JPH0527637U - 赤外線放射温度測定装置 - Google Patents

赤外線放射温度測定装置

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JPH0527637U
JPH0527637U JP7604591U JP7604591U JPH0527637U JP H0527637 U JPH0527637 U JP H0527637U JP 7604591 U JP7604591 U JP 7604591U JP 7604591 U JP7604591 U JP 7604591U JP H0527637 U JPH0527637 U JP H0527637U
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JP
Japan
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memory
temperature data
temperature
subject
subtraction
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Pending
Application number
JP7604591U
Other languages
English (en)
Inventor
哲雄 田村
研作 佐藤
Original Assignee
日本電気三栄株式会社
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Publication date
Application filed by 日本電気三栄株式会社 filed Critical 日本電気三栄株式会社
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Publication of JPH0527637U publication Critical patent/JPH0527637U/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】被写体の温度変化量をリアルタイムで観測可能
とする。 【構成】被写体より放射される赤外線を検出し、この赤
外線に対応した熱画像及び温度データを表示して被写体
の温度を計測する赤外線放射温度測定装置において、温
度データを所定時間毎に記憶する第一のメモリ7と、第
一のメモリ7に記憶される温度データを減算温度データ
として記憶する第二のメモリ8と、第一のメモリの温度
データから第二のメモリの減算温度データを減算して、
被写体の温度変化量を求めると共に、減算後、上記第一
のメモリの温度データを第二のメモリへ転送させる高速
演算制御手段9と、この高速演算制御手段の出力を表示
する表示装置6とにより構成される。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は被写体の所定時間毎の温度変化量を計測する赤外線放射温度測定装置 に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の赤外線放射温度測定装置は、図3の如く構成されている。被写体Sより 放射される赤外線を赤外線検出器1で検出し、検出信号は増幅器2で増幅後、信 号処理回路3でゲイン補正、放射率補正等がなされ、温度データとしてメモリ4 に記憶される。被写体Sの赤外線を検出する際、所要の画像数に対応する温度デ ータを記憶し、この記憶された温度データを必要に応じて読みだし、演算制御部 5で減算等を行い所定時点の温度変化量を求め、この結果を表示装置6の画面上 に表示するようにしていた。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、所要画像数の温度データを一旦メモリに取り込み、この温度デ ータに基づき減算を行っているため、被写体の逐時変化している温度変化量がリ アルタイムで観測出来ないという不都合があった。
【0004】 本考案は、上記事情に鑑みてなされたもので、かかる問題点を解決し、被写体 の所定時間毎の温度変化量をリアルタイムで観測可能とする赤外線放射温度測定 装置を提供することを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本考案は上記課題を解決するため、被写体Sより放射される赤外線を検出し、 この赤外線に対応した熱画像及び温度データを表示して被写体の温度を計測する 赤外線放射温度測定装置において、温度データを所定時間毎に記憶する第一のメ モリ7と、第一のメモリ7に記憶される温度データを減算温度データとして記憶 する第二のメモリ8と、第一のメモリの温度データから第二のメモリの減算温度 データを減算して被写体の温度変化量を求めると共に、減算後、第一のメモリの 温度データを第二のメモリへ転送させる高速演算制御手段と、この高速演算制御 手段の出力を表示する表示装置とにより構成される。
【0006】
【作用】
赤外線検出器及び増幅器を介して入力された温度信号は、信号処理回路に入力 され、ゲイン補正、放射率補正等の処理が施され、初期温度データが減算温度デ ータとして第二のメモリに送出される。続いて、第一のメモリには、所定時間毎 に温度データが取り込まれる。高速演算制御部により、この第一のメモリの温度 データから第二のメモリに記憶された減算温度データを減算して、被写体の温度 変化量を順次出力し、表示装置の画面上に表示する。高速演算制御部は、減算を 行った後、第一のメモリの温度データを第二のメモリへ減算データとして逐次転 送する。この減算を所定数繰り返すことにより、被写体の所定時間毎の温度変化 量が表示装置の画面上に表示される。このため、被写体の急激な温度変化或は緩 やかな温度変化に応じた温度変化量の計測並びに被写体の運動変化量も併せて計 測可能となる。
【0007】
【実施例】
以下図面を参照して本考案の赤外線放射温度測定装置の実施例について詳細に 説明する。図中、図3の従来例と対応する部分には同一符号を付す。 図1において、1は被写体Sから放射される赤外線を検出する、例えば、HgCd Te(水銀カドミウムテルル)等の赤外線検出器、2は赤外線検出器1により検出 された温度信号を増幅するアンプである。3は増幅器2よりの温度信号を入力し て、ゲイン補正、放射率補正等を行う信号処理回路で、温度信号は、内蔵された A/D変換器(図示せず)により変換され温度データとして第一のメモリ7に送 出される。第一のメモリ7は信号処理回路3よりの温度データを記憶する、例え ばRAM(ランダムアクセスメモリ)等より構成される。8は、被写体の温度デ ータを減算温度データとして記憶する第二のメモリで、例えばRAM等より構成 される。
【0008】 第一及び第二のメモリ7および8に温度データを取り込むタイミングは以下の ように設定する; スタート時に取り込まれる温度データは、第一のメモリ7に記憶せず第二のメモ リ8に転送して記憶する。以後、所定時間△t毎に第一のメモリ7に取り込まれ る温度データを減算処理後(後述)、第一のメモリ7より第二のメモリ8へ 順 次転送する。時間△tは被写体の温度変化状態に合わせて任意に設定することが 出来る。
【0009】 高速演算制御部9は、例えばCPU(中央処理装置)及びDSP(ディジタル 信号プロセッサ)等で構成され、第一のメモリ7より読みだした温度データから 、第二のメモリ8より読みだした減算温度データを減算して、被写体Sの所定時 間毎の温度変化量を求めると共に、装置全体の制御を行う。高速演算制御部9で 算出された温度変化量は、CRT或は液晶等より成る表示装置6の画面上に表示 される。この高速演算制御部9は、専用の演算部、即ちDSPを具えているので 従来のCPUで構成された演算制御部5より速い演算が可能である。
【0010】 次に図2に示したフローチャートに基づき、本実施例の作用について説明する 。 赤外線検出器1により検出された被写体Sの温度信号は、アンプ2により増幅 され、信号処理回路3でゲイン補正、放射率補正等の処理が施され、温度データ として出力される。この場合、スタート時の温度データをf0 とし、以後、所定 時間△t毎に取り込まれる温度データをf1 、f2 、・・・fn とする。スター ト時の温度データf0 は第二のメモリ8に減算温度データとして転送されると共 に、表示装置6に送出され温度データf0 の画像が表示される(ステップS1 ) 。 第一のメモリ7には△t後の温度データf1 が取り込まれるので、高速演算制 御部9は、第一のメモリ7の温度データf1 から第二のメモリ8の減算温度デー タf0 を減算して、温度変化量を求め、表示装置6へ送出する(ステップS2 ) 。 次に、第一のメモリ7の温度データf1 は第二のメモリ8へ転送されて減算温 度データとして記憶される(ステップS3 )。この時、第一のメモリ7には次の 温度データf2 が取り込まれる。 この処理を所定画像数繰り返し、終了する(ステップS4 )。
【0011】 このようにして、所定時間毎の被写体の温度変化の状態が表示装置6の画面上 で観測される。換言すれば、被写体の温度変化の状態を単位時間で計測するので 、求められた温度変化量は微分値を示すことになる。
【0012】 このように、所定時間を任意に設定してその時間に対する温度変化量が計測出 来るので、被写体の急激な温度変化或は緩やかな温度変化応じた監視が可能とな る。また、被写体が膨張、収縮或は移動している場合、背景温度との差によりこ のような運動変化量も併せて計測可能となる。
【0013】 尚、本考案は上述の実施例に限る事なく、また本考案の要旨を逸脱する事なく その他種々の構成が採り得ることはもちろんである。
【0014】
【考案の効果】
以上説明したように本考案の赤外線放射温度測定装置によれば、被写体の温度 変化に応じて温度変化量が観測出来ると共に、被写体の膨張、収縮或は移動等の 運動変化量も観測できるので、被写体の異常監視に有効な利点を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の赤外線放射温度測定装置の一実施例の
構成図である。
【図2】図1の実施例の温度変化量を算定するフローチ
ャートを示す図である。
【図3】従来の赤外線放射温度測定装置の構成図であ
る。
【符号の説明】
6 表示装置 7 第一のメモリ 8 第二のメモリ 9 高速演算制御部

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】被写体より放射される赤外線を検出し、こ
    の赤外線に対応した熱画像及び温度データを表示して被
    写体の温度を計測する赤外線放射温度測定装置におい
    て、 上記温度データを所定時間毎に記憶する第一のメモリ7
    と、 該第一のメモリに記憶される上記温度データを減算温度
    データとして記憶する第二のメモリと、 上記第一のメモリの上記温度データから上記第二のメモ
    リの上記減算温度データを減算して、上記被写体の温度
    変化量を求めると共に、減算後、該第一のメモリの上記
    温度データを該第二のメモリへ転送させる高速演算制御
    手段と、 該高速演算制御手段の出力を表示する表示装置と、 を具えることを特徴とする赤外線放射温度測定装置。
JP7604591U 1991-09-20 1991-09-20 赤外線放射温度測定装置 Pending JPH0527637U (ja)

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JP7604591U JPH0527637U (ja) 1991-09-20 1991-09-20 赤外線放射温度測定装置

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JP7604591U JPH0527637U (ja) 1991-09-20 1991-09-20 赤外線放射温度測定装置

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JPH0527637U true JPH0527637U (ja) 1993-04-09

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ID=13593828

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JP7604591U Pending JPH0527637U (ja) 1991-09-20 1991-09-20 赤外線放射温度測定装置

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56142427A (en) * 1980-04-08 1981-11-06 Fujitsu Ltd Device for displaying temperature change rate
JPS59210331A (ja) * 1983-05-16 1984-11-29 Fujitsu Ltd 差分表示型赤外線映像装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56142427A (en) * 1980-04-08 1981-11-06 Fujitsu Ltd Device for displaying temperature change rate
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