JPH05273283A - 共通試験制御方式 - Google Patents
共通試験制御方式Info
- Publication number
- JPH05273283A JPH05273283A JP4071756A JP7175692A JPH05273283A JP H05273283 A JPH05273283 A JP H05273283A JP 4071756 A JP4071756 A JP 4071756A JP 7175692 A JP7175692 A JP 7175692A JP H05273283 A JPH05273283 A JP H05273283A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- control
- testing
- signal processing
- processing means
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 プログラムが複雑、かつ、多大なステップ数
の既存試験機制御プログラムの移植、あるいは、専用試
験機制御プログラムの開発を不要にし、試験機制御プロ
グラムを簡素化する。 【構成】 パーソナルコンピュータ４での制御で上位装
置６に格納した試験プログラムを起動し、この試験内容
に応じた試験指示信号が供給される試験機共通制御装置
３０が、試験機２０，２２…２Ｎ，ＮＮを制御し、試験
指示に対応した結果を上位装置６に通知する。上位装置
６は、下位装置１０…ｎｎの状態と、試験機共通制御装
置３０から通知された試験結果を照合して、その試験指
示に対する良否の判定を行い、この良否の判定結果をパ
ーソナルコンピュータ２で表示する。
の既存試験機制御プログラムの移植、あるいは、専用試
験機制御プログラムの開発を不要にし、試験機制御プロ
グラムを簡素化する。 【構成】 パーソナルコンピュータ４での制御で上位装
置６に格納した試験プログラムを起動し、この試験内容
に応じた試験指示信号が供給される試験機共通制御装置
３０が、試験機２０，２２…２Ｎ，ＮＮを制御し、試験
指示に対応した結果を上位装置６に通知する。上位装置
６は、下位装置１０…ｎｎの状態と、試験機共通制御装
置３０から通知された試験結果を照合して、その試験指
示に対する良否の判定を行い、この良否の判定結果をパ
ーソナルコンピュータ２で表示する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、システム試験に利用
し、試験機の共通試験制御を行う共通試験制御方式に関
する。
し、試験機の共通試験制御を行う共通試験制御方式に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来のシステム試験では、被試験システ
ム中の上位装置から下位装置の制御インタフェースの一
部を使用して、試験機を制御している。
ム中の上位装置から下位装置の制御インタフェースの一
部を使用して、試験機を制御している。
【０００３】あるいは、スタンドアロン試験機を使用
し、手動操作などによって試験機の制御を行っている。
し、手動操作などによって試験機の制御を行っている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の試験
機制御方式では、被試験システムで試験機制御を行なう
ため、被試験システムごとに手間のかかる試験機制御プ
ログラムを開発しなければならない。さらに、他システ
ムで既に開発した試験機制御プログラムを移植して用い
なければならない。
機制御方式では、被試験システムで試験機制御を行なう
ため、被試験システムごとに手間のかかる試験機制御プ
ログラムを開発しなければならない。さらに、他システ
ムで既に開発した試験機制御プログラムを移植して用い
なければならない。
【０００５】この場合、試験プログラムが複雑化とな
り、さらに、ステップ数が増大するという問題がある。
り、さらに、ステップ数が増大するという問題がある。
【０００６】本発明は、このような従来の技術における
問題を解決するものであり、プログラムが複雑、かつ、
多大なステップ数の既存試験機制御プログラムの移植、
あるいは、専用試験機制御プログラムの開発を不要にし
て、試験機制御プログラムを簡素化できる共通試験制御
方式を提供することを目的とする。
問題を解決するものであり、プログラムが複雑、かつ、
多大なステップ数の既存試験機制御プログラムの移植、
あるいは、専用試験機制御プログラムの開発を不要にし
て、試験機制御プログラムを簡素化できる共通試験制御
方式を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明の共通試験制御方式は、試験制御を行うため
の制御手段と、制御手段の制御に基づいて、格納した試
験プログラムを起動し、この起動した試験プログラムに
おける試験内容に対応する試験指示信号を送出する上位
信号処理手段と、上位信号処理手段と、複数の試験機と
に接続される下位信号処理手段と、複数の試験機と接続
され、かつ、上位信号処理手段からの試験指示信号が供
給されて、複数の試験機を、制御して得られる試験結果
を上位信号処理手段に通知する試験機共通制御装置とを
有し、上位信号処理手段が下位信号処理手段の状態と、
試験機共通制御装置から通知された報告結果を照合し
て、複数の試験機の、それぞれの試験の良否判定等を行
い、この試験結果を制御手段で表示する構成である。
に、本発明の共通試験制御方式は、試験制御を行うため
の制御手段と、制御手段の制御に基づいて、格納した試
験プログラムを起動し、この起動した試験プログラムに
おける試験内容に対応する試験指示信号を送出する上位
信号処理手段と、上位信号処理手段と、複数の試験機と
に接続される下位信号処理手段と、複数の試験機と接続
され、かつ、上位信号処理手段からの試験指示信号が供
給されて、複数の試験機を、制御して得られる試験結果
を上位信号処理手段に通知する試験機共通制御装置とを
有し、上位信号処理手段が下位信号処理手段の状態と、
試験機共通制御装置から通知された報告結果を照合し
て、複数の試験機の、それぞれの試験の良否判定等を行
い、この試験結果を制御手段で表示する構成である。
【０００８】さらに、制御手段をコンピュータで構成し
てある。
てある。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の共通試験制御方式の実施例を
図面にもとづいて説明する。
図面にもとづいて説明する。
【００１０】図１は実施例の構成を示している。
【００１１】図１において、この例は、被試験システム
２を有し、被試験システム２は、パーソナルコンピュー
タ４と接続される上位装置６と、この上位装置６に接続
される下位装置１０…ｎｎで構成されている。
２を有し、被試験システム２は、パーソナルコンピュー
タ４と接続される上位装置６と、この上位装置６に接続
される下位装置１０…ｎｎで構成されている。
【００１２】パーソナルコンピュータ４は、被試験シス
テム２のマンマシンインタフェースを構成する。
テム２のマンマシンインタフェースを構成する。
【００１３】下位装置１０には、試験機２０，２２が接
続され、また、下位装置ｎｎに試験機２Ｎ，ＮＮが接続
されている。この場合、試験機２０，２２…２Ｎ，ＮＮ
は、下位装置１０…ｎｎ内の図示しない外部インタフェ
ースを通じて接続されている。さらに、試験機共通制御
装置３０が設けられており、この試験機共通制御装置３
０は、この装置内の試験機インタフェースを通じて、試
験機２０，２２…２Ｎ，ＮＮと接続され、さらに、上位
装置６の個別インタフェースとも接続されている。次
に、この構成における共通試験制御方式の動作について
説明する。
続され、また、下位装置ｎｎに試験機２Ｎ，ＮＮが接続
されている。この場合、試験機２０，２２…２Ｎ，ＮＮ
は、下位装置１０…ｎｎ内の図示しない外部インタフェ
ースを通じて接続されている。さらに、試験機共通制御
装置３０が設けられており、この試験機共通制御装置３
０は、この装置内の試験機インタフェースを通じて、試
験機２０，２２…２Ｎ，ＮＮと接続され、さらに、上位
装置６の個別インタフェースとも接続されている。次
に、この構成における共通試験制御方式の動作について
説明する。
【００１４】被試験システム２は、パーソナルコンピュ
ータ４での制御にしたがって、上位装置６に格納した試
験プログラムを起動する。
ータ４での制御にしたがって、上位装置６に格納した試
験プログラムを起動する。
【００１５】この起動した試験プログラムにより、上位
装置６から試験内容に応じた試験指示信号を試験機共通
制御装置３０に送出する。
装置６から試験内容に応じた試験指示信号を試験機共通
制御装置３０に送出する。
【００１６】この試験指示信号が供給された試験機共通
制御装置３０は、試験機２０，２２…２Ｎ，ＮＮを制御
し、この試験機２０，２２…２Ｎ，ＮＮの外部インタフ
ェースを通じて、信号の送受信を行ない、試験指示に対
応した試験結果を被試験システム２内の上位装置６に通
知する。
制御装置３０は、試験機２０，２２…２Ｎ，ＮＮを制御
し、この試験機２０，２２…２Ｎ，ＮＮの外部インタフ
ェースを通じて、信号の送受信を行ない、試験指示に対
応した試験結果を被試験システム２内の上位装置６に通
知する。
【００１７】上位装置６は、下位装置１０…ｎｎの状態
と、試験機共通制御装置３０から通知された試験結果を
照合して、その試験指示に対する良否の判定を行う。こ
の良否の判定結果は、パーソナルコンピュータ２の図示
しない表示部で表示される。
と、試験機共通制御装置３０から通知された試験結果を
照合して、その試験指示に対する良否の判定を行う。こ
の良否の判定結果は、パーソナルコンピュータ２の図示
しない表示部で表示される。
【００１８】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の共通試験制御方式は、上位信号処理手段が下位信号処
理手段の状態と、試験機共通制御装置から通知された報
告結果を照合して、複数の試験機のそれぞれの試験の良
否判定等を行い、その試験結果を制御手段で表示してい
るため、プログラムが複雑、かつ、多大なステップ数の
既存試験機制御プログラムの移植、あるいは、専用試験
機制御プログラムの開発を不要にして、試験機制御プロ
グラムを簡素化できるという効果を有する。
の共通試験制御方式は、上位信号処理手段が下位信号処
理手段の状態と、試験機共通制御装置から通知された報
告結果を照合して、複数の試験機のそれぞれの試験の良
否判定等を行い、その試験結果を制御手段で表示してい
るため、プログラムが複雑、かつ、多大なステップ数の
既存試験機制御プログラムの移植、あるいは、専用試験
機制御プログラムの開発を不要にして、試験機制御プロ
グラムを簡素化できるという効果を有する。
【図１】本発明の共通試験制御方式の実施例における構
成を示すブロック図である。
成を示すブロック図である。
２ 被試験システム ４ パーソナルコンピュータ ６ 上位装置 １０…ｎｎ 下位装置 ３０ 試験機共通制御装置 ２０，２２…２Ｎ，ＮＮ 試験機
Claims (2)
- 【請求項１】試験制御を行うための制御手段と、 前記制御手段の制御に基づいて、格納した試験プログラ
ムを起動し、この起動した試験プログラムにおける試験
内容に対応する試験指示信号を送出する上位信号処理手
段と、 前記上位信号処理手段と、複数の試験機とに接続される
下位信号処理手段と、 前記複数の試験機と接続され、かつ、前記上位信号処理
手段からの試験指示信号が供給されて、前記複数の試験
機を、制御して得られる試験結果を前記上位信号処理手
段に通知する試験機共通制御装置とを有し、 前記上位信号処理手段が前記下位信号処理手段の状態
と、前記試験機共通制御装置から通知された報告結果を
照合して、前記複数の試験機の、それぞれの試験の良否
判定等を行い、この試験結果を前記制御手段で表示する
ことを特徴とする共通試験制御方式。 - 【請求項２】制御手段をコンピュータで構成したことを
特徴とする請求項１記載の共通試験制御方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4071756A JPH05273283A (ja) | 1992-03-30 | 1992-03-30 | 共通試験制御方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4071756A JPH05273283A (ja) | 1992-03-30 | 1992-03-30 | 共通試験制御方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05273283A true JPH05273283A (ja) | 1993-10-22 |
Family
ID=13469704
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4071756A Pending JPH05273283A (ja) | 1992-03-30 | 1992-03-30 | 共通試験制御方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05273283A (ja) |
-
1992
- 1992-03-30 JP JP4071756A patent/JPH05273283A/ja active Pending
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