JPH07182381A - 遅延時間のバラツキを考慮した論理シミュレーション方法および論理シミュレーション・システム - Google Patents

遅延時間のバラツキを考慮した論理シミュレーション方法および論理シミュレーション・システム

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JPH07182381A
JPH07182381A JP5322839A JP32283993A JPH07182381A JP H07182381 A JPH07182381 A JP H07182381A JP 5322839 A JP5322839 A JP 5322839A JP 32283993 A JP32283993 A JP 32283993A JP H07182381 A JPH07182381 A JP H07182381A
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clock
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Hideshige Kawachi
秀重 河内
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 データパスとクロックパスとの相互遅延のバ
ラツキを考慮した遅延時間解析を行い、遅延バラツキに
より生ずる問題の発生を防ぐこと。 【構成】 論理マスタファイル2のセル構造体3とネッ
ト構造体4にはクロックパス系かデータパス系かを示す
識別フラグ3b,4bを格納する領域が設けられ、ネッ
トリスト1から論理マスタファイル2を生成する際、識
別フラグ3b,4bが設定される。ネット構造体4には
基本遅延時間に対するバラッキを示すディレイ係数4c
とデータパス系/クロックパス系相互の遅延時間のバラ
ツキを考慮したディレイ係数4dが格納されている。論
理シミュレータ5は識別フラグ3b,4bによりクロッ
クパス系かデータパス系かを識別し、ディレイ係数4d
と遅延時間記憶領域6から読み出された遅延時間を用い
て遅延時間を算出し、データパス系とクロックパス系相
互間の論理の検証を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】LSI開発時、論理機能を検証す
るため、論理シミュレーション・システムにより論理演
算機能の検証が行われる。本発明は、上記した論理シミ
ュレーションを行うための論理シミュレーション方法お
よび論理シミュレーション・システムに関し、特に本発
明は、クロックパスとデータパスの相互遅延のバラツキ
を考慮した遅延解析・検証を行うことができる論理シミ
ュレーション方法および論理シミュレーション・システ
ムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】図9は同一のLSIチップ内における伝
搬遅延時間のバラツキを示す図であり、同図は、同一チ
ップ内におけるクロックパスとデータパスとの遅延時間
の相関関係を示している。同図において、横軸はクロッ
クパスの遅延時間のバラツキ、縦軸はデータパスのバラ
ツキを示しており、通常、論理シミュレーションを行う
場合、同図の直線に示すように、同図のtyp で示した
基準値に対して、クロックパスとデータパスの遅延時間
が最大1.65(同図のmax で示した点)、最小0.35(同図
のmin で示した点)まで変化するとしてシミュレーショ
ンを行っていた。
【0003】ところで、フリップフロップ等において
は、クロックパスとデータパス遅延時間の相互間に大き
なバラツキがあるとその動作を保証することができな
い。図10はフリップフロップにおけるセットアップ時
とホールド時におけるセットアップ許容時間とホールド
許容時間を示す図であり、同図(a)はセットアップ許
容時間を示し、(b)はホールド許容時間を示し、CL
Kはクロックである。
【0004】LSIにおけるクロックパスとデータパス
との遅延時間の相関関係は動作周波数や周囲温度など様
々な要因によって変化する。そして、クロックパスとデ
ータパス遅延時間の相互間に大きなバラツキが生じ、デ
ータの立ち上がり、立ち下がりに対してクロックパルス
の立ち上がりが図10のセットアップ許容時間より短く
なると、セットアップ動作を保証することができず、ま
た、クロックパルスの立ち上がりに対してデータの立ち
上がり、立ち下がりが図10のホールド許容時間より短
くなるとホールド動作を保証することができない。
【0005】従来の論理シミュレーションにおいては、
上記したように図9のに示すmin,typ,max の点でつな
がれた直線で示される特性についは検証を行っていた
が、点線、により囲まれた領域についてはカバーさ
れていなかった。このため、クロックパスとデータパス
との遅延時間の相関関係が図9の点線、に示すよう
に変化した場合の検証を行うことができなかった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来の
論理シミュレーションにおいては、点線、により囲
まれた領域についてはカバーされておらず、上記点線
、により囲まれた領域について検証するには、遅延
解析、検証用シミュレータ、あるいは、手計算によって
計算する等の方法がとられ、設計者に多大な負担をかけ
ていた。
【0007】また、点線、により囲まれた領域につ
いての充分な検証がなされないと、実機段階で検証未確
認の遅延バラツキによる問題が発生し、使用条件等によ
ってはLSIの正常な動作を保証できない場合が生ずる
ことがあった。本発明は上記した従来技術の問題点を考
慮してなされたものであって、データパスとクロックパ
スとの相互遅延のバラツキを考慮して遅延時間解析を行
うことにより、実機段階において検証未確認の遅延バラ
ツキにより生ずる問題の発生を防ぐことが可能な、遅延
時間のバラツキを考慮した論理シミュレーション方法お
よび論理シミュレーション・システムを提供することを
目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理図で
ある。同図において、1は論理回路の構成を示すネット
リスト、2はネットリスト1から生成される論理マスタ
ファイルであり、論理マスタファイル2には、少なくと
も論理回路を構成するセルとネットの構造体が格納され
る。セルの構造体3には、少なくとも構造体間の関係を
示すポインタ3aとデータパス系かクロックパス系かを
示す識別フラグ3bが格納され、また、ネット構造体4
には、少なくとも構造体間の関係を示すポインタ4a、
基本遅延時間に対する遅延時間のバラツキを示すディレ
イ係数4c、データパス系/クロックパス系相互の遅延
時間のバラツキを考慮したディレイ係数4dおよびデー
タパス系かクロックパス系かを示す識別フラグ4bが格
納される。
【0009】5は上記論理マスタファイルと遅延時間記
憶領域を参照して論理回路の検証を行う論理シミュレー
タ、6は各セル/ネットの遅延時間を記憶した遅延時間
記憶領域である。上記課題を解決するため、本発明の請
求項1の発明は、論理回路のネットリスト1に基づき、
論理マスタファイル2を生成し、生成された論理マスタ
ファイル2に基づき論理回路の検証を行う論理シミュレ
ーション方法において、論理マスタファイル2を生成す
る際、各パスがクロックパス系かデータパス系かを識別
して、データパス系かクロックパス系かを識別する識別
フラグ3b,4bを各パスに設定し、論理回路の論理シ
ミュレーションを実行するに際して、上記識別フラグ3
b,4bを参照してデータパス系とクロックパス系を識
別し、データパス系とクロックパス系について、それぞ
れ相互の遅延時間のバラツキを考慮したディレイ係数4
dを用いて各パスにおける遅延時間を求め、上記遅延時
間に基づき、データパス系とクロックパス系相互間の論
理の検証を行うようにしたものである。
【0010】本発明の請求項2の発明は、少なくとも論
理回路を構成する各セル/ネットの接続関係と、データ
パス系かクロックパス系かを識別するための識別フラグ
3b,4bを格納する領域を備えたセル構造体3と、少
なくとも論理回路を構成する各セル/ネットの接続関係
と、基本遅延時間に対する遅延時間のバラツキを示すデ
ィレイ係数4cと、クロックパス系とデータパス系のそ
れぞれ相互の遅延時間のバラツキを考慮したディレイ係
数4dと、データパス系かクロックパス系かを識別する
ための識別フラグ3b,4bを格納する領域を備えたネ
ット構造体4から構成される論理マスタファイル2と、
各セル/ネットの遅延時間を記憶した遅延時間記憶領域
6と、上記論理マスタファイル2と遅延時間記憶領域6
とを参照して論理回路の検証を行う論理シミュレータ5
とを備えた論理シミュレーション・システムにおいて、
論理回路のネットリスト1に基づき論理マスタファイル
2を生成する際、各パスがクロックパス系かデータパス
系かを識別して、各構造体の識別フラグ3b,4bを格
納する領域にデータパス系かクロックパス系かを識別す
る識別フラグ3b,4bを設定し、論理シミュレータ5
は、論理回路の論理シミュレーションを実行するに際し
て、上記識別フラグ3b,4bを参照してデータパス系
とクロックパス系を識別し、データパス系とクロックパ
ス系について、それぞれ相互の遅延時間のバラツキを考
慮したディレイ係数4dを用いて遅延時間を算出し、上
記遅延時間に基づき、データパス系とクロックパス系相
互間の論理の検証を行うように構成したものである。
【0011】
【作用】図1において、論理回路の論理シミュレーショ
ンを行うに際して、論理回路のネットリスト1から論理
マスタファイル2を生成する。論理マスタファイル2に
は、少なくともセル構造体3とネット構造体4から構成
されており、各構造体3,4はポンイタ3a,4aによ
りネットリストの接続に従って相互に接続されている。
また、これらの構造体にはクロックパス系かデータパス
系かを示す識別フラグ3b,4bを格納する領域が設け
られ、論理マスタファイル2を生成する際、識別フラグ
3b,4bが設定される。さらに、ネット構造体4に
は、基本遅延時間に対するバラッキを示すディレイ係数
4cとデータパス系/クロックパス系相互の遅延時間の
バラツキを考慮したディレイ係数4dが格納されてい
る。
【0012】論理シミュレータ5は論理回路の検証を行
う際、論理マスタファイル2の識別フラグ3b,4bを
参照してクロックパス系かデータパス系かを識別し、ク
ロックパス系とデータパス系のそれぞれについて、上記
ディレイ係数4dと遅延時間記憶領域6から読み出され
た遅延時間を用いて遅延時間を算出し、データパス系と
クロックパス系相互間の論理の検証を行う。
【0013】本発明の請求項1および請求項2の発明に
おいては、上記のように、論理マスタファイル2の構造
体中にクロックパス系かデータパス系かを示す識別フラ
グ3b,4bを用意するとともに、ネット構造体中に基
本遅延時間に対するバラッキを示すディレイ係数4cと
データパス系/クロックパス系相互の遅延時間のバラツ
キを考慮したディレイ係数4dを格納し、論理シミュレ
ーションを行う際、クロックパス系かデータパス系かを
識別し、データパス系とクロックパス系相互間の論理の
検証を行うようにしたので、データパスとクロックパス
との相互遅延のバラツキを考慮して遅延時間解析を行う
ことができ、実機段階において検証未確認の遅延バラツ
キにより生ずる問題の発生を防ぐことが可能となる。ま
た、ネット構造体中にディレイ係数4cとディレイ係数
4dを格納したので、論理シミュレーションの高速化を
図ることができる。
【0014】
【実施例】図2は本発明の実施例における論理シミュレ
ーション・システムの全体構成を示す図であり、11は
検証するLSIの接続関係を示したLSIネットリス
ト、12はLSIネットリストより生成される論理マス
タファイルであり、論理マスタファイル12には後述す
るように、検証するLSIのネットとセルの接続関係等
を示すデータ構造体が格納される。
【0015】13はLSIの論理シミュレーションを行
う論理シミュレータ、14はシミュレーション時に参照
されるシミュレーション・ライブラリであり、シミュレ
ーション・ライブラリ14には同図に示すように、LS
Iの各セルにおける信号の遅延時間が格納されている。
15はテストデータであり、論理シミュレータ13は各
種のテスト・パータンからなるテストデータ15に基づ
き検証の対象となるLSIの論理シミュレーションを行
う。
【0016】図3はLSI回路の一例を示す図であり、
図2に示したLSIネットリスト11には例えば図3に
示すLSI回路が登録されている。図3において、11
1はLSIの諸機能を果たす組み合わせ回路、Buf
1,Buf2,BufXはバッファ、FF1〜FF4は
フリップフロップであり、各フリップフロップFF1〜
FF4はデータ端子D、クロック端子CK、出力端子
Q、反転出力端子XQを持ち、フリップフロップFF
1,FF2のクロック端子CKはバッファBuf1の出
力端子に接続されたnet1に接続され、フリップフロ
ップFF3,FF4のクロック端子CKはバッファBu
f2の出力端子に接続されたnet2に接続されてい
る。また、フリップフロップFF1のデータ端子Dはバ
ッファBufxに接続されたnetxに接続されてい
る。
【0017】図4はLSIネットリスト11から生成さ
れる論理マスタファイル12におけるデータ構造体の一
例を示す図であり、121はクロックMCKのデータ構
造体、122はバッファBuf1のデータ構造体、12
3はネットnet1のデータ構造体、124,125は
フリップフロップFF1,FF2のデータ構造体の一例
を示し、各構造体はネットリストの接続にしたがってポ
インタPnt.1〜Pnt.7により接続されている。
【0018】また、上記ネットとセルのデータ構造体中
には、各メモリセル(フリップフロップ、カウンタ、ラ
ッチ等)のクロック端子CKに接続されているか否かを
示す識別フラグCLKFLGを格納するフラグ設定領域
が用意されている。そして、この領域がONならばクロ
ック端子CKに接続され、また、OFFならば接続され
ていない状態を示している。
【0019】識別フラグCLKFLGは、上記論理マス
タファイル12を生成するに際して、LSIネットリス
トにおけるデータパス系とクロックパス系とを識別し、
クロックバッファに接続されたネットが各種メモリセル
(フリップフロップ、カウンタ、ラッチ等)のクロック
端子に接続されている場合にONとされる。例えば、セ
ル122のデータ構造体中には、バッファBuf1に接
続されるデータ構造体(この例ではネットnet1)が
ポインタPnt.3で示されているとともに、フラグ設定領
域の識別フラグCLKFLGがONとなっており、バッ
ファBuf1がメモリセルのクロック端子に接続されて
いることを示している。
【0020】さらに、ネットの構造体にはmin ,typ ,
max のディレイ係数とともに、各ネットの容量値に基づ
いて計算された、前記図9の点線で示した領域の遅延時
間のバラツキを示すディレイ係数が格納されている。例
えば、ネットnet1のデータ構造体123中には、図
6に示したmin ,typ ,max の各ディレイ係数(図6の
場合には、min=0.35,typ=1,max=1.65 )とともに、バラ
ツキを考慮したディレイ係数(図6の場合には、0.5,1.
25)が記録されている。
【0021】図5は図3に示すフリップフロップFF1
の動作を検証する場合における本実施例の処理を説明す
る図であり、同図(a)はセットアップ時間を保証でき
るか否か(図9のa点/max 点における動作)を検証す
る場合を示し、(b)はホールド時間を保証できるか否
か(図9のb点/max 点における動作)を検証する場合
を示している。
【0022】同図において、図3に示したものと同一の
ものには同一の符号が付されており、FF1はフリップ
フロップ、Buf1,Buf3,Bufxはバッファで
ある。図6は論理検証の対象となるフリップフロップの
スイッチング特性を示す図であり、同図において、TS
Dはデータ入力のセットアップ許容時間を示し、クロッ
クCKの変化に対し、データの値がFF出力Qもしくは
XQに変化を及ぼすのに必要なクロック変化前のデータ
確定値の必要保持時間を示している。また、THDはホ
ールド許容時間を示し、クロックの変化に対し、FF出
力QもしくはXQに変化を及ぼすのに必要なクロック変
化後のデータ確定値の必要保持時間を示している。
【0023】図7、図8は本実施例においてセットアッ
プ時間を検証する場合のシミュレーションの動作を示す
タイミング・ホイールであり、図7は図9におけるmax
値のシミュレーション動作を示し、図8は図9における
a点のシミュレーション動作を示している。次に、図2
〜図8を参照して本実施例を説明する。
【0024】図2において、テストデータ15が論理シ
ミュレータ13に注入されると、論理シミュレータ13
は論理マスタファイル12の識別フラグCLKFLGを
参照してクロックパス系とデータパス系を識別してシミ
ュレーションを実行する。また、シミュレーションにあ
たり、論理シミュレータ13は論理マスタファイル12
のネットのデータ構造体中に記録されるtyp 、max 、mi
n 等のディレイ係数とシミュレーション・ライブラリ1
4に記録されている遅延時間を参照する。
【0025】そして、上記遅延時間等に基づき、イベン
ト(各セル/ネットの入出力の変化)の発生時刻求め、
イベントの発生時刻を論理シミュレータの記憶領域に設
けられたタイミング・ホイールにマッピングしながらシ
ミュレーションを進めていく。また、タイミング・ホイ
ールの各時刻に対応した領域にはポインタが格納され、
ポインタによりイベント・テーブルが接続されており、
イベントの論理値(0,1等)は上記イベント・テーブ
ルに登録され、論理シミュレータ13はその論理値を判
定し論理演算を実行する。
【0026】ここで、一例として、図5(a)(b)に
示すフリップフロップFF1のセットアップ時間と、ホ
ールド時間の検証について本実施例を説明する。なお、
以下の説明においては、データ入力のセットアップ時間
TSD、ホールド時間THDは2ns以上必要である場
合を仮定する。 (1)フリップフロップFF1のセットアップ時間の検
証 (i )max 点(図9参照)におけるフリップフロップF
F1の動作の検証 図5(a)において、図7に示すようにデータとクロッ
クが同一のタイミングで入力され、データが0→1、ク
ロックが0→1に変化したとする。
【0027】論理シミュレータ13はLSI論理マスタ
ファイル12のデータ構造体のフラグ設定領域の識別フ
ラグCLKFLGを調べ、識別フラグCLKFLGがO
FFのデータパス系について、フリップフロップFF1
のデータ端子Dに接続されるセルとネットを調べる。そ
して、シミュレーション・ライブラリ14を参照して、
フリップフロップFF1のデータ端子に接続されるバッ
ファBufxの立ち上がり遅延時間3nsを読み出す。
次に、ディレイ係数がmax の場合における倍率1.65
をデータ構造体より読み出し、次に示すように上記3n
sと1.65の積を算出し、Bufxの出力の変化時刻
を求める。
【0028】3(ns)×1.65=4.95(ns) これにより、図7に示すように、タイムミング・ホイー
ルの4.95nsのところに、Bufxの出力の変化が
マッピングされる。ついで、フリップフロップFF1の
データ端子に接続されるネットnetxの遅延時間をシ
ミュレーション・ライブラリ14を参照して求める。こ
こで、ネットnetxの基準遅延時間(ディレイ係数が
typ のときの値)が2nsであるとすると、次に示すよ
うに上記2nsと1.65の積を算出し、上記4.95
nsとその結果を加算して、データの変化がFF1のデ
ータ端子Dに到達する時刻を求める。
【0029】2(ns)×1.65=3.3(ns) 4.95(ns)+3.3(ns)=8.25(ns) これにより、図7に示すように、タイムミング・ホイー
ルの8.25nsのところに、FF1のデータ端子Dの
変化がマッピングされる。また、論理シミュレータ13
は前記と同様フラグ設定領域の識別フラグCLKFLG
を調べ、識別フラグCLKFLGがONのクロックパス
系について、フリップフロップFF1のクロック端子C
Kに接続されるセルとネットを求める。
【0030】そして、シミュレーション・ライブラリ1
4を参照して、フリップフロップFF1のクロック端子
に接続されるバッファBuf1の立ち上がり遅延時間3
nsを読み出す。また、ディレイ係数がmax の場合にお
ける倍率1.65をネットnet1のデータ構造体より
読み出し、3nsと1.65の積を算出し、バッファB
uf1の出力の変化時刻を求める。
【0031】この場合には、バッファBuf1の出力の
変化時刻はバッファBufxと同じなので、図7に示す
ように、タイムミング・ホイールの4.95nsのとこ
ろに、Buf1の出力の変化がマッピングされる。つい
で、前記と同様、フリップフロップFF1のクロック端
子に接続されるネットnet1の遅延時間を求める。こ
こで、ネットnet1の基準遅延時間(ディレイ係数が
typ のときの値)が5nsであるとすると、次の式に示
すように5nsと上記1.65の積を算出する。
【0032】5(ns)×1.65=8.25(ns) 次に、上記4.95nsと8.25nsとを加算して、
クロックの変化がFF1のクロック端子CKに到達する
時刻を求める。 4.95(ns)+8.25(ns)=13.2(n
s) これにより、図7に示すように、タイムミング・ホイー
ルの13.2nsのところに、FF1のクロック端子C
Kの変化がマッピングされる。
【0033】以上のように、データおよびクロックの変
化がフリップフロップFF1のデータ端子Dとクロック
端子CKに到達する時刻が求まると、論理シミュレータ
13は上記時刻がフリップフロップFF1のセットアッ
プ許容時間を満足するか否かを判定する。前記したよう
にフリップフロップFF1のセットアップ時間TSDが
2ns以上必要であるとすると、図7に示すように、フ
リップフロップFF1のセットアップ許容時間は10.
25nsの所にマッピングされる。
【0034】そして、クロックがフリップフロップFF
1のクロック端子CKに到達する時刻はそれより後とな
るので〔13.2(ns)−8.25(ns)>2(n
s)となる〕、図9のmax 点の場合には、設計の意図す
るように、フリップフロップFF1のデータ入力がその
出力に及ぶことが検証される。 (ii)a点(図9参照)におけるフリップフロップFF
1の動作の検証 図5(a)において、図8に示すようにデータとクロッ
クが同一のタイミングで入力され、データが0→1、ク
ロックが0→1に変化したとする。
【0035】前記したように、論理シミュレータ13は
シミュレーション・ライブラリ14を参照して、フリッ
プフロップFF1のデータ端子に接続されるバッファB
ufxの立ち上がり遅延時間3nsを読み出す。次に、
前記と同様、ディレイ係数がaの場合における倍率1.
65をデータ構造体より読み出し、上記3nsと1.6
5の積を算出し、Bufxの出力の変化時刻4.95
(ns)を求める。これにより、図8に示すように、タ
イムミング・ホイールの4.95nsのところに、Bu
fxの出力の変化がマッピングされる。
【0036】ついで、ネットnetxの基準遅延時間
(ディレイ係数がtyp のときの値)2nsと1.65の
積を算出し、上記4.95nsとその結果を加算して、
データの変化がFF1のD端子に到達する時刻を求め
る。これにより、図8に示すように、タイムミング・ホ
イールの8.25nsのところに、FF1のデータ端子
Dの変化がマッピングされる。
【0037】次に、論理シミュレータ13は前記と同
様、シミュレーション・ライブラリ14を参照して、フ
リップフロップFF1のクロック端子に接続されるバッ
ファBuf1の立ち上がり遅延時間3nsを読み出す。
また、ディレイ係数がa点の場合における倍率1.25
をネットnet1のデータ構造体より読み出し、3ns
と1.25の積を下式のように算出し、バッファBuf
1の出力の変化時刻を求める。
【0038】3(ns)×1.25=3.75(ns) これにより、図8に示すように、タイムミング・ホイー
ルの3.75nsのところに、Buf1の出力の変化が
マッピングされる。ついで、前記と同様、フリップフロ
ップFF1のクロック端子に接続されるネットnet1
の遅延時間を求める。ここで、ネットnet1の基準遅
延時間(ディレイ係数がtyp のときの値)が5nsであ
るとすると、5nsと1.25の積は、6.25nsと
なり、上記3.75nsと6.25nsとの加算値は1
0nsとなる。
【0039】これにより、図8に示すように、タイムミ
ング・ホイールの10nsのところに、FF1のクロッ
ク端子CKの変化がマッピングされる。以上のように、
データおよびクロックの変化がフリップフロップFF1
のデータ端子Dとクロック端子CKに到達する時刻が求
まると、前記と同様、論理シミュレータ13は上記時刻
がフリップフロップFF1のセットアップ許容時間を満
足するか否かを判定する。前記したようにフリップフロ
ップFF1のセットアップ時間TSDが2ns以上必要
であるとすると、図8に示すように、フリップフロップ
FF1のセットアップ許容時間は10.25nsの所に
マッピングされる。
【0040】そして、クロックがフリップフロップFF
1のクロック端子CKに到達する時刻はそれより前とな
るので〔10(ns)−8.25(ns)<2(ns)
となる〕、図9のa点の場合には、フリップフロップF
F1のデータ入力がその出力を変化させないことが検証
される。 (iii )typ 値(図9参照)におけるフリップフロップ
FF1の動作の検証 上記(i )(ii)と同様にシミュレーションを行うと、
データの変化がフリップフロップFF1のデータ端子D
に到達するのは5nsとなり、クロックの変化がクロッ
ク端子CKに到達するのは、8nsとなる。
【0041】したがって、8(ns)−5(ns)=3
(ns)となり、セットアップ許容時間が2ns以上で
あるとすると、この場合には、設計の意図するように、
フリップフロップFF1のデータ入力がその出力を変化
させることが検証される。 (2)フリップフロップFF1のホールド時間の検証 (i )max 点(図9参照)におけるフリップフロップF
F1の動作の検証 図5(b)において、データとクロックが同一のタイミ
ングで入力され、データが1→0、クロックが0→1に
変化したとする。
【0042】上記(1)と同様にシミュレーションを行
うと、バッファBufxの立ち下がり遅延時間は4ns
であるので、データの変化によりバッファBufxの出
力が変化するのは、4(ns)×1.65=6.6(n
s)となり、また、ネットnetxの遅延時間を2ns
とすると、データの変化がフリップフロップFF1のデ
ータ端子Dに到達するのは6.6(ns)+2(ns)
×1.65=9.9nsとなる。
【0043】一方、クロックの変化がフリップフロップ
FF1のクロック端子CKに到達するのは、前記と同
様、バッファBuf1の立ち上がり遅延時間を3ns、
ネットnet1の遅延時間を5nsとすると、13.2
nsとなる。したがって、9.9ns(ns)−13.
2(ns)=−3.3(ns)となり、ホールド許容時
間が2ns以上であるとすると、この場合には、データ
の1→0の変化が、クロックの0→1の変化より2(n
s)+3.3(ns)=5.5(ns)後でなければ、
フリップフロップFF1の「1」状態がホールドされな
いことがわかる。 (ii)b点(図9参照)におけるフリップフロップFF
1の動作の検証 図5(b)において、データとクロックが同一のタイミ
ングで入力され、データが1→0、クロックが0→1に
変化したとする。
【0044】上記(1)と同様にシミュレーションを行
うと、バッファBufxの立ち下がり遅延時間は4ns
であるので、データの変化によりバッファBufxの出
力が変化するのは、4(ns)×1.25=5(ns)
となり、また、ネットnetxの遅延時間を2nsとす
ると、データの変化がフリップフロップFF1のデータ
端子Dに到達するのは5(ns)+2(ns)×1.2
5=7.5nsとなる。
【0045】一方、クロックの変化がフリップフロップ
FF1のクロック端子CKに到達するのは、前記と同
様、13.2nsとなる。したがって、7.5ns(n
s)−13.2(ns)=−5.7(ns)となり、ホ
ールド許容時間が2ns以上であるとすると、この場合
には、データの1→0の変化が、クロックの0→1の変
化より2(ns)+5.7(ns)=7.7(ns)後
でなければ、フリップフロップFF1の「1」状態がホ
ールドされないことがわかる。 (iii )typ 値(図9参照)におけるフリップフロップ
FF1の動作の検証 上記(i )(ii)と同様にシミュレーションを行うと、
データの変化がフリップフロップFF1のデータ端子D
に到達するのは6nsとなり、クロックの変化がクロッ
ク端子CKに到達するのは、8nsとなる。
【0046】したがって、6(ns)−8(ns)=−
2(ns)となり、セットアップ許容時間が2ns以上
であるとすると、この場合には、データの1→0の変化
が、クロックの0→1の変化より2(ns)+2(n
s)=4(ns)後でなければ、フリップフロップFF
1の「1」状態がホールドされないことがわかる。以
上、(1)(2)においては、図9のmax ,a,b,ty
p 点についてのシミュレーションを示したが、図9のそ
の他の点についても同様に検証を行うことができる。
【0047】
【発明の効果】以上説明したように、本発明において
は、論理マスタファイルにクロックパス系かデータパス
系かを示す識別フラグを用意するとともに、ネット構造
体中に基本遅延時間に対するバラッキを示すディレイ係
数とデータパス系/クロックパス系相互の遅延時間のバ
ラツキを考慮したディレイ係数を格納し、論理シミュレ
ーションを行う際、クロックパス系かデータパス系かを
識別し、データパス系とクロックパス系相互間の論理の
検証を行うようにしたので、データパスとクロックパス
との相互遅延のバラツキを考慮して遅延時間解析を行う
ことができ、実機段階において検証未確認の遅延バラツ
キにより生ずる問題の発生を防ぐことが可能となる。
【0048】また、ネット構造体中にディレイ係数を格
納したので、論理シミュレーションの高速化を図ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理図である。
【図2】本発明の論理シミュレーション・システムの全
体構成を示す図である。
【図3】論理シミュレーションの対象となる論理回路の
一例を示す図である。
【図4】論理マスタファイルにおけるデータ構造体の一
例を示す図である。
【図5】本実施例における論理検証の一例を説明する図
である。
【図6】フリップフロップのスイッチング特性を示す図
である。
【図7】本実施例の動作を示すタイミング・ホイールで
ある。
【図8】本実施例の動作を示すタイミング・ホイール
(続き)である。
【図9】LSIチップ内における伝搬遅延時間のバラツ
キを示す図である。
【図10】フリップフロップのセットアップ時間とホー
ルド時間を示す図である。
【符号の説明】
1 ネットリスト 2,12 論理マスタファイ
ル 3a,4a ポインタ 4c,4d ディレイ係数 3b,4b,CLKFLG 識別フラグ 5,13 論理シミュレータ 6 遅延時間記憶領域 11 LSIネットリス
ト 14 シミュレーション
・ライブラリ 15 テストデータ 3,4,121,122,123,124,125 構
造体 Buf1,Buf2,BufX バッファ FF1〜FF4 フリップフロップ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 論理回路のネットリスト(1) に基づき、
    論理マスタファイル(2) を生成し、生成された論理マス
    タファイル(2) に基づき論理回路の検証を行う論理シミ
    ュレーション方法において、 論理マスタファイル(2) を生成する際、各パスがクロッ
    クパス系かデータパス系かを識別して、データパス系か
    クロックパス系かを識別する識別フラグ(3b,4b) を各パ
    スに設定し、 論理回路の論理シミュレーションを実行するに際して、
    上記識別フラグ(3b,4b) を参照してデータパス系とクロ
    ックパス系を識別し、 データパス系とクロックパス系について、それぞれ相互
    の遅延時間のバラツキを考慮したディレイ係数(4d)を用
    いて各パスにおける遅延時間を求め、 上記遅延時間に基づき、データパス系とクロックパス系
    相互間の論理の検証を行うことを特徴とする遅延時間の
    バラツキを考慮した論理シミュレーション方法。
  2. 【請求項2】 少なくとも論理回路を構成する各セル/
    ネットの接続関係と、データパス系かクロックパス系か
    を識別するための識別フラグ(3b,4b) を格納する領域を
    備えたセル構造体(3) と、少なくとも論理回路を構成す
    る各セル/ネットの接続関係と、基本遅延時間に対する
    遅延時間のバラツキを示すディレイ係数(4c)と、クロッ
    クパス系とデータパス系のそれぞれ相互の遅延時間のバ
    ラツキを考慮したディレイ係数(4d)と、データパス系か
    クロックパス系かを識別するための識別フラグ(3b,4b)
    を格納する領域を備えたネット構造体(4) から構成され
    る論理マスタファイル(2) と、 各セル/ネットの遅延時間を記憶した遅延時間記憶領域
    (6) と、 上記論理マスタファイル(2) と遅延時間記憶領域(6) と
    を参照して論理回路の検証を行う論理シミュレータ(5)
    とを備えた論理シミュレーション・システムにおいて、 論理回路のネットリスト(1) に基づき論理マスタファイ
    ル(2) を生成する際、各パスがクロックパス系かデータ
    パス系かを識別して、各構造体の識別フラグ(3b,4b) を
    格納する領域にデータパス系かクロックパス系かを識別
    する識別フラグ(3b,4b) を設定し、 論理シミュレータ(5) は、論理回路の論理シミュレーシ
    ョンを実行するに際して、上記識別フラグ(3b,4b) を参
    照してデータパス系とクロックパス系を識別し、データ
    パス系とクロックパス系について、それぞれ相互の遅延
    時間のバラツキを考慮したディレイ係数(4d)を用いて遅
    延時間を算出し、 上記遅延時間に基づき、データパス系とクロックパス系
    相互間の論理の検証を行うことを特徴とする論理シミュ
    レーション・システム。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7308665B2 (en) 2005-03-24 2007-12-11 Fujitsu Limited Method and apparatus for analyzing clock-delay, and computer product
US7543260B2 (en) 2005-06-28 2009-06-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Design supporting system of semiconductor integrated circuit, method of designing semiconductor integrated circuit, and computer readable medium for supporting design of semiconductor integrated circuit

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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