JPH0529145B2 - - Google Patents

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JPH0529145B2
JPH0529145B2 JP62227556A JP22755687A JPH0529145B2 JP H0529145 B2 JPH0529145 B2 JP H0529145B2 JP 62227556 A JP62227556 A JP 62227556A JP 22755687 A JP22755687 A JP 22755687A JP H0529145 B2 JPH0529145 B2 JP H0529145B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hole
plating
package
ceramic green
green sheet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP62227556A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6472592A (en
Inventor
Takuji Yamamoto
Mutsumi Kitagawa
Kunimitsu Yoshikawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NGK Insulators Ltd
Original Assignee
NGK Insulators Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NGK Insulators Ltd filed Critical NGK Insulators Ltd
Priority to JP22755687A priority Critical patent/JPS6472592A/ja
Publication of JPS6472592A publication Critical patent/JPS6472592A/ja
Publication of JPH0529145B2 publication Critical patent/JPH0529145B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/4038Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections
    • H05K3/4053Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections by thick-film techniques

Description

【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野) 本発明は半導体素子を搭載し回路基板に直接接
続するリードレスタイプのセラミツクパツケージ
の製造方法に関するものである。 (従来の技術) セラミツク製の半導体パツケージの1つに、実
装密度を向上させるための手段として、セラミツ
クパツケージ本体に導体層を形成して回路基板に
直接接続できるようにしたリードレスタイプの半
導体パツケージがある。その一例として第2図
a,bに示すように半導体素子をろう付け等によ
り固定するための装着部74と、半導体素子の電
極とワイヤーボンデイング等で接続するための内
部電極75と、回路基板に半田付け等で接続する
ための外部電極76と、内部電極75と外部電極
76をスルホール77を用いて接続するようにし
た側面導体78aと、さらに必要に応じて第2図
bに示すように半導体素子を気密封止するための
キヤツプ搭載部81とから構成されている。従来
このようなリードレスタイプのセラミツクパツケ
ージは、第3図aに示すようにパツケージ本体部
71とその外縁部72の連結部にスルホール77
を開け、その内壁に導体ペーストを塗布したセラ
ミツクグリーンシートまたは下層セラミツクグリ
ーンシート73を形成し、その後必要に応じて第
3図bに示すようなキヤツプ搭載部81を具備し
た上層セラミツクグリーンシート80を形成し、
第3図cに示すように上層セラミツクグリーンシ
ート80と下層セラミツクグリーンシート73を
積層した後焼成し、さらに側面導体78a,78
b部分にめつきを施した後、連結部に設けたスナ
ツプライン84で区切られた外縁部72をパツケ
ージ本体部71から切り離すことにより製造され
ていた。 (発明が解決しようとする問題点) ところが、第2図a,bに示すパツケージを製
造する製造方法では、セラミツクグリーンシート
または下層セラミツクグリーンシート73に形成
されたスルホール77が細孔であるとともに、特
に第2図bに示すものでは片側が上層セラミツク
グリーンシート80により被覆されるため、めつ
きを施す際めつき液のスルホール内への浸透性が
悪くなりしかもスルホール内に気泡がたまりやす
かつた。その結果、スルホール内壁部のめつき厚
が薄くなつたり、めつきが部分的につかなかつた
りして、側面導体78aの半田濡れ性を劣下させ
るという欠点があつた。 また、これら第2図a,bに示すパツケージを
製造する製造方法では、外縁部側の側面導体78
bにもめつきが施されるため、高価な金めつきを
施す場合には、めつきコストが割高となる欠点が
あつた。 本発明の目的は上記のような従来の問題点を解
消し、不必要な部分にめつきを施すことなくセラ
ミツクリードレスパツケージの側面導体部に均一
な厚みのめつきを施すことを可能にする製造方法
を提供しようとするものである。 (問題点を解決するための手段) 本発明のセラミツクリードレスパツケージの製
造方法は、パツケージ本体部とその外縁部の連結
部に第1のスルホールを開け、その内壁に導体ペ
ーストを塗布した下層セラミツクグリーンシート
を形成する工程からなる第1工程と、前記第1の
スルホールの前記外縁部側の内壁部に重なるよう
に第2のスルホールを形成する工程からなる第2
工程と、前記スルホールを閉塞するキヤツプ搭載
用上層セラミツクグリーンシートと前記下層セラ
ミツクグリーンシートとを積層してセラミツク積
層体を得る第3工程と、前記セラミツク積層体を
焼成する工程と、焼成後のセラミツク積層体おい
て少なくとも前記第1のスルホール内壁の前記本
体部側の導体ペースト上にめつきを施す工程と、
前記本体部から前記外縁部を分離する工程とから
なる第工程とを含むことを特徴とするものであ
る。 (作 用) 上述した構成において、所定のスルホールを形
成して導体ペーストをスルホールに塗布した後、
スルホールの外縁部側に上記スルホールを拡げる
とともに外縁部側の導体ペースト層を除去するた
めの第2のスルホールを開けることにより、スル
ホールを閉塞するキヤツプ搭載部を設けた場合で
も、焼成後のめつき工程におけるめつき液のスル
ホール内への浸透性が良好になりめつき厚を均一
にできるとともに、めつき時に外縁部側には導体
ペースト層がないため、不必要なめつき層をなく
すことができる。 (実施例) 第1図a〜eは本発明の一実施例の製造工程を
説明するための部分断面図である。本実施例では
まず、第1図aに示すように、下層セラミツクグ
リーンシート3a,3bの所定の位置にスクリー
ン印刷法でメタライズペーストを施し、半導体素
子装着部4、内部電極5及び外部電極6を形成し
た後、パツケージ本体部1とその外縁部2の連結
部の所定の位置にパンチングで第1のスルホール
7を開け、その内壁にメタライズペーストを施し
て側面導体8a,8bを形成することにより内部
電極5と外部電極6を接続した。つぎに、第1図
bに示すように、第1のスルホール7の外縁部側
の側面導体8bを除去しかつ第1のスルホールを
拡大するために、第1のスルホール7の外縁部側
の側面導体8bに重なるように第2のスルホール
9を形成した。さらに、第1図cに示すように、
キヤツプ搭載部11が形成された上層セラミツク
グリーンシート10を準備した後、第1図dに示
すように下層セラミツクグリーンシート3a,3
bと上層セラミツクグリーンシート10を積層し
て、セラミツク積層体を得た。続いて、通常の方
法により焼成して、上下層セラミツクグリーンシ
ート10,3a,3bと所定の位置に印刷された
メタライズペーストを焼結させた後、半導体素子
装着部4、内部電極5、外部電極6、側面導体8
a及びキヤツプ搭載部11のメタライズ上にニツ
ケル、金めつきを施してめつき層13を形成し
た。最後に、第1図eに示すように、パツケージ
本体の外形線にそつて形成されたスナツプライン
14を境にして、パツケージ本体部1と外縁部2
を切り離して所望するセラミツクリードレスパツ
ケージを得た。 上述した本発明例および従来例について、実際
にそれぞれの方法でセラミツクリードレスパツケ
ージを作製して、めつき厚の均一性および側面導
体部のボイド発生率をスルホールの径およびセラ
ミツクグリーンシートの厚さを種々変えて測定し
た。結果を第1表に示す。
【表】 第1表の結果から、本発明例は従来例に比較し
てめつき厚の均一性が良好でボイド発生率も低い
ことがわかる。 (発明の効果) 以上説明したところから明らかなように、本発
明のセラミツクリードレスパツケージの製造方法
によれば、第1のスルホールの外縁部側の側面導
体は第2のスルホールの形成により除去されるた
め、スルホールを閉塞するキヤツプ搭載部を設け
た場合でも、第1のスルホール内へのめつき液の
循環が良くなるとともに気泡がたまりにくくな
る。従つて第1のスルホール内の側面導体にはボ
イド等のめつき欠陥の発生が抑止され、かつ均一
な厚みのめつき皮膜が施されるため半田濡れ性が
著しく向上する。また前述したように第1のスル
ホールの外縁部側の側面導体は第2のスルホール
の形成により除去されるため、高価な金めつきを
施す面積が減少してコストダウンが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図a〜eは本発明の一実施例の製造工程を
説明するための部分断面図、第2図a,bは従来
のリードレスパツケージの構成を示す部分断面
図、第3図a〜cは従来のリードレスパツケージ
の製造工程を説明するための部分断面図である。 1…パツケージ本体部、2…外縁部、3a,3
b…下層セラミツクグリーンシート、4…半導体
素子装着部、5…内部電極、6…外部電極、7…
第1のスルホール、8a,8b…側面導体、9…
第2のスルホール、10…上層セラミツクグリー
ンシート、11…キヤツプ搭載部、13…めつき
層、14…スナツプライン。
【特許請求の範囲】
1 フレキシブル材料からなる基材の表面に導体
回路を形成した電子部品搭載用基板であつて、前
記基材の表面に枠体を固着し、この枠体の周囲に
前記基材の一部を折り曲げて固着することによ
り、前記導体回路の一部を外部に露出させ、この
露出部を外部接続端子とした電子部品搭載用基板
において、 前記枠体は、その基材に当接しない面に切欠き
部を有することを特徴とする電子部品搭載用基
板。 2 前記基材は、前記枠体の表面に塗布されたエ
ポキシ樹脂とエポキシアクリレート樹脂との混合
物からなる接着剤により、前記枠体に固着される
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電
子部品搭載用基板。 3 前記基材は、前記枠体の外側面及び下面に固
着されることを特徴とする特許請求の範囲第1項
或いは第2項記載の電子部品搭載用基板。 4 前記基材は、電子部品搭載部の裏面に金属板
を有することを特徴とする特許請求の範囲第1項
〜第3項のいずれかに記載の電子部品搭載用基
板。 5 前記基材は、両端に予め設けられた基材搬送
JP22755687A 1987-09-12 1987-09-12 Manufacture of ceramic leadless package Granted JPS6472592A (en)

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JPS6472592A JPS6472592A (en) 1989-03-17
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59124794A (ja) * 1982-12-29 1984-07-18 松下電器産業株式会社 電子回路基板の製造方法

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