JPH05242228A - パターン・コーナー検出装置 - Google Patents
パターン・コーナー検出装置Info
- Publication number
- JPH05242228A JPH05242228A JP3325853A JP32585391A JPH05242228A JP H05242228 A JPH05242228 A JP H05242228A JP 3325853 A JP3325853 A JP 3325853A JP 32585391 A JP32585391 A JP 32585391A JP H05242228 A JPH05242228 A JP H05242228A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- circular mask
- image
- line
- narrow
- Prior art date
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- Withdrawn
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Input (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】処理時間を短縮する。
【構成】測定対象パターンの２値化画像３を細線化回路
５で細線化画像に変換し、更に細線化画像に対してラス
タースキャンに同期した円形マスク走査回路７と直線検
出回路９で直線部を検出する。この結果検出された直線
画像を排他的論理和によって、元の細線化画像から取り
除いて、パターン・コーナーのみが抽出される。
５で細線化画像に変換し、更に細線化画像に対してラス
タースキャンに同期した円形マスク走査回路７と直線検
出回路９で直線部を検出する。この結果検出された直線
画像を排他的論理和によって、元の細線化画像から取り
除いて、パターン・コーナーのみが抽出される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はパターン・コーナー検出
装置に関する。
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のパターン・コーナー検出装置につ
いて図面を参照して詳細に説明する。図３は、従来の一
例を示す模式図である。対象パターンの細線化画像に対
して、各細線化画像上の点でのパターン方向θを算出
し、この方向が変化する位置をパターン・コーナーとし
て検出する方法が用いられている。
いて図面を参照して詳細に説明する。図３は、従来の一
例を示す模式図である。対象パターンの細線化画像に対
して、各細線化画像上の点でのパターン方向θを算出
し、この方向が変化する位置をパターン・コーナーとし
て検出する方法が用いられている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のパター
ン・コーナー検出装置は、細線化画像上の点を逐次追跡
しパターン方向を算出するため処理時間が膨大となる欠
点があった。
ン・コーナー検出装置は、細線化画像上の点を逐次追跡
しパターン方向を算出するため処理時間が膨大となる欠
点があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明のパターン・コー
ナー検出装置は、（Ａ）測定対象パターンを、光電変換
スキャナで走査して読みだした入力画像を、”０”、”
１”の２値化画像に変換する２値化回路、（Ｂ）前記２
値化回路より出力される２値化画像を１ビット幅の細線
化画像に変換する細線化回路、（Ｃ）前記細線化画像
に、あらかじめ設定した直径の円形マスクをラスタース
キャンに同期して走査し、この走査した円形マスクの中
心部が前記細線化画像上にあるかどうかを判定する円形
マスク走査回路、（Ｄ）前記円形マスク走査回路で検出
した位置で、円形マスク上の向かい合う２点がともに細
線化画像上ある場合に直線上の位置として検出する直線
検出回路、（Ｅ）前記細線化画像と前記直線位置検出回
路で検出された直線位置画像との排他的論理和（ＥＯ
Ｒ）を求めて、コーナー位置のみを取り出すコーナー検
出回路、とを含んで構成される。
ナー検出装置は、（Ａ）測定対象パターンを、光電変換
スキャナで走査して読みだした入力画像を、”０”、”
１”の２値化画像に変換する２値化回路、（Ｂ）前記２
値化回路より出力される２値化画像を１ビット幅の細線
化画像に変換する細線化回路、（Ｃ）前記細線化画像
に、あらかじめ設定した直径の円形マスクをラスタース
キャンに同期して走査し、この走査した円形マスクの中
心部が前記細線化画像上にあるかどうかを判定する円形
マスク走査回路、（Ｄ）前記円形マスク走査回路で検出
した位置で、円形マスク上の向かい合う２点がともに細
線化画像上ある場合に直線上の位置として検出する直線
検出回路、（Ｅ）前記細線化画像と前記直線位置検出回
路で検出された直線位置画像との排他的論理和（ＥＯ
Ｒ）を求めて、コーナー位置のみを取り出すコーナー検
出回路、とを含んで構成される。
【０００５】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して詳細に
説明する。図１は本発明の一実施例を示すブロック図で
ある。
説明する。図１は本発明の一実施例を示すブロック図で
ある。
【０００６】図１に示すパターン・コーナー検出装置
は、（Ａ）測定対象パターンを、光電変換スキャナ１で
走査して読みだした入力画像信号２を２値化画像４に変
換する２値化回路３、（Ｂ）２値化回路３より出力され
る２値化画像４を１ビット幅の細線化画像６に変換する
細線化回路５、（Ｃ）細線化画像４に対して、あらかじ
め設定した直径の円形マスクをラスタースキャンに同期
して走査し、この走査した円形マスクの中心点が細線化
画像上にある場合に位置検出信号６を出力する円形マス
ク走査回路７、（Ｄ）円形マスク走査回路７で検出した
位置で、前記円形マスクの向かい合う２点がともに細線
化画像上ある場合に直線位置信号１０を出力する直線位
置検出回路９、（Ｅ）直線位置検出回路９で検出された
直線位置信号１０と前記細線化画像６との排他的論理和
（ＥＯＲ）を求めて、パターン・コーナー信号１２を出
力するコーナー検出回路１１、とを含んで構成される。
は、（Ａ）測定対象パターンを、光電変換スキャナ１で
走査して読みだした入力画像信号２を２値化画像４に変
換する２値化回路３、（Ｂ）２値化回路３より出力され
る２値化画像４を１ビット幅の細線化画像６に変換する
細線化回路５、（Ｃ）細線化画像４に対して、あらかじ
め設定した直径の円形マスクをラスタースキャンに同期
して走査し、この走査した円形マスクの中心点が細線化
画像上にある場合に位置検出信号６を出力する円形マス
ク走査回路７、（Ｄ）円形マスク走査回路７で検出した
位置で、前記円形マスクの向かい合う２点がともに細線
化画像上ある場合に直線位置信号１０を出力する直線位
置検出回路９、（Ｅ）直線位置検出回路９で検出された
直線位置信号１０と前記細線化画像６との排他的論理和
（ＥＯＲ）を求めて、パターン・コーナー信号１２を出
力するコーナー検出回路１１、とを含んで構成される。
【０００７】図２は、図１に示すパターン・コーナー検
出装置の動作を説明するための模式図である。検出位置
Ａ１４で細線化画像１３に対して、あらかじめ設定した
直径の円形マスク１５を走査すると、円形マスク１５の
向かい合う２点ａ、ｂがともに細線化画像１３上あるの
で、直線位置として検出する。
出装置の動作を説明するための模式図である。検出位置
Ａ１４で細線化画像１３に対して、あらかじめ設定した
直径の円形マスク１５を走査すると、円形マスク１５の
向かい合う２点ａ、ｂがともに細線化画像１３上あるの
で、直線位置として検出する。
【０００８】しかしながら、検出位置Ｂ１６で細線化画
像１３に対して、円形マスク１７を走査すると、円形マ
スク１７の向かい合う２点ｃ、ｄおよび、ｅ、ｆがとも
には細線化画像上にないので直線位置として検出しな
い。
像１３に対して、円形マスク１７を走査すると、円形マ
スク１７の向かい合う２点ｃ、ｄおよび、ｅ、ｆがとも
には細線化画像上にないので直線位置として検出しな
い。
【０００９】したがって、細線化画像１３と直線位置と
して検出した点との排他的論理和（ＥＯＲ）を求めれ
ば、検出位置Ｂ１６で示されるパターン・コーナーのみ
が検出できる。
して検出した点との排他的論理和（ＥＯＲ）を求めれ
ば、検出位置Ｂ１６で示されるパターン・コーナーのみ
が検出できる。
【００１０】
【発明の効果】本発明のパターン・コーナー検出装置
は、細線化画像上の点を逐次追跡しパターン方向を算出
する代わりに、あらかじめ設定した直径の円形マスクを
走査して直線位置を検出して、これと細線化画像との排
他的論理和（ＥＯＲ）でパターン・コーナーを検出して
いるので、ラスタースキャンに同期して高速なパターン
・コーナー検出が可能であるという効果がある。
は、細線化画像上の点を逐次追跡しパターン方向を算出
する代わりに、あらかじめ設定した直径の円形マスクを
走査して直線位置を検出して、これと細線化画像との排
他的論理和（ＥＯＲ）でパターン・コーナーを検出して
いるので、ラスタースキャンに同期して高速なパターン
・コーナー検出が可能であるという効果がある。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】図１に示すパターン・コーナー検出装置の動作
を説明するための模式図である。
を説明するための模式図である。
【図３】従来の一例を示す模式図である。
１ 光電変換スキャナ ２ 入力画像信号 ３ ２値化回路 ４ ２値化画像 ５ 細線化画像 ６ 細線化画像 ７ 円形マスク走査回路 ８ 位置検出信号 ９ 直線位置検出信号 １０ 直線位置信号 １１ コーナー検出回路 １２ パターン・コーナー信号 １３ 細線化画像 １４ 検出位置Ａ １５ 円形マスク １６ 検出位置Ｂ １７ 円形マスク
Claims (1)
- 【請求項１】（Ａ）測定対象パターンを、光電変換スキ
ャナで走査して読みだした入力画像を、”０”、”１”
の２値化画像に変換する２値化回路、（Ｂ）前記２値化
回路より出力される２値化画像を１ビット幅の細線化画
像に変換する細線化回路、（Ｃ）前記細線化画像に、あ
らかじめ設定した直径の円形マスクをラスタースキャン
に同期して走査し、この走査した円形マスクの中心部が
前記細線化画像上にあるかどうかを判定する円形マスク
走査回路、（Ｄ）前記円形マスク走査回路で検出した位
置で、円形マスク上の向かい合う２点がともに細線化画
像上ある場合に直線上の位置として検出する直線検出回
路、（Ｅ）前記細線化画像と前記直線位置検出回路で検
出された直線位置画像との排他的論理和（ＥＯＲ）を求
めて、コーナー位置のみを取り出すコーナー検出回路、
とを含むことを特徴とするパターン・コーナー検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3325853A JPH05242228A (ja) | 1991-12-10 | 1991-12-10 | パターン・コーナー検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3325853A JPH05242228A (ja) | 1991-12-10 | 1991-12-10 | パターン・コーナー検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05242228A true JPH05242228A (ja) | 1993-09-21 |
Family
ID=18181353
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3325853A Withdrawn JPH05242228A (ja) | 1991-12-10 | 1991-12-10 | パターン・コーナー検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05242228A (ja) |
-
1991
- 1991-12-10 JP JP3325853A patent/JPH05242228A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990311 |