JPH05221682A - 珪酸鉛ガラス、珪酸鉛ガラスを用いたネックチューブおよび珪酸鉛ガラス製ネックを備えた陰極線管 - Google Patents
珪酸鉛ガラス、珪酸鉛ガラスを用いたネックチューブおよび珪酸鉛ガラス製ネックを備えた陰極線管Info
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- JPH05221682A JPH05221682A JP4284195A JP28419592A JPH05221682A JP H05221682 A JPH05221682 A JP H05221682A JP 4284195 A JP4284195 A JP 4284195A JP 28419592 A JP28419592 A JP 28419592A JP H05221682 A JPH05221682 A JP H05221682A
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- glass
- sro
- lead silicate
- bao
- neck
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C3/00—Glass compositions
- C03C3/04—Glass compositions containing silica
- C03C3/076—Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight
- C03C3/102—Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight containing lead
- C03C3/105—Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight containing lead containing aluminium
Abstract
(57)【要約】
【目的】 陰極線管のネック部用チューブの引き出し生
成に特に適した珪酸鉛ガラスファミリーを提供すること
によりチューブ製造時間を延長し、生産性等を向上する
ことを目的とする。 【構成】 珪酸鉛ガラスの液相線温度は750℃以下、
電気絶縁性は8.0Ω−cm(Log R350 ℃) 、0.6オ
ングストローム波長で測定したx線吸収値は最低95c
m-1である。酸化物を基準とする重量%で表した場合、
前記ガラスの組成は、46−51%SiO2 、0.5−
2%Al2 O3 、0.3−3%Na2 O、9−13%K
2 O、2.5−6%SrO、1ー4%BaO、30−3
2%PbO、0.3−1%Sb2 O3 で略構成されてい
る。
成に特に適した珪酸鉛ガラスファミリーを提供すること
によりチューブ製造時間を延長し、生産性等を向上する
ことを目的とする。 【構成】 珪酸鉛ガラスの液相線温度は750℃以下、
電気絶縁性は8.0Ω−cm(Log R350 ℃) 、0.6オ
ングストローム波長で測定したx線吸収値は最低95c
m-1である。酸化物を基準とする重量%で表した場合、
前記ガラスの組成は、46−51%SiO2 、0.5−
2%Al2 O3 、0.3−3%Na2 O、9−13%K
2 O、2.5−6%SrO、1ー4%BaO、30−3
2%PbO、0.3−1%Sb2 O3 で略構成されてい
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、陰極線管のネック部分
用のx線吸収珪酸鉛ガラスおよびチューブに関するもの
である。
用のx線吸収珪酸鉛ガラスおよびチューブに関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】テレビ受信用の従来の陰極線管は、フェ
ースプレート、ファンネル、ネックおよび電子銃で構成
されている。通常、陰極線管は、上記部品を個別に組み
立て、これらを密閉状態に封入し、次に内部を真空にす
ることにより完成する。
ースプレート、ファンネル、ネックおよび電子銃で構成
されている。通常、陰極線管は、上記部品を個別に組み
立て、これらを密閉状態に封入し、次に内部を真空にす
ることにより完成する。
【0003】特にカラー映像受信用テレビ受像管の場合
は高電圧で作動し、強いx線を放射する。このようにx
線放射といった危険性を有しているため、放射されたx
線を吸収するガラスの開発が要望されている。テレビ技
術の分野、特にカラー受信技術分野における技術革新の
結果、陰極線管の動作電圧は今まで以上に大きくなって
いる。このため、従来より多くの放射x線を吸収するこ
とが可能なガラスが必要となっている。陰極線管のネッ
ク部分のガラスはフェースプレート部分より薄にも拘ら
ずフェースプレート部以上に高いx線吸収値が要求され
ている。現在、ネック部分のガラスの吸収値としては
0.6オングストロームの波長で最低95cm-1が必要
とされている。
は高電圧で作動し、強いx線を放射する。このようにx
線放射といった危険性を有しているため、放射されたx
線を吸収するガラスの開発が要望されている。テレビ技
術の分野、特にカラー受信技術分野における技術革新の
結果、陰極線管の動作電圧は今まで以上に大きくなって
いる。このため、従来より多くの放射x線を吸収するこ
とが可能なガラスが必要となっている。陰極線管のネッ
ク部分のガラスはフェースプレート部分より薄にも拘ら
ずフェースプレート部以上に高いx線吸収値が要求され
ている。現在、ネック部分のガラスの吸収値としては
0.6オングストロームの波長で最低95cm-1が必要
とされている。
【0004】x線吸収時の酸化物の相対効果について
は、陰極線管、フェースプレートガラスの開発時に徹底
的に研究された。この結果、酸化鉛類の含有量を最小限
に抑えたり、あるいは含有させないようになった。この
ようにしないと、x線や電子線の影響でガラスが黒く変
色してしまうのである。
は、陰極線管、フェースプレートガラスの開発時に徹底
的に研究された。この結果、酸化鉛類の含有量を最小限
に抑えたり、あるいは含有させないようになった。この
ようにしないと、x線や電子線の影響でガラスが黒く変
色してしまうのである。
【0005】SrOとBaOの関係についてはConn
elly et al.の米国特許No.3,464,
932に詳述されている。また、Speit et a
l.の米国特許No.4,520,115では耐変色性
の珪酸鉛ガラスが開示されている。
elly et al.の米国特許No.3,464,
932に詳述されている。また、Speit et a
l.の米国特許No.4,520,115では耐変色性
の珪酸鉛ガラスが開示されている。
【0006】この他、陰極線管のネック部分のガラスで
特に重要となる特性としては電気絶縁性がある。この値
としては、少なくとも0.8Ω−cm(Log R350 ℃) あ
るのが望ましい。この値を得るため、アルカリ金属酸化
物を制御している。一般には、ガラス内の酸化リチウム
(Li2 O)を取り除き、曹達(Na2 O)の含有量を
最小限に抑えている。電気抵抗を高める際に珪酸鉛−カ
リウムーソーダガラスを使用することについてはすでに
Taylorの米国特許No.2,019,817に開
示されており、同様にArmisteadの米国特許N
o.2,692,833とPartridgeの英国特
許No.574,275にも示されている。
特に重要となる特性としては電気絶縁性がある。この値
としては、少なくとも0.8Ω−cm(Log R350 ℃) あ
るのが望ましい。この値を得るため、アルカリ金属酸化
物を制御している。一般には、ガラス内の酸化リチウム
(Li2 O)を取り除き、曹達(Na2 O)の含有量を
最小限に抑えている。電気抵抗を高める際に珪酸鉛−カ
リウムーソーダガラスを使用することについてはすでに
Taylorの米国特許No.2,019,817に開
示されており、同様にArmisteadの米国特許N
o.2,692,833とPartridgeの英国特
許No.574,275にも示されている。
【0007】陰極線管のネック部分は、溶融ガラスを引
き延ばして管状に加工する。このチューブをベロー(V
ello)あるいは下方引き延ばし処理(downdraw)する
のが一般的である。チューブは、連続ガラスタンク内の
前炉(fore-hearth) およびボウルから連続的に引き出さ
れる。これらの方法は、例えば、Velloの米国特許
No.2,009,326とNo.2,009,793
や、Pitman Publishing Corpo
ration (1941)から出版されたC.J.P
hillipsの「ミラクルメーカー(The Miracle Mak
er) 」に開示されている。また陰極線管、特に、ネック
部および/またはファンネル部分への珪酸鉛ガラスの利
用については、Van Erk et al.の米国特
許No.4,174,490、Thomas et a
l.の米国特許No.4,677,081と、Sann
erの英国特許No.1,321,441と、Asah
iGlassの英国特許No.1,397,348に開
示されている。
き延ばして管状に加工する。このチューブをベロー(V
ello)あるいは下方引き延ばし処理(downdraw)する
のが一般的である。チューブは、連続ガラスタンク内の
前炉(fore-hearth) およびボウルから連続的に引き出さ
れる。これらの方法は、例えば、Velloの米国特許
No.2,009,326とNo.2,009,793
や、Pitman Publishing Corpo
ration (1941)から出版されたC.J.P
hillipsの「ミラクルメーカー(The Miracle Mak
er) 」に開示されている。また陰極線管、特に、ネック
部および/またはファンネル部分への珪酸鉛ガラスの利
用については、Van Erk et al.の米国特
許No.4,174,490、Thomas et a
l.の米国特許No.4,677,081と、Sann
erの英国特許No.1,321,441と、Asah
iGlassの英国特許No.1,397,348に開
示されている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ガラスチューブを引き
延ばす際の極めて大きな問題となるのは失透(devitrifi
cation) である。これは、チューブを引き延ばし加工す
る温度でガラスが結晶化する現象である。この失透を防
ぐためにタンク内のガラスは十分高温に保たれている。
引き延ばしの場合管は急速に冷却されるため失透は問題
とならない。むしろ問題なのは、前炉(fore-hearth) か
らボウル(bowl)までガラスを引き出す期間である。
延ばす際の極めて大きな問題となるのは失透(devitrifi
cation) である。これは、チューブを引き延ばし加工す
る温度でガラスが結晶化する現象である。この失透を防
ぐためにタンク内のガラスは十分高温に保たれている。
引き延ばしの場合管は急速に冷却されるため失透は問題
とならない。むしろ問題なのは、前炉(fore-hearth) か
らボウル(bowl)までガラスを引き出す期間である。
【0009】市販のガラスの場合、他に優れた特性も有
しているが、前炉からボウルへの引き出しの最中に失透
を生じる傾向があることが確認された。このため、ガラ
スチューブ内に許容を越えた結晶が含有されることがあ
る。さらに問題なのは、生成領域、すなわちボウル開口
部の周辺で行われる結晶成長である。このような結晶成
長によってチューブの形がねじれ、完全な不良品になっ
てしまうという問題がある。
しているが、前炉からボウルへの引き出しの最中に失透
を生じる傾向があることが確認された。このため、ガラ
スチューブ内に許容を越えた結晶が含有されることがあ
る。さらに問題なのは、生成領域、すなわちボウル開口
部の周辺で行われる結晶成長である。このような結晶成
長によってチューブの形がねじれ、完全な不良品になっ
てしまうという問題がある。
【0010】このため、引き延ばし成形を中断し、ボウ
ルをさらに加熱して堆積した結晶を溶解して取り払う必
要が生じてくる。このような防止作業は費用と時間を浪
費するばかりでなく、技術的にも満足のいくものではな
い。すなわち、洗浄が完全に行われる程度に高温にする
とボウル構造が損壊されてしまう危険があるためであ
る。
ルをさらに加熱して堆積した結晶を溶解して取り払う必
要が生じてくる。このような防止作業は費用と時間を浪
費するばかりでなく、技術的にも満足のいくものではな
い。すなわち、洗浄が完全に行われる程度に高温にする
とボウル構造が損壊されてしまう危険があるためであ
る。
【0011】従って、より好ましい内部液相線温度特性
(internal liquidus characteristics) を備えたガラス
ファミリー(glass family)を発見するため組成の研究が
集中的に行われてきた。当然のことながら、これらの組
成は他の特性、特にx線吸収や電気絶縁特性も備えてい
る必要がある。本発明の目的は、上記の要求を満足する
狭い範囲に限定された珪酸鉛の組成ファミリーを提供す
ることにある。
(internal liquidus characteristics) を備えたガラス
ファミリー(glass family)を発見するため組成の研究が
集中的に行われてきた。当然のことながら、これらの組
成は他の特性、特にx線吸収や電気絶縁特性も備えてい
る必要がある。本発明の目的は、上記の要求を満足する
狭い範囲に限定された珪酸鉛の組成ファミリーを提供す
ることにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係る珪酸鉛ガラスファミリーの液相線温度
は750℃以下であり、電気絶縁性は8.0Ω−cm(L
og R350 ℃) であり、0.6オングストローム波長で測
定したx線吸収値は最低95cm-1である。酸化物を基
準とする重量%で表した場合、前記ガラスの組成は、4
6−51%SiO2 、0.5−2%Al2 O3 、0.3
−3%Na2 O、9−13%K2 O、2.5−6%Sr
O、1−4%BaO、30−33%PbO、0.3−1
%Sb2 O3 で略構成されている。さらに、前記ガラス
のZnOの含有量は最大2%であるのが好ましい。ま
た、前記ガラスは好ましくは、47−50%SiO2 、
0.5−2.0%Al2 O3 、0.3−1.0%Na2
O、12−13%K2 O、2.5−3.5%SrO、1
−3%BaO、0.5−1.5%ZnO、30−32%
PbO、0.3−1%Sb2 O3 で略組成されているこ
とを特徴としている。
め、本発明に係る珪酸鉛ガラスファミリーの液相線温度
は750℃以下であり、電気絶縁性は8.0Ω−cm(L
og R350 ℃) であり、0.6オングストローム波長で測
定したx線吸収値は最低95cm-1である。酸化物を基
準とする重量%で表した場合、前記ガラスの組成は、4
6−51%SiO2 、0.5−2%Al2 O3 、0.3
−3%Na2 O、9−13%K2 O、2.5−6%Sr
O、1−4%BaO、30−33%PbO、0.3−1
%Sb2 O3 で略構成されている。さらに、前記ガラス
のZnOの含有量は最大2%であるのが好ましい。ま
た、前記ガラスは好ましくは、47−50%SiO2 、
0.5−2.0%Al2 O3 、0.3−1.0%Na2
O、12−13%K2 O、2.5−3.5%SrO、1
−3%BaO、0.5−1.5%ZnO、30−32%
PbO、0.3−1%Sb2 O3 で略組成されているこ
とを特徴としている。
【0013】本発明の他の態様としては、上記珪酸鉛フ
ァミリーに属するガラスから一定の長さのガラスチュー
ブを引き延ばし生成することを特徴としている。
ァミリーに属するガラスから一定の長さのガラスチュー
ブを引き延ばし生成することを特徴としている。
【0014】本発明のさらにその他の態様としては、上
述の珪酸鉛ファミリーに属するガラスで構成されたネッ
クと、フェースプレート、ファンネル、電子銃から成る
陰極線管を提供することを特徴としている。
述の珪酸鉛ファミリーに属するガラスで構成されたネッ
クと、フェースプレート、ファンネル、電子銃から成る
陰極線管を提供することを特徴としている。
【0015】
【作用及び効果】本発明に係る珪酸鉛ガラスは上記の組
成をしており、このため当該珪酸鉛ガラスの液相線温度
は750℃以下であり、電気絶縁性は8.0Ω−cm
(LogR350 ℃)以上であり、0.6オングストロー
ムの波長での線形x線吸収値は最低95cm-1となる。
成をしており、このため当該珪酸鉛ガラスの液相線温度
は750℃以下であり、電気絶縁性は8.0Ω−cm
(LogR350 ℃)以上であり、0.6オングストロー
ムの波長での線形x線吸収値は最低95cm-1となる。
【0016】このように液相線温度が750℃以下であ
るためネックチューブを生成する温度750℃−850
℃の温度範囲では失透現象が発生しない。このため、ボ
ウル流出口での結晶生成が最小に抑えられる。この結
果、ボウル洗浄のための閉鎖期間の合間に行われていた
チューブ製造時間が従来よりも長くなりこのため生産性
が向上し収益性も高まる。
るためネックチューブを生成する温度750℃−850
℃の温度範囲では失透現象が発生しない。このため、ボ
ウル流出口での結晶生成が最小に抑えられる。この結
果、ボウル洗浄のための閉鎖期間の合間に行われていた
チューブ製造時間が従来よりも長くなりこのため生産性
が向上し収益性も高まる。
【0017】また、上記のように本発明の珪酸鉛ガラス
は優れたx線吸収特性を備えているため陰極線管等のネ
ック部分のようにx線や電子線の影響が強い部分の使用
に適している。
は優れたx線吸収特性を備えているため陰極線管等のネ
ック部分のようにx線や電子線の影響が強い部分の使用
に適している。
【0018】
【実施例】本発明の実施例を図面を参照しながら以下に
詳述する。
詳述する。
【0019】本発明の実施例に係るガラスは、珪酸カリ
ウムーストロンチウムー鉛系ガラスファミリーといった
狭い範囲に限定されている。バリウムを小量、好ましく
は亜鉛と共にバリウムを小量添加することによりこれら
のガラスの改質を行っている。これらのガラスは、液相
線温度と粘性との間に高い関連性を示しており、また液
相線温度が低いことを主な特徴としている。
ウムーストロンチウムー鉛系ガラスファミリーといった
狭い範囲に限定されている。バリウムを小量、好ましく
は亜鉛と共にバリウムを小量添加することによりこれら
のガラスの改質を行っている。これらのガラスは、液相
線温度と粘性との間に高い関連性を示しており、また液
相線温度が低いことを主な特徴としている。
【0020】このような特徴を備えているため、当該実
施例に係るガラスの場合失透の発生抑えられている。特
に、ネックチューブを生成する温度範囲、すなわち75
0−850℃での失透の発生が減少している。このよう
に、液相温度、つまり冷却するにつれてガラスが結晶化
する温度がチューブ生成温度から離れているためボウル
流出口での結晶生成が最小に抑えられている。このた
め、ボウルを洗浄するための閉鎖期間の合間に行われて
いたチューブ製造の時間が従来よりも長くなっており、
この結果生産性が向上し、収益性も高まる。
施例に係るガラスの場合失透の発生抑えられている。特
に、ネックチューブを生成する温度範囲、すなわち75
0−850℃での失透の発生が減少している。このよう
に、液相温度、つまり冷却するにつれてガラスが結晶化
する温度がチューブ生成温度から離れているためボウル
流出口での結晶生成が最小に抑えられている。このた
め、ボウルを洗浄するための閉鎖期間の合間に行われて
いたチューブ製造の時間が従来よりも長くなっており、
この結果生産性が向上し、収益性も高まる。
【0021】同じく、従来のネックガラスに比べ行われ
た改質は極めて小さなものであるため必要な他の特性も
維持されており、あるいは、従来よりもむしろ向上して
いる。この特性とは、すなわち、電気絶縁性であり、最
低8.0Ω−cm(LogR350 ℃)を有しており、ま
た線形x線吸収値は0.6オングストロームの波長で最
低95cm-1となっている。
た改質は極めて小さなものであるため必要な他の特性も
維持されており、あるいは、従来よりもむしろ向上して
いる。この特性とは、すなわち、電気絶縁性であり、最
低8.0Ω−cm(LogR350 ℃)を有しており、ま
た線形x線吸収値は0.6オングストロームの波長で最
低95cm-1となっている。
【0022】酸化含有物を基に重量%で表すと本発明の
ガラスファミリーの組成は次の範囲となる。
ガラスファミリーの組成は次の範囲となる。
【0023】46−51% SiO2 0.5−2% Al2 O3 0.3−3% Na2 O 9−13% K2 O 2.5−6% SrO 1−4% BaO 0−2% ZnO 30−33% PbO 0.3−1% Sb2 O3 本発明の基礎となった研究は、従来の市販ガラスを基に
これを改質する方向で/あるいはこれとは異なる組成を
求める方向で行われた。この市販ガラスの組成は以下表
2中に第9例として示されている。
これを改質する方向で/あるいはこれとは異なる組成を
求める方向で行われた。この市販ガラスの組成は以下表
2中に第9例として示されている。
【0024】研究の結果、SrOの代わりにBaO1−
4%がガラス内部に含まれている場合に優れた液相線温
度特性が得られた。この液相線温度特性は、最大2%の
ZnO、好ましくは約1%のZnOが同時にガラス中に
存在する場合にはさらに向上する。ZnOは比較的高価
なバッチ材料であるため過量とならないよう注意する必
要がある。BaOとZnOのx線吸収特性はSrOとK
2 Oに類似しているため、SrO−K2 Oから成るネッ
クガラスにBaとZnの酸化物を含有させてもx線保護
が損なわれることはない。
4%がガラス内部に含まれている場合に優れた液相線温
度特性が得られた。この液相線温度特性は、最大2%の
ZnO、好ましくは約1%のZnOが同時にガラス中に
存在する場合にはさらに向上する。ZnOは比較的高価
なバッチ材料であるため過量とならないよう注意する必
要がある。BaOとZnOのx線吸収特性はSrOとK
2 Oに類似しているため、SrO−K2 Oから成るネッ
クガラスにBaとZnの酸化物を含有させてもx線保護
が損なわれることはない。
【0025】アルカリ金属酸化物を用いて粘性−温度特
性や熱膨張係数などの物理特性を制御する。アルカリ金
属酸化物としては、x線吸収特性を有したK2 Oが好ま
しい。通常、ソーダ(Na2 O)は最大3%まで含有す
ることが可能であるが、1%を越えないのが好ましい。
長石をバッチ材料として用いて最低0.3%のソーダを
投入する。酸化リチウム(Li2 O)は、ガラスを過度
に軟化させてしまい、膨張係数を高め、液相線温度に逆
効果を及ぼす。従って、通常は酸化リチウムは含まれて
いない。
性や熱膨張係数などの物理特性を制御する。アルカリ金
属酸化物としては、x線吸収特性を有したK2 Oが好ま
しい。通常、ソーダ(Na2 O)は最大3%まで含有す
ることが可能であるが、1%を越えないのが好ましい。
長石をバッチ材料として用いて最低0.3%のソーダを
投入する。酸化リチウム(Li2 O)は、ガラスを過度
に軟化させてしまい、膨張係数を高め、液相線温度に逆
効果を及ぼす。従って、通常は酸化リチウムは含まれて
いない。
【0026】ガラスを安定させるためAl2 O3 を1%
または2%添加する。また、砒素の使用を避けるため精
澄剤としてアンチモン酸化物(Sb2 O3 )が含有され
ている。
または2%添加する。また、砒素の使用を避けるため精
澄剤としてアンチモン酸化物(Sb2 O3 )が含有され
ている。
【0027】本発明の実施例をさらに詳細に説明する。
表1には酸化物を基とする重量%で組成が幾つか示され
ている。また、これらの組成に応じたガラスの特性も示
されている。これらの特性は、軟化点(Soft)、ア
ニール点(Anneal)、歪点(Strain)、熱
膨張係数(25−300℃)x10-7/℃(Ex
p.)、内部液相線温度(Int.Liq.)、350
℃の時にLog Rで求めた電気絶縁性(E.R.)か
ら成っている。
表1には酸化物を基とする重量%で組成が幾つか示され
ている。また、これらの組成に応じたガラスの特性も示
されている。これらの特性は、軟化点(Soft)、ア
ニール点(Anneal)、歪点(Strain)、熱
膨張係数(25−300℃)x10-7/℃(Ex
p.)、内部液相線温度(Int.Liq.)、350
℃の時にLog Rで求めた電気絶縁性(E.R.)か
ら成っている。
【0028】
【表1】
【0029】厳密に測定したバッチ量の生産用ガラスバ
ッチ材料を混転し、電気炉内でPt製るつぼを用いて前
記材料を1550℃の温度で溶融し、Pt製撹拌器で均
質になるよう撹拌し、次にサンプル生成用に流し込まれ
たスラブをアニール処理して約1kg(2ポンド)の各
組成の溶融ガラスを生成した。
ッチ材料を混転し、電気炉内でPt製るつぼを用いて前
記材料を1550℃の温度で溶融し、Pt製撹拌器で均
質になるよう撹拌し、次にサンプル生成用に流し込まれ
たスラブをアニール処理して約1kg(2ポンド)の各
組成の溶融ガラスを生成した。
【0030】物理特性、すなわち軟化点、アニール点、
歪点、熱膨張係数および濃度は従来のASTM法を用い
て測定した。x線吸収係数は、測定濃度と周知の組成係
数を用いて0.6オングストロームの波長時で算出し
た。
歪点、熱膨張係数および濃度は従来のASTM法を用い
て測定した。x線吸収係数は、測定濃度と周知の組成係
数を用いて0.6オングストロームの波長時で算出し
た。
【0031】液相線温度(実際は、失透最高温度)は、
ASTM法を24時間勾配Ptボート法に変更して推定
を行った。従来Ptと空気の境界線と内部のわずかな部
分だけで推定していたのに比べ、作製されたテスト用ガ
ラススラブ全体を試験しているため従来よりも精度が向
上している。結晶サイズを測定し、成長速度を推定する
ため結晶サイズと温度とのグラフを作成したものもあ
る。ガラス生成試験に従って初期内部晶相はストロンチ
ウムーカリウムー珪酸化合物とした。本明細書中で報告
されている組成物の多くは核形成が極めて困難であるた
め、サンプル全体を液相線温度以下で十分に核形成し、
次に真の液相線温度以下および以上(それぞれ)で結晶
成長と結晶の溶解が確認できるように勾配炉内に載置す
るといった試験方法を用いた。通常の勾配ボート試験時
間を48時間から72時間に延長しなくてはならないも
のもあった。
ASTM法を24時間勾配Ptボート法に変更して推定
を行った。従来Ptと空気の境界線と内部のわずかな部
分だけで推定していたのに比べ、作製されたテスト用ガ
ラススラブ全体を試験しているため従来よりも精度が向
上している。結晶サイズを測定し、成長速度を推定する
ため結晶サイズと温度とのグラフを作成したものもあ
る。ガラス生成試験に従って初期内部晶相はストロンチ
ウムーカリウムー珪酸化合物とした。本明細書中で報告
されている組成物の多くは核形成が極めて困難であるた
め、サンプル全体を液相線温度以下で十分に核形成し、
次に真の液相線温度以下および以上(それぞれ)で結晶
成長と結晶の溶解が確認できるように勾配炉内に載置す
るといった試験方法を用いた。通常の勾配ボート試験時
間を48時間から72時間に延長しなくてはならないも
のもあった。
【0032】本発明に係るその他のガラス組成が6つ表
2に示されている。試験用ガラスの量を増やすために5
kg(約11ポンド)の溶融ガラスを生成した点を除い
ては、表1の組成物と同様に各ガラスを溶融した。
2に示されている。試験用ガラスの量を増やすために5
kg(約11ポンド)の溶融ガラスを生成した点を除い
ては、表1の組成物と同様に各ガラスを溶融した。
【0033】また、表2には特性も示されている。
【0034】試験例9は、前述したとうり従来の生産用
ガラスの組成であり、比較のために記載されている。
ガラスの組成であり、比較のために記載されている。
【0035】
【表2】 酸化物 9 10 11 12 13 14 SiO2 49.1 48.9 48.8 47.8 47.9 48.1 Al2 O3 0.7 0.7 0.7 1.5 0.7 0.7 Na2 O 0.3 0.3 0.4 0.6 0.3 0.3 K2 O 12.4 12.4 12.4 12.4 12.4 12.1 SrO 5.5 3.0 3.0 3.0 3.0 3.0 BaO 0.0 2.8 1.8 1.8 2.8 2.8 PbO 31.6 30.4 31.4 31.4 31.4 31.4 ZnO 0.0 1.0 1.0 1.0 1.0 1.0 Sb2 O3 0.5 0.5 0.5 0.5 0.5 0.5 特 性 軟化点 660 660 660 656 657 659 アニール点 482 478 481 476 473 479 歪点 438 433 437 432 430 435 熱膨張係数 96.9 97.1 97.6 97.9 98.9 97.7 図1および図2は、液相線温度結果をグラフ表示したも
のであり、72時間の試験における結晶サイズと温度が
示されている。図1では従来の生産用ガラスの結晶特性
が図示されている。800℃から1000℃の範囲の実
線および点線では、空気とPtとの境界線においてスト
ロンチウムーアンチモン酸塩の晶相が示されている。こ
の晶相の結晶は極めて小形であり、チューブ生成温度よ
りもはるかに高い温度で発生するものである。実際の生
産現場において、これらの結晶によってネックガラスの
製造が妨げられたという報告はない。本当に問題となる
晶相は、温度範囲750℃−850℃で現れるカリウム
ーストロンチウムー珪酸塩の内部相(鎖線)である。こ
の温度がチューブ引き延ばし温度に最も近いのである。
のであり、72時間の試験における結晶サイズと温度が
示されている。図1では従来の生産用ガラスの結晶特性
が図示されている。800℃から1000℃の範囲の実
線および点線では、空気とPtとの境界線においてスト
ロンチウムーアンチモン酸塩の晶相が示されている。こ
の晶相の結晶は極めて小形であり、チューブ生成温度よ
りもはるかに高い温度で発生するものである。実際の生
産現場において、これらの結晶によってネックガラスの
製造が妨げられたという報告はない。本当に問題となる
晶相は、温度範囲750℃−850℃で現れるカリウム
ーストロンチウムー珪酸塩の内部相(鎖線)である。こ
の温度がチューブ引き延ばし温度に最も近いのである。
【0036】グラフの縦軸には、結晶サイズがミクロン
単位で示されている。勾配炉で72時間試験ボートを行
った後に観察された結晶の長さとしてはこの長さが最大
である。横軸には温度を℃で示している。
単位で示されている。勾配炉で72時間試験ボートを行
った後に観察された結晶の長さとしてはこの長さが最大
である。横軸には温度を℃で示している。
【0037】図2には表2中の好適実施態様である試験
例12のガラスについて行った観察結果が示されてい
る。この試験の後ガラスサンプルを観察した際にはカリ
ウムーストロンチウムー珪酸塩の結晶は存在しておら
ず、ストロンチウムーアンチモン酸塩相以外の晶相は観
察されなかった。
例12のガラスについて行った観察結果が示されてい
る。この試験の後ガラスサンプルを観察した際にはカリ
ウムーストロンチウムー珪酸塩の結晶は存在しておら
ず、ストロンチウムーアンチモン酸塩相以外の晶相は観
察されなかった。
【図1】従来のガラスの失透に関する研究データのグラ
フ
フ
【図2】本願発明に係るガラスについて同様の研究を行
った際のデータのグラフ
った際のデータのグラフ
Claims (12)
- 【請求項1】 液相線温度が750℃以下であり、電気
絶縁性が8.0Ω−cm(Log R350 ℃) であり、0.6
オングストローム波長で測定したx線吸収値が最低95
cm-1であり、また酸化物を基準とする重量%で表した
場合に46−51%SiO2 、0.5−2%Al
2 O3 、0.3−3%Na2 O、9−13%K2 O、
2.5−6%SrO、1−4%BaO、30−33%P
bO、0.3−1%Sb2 O3 で略組成されていること
を特徴とする珪酸鉛ガラスファミリー。 - 【請求項2】 前記ガラス組成物はさらに2%以下の量
のZnOを含有していることを特徴とする請求項1記載
の珪酸鉛ガラスファミリー。 - 【請求項3】 前記ガラス組成物のSrO+BaO+Z
nOの含有量は全体として5%−8%の範囲であること
を特徴とする請求項2記載の珪酸鉛ガラスファミリー。 - 【請求項4】 前記組成物は、47−50%SiO2 、
0.5−2.0%Al2 O3 、0.3−1.0%Na2
O、12−13%K2 O、2.5−3.5%SrO、1
−3%BaO、0.5−1.5%ZnO、30−32%
PbO、0.3−1%Sb2 O3 で略組成されているこ
とを特徴とする請求項1記載の珪酸鉛ガラスファミリ
ー。 - 【請求項5】 液相線温度が750℃以下であり、電気
絶縁性が8.0Ω−cm(Log R350 ℃) であり、0.6
オングストローム波長で測定したx線吸収値が最低95
cm-1であり、また酸化物を基準とする重量%で表した
場合に46−51%SiO2 、0.5−2%Al
2 O3 、0.3−3%Na2 O、9−13%K2 O、
2.5−6%SrO、1−4%BaO、30−33%P
bO、0.3−1%Sb2 O3 で略組成されていること
を特徴とする溶融珪酸鉛ガラスから引き出された一定の
長さを有するガラスチューブ。 - 【請求項6】 前記ガラス組成物はさらに2%以下の量
のZnOを含有していることを特徴とする請求項5記載
のガラスチューブ。 - 【請求項7】 前記ガラス組成物のSrO+BaO+Z
nOの含有量は全体として5%−8%の範囲であること
を特徴とする請求項6記載のガラスチューブ。 - 【請求項8】 前記ガラス組成物は、47−50%Si
O2 、0.5−2%Al2 O3 、0.3−1.0%Na
2 O、12−13%K2 O、2.5−3.5%SrO、
1−3%BaO、0.5−1.5%ZnO、30−32
%PbO、0.3−1%Sb2 O3 で略組成されている
ことを特徴とする請求項5記載のガラスチューブ。 - 【請求項9】 液相線温度が750℃以下であり、電気
絶縁性が8.0Ω−cm(Log R350 ℃) であり、0.6
オングストローム波長で測定したx線吸収値が最低95
cm-1であり、また酸化物を基準とする重量%で表した
場合に46−51%SiO2 、0.5−2%Al
2 O3 、0.3−3%Na2 O、9−13%K2 O、
2.5−6%SrO、1−4%BaO、30−33%P
bO、0.3−1%Sb2 O3 で略組成されていること
を特徴とする珪酸鉛ガラスから成るネックを備え、フェ
ースプレート、ファンネル、電子銃で構成された陰極線
管。 - 【請求項10】 前記ネックガラス組成物はさらに2%
以下の量のZnOを含有していることを特徴とする請求
項9記載の陰極線管。 - 【請求項11】 前記ネックガラス組成物のSrO+B
aO+ZnOの含有量は全体として5%−8%の範囲で
あることを特徴とする請求項10記載の陰極線管。 - 【請求項12】 前記ネックガラス組成物は、47−5
0%SiO2 、0.5−2%Al2 O3 、0.3−1.
0%Na2 O、12−13%K2 O、2.5−3.5%
SrO、1−3%BaO、0.5−1.5%ZnO、3
0−32%PbO、0.3−1%Sb2 O3 で略組成さ
れていることを特徴とする請求項9記載の陰極線管。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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US07/782,528 US5192718A (en) | 1991-10-24 | 1991-10-24 | Lead silicate glasses |
US782528 | 1991-10-24 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05221682A true JPH05221682A (ja) | 1993-08-31 |
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---|---|
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EP (1) | EP0538568B1 (ja) |
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DE69511813T2 (de) * | 1994-05-11 | 2000-03-16 | Koninkl Philips Electronics Nv | Dünnpaneelanzeigevorrichtung |
US5478604A (en) * | 1994-06-07 | 1995-12-26 | Actinic, Inc. | Composition and method for preventing lead intoxication |
US5824127A (en) * | 1996-07-19 | 1998-10-20 | Corning Incorporated | Arsenic-free glasses |
US6218775B1 (en) | 1998-07-21 | 2001-04-17 | Corning Incorporated | Cathode ray tube neck glass |
ATE352526T1 (de) * | 2000-06-05 | 2007-02-15 | Ohara Kk | Optische gläser die unter betriebsbedingungen bei uv-belichtung in bezug auf ihren brechungsindex möglichst stabil sind |
EP1227068A1 (en) * | 2000-12-25 | 2002-07-31 | Nippon Electric Glass Co., Ltd | Crt funnel of a non beam-index type |
JPWO2003074439A1 (ja) * | 2002-03-05 | 2005-06-23 | 財団法人理工学振興会 | 陰極線管用ガラスファンネルおよび陰極線管 |
EP3535218A1 (en) | 2016-11-30 | 2019-09-11 | Corning Incorporated | Method and apparatus for controlling glass tube taper |
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BE463281A (ja) * | 1942-11-05 | |||
US2692833A (en) * | 1951-12-17 | 1954-10-26 | Corning Glass Works | Glass composition |
US3464932A (en) * | 1968-09-06 | 1969-09-02 | Corning Glass Works | X-ray absorbing glass compositions |
US3725093A (en) * | 1970-06-19 | 1973-04-03 | Owens Illinois Inc | High lead content glass composition for television neck tubes |
JPS528331B1 (ja) * | 1971-07-07 | 1977-03-08 | ||
JPS49120909A (ja) * | 1973-03-22 | 1974-11-19 | ||
GB1397348A (en) * | 1973-11-16 | 1975-06-11 | Asahi Glass Co Ltd | X-ray absorbing glass |
NL7705731A (nl) * | 1977-05-25 | 1978-11-28 | Philips Nv | Kathodestraalbuis. |
DE3228826C2 (de) * | 1982-08-02 | 1986-09-25 | Schott Glaswerke, 6500 Mainz | Hochabsorbierendes Pb-haltige Gläser für Kathodenstrahlröhrenbildschirme |
US4677081A (en) * | 1985-10-07 | 1987-06-30 | General Electric Company | Arsenic-free lead silicate vacuum tube glass |
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1991
- 1991-10-24 US US07/782,528 patent/US5192718A/en not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-08-07 DE DE69209216T patent/DE69209216T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-08-07 EP EP92113455A patent/EP0538568B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-09-10 TW TW081107225A patent/TW205031B/zh active
- 1992-10-21 KR KR1019920019392A patent/KR960015144B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1992-10-22 JP JP4284195A patent/JP2576005B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1992-10-23 MX MX9206134A patent/MX9206134A/es unknown
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---|---|
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DE69209216T2 (de) | 1996-10-31 |
EP0538568B1 (en) | 1996-03-20 |
TW205031B (ja) | 1993-05-01 |
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KR960015144B1 (ko) | 1996-11-01 |
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