JPH05249203A - 論理検証方法 - Google Patents

論理検証方法

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Publication number
JPH05249203A
JPH05249203A JP4046760A JP4676092A JPH05249203A JP H05249203 A JPH05249203 A JP H05249203A JP 4046760 A JP4046760 A JP 4046760A JP 4676092 A JP4676092 A JP 4676092A JP H05249203 A JPH05249203 A JP H05249203A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
value
output
input
indefinite
inverter
Prior art date
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Pending
Application number
JP4046760A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuhide Narutomi
宣秀 成富
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 論理検証においてある素子の不定値の外部出
力端子までの伝搬を減少させるような正確な論理検証方
法を得る。 【構成】 ある素子の入力信号に不定値が発生した場
合、不定値として扱うのではなく確定値”0”と”1”
の両方を扱いその結果を比較することにより出力値を決
定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は論理回路の論理検証方法
に関し、特に信号値が”0”か”1”か判断できない不
定値の処理に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図5は従来の論理検証方法における信号
値の伝搬を示すブロック図であり、図において1は、外
部入力端子I1、2は外部入力端子I2、3は外部入力
端子I3、4は外部入力端子I4、15,16,17,18は各
外部入力端子の信号値、6,7,8,10はインバータ素
子、9はセレクタ素子、19はインバータ素子6の出力信
号値、20はインバータ素子7の出力信号値、21はインバ
ータ素子8の入力となる信号値、22はインバータ素子8
の出力信号値、23はセレクタ素子9の出力信号値、24は
インバータ素子10の出力信号値であり、外部出力端子5
の信号値でもある。
【0003】次に動作について説明する。図8は従来の
論理検証方法における論理回路の素子の評価の手順を示
すフローチャートである。まず素子の各入力端子の信号
値を読み込み入力値を決定する。次に素子の真理値表に
従って評価し、出力値を決定する。図5は論理回路の例
であり、1の外部入力端子I1に信号値”0”15、2の
I2に信号値”0”16、3のI3に信号値”0”17、4
のI4に信号値”1”18を入力し、論理検証を行うとす
る。まずインバータ素子6の入力値”0”17とし、図6
のインバータ素子の真理値表13に従い出力値”1”19と
決定する。次にインバータ素子7の入力値”1”18と
し、真理値表13に従い出力値”0”20と決定するが、イ
ンバータ素子6の出力とインバータ素子7の出力がショ
ートしており出力値が異なるためインバータ素子6とイ
ンバータ素子7の出力値を不定値”X”とする。次にイ
ンバータ素子8の入力値は”X”22となり、真理値表13
に従い出力値は不定値”X”となる。セレクタ素子9の
各入力端子の値はAは信号値”0”15、Bは信号値”
0”16、SAの信号値は不定値”X”22となり図7のセ
レクター素子の真理値表14に従い出力値は不定値”X”
23となる。インバータ素子10の入力値”X”23とし真理
値表14に従い出力値は不定値”X”24となり5の外部出
力端子O1の信号値は不定値”X”となる。5の外部端
子O1の不定値”X”の原因はインバータ素子6とイン
バータ素子7の出力ショートであり、論理回路の変更及
び入力テストパターンの変更が必要となってくる。しか
し、セレクター素子9のセレクト信号SAが不定値”
X”22ではなく”0”か”1”かに確定していれば(”
0”でも”1”でもよい)出力値は真理値表14に従い出
力値は”0”となり5の外部出力端子O1には不定値”
X”はあらわれない。(セレクター素子のAとBが同じ
信号値であったら真理値表14に従いSAが”0”でも”
1”でも出力値は同じである。)
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の論理検証方法は
以上のように行われるので、ある素子の出力値に不定
値”X”が発生した場合、その不定値”X”が外部出力
まで伝搬してしまうことがある。このとき不定値”X”
の原因を調べて論理回路及びテストパターンの変更が必
要である。しかし、不定値”X”が”0”か”1”かに
(”0”でも”1”でもよい)信号値が確定していれば
問題ない場合もある。不定値”X”が問題ない場合は原
因調査と論理回路及びテストパターン変更作業が無駄に
なってしまうという問題点があった。
【0005】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたものである素子の不定値”X”の外部出
力までの伝搬を減少させるような正確な論理の検証を行
う論理検証方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明に係る論理検証
方法は、ある素子の入力信号に不定値”X”が発生した
場合、不定値として扱うのではなく確定値”0”と”
1”の両方を扱いその結果を比較することにより出力値
を決定するようにしたものである。
【0007】
【作用】この発明における論理検証方法は、入力信号の
不定値”X”を”0”と”1”の両方の確定値で素子の
評価を行うことにより、その結果が一致していれば出力
値を決定し不定値”X”の外部出力への伝搬を防ぐ。
【0008】
【実施例】
実施例1.以下、この発明の実施例1を図について説明
する。図1において1は外部入力端子I1、2は外部入
力端子I2、3は外部入力端子I3、4は外部入力端子
I4、15、16、17、18は各外部入力端子の信号値、6、
7、8、10はインバータ素子で9はセレクタ素子であ
る。19はインバータ素子6の出力信号値、20はインバー
タ素子7の出力信号値、21はインバータ素子8の入力と
なる信号値、25はインバータ素子8の評価時の入力値、
26は25の入力値の場合の出力値、27はインバータ素子8
の出力値、28はセレクタ素子9の評価時の入力値、29は
28の入力値の場合の出力値、30はセレクタ素子9の出力
値、31はインバータ素子10の出力信号値であり、外部出
力端子5の信号値でもある。
【0009】次に動作について説明する。図4は本発明
の論理検証方法における論理回路の素子の評価の手順を
示すフローチャートである。まず、素子の各入力端子の
信号値を読み込み入力値を決定する。次に、入力値に不
定値があるか判断し、不定値がなければ素子の真理値表
に従って評価し、出力値を決定する。入力値に不定値が
ある場合はまず不定値を確定値”0”として素子の評価
を行い、次に不定値を確定値”1”として 素子の評価
を行い、各出力値の比較を行う。出力値が異なれば素子
の出力値は不定値とし、出力値が同じであれば素子の出
力値は確定値”0”で評価した値とする。
【0010】図1は論理回路の例であり、1の外部入力
端子I1に信号値”0”15、2のI2に信号値”0”1
6、3のI3に信号値”0”17、4のI4に信号値”
1”18を入力し、論理検証を行うとする。まず、インバ
ータ素子6の入力値”0”17とし、図2のインバータ素
子の真理値表11に従い出力値”1”19と決定する。次に
インバータ素子7の入力値”1”18とし真理値表11に従
い出力値”0”20と決定するがインバータ素子6の出力
とインバータ素子7の出力がショートしており出力値が
異なるためインバータ素子6とインバータ素子7の出力
値を不定値”X”とする。次にインバータ素子8の入力
値は不定値”X”22のため、確定値”0”、”1”25で
真理値表11に従い素子の評価を行う。各出力値”1”
と”0”26を比較し、一致していないためインバータ素
子8の出力値は不定値”X”27とする。セレクター素子
9の各入力端子の値はAは信号値”0”15、Bは信号
値”0”16、SAの信号値は不定値”X”27となりSA
の信号値を確定値”0”,”1”28で真理値表12に従い
素子の評価を行う。各出力値”0”と”0”29を比較
し、一致しているためセレクタ素子9の出力値は不定値
ではなく確定値”0”30とする。インバータ素子10の入
力値”0”30とし真理値表11に従い出力値は”1”31と
なり5の外部出力端子O1の信号値は”1”となる。イ
ンバータ素子6とインバータ素子7の出力ショートによ
る不定値”X”21は外部出力端子5に伝搬しないため信
号値”1”31が期待通りか否かを検証すればよい。ま
た、インバータ素子の真理値表11、セレクタ素子の真理
値12の作成時には不定値”X”を入力値として考える必
要がない。
【0011】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば入力値に
不定値が発生した場合、確定値”0”、”1”の両方で
評価し、その値を比較することにより出力値を決定して
いるため不定値の外部出力端子までの伝搬を減少でき、
正確な論理検証を行うことができる。また、素子の真理
値表作成においては不定値の入力を考慮する必要がない
ため、作成が容易になるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例1による論理検証方法の論理
回路の信号値伝搬のブロック図である。
【図2】この発明の実施例1によるインバータ素子の真
理値を示す真理値図である。
【図3】この発明の実施例1によるセレクタ素子の真理
値を示す真理値図である。
【図4】この発明の実施例1による素子の評価のフロー
チャート図である。
【図5】従来の論理検証方法による論理回路の信号値伝
搬のブロック図である。
【図6】従来の論理検証方法によるインバータ素子の真
理値を示す真理値図である。
【図7】従来の論理検証方法によるセレクタ素子の真理
値を示す真理値図である。
【図8】従来の論理検証方法による素子の評価のフロー
チャート図である。
【符号の説明】
1〜4 外部入力端子 5 外部出力端子 6〜8 インバータ素子 9 セレクタ素子 10 インバータ素子 15〜20 信号値 21〜31 不定値

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 論理回路の動作が期待通りか否かを検証
    する論理検証方法において、素子の入力信号に不定値が
    発生した場合、信号値■ 0”、■ 1”の両方の値で検
    証し、検証結果を比較して出力値を決定することを特徴
    とする論理検証方法。
JP4046760A 1992-03-04 1992-03-04 論理検証方法 Pending JPH05249203A (ja)

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JPH05249203A true JPH05249203A (ja) 1993-09-28

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