１上のそれぞれ上記導体
パターン上の所定の部位に先端部を当接させ、該導体パ
ターンに対し導通状態となされる。上記測定手段１０
は、上記ケーブル１１及び上記各接触ピン４ｃを介し
て、上記電子回路の動作状態等を検査する。

【００４９】そして、この電子回路の検査装置において
は、上記測定手段１０による検査が終了すると、上記基
板押さえ板３が上昇操作されて初期位置に復帰され、上
記コンベア装置２も上記伸縮脚２ａの復元力により初期
位置に復帰される。このとき、上記電子回路基板１は、
上記コンベア装置２上に載置されている。この電子回路
基板１は、上記コンベア装置２によって、次工程が行わ
れる位置まで搬出される。

【００５０】また、この電子回路の検査装置において、
上記基板押さえ板３の降下操作前の上記コンベア装置２
上における上記電子回路基板１の停止位置が大きくずれ
た場合には、該基板押さえ板３が降下操作されたとき
に、上記位置決めピン４ａ、上記水平保持ピン４ｂ及び
上記接触ピン４ｃがそれぞれ上記検査用端子板４に没入
されるようにして軸部を下方側に移動させるので、該電
子回路基板１が破損される虞れがない。

【００５１】なお、本発明に係る電子回路の検査装置に
おいて、上記コンベア装置２を支持するための構成とし
ては、上述の実施例中に示した如き複数の伸縮脚２ａに
限定されることなく、図５に示すように、上記基板押さ
え板３を支持している上記ガイドシャフト３ｄによって
このコンベア装置２をも支持するような構成としてもよ
い。すなわち、この場合には、上記コンベア装置２の各
搬送レール部材は、後端部側を上記ガイドシャフト３ｇ
に支持された平板状の支持部材１３に取付けられて支持
されている。上記支持部材１３は、上記ガイドシャフト
３ｇに沿って、上記基台部７に対する接離方向である上
下方向に移動可能となされている。そして、上記支持部
材１３と上記基台部７との間には、圧縮コイルバネ１２
が、上記ガイドシャフト３ｇに外巻装されて嵌装されて
いる。上記コンベア装置２は、上述の実施例におけると
同様に、このコンベア装置２及び上記支持部材１３の重
量と上記圧縮コイルバネ１２の弾性力の均衡位置を初期
位置として位置決めされ、この初期位置よりも下方側に
降下されると、該圧縮コイルバネ１２の弾発力により、
初期位置に復帰する上行方向に弾性付勢される。

【００５２】

【発明の効果】上述のように、本発明に係る電子回路の
検査装置においては、被検査物となる電子回路基板を搬
送するコンベア装置は、このコンベア装置の上方側に配
設された基板押さえ機構の上記電子回路基板を押圧支持
するための降下に伴って、下方側に配設された位置決め
部材及び接触ピンに対し該電子回路基板を当接させる位
置まで降下される。

【００５３】したがって、この電子回路の検査装置にお
いては、上記位置決め部材及び上記接触ピンを上昇させ
ることなく、該位置決め部材による該電子回路基板の位
置決め及び該接触ピンの該電子回路基板上の所定部位へ
の接触が可能となされている。

【００５４】また、上述の電子回路の検査装置におい
て、上記位置決め部材を、上記コンベア装置に対する接
離方向に所定の移動可能範囲内において移動可能に支持
され該コンベア装置に接近する方向に付勢されたものと
した場合には、この位置決め部材は、上記電子回路基板
が水平方向に位置ずれした状態で上記基板押さえ機構及
び上記コンベア装置が降下操作されたときには、付勢力
に抗して上記コンベア装置より離間する方向に移動され
る。

【００５５】したがって、この電子回路の検査装置にお
いては、上記電子回路基板が水平方向に位置ずれした状
態で上記基板押さえ機構及び上記コンベア装置が降下操
作されても、該電子回路基板が破損されることがない。

【００５６】さらに、上述の各電子回路の検査装置にお
いて、上記電子回路基板の上記コンベア装置上における
水平方向についての位置を検出する位置センサ装置と、
この位置センサ装置による位置検出に応じて上記コンベ
ア装置による上記電子回路基板の搬送を停止させる制御
装置とを設けた場合には、該電子回路基板を該コンベア
装置上において精確な位置にて停止させることができ
る。すなわち、この場合には、上記基板押さえ機構及び
上記コンベア装置が降下操作される前の該電子回路基板
の位置決めを精確に行うことができる。

【００５７】すなわち、本発明は、被検査物となる電子
回路基板をコンベア装置上において迅速に精確な位置に
て停止させることができ、この電子回路基板に検査用の
接触ピンが接触されるときの該電子回路基板の破損が防
止され、さらに、上記電子回路基板が精確な位置にて停
止されなくとも、少なくとも該電子回路基板の破損だけ
は防止できるようになされた電子回路の検査装置を提供
することができるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る電子回路の検査装置の構成を示す
斜視図である。

【図２】上記電子回路の検査装置の要部の構成を示す要
部拡大斜視図である。

【図３】上記電子回路の検査装置の構成を示す側面図で
ある。

【図４】上記電子回路の検査装置の動作状態を示す側面
図である。

【図５】上記電子回路の検査装置の構成の他の例を示す
側面図である。

【図６】上記電子回路の検査装置の位置決めピン及び接
触ピンの取付け部の構成を一部を破断して示す側面図で
ある。

【図７】上記位置決めピン及び上記接触ピンの取付け部
の基板押さえ機構が降下されているときの状態を一部を
破断して示す側面図である。

【図８】上記位置決めピン及び上記接触ピンの取付け部
の基板押さえ機構及びコンベア装置が降下されていると
きの状態を一部を破断して示す側面図である。

【図９】上記位置決めピンの取付け部の電子回路基板が
位置ずれしているときの状態を一部を破断して示す側面
図である。

【図１０】上記電子回路の検査装置の上記位置決めピ
ン、上記接触ピン及び水平保持ピンの取付け部の構成を
一部を破断して示す側面図である。

【図１１】上記位置決めピンの構成を示す側面図であ
る。

【図１２】上記水平保持ピンの構成を示す側面図であ
る。

【図１３】上記電子回路の検査装置において電子回路基
板が前工程より搬入された状態を概略的に示す正面図で
ある。

【図１４】従来の電子回路の検査装置の構成を示す側面
図である。

【図１５】上記従来の電子回路の検査装置の動作状態を
示す側面図である。

【図１６】上記従来の電子回路の検査装置の位置決めピ
ン及び接触ピンの取付け部の構成を一部を破断して示す
側面図である。

【図１７】上記従来の電子回路の検査装置において電子
回路基板が傾いた状態を示す側面図である。

【図１８】上記従来の電子回路の検査装置の電子回路基
板を所定位置で停止させるための構成を示す斜視図であ
る。

【符号の説明】

１・・・・・・・・・・・・電子回路基板 ２・・・・・・・・・・・・コンベア装置 ３・・・・・・・・・・・・基板押さえ機構 ４ａ・・・・・・・・・・位置決めピン ４ｂ・・・・・・・・・・水平保持ピン ４ｃ・・・・・・・・・・接触ピン ６・・・・・・・・・・・・位置センサ装置

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被検査物となる電子回路基板が載置され
   てこの電子回路基板を搬送するコンベア装置と、 上記コンベア装置の上方側に配設され、該コンベア装置
   側に降下操作されて、上記電子回路基板を押圧支持する
   基板押さえ機構と、 上記コンベア装置の下方側に配設され、上記電子回路基
   板を当接支持して位置決めする位置決め部材と、 上記コンベア装置の下方側に配設され、上記電子回路基
   板の導体パターン部が接触される接触ピンとを備え、 上記コンベア装置は、上記基板押さえ機構の降下に伴っ
   て、上記電子回路基板が上記位置決め部材及び上記接触
   ピンに当接される位置まで降下されてなる電子回路の検
   査装置。
2. 【請求項２】 位置決め部材は、コンベア装置に対する
   接離方向に、所定の移動可能範囲内において移動可能に
   支持され、該コンベア装置に接近する方向に付勢されて
   なる請求項１記載の電子回路の検査装置。
3. 【請求項３】 電子回路基板のコンベア装置上における
   水平方向についての位置を検出する位置センサ装置と、 上記位置センサ装置による位置検出に応じて、上記コン
   ベア装置による上記電子回路基板の搬送を停止させる制
   御装置とを設けてなる請求項１又は請求項２記載の電子
   回路の検査装置。