JPH05243652A - レーザーダイオードの発光制御装置 - Google Patents
レーザーダイオードの発光制御装置Info
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- JPH05243652A JPH05243652A JP7887892A JP7887892A JPH05243652A JP H05243652 A JPH05243652 A JP H05243652A JP 7887892 A JP7887892 A JP 7887892A JP 7887892 A JP7887892 A JP 7887892A JP H05243652 A JPH05243652 A JP H05243652A
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 レーザーダイオード（ＬＤ）１３のビームの
光パワーを、ＬＤモジュール１１に内蔵されたフォトダ
イオード（ＰＤ）１５と、外部に設けられたＰＤ１７と
で検出し、その検出信号を加算アンプ２５で加算し、電
流比較器３３で基準電流と比較し、差動信号によりＬＤ
ドライバ５１を駆動してＬＤ１３の光パワーを制御す
る。 【効果】 外部ＰＤ１７が事故により位置ずれしてレー
ザービームが入射しなくなった際も、内蔵フォトダイオ
ード１５からの検出信号が電流比較器３３に入力される
ので、事故によりＬＤドライバ５１から過度の電流が供
給されてＬＤ１３が破損することがない。通常時におい
ては、外部ＬＤ１７の検出信号が加算されることによ
り、戻り光の影響が緩和される。
光パワーを、ＬＤモジュール１１に内蔵されたフォトダ
イオード（ＰＤ）１５と、外部に設けられたＰＤ１７と
で検出し、その検出信号を加算アンプ２５で加算し、電
流比較器３３で基準電流と比較し、差動信号によりＬＤ
ドライバ５１を駆動してＬＤ１３の光パワーを制御す
る。 【効果】 外部ＰＤ１７が事故により位置ずれしてレー
ザービームが入射しなくなった際も、内蔵フォトダイオ
ード１５からの検出信号が電流比較器３３に入力される
ので、事故によりＬＤドライバ５１から過度の電流が供
給されてＬＤ１３が破損することがない。通常時におい
ては、外部ＬＤ１７の検出信号が加算されることによ
り、戻り光の影響が緩和される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザーダイオードの
破損を防止して、レーザーダイオードの発光量（発光パ
ワー）を所定値に制御する装置に関する。
破損を防止して、レーザーダイオードの発光量（発光パ
ワー）を所定値に制御する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光磁気ドライブ装置、光ディスク装置な
どのレーザーダイオードを使用する装置においては、温
度や素子のバラツキによらず一定の光量でレーザーダイ
オードを発光せしめることが必要であり、一般にＡＬＰ
Ｃ回路（ＡｕｔｏｍａｔｉｃＬａｓｅｒ Ｐｏｗｅｒ
Ｃｏｎｔｒｏｌ 回路）により制御している。これは、
レーザーダイオードモジュールの外部にフォトダイオー
ド（受光素子）を設け、この検知光量を光電変換して基
準値と比較し、この差信号によりドライバを駆動してレ
ーザーダイオードの発光量を制御するものである。レー
ザーダイオードモジュールの中には一般にピンフォトダ
イオードが内蔵されているが、光磁気ドライブ装置や光
ディスク装置で、レーザーダイオードを駆動し安定にＡ
ＬＰＣ回路を駆動させリード・イレース・ライトを行な
うためには、レーザーダイオードへの戻り光の影響を少
なくすること望ましいと従来は考えられており、そのた
め内蔵されたピンフォトダイオードを使用せず、外部に
別に用意したピンフォトダイオードによりＡＬＰＣ回路
を構成していた。この場合、外部に設けたピンフォトダ
イオードに対して正確にレーザービームが入射するよう
に光学系を組み、また、機械的な位置合わせがなされ
る。しかしながら、レーザーダイオードとフォトダイオ
ードとの結合が機械的であるため、光磁気ディスク装置
等のレーザーダイオードを使用する装置における開発工
程、生産工程、調整、検査工程および製品の状態で、何
らかの原因で記械的なズレが生じ、フォトダイオードに
対するレーザービームの入射位置がずれると、ＡＬＰＣ
回路によりレーザーダイオードの発光パワーが増加し続
けて暴走し、レーザーダイオードを破損させるおそれが
大きかった。なお、上記の如く外部フォトダイオードを
使用するフロントＡＬＰＣ回路では従来、レーザーダイ
オードモジュールに内蔵されているピンフォトダイオー
ドは、調整時のみ使用し、その後は使用されていなかっ
た。
どのレーザーダイオードを使用する装置においては、温
度や素子のバラツキによらず一定の光量でレーザーダイ
オードを発光せしめることが必要であり、一般にＡＬＰ
Ｃ回路（ＡｕｔｏｍａｔｉｃＬａｓｅｒ Ｐｏｗｅｒ
Ｃｏｎｔｒｏｌ 回路）により制御している。これは、
レーザーダイオードモジュールの外部にフォトダイオー
ド（受光素子）を設け、この検知光量を光電変換して基
準値と比較し、この差信号によりドライバを駆動してレ
ーザーダイオードの発光量を制御するものである。レー
ザーダイオードモジュールの中には一般にピンフォトダ
イオードが内蔵されているが、光磁気ドライブ装置や光
ディスク装置で、レーザーダイオードを駆動し安定にＡ
ＬＰＣ回路を駆動させリード・イレース・ライトを行な
うためには、レーザーダイオードへの戻り光の影響を少
なくすること望ましいと従来は考えられており、そのた
め内蔵されたピンフォトダイオードを使用せず、外部に
別に用意したピンフォトダイオードによりＡＬＰＣ回路
を構成していた。この場合、外部に設けたピンフォトダ
イオードに対して正確にレーザービームが入射するよう
に光学系を組み、また、機械的な位置合わせがなされ
る。しかしながら、レーザーダイオードとフォトダイオ
ードとの結合が機械的であるため、光磁気ディスク装置
等のレーザーダイオードを使用する装置における開発工
程、生産工程、調整、検査工程および製品の状態で、何
らかの原因で記械的なズレが生じ、フォトダイオードに
対するレーザービームの入射位置がずれると、ＡＬＰＣ
回路によりレーザーダイオードの発光パワーが増加し続
けて暴走し、レーザーダイオードを破損させるおそれが
大きかった。なお、上記の如く外部フォトダイオードを
使用するフロントＡＬＰＣ回路では従来、レーザーダイ
オードモジュールに内蔵されているピンフォトダイオー
ドは、調整時のみ使用し、その後は使用されていなかっ
た。
【０００３】また、レーザーパワーの安定性に関する技
術や、記録時の立ち上がり特性を改善する技術について
は、特公平２−６００７４号公報の半導体レーザーの制
御装置、特公平３−４９７０号公報の光学的記録再生装
置などに示されているが、実装置に応用可能な制御装置
において、レーザーダイオードの破損防止を技術的解決
課題とした特許文献は見あたらない。
術や、記録時の立ち上がり特性を改善する技術について
は、特公平２−６００７４号公報の半導体レーザーの制
御装置、特公平３−４９７０号公報の光学的記録再生装
置などに示されているが、実装置に応用可能な制御装置
において、レーザーダイオードの破損防止を技術的解決
課題とした特許文献は見あたらない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、レーザーダ
イオードの発光制御装置において、レーザーダイオード
への戻り光の影響を抑え、しかも、レーザーダイオード
と外部フォトダイオードとの機械的な位置ズレ等が生じ
た場合にも、レーザーダイオードの破損を防止すること
を目的とする。
イオードの発光制御装置において、レーザーダイオード
への戻り光の影響を抑え、しかも、レーザーダイオード
と外部フォトダイオードとの機械的な位置ズレ等が生じ
た場合にも、レーザーダイオードの破損を防止すること
を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明のレーザーダイオ
ードの発光制御装置は、レーザーダイオードモジュール
に内蔵され、ダイオードの発光強度を検出する内蔵受光
素子と、レーザーダイオードモジュールの外部に設けら
れ、レーザーダイオードの発光強度を検出する外部受光
素子と、内蔵受光素子および外部受光素子からの検出光
量の合計量を光電変換し、予め設定された電気量と比較
し、レーザーダイオードの発光量を制御するレーザーダ
イオードドライバーとを有することを特徴とする。
ードの発光制御装置は、レーザーダイオードモジュール
に内蔵され、ダイオードの発光強度を検出する内蔵受光
素子と、レーザーダイオードモジュールの外部に設けら
れ、レーザーダイオードの発光強度を検出する外部受光
素子と、内蔵受光素子および外部受光素子からの検出光
量の合計量を光電変換し、予め設定された電気量と比較
し、レーザーダイオードの発光量を制御するレーザーダ
イオードドライバーとを有することを特徴とする。
【０００６】
【実施例】図１は、本発明の発光制御装置の実施例の回
路図であり、光磁気ドライブ装置に応用した場合を示し
ている。
路図であり、光磁気ドライブ装置に応用した場合を示し
ている。
【０００７】レーザーダイオード１３の発光強度の検出
用素子として、レーザーダイオード（ＬＤ）モジュール
１１に内蔵された内蔵フォトダイオード１５と、ＬＤモ
ジュール１１の外部に設けられた外部フォトダイオード
１７との２つのフォトダイオードが設けられている。外
部フォトダイオード１７は、例えば、レーザーダイオー
ド１３からのレーザービームが導かれる記録読出し／書
込み用光学系から一部のビームを分割して照射しうる光
学ヘッド内の適当な位置に設けられる。光学ヘッドが駆
動された際にも、レーザーダイオード１３と外部フォト
ダイオード１７との位置関係に変化はなく、常にレーザ
ービームがフォトダイオード１７に入射する。
用素子として、レーザーダイオード（ＬＤ）モジュール
１１に内蔵された内蔵フォトダイオード１５と、ＬＤモ
ジュール１１の外部に設けられた外部フォトダイオード
１７との２つのフォトダイオードが設けられている。外
部フォトダイオード１７は、例えば、レーザーダイオー
ド１３からのレーザービームが導かれる記録読出し／書
込み用光学系から一部のビームを分割して照射しうる光
学ヘッド内の適当な位置に設けられる。光学ヘッドが駆
動された際にも、レーザーダイオード１３と外部フォト
ダイオード１７との位置関係に変化はなく、常にレーザ
ービームがフォトダイオード１７に入射する。
【０００８】レーザーダイオード１３の駆動時には、Ａ
ＬＰＣスイッチ２７がＯＮとなり、ライト・リード切換
えスイッチ４１が選択され、レーザーダイオード（Ｌ
Ｄ）ドライバ５１により予め定められた定電流がレーザ
ーダイオード１３に供給され、レーザーダイオード１３
が発光する。図では、ライト・リード切換えスイッチ４
１がライトモードの状態を示している。
ＬＰＣスイッチ２７がＯＮとなり、ライト・リード切換
えスイッチ４１が選択され、レーザーダイオード（Ｌ
Ｄ）ドライバ５１により予め定められた定電流がレーザ
ーダイオード１３に供給され、レーザーダイオード１３
が発光する。図では、ライト・リード切換えスイッチ４
１がライトモードの状態を示している。
【０００９】ＬＤモジュール１１のレーザーダイオード
１３が発光すると、レーザービームは、内蔵フォトダイ
オード１５に入射して検出され、Ｉ／Ｖアンプ２３によ
り光電変換され、加算アンプ２５に入る。また同時に、
レーザービームは外部フォトダイオード１７に入射、検
出され、Ｉ／Ｖアンプ２１により光電変換され、同様に
加算アンプ２５に入る。
１３が発光すると、レーザービームは、内蔵フォトダイ
オード１５に入射して検出され、Ｉ／Ｖアンプ２３によ
り光電変換され、加算アンプ２５に入る。また同時に、
レーザービームは外部フォトダイオード１７に入射、検
出され、Ｉ／Ｖアンプ２１により光電変換され、同様に
加算アンプ２５に入る。
【００１０】加算アンプ２５では、内蔵フォトダイオー
ド１５からの電気信号と外部フォトダイオード１７から
の電気信号とが加算され、ローパスフィルタ３１を経
て、電流比較器３３に送られる。電流比較器３３では、
リード用基準電流源４３からの電流と、加算アンプ２５
からの前述の加算電流信号とが比較されて差動信号が検
出され、ＬＤドライバ５１の定電流トランジスタ５３で
電流を補正して電流トランジスタ５５を通して、ＬＤド
ライバ５１によりレーザーダイオード１３の光パワーを
一定に保つ。
ド１５からの電気信号と外部フォトダイオード１７から
の電気信号とが加算され、ローパスフィルタ３１を経
て、電流比較器３３に送られる。電流比較器３３では、
リード用基準電流源４３からの電流と、加算アンプ２５
からの前述の加算電流信号とが比較されて差動信号が検
出され、ＬＤドライバ５１の定電流トランジスタ５３で
電流を補正して電流トランジスタ５５を通して、ＬＤド
ライバ５１によりレーザーダイオード１３の光パワーを
一定に保つ。
【００１１】いま、Ｉ／Ｖアンプ２１，２３の出力比を
１：１に設定して、レーザーダイオードの光パワーをリ
ードモードで５ｍＷで出力した状態で、仮に外部フォト
ダイオード１７が何らかの原因でレーザーダイオード１
３からのレーザービームを検出できなくなった場合を想
定する。すると、図１の回路は、Ｉ／Ｖアンプ２１が作
動せず、内蔵フォトダイオード１５によりＩ／Ｖアンプ
２３のみが作動し加算アンプ２５の出力電流は半分とな
り、レーザーダイオード１３のパワーは（レーザーダイ
オードによって異なるが）約３０ｍＷとなるが、レーザ
ーダイオード１３の破損は免れることができる。
１：１に設定して、レーザーダイオードの光パワーをリ
ードモードで５ｍＷで出力した状態で、仮に外部フォト
ダイオード１７が何らかの原因でレーザーダイオード１
３からのレーザービームを検出できなくなった場合を想
定する。すると、図１の回路は、Ｉ／Ｖアンプ２１が作
動せず、内蔵フォトダイオード１５によりＩ／Ｖアンプ
２３のみが作動し加算アンプ２５の出力電流は半分とな
り、レーザーダイオード１３のパワーは（レーザーダイ
オードによって異なるが）約３０ｍＷとなるが、レーザ
ーダイオード１３の破損は免れることができる。
【００１２】これに対して、上記想定の場合において、
従来例の如く内蔵フォトダイオード１５を使用しないと
すると、当然のことではあるがレーザーダイオード１３
の光パワーは増加し続け、瞬時にレーザーダイオード１
３が破損する。
従来例の如く内蔵フォトダイオード１５を使用しないと
すると、当然のことではあるがレーザーダイオード１３
の光パワーは増加し続け、瞬時にレーザーダイオード１
３が破損する。
【００１３】また、内蔵フォトダイオード１５の検出値
は戻り光の影響を受けるが、通常作動時においては、戻
り光の影響を受けない外部フォトダイオード１７の寄与
分（検出量）があるので、戻り光の影響を抑えることが
できる。
は戻り光の影響を受けるが、通常作動時においては、戻
り光の影響を受けない外部フォトダイオード１７の寄与
分（検出量）があるので、戻り光の影響を抑えることが
できる。
【００１４】本発明のレーザーダイオードの発光制御装
置は、光磁気ドライブ装置や光ディスク装置などレーザ
ーダイオードを使用し、記録媒体に読出し／書込み／消
去を行なう装置であってＡＬＰＣ回路を有するものに好
適である。
置は、光磁気ドライブ装置や光ディスク装置などレーザ
ーダイオードを使用し、記録媒体に読出し／書込み／消
去を行なう装置であってＡＬＰＣ回路を有するものに好
適である。
【００１５】
【発明の効果】本発明によれば、レーザーダイオードモ
ジュールに内蔵した受光素子と外部の受光素子との２つ
の受光素子で、レーザーダイオードの光パワーを検出し
て制御することにより、戻り光の影響を抑え、しかもレ
ーザーダイオードの破損事故を激減して、レーザーパワ
ーを一定値に制御できる。
ジュールに内蔵した受光素子と外部の受光素子との２つ
の受光素子で、レーザーダイオードの光パワーを検出し
て制御することにより、戻り光の影響を抑え、しかもレ
ーザーダイオードの破損事故を激減して、レーザーパワ
ーを一定値に制御できる。
【００１６】そこで、本発明は、光磁気ドライブ装置等
の装置の開発、生産組立、調整、検査時等においてはレ
ーザーダイオードの破損防止に役立ち、かつ、そのまま
製品化しても高速特性の劣化につながらず、しかも製品
レベルのレーザーダイオードの破損にも効果がある。
の装置の開発、生産組立、調整、検査時等においてはレ
ーザーダイオードの破損防止に役立ち、かつ、そのまま
製品化しても高速特性の劣化につながらず、しかも製品
レベルのレーザーダイオードの破損にも効果がある。
【００１７】また、外部受光素子を使うフロントＡＬＰ
Ｃ回路では従来、レーザーダイオードモジュールが一般
に具えている内蔵受光素子は調整時のみ使用して製品段
階では使用せず遊ばさせていた状況にあり、この内蔵受
光素子を利用することにより価格の上昇を招かずに信頼
性の高い制御装置が実現できる。
Ｃ回路では従来、レーザーダイオードモジュールが一般
に具えている内蔵受光素子は調整時のみ使用して製品段
階では使用せず遊ばさせていた状況にあり、この内蔵受
光素子を利用することにより価格の上昇を招かずに信頼
性の高い制御装置が実現できる。
【図１】本発明の発光制御装置の実施例の回路図を示
す。
す。
１１ レーザーダイオード（ＬＤ）モジュール １３ レーザーダイオード １５ 内蔵フォトダイオード １７ 外部フォトダイオード ２１，２３ Ｉ／Ｖアンプ ２５ 加算アンプ ２７ ＡＬＰＣスイッチ ３１ ローパスフィルタ ３３ 電流比較器 ４１ ライト・リード切換えスイッチ ４３ リード用基準電流源 ４５ ライト用基準電流源 ５１ レーザーダイオード（ＬＤ）ドライバ ５３ 定電流トランジスタ ５５ 電流トランジスタ
Claims (1)
- 【請求項１】 レーザーダイオードモジュールに内蔵さ
れ、ダイオードの発光強度を検出する内蔵受光素子と、 レーザーダイオードモジュールの外部に設けられ、レー
ザーダイオードの発光強度を検出する外部受光素子と、 内蔵受光素子および外部受光素子からの検出光量の合計
量を光電変換し、予め設定された電気量と比較し、レー
ザーダイオードの発光量を制御するレーザーダイオード
ドライバーとを有することを特徴とするレーザーダイオ
ードの発光制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7887892A JPH05243652A (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | レーザーダイオードの発光制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7887892A JPH05243652A (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | レーザーダイオードの発光制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05243652A true JPH05243652A (ja) | 1993-09-21 |
Family
ID=13674076
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7887892A Pending JPH05243652A (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | レーザーダイオードの発光制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05243652A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8189182B2 (en) | 2008-08-08 | 2012-05-29 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device, optical scanner using same, image forming apparatus using optical scanner, and return light identification method |
| CN102882593A (zh) * | 2012-09-29 | 2013-01-16 | 武汉昊昱微电子股份有限公司 | 一种激光二极管实时发送光功率监控电路及其监控方法 |
-
1992
- 1992-02-28 JP JP7887892A patent/JPH05243652A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8189182B2 (en) | 2008-08-08 | 2012-05-29 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device, optical scanner using same, image forming apparatus using optical scanner, and return light identification method |
| CN102882593A (zh) * | 2012-09-29 | 2013-01-16 | 武汉昊昱微电子股份有限公司 | 一种激光二极管实时发送光功率监控电路及其监控方法 |
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