JPH0346044B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0346044B2 JPH0346044B2 JP21288184A JP21288184A JPH0346044B2 JP H0346044 B2 JPH0346044 B2 JP H0346044B2 JP 21288184 A JP21288184 A JP 21288184A JP 21288184 A JP21288184 A JP 21288184A JP H0346044 B2 JPH0346044 B2 JP H0346044B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- area
- straight line
- circuit
- pattern
- line detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F1/00—Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
- G03F1/68—Preparation processes not covered by groups G03F1/20 - G03F1/50
- G03F1/82—Auxiliary processes, e.g. cleaning or inspecting
- G03F1/84—Inspecting
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、直線検出装置、特に、プリント基板
の製造に使用する原画フイルムのパターン幅を測
定する際に、パターンエツヂ位置を直線で近似し
て、両直線間の距離を求めるのに使用する直線検
出装置に関する。
の製造に使用する原画フイルムのパターン幅を測
定する際に、パターンエツヂ位置を直線で近似し
て、両直線間の距離を求めるのに使用する直線検
出装置に関する。
従来の直線検出装置では、光電変換スキヤナで
走査して得られた検査対象物のパターンよりパタ
ーンエツヂ位置をラスタースキヤン毎に検出し、
このパターンエツヂ位置を最小２乗法に基づいて
直線近似を行ない、直線検出する方法が用いられ
ていた。
走査して得られた検査対象物のパターンよりパタ
ーンエツヂ位置をラスタースキヤン毎に検出し、
このパターンエツヂ位置を最小２乗法に基づいて
直線近似を行ない、直線検出する方法が用いられ
ていた。
上述した従来の直線近似装置では、ラスタース
キヤン毎にパターンエツヂ位置をすべて求めてい
るため、データ数が莫大となり、さらに、これら
の値より最小２乗法を用いて直線近似を行なうた
めに処理時間が莫大してなるという欠点があつ
た。
キヤン毎にパターンエツヂ位置をすべて求めてい
るため、データ数が莫大となり、さらに、これら
の値より最小２乗法を用いて直線近似を行なうた
めに処理時間が莫大してなるという欠点があつ
た。
本発明の直線検出装置は、検査対象物を光電変
換スキヤナで走査して読み出したパターンを
“０”、“１”の２値化画像に変換する２値化回路
と、前記光電変換スキヤナの撮像エリア内に検出
エリアを設定するためのウインド発生回路と、前
記検出エリアを２個の水平エリアに等分割するた
めのエリア分割回路と、各分割されたエリア内で
２値化値“１”の個数で水平方向の接続関係にも
とづいてパターンエツヂまでカウントする面積カ
ウント回路と、各カウントされた面積を各分割エ
リアの幅で割つて、パターンエツヂ位置として算
出しこれら２点の位置よりパターンの直線を検出
する直線検出回路とを含んで構成される。
換スキヤナで走査して読み出したパターンを
“０”、“１”の２値化画像に変換する２値化回路
と、前記光電変換スキヤナの撮像エリア内に検出
エリアを設定するためのウインド発生回路と、前
記検出エリアを２個の水平エリアに等分割するた
めのエリア分割回路と、各分割されたエリア内で
２値化値“１”の個数で水平方向の接続関係にも
とづいてパターンエツヂまでカウントする面積カ
ウント回路と、各カウントされた面積を各分割エ
リアの幅で割つて、パターンエツヂ位置として算
出しこれら２点の位置よりパターンの直線を検出
する直線検出回路とを含んで構成される。
次に、本発明の実施例について、図面を参照し
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
第２図は、本発明で提案する直線検出装置の原
理説明図である。
理説明図である。
光電変換スキヤナ１０によつて撮像された検査
対象物のパターンは、２値化回路１２によつて２
値化画像１に変換される。さらに、光電変換スキ
ヤナ１０の撮像エリア２内に、ウインド発生回路
１４によつて検査エリア３が設定され、この検査
エリアは、エリア分割回路１６によつて２個の水
平エリア４に等分割される。
対象物のパターンは、２値化回路１２によつて２
値化画像１に変換される。さらに、光電変換スキ
ヤナ１０の撮像エリア２内に、ウインド発生回路
１４によつて検査エリア３が設定され、この検査
エリアは、エリア分割回路１６によつて２個の水
平エリア４に等分割される。
分割された各水平エリア内で、２値化値“１”
の個数が水平方向の接続関係にもとづいてパター
ンエツヂ５まで面積カウント回路１８によつてカ
ウントされる。面積カウントエリア６は、面積カ
ウント回路１８によつてカウントされるカウント
値を図示している。前記カウント値は、前述の各
分割エリアの幅で割られ、エツヂ位置７が算出さ
れる。即ち、前述の面積カウントエリアを台形面
積で近似を行なつて、その時の台形辺８の中心位
置が、エツヂ位置７となる。
の個数が水平方向の接続関係にもとづいてパター
ンエツヂ５まで面積カウント回路１８によつてカ
ウントされる。面積カウントエリア６は、面積カ
ウント回路１８によつてカウントされるカウント
値を図示している。前記カウント値は、前述の各
分割エリアの幅で割られ、エツヂ位置７が算出さ
れる。即ち、前述の面積カウントエリアを台形面
積で近似を行なつて、その時の台形辺８の中心位
置が、エツヂ位置７となる。
さらに、前記エツヂ位置２点の座標により一般
に公知の式で、近似直線９が求められる。
に公知の式で、近似直線９が求められる。
第１図は、本発明で提供する直線検出装置の一
実施例を示すブロツク図である。
実施例を示すブロツク図である。
光電変換スキヤナ１０を走査して読み出された
検査対象物のビデオ信号１１は、２値化回路１２
によつて、２値化画像信号１３に変換される。ま
た、ウインド発生回路１４により前記光電変換ス
キヤナの撮像エリア内に、検査エリア１５を設定
する。この検査エリアは、エリア分割回路１６に
よつて２個の水平エリア１７に等分割される。
検査対象物のビデオ信号１１は、２値化回路１２
によつて、２値化画像信号１３に変換される。ま
た、ウインド発生回路１４により前記光電変換ス
キヤナの撮像エリア内に、検査エリア１５を設定
する。この検査エリアは、エリア分割回路１６に
よつて２個の水平エリア１７に等分割される。
面積カウント回路１８では、前述の各分割され
た水平エリア内で、２値化値“１”の個数を水平
方向の接続関係にもとづいてパターンエツヂまで
カウントし、面積カウント値１９として出力す
る。
た水平エリア内で、２値化値“１”の個数を水平
方向の接続関係にもとづいてパターンエツヂまで
カウントし、面積カウント値１９として出力す
る。
この面積カウント値は、直線検出回路２０によ
つて、各分割エリアの幅で割り、パターンエツヂ
位置として算出し、これら２点の位置よりパター
ンの直線が検出され、直線検出信号２１が出力さ
れる。
つて、各分割エリアの幅で割り、パターンエツヂ
位置として算出し、これら２点の位置よりパター
ンの直線が検出され、直線検出信号２１が出力さ
れる。
本発明の直線検出装置は、分割された各水平エ
リア内の２値化値“１”の個数を求めて、等価的
な台形面積で近似して、エツヂ位置を２箇所算出
しているため、従来の直線検出装置で問題とされ
ていた、データ個数が多くて、最小２乗法による
直線近似の処理時間が莫大となる問題を解決でき
るという効果がある。
リア内の２値化値“１”の個数を求めて、等価的
な台形面積で近似して、エツヂ位置を２箇所算出
しているため、従来の直線検出装置で問題とされ
ていた、データ個数が多くて、最小２乗法による
直線近似の処理時間が莫大となる問題を解決でき
るという効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示すブロツク図、
第２図は第１図に示す実施例の原理説明図であ
る。 １……２値化画像、２……撮像エリア、３……
検査エリア、４……水平エリア、５……パターン
エツヂ、６……面積カウントエリア、７……エツ
ヂ位置、８……台形辺、９……近似直線、１０…
…光電変換スキヤナ、１１……ビデオ信号、１２
……２値化回路、１３……２値化信号、１４……
ウインド発生回路、１５……検出エリア、１６…
…エリア分割回路、１７……水平エリア、１８…
…面積カウント回路、１９……面積カウント値、
２０……直線検出回路、２１……直線検出信号。
第２図は第１図に示す実施例の原理説明図であ
る。 １……２値化画像、２……撮像エリア、３……
検査エリア、４……水平エリア、５……パターン
エツヂ、６……面積カウントエリア、７……エツ
ヂ位置、８……台形辺、９……近似直線、１０…
…光電変換スキヤナ、１１……ビデオ信号、１２
……２値化回路、１３……２値化信号、１４……
ウインド発生回路、１５……検出エリア、１６…
…エリア分割回路、１７……水平エリア、１８…
…面積カウント回路、１９……面積カウント値、
２０……直線検出回路、２１……直線検出信号。
Claims (1)
- １ 検査対象物を、充電変換スキヤナで走査して
読み出したパターンを“０”、“１”の２値化画像
に変換する２値化回路と、前記光電変換スキヤナ
の撮像エリア内に検出エリアを設定するためのウ
インド発生回路と、前記検出エリアを２個の水平
エリアに等分割するためのエリア分割回路と、各
分割されたエリア内で２値化値“１”の個数を、
水平方向の接続関係にもとづいてパターンエツヂ
までカウントする面積カウント回路と、各カウン
トされた面積を各分割エリアの幅で割つてパター
ンエツヂ位置として算出しこれら２点の位置より
パターンの直線を検出する直線検出回路とを含む
ことを特徴とする直線検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59212881A JPS6191659A (ja) | 1984-10-11 | 1984-10-11 | 直線検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59212881A JPS6191659A (ja) | 1984-10-11 | 1984-10-11 | 直線検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6191659A JPS6191659A (ja) | 1986-05-09 |
| JPH0346044B2 true JPH0346044B2 (ja) | 1991-07-15 |
Family
ID=16629804
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59212881A Granted JPS6191659A (ja) | 1984-10-11 | 1984-10-11 | 直線検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6191659A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5695716B2 (ja) * | 2013-09-25 | 2015-04-08 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | パターン寸法算出方法、及び画像解析装置 |
-
1984
- 1984-10-11 JP JP59212881A patent/JPS6191659A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6191659A (ja) | 1986-05-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |