JPH05217869A - 電子線描画装置 - Google Patents

電子線描画装置

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JPH05217869A
JPH05217869A JP1987092A JP1987092A JPH05217869A JP H05217869 A JPH05217869 A JP H05217869A JP 1987092 A JP1987092 A JP 1987092A JP 1987092 A JP1987092 A JP 1987092A JP H05217869 A JPH05217869 A JP H05217869A
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JP
Japan
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electron beam
contour
basic
energy
adjacent
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Pending
Application number
JP1987092A
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English (en)
Inventor
Yukinobu Shibata
幸延 柴田
Ikuo Takada
郁夫 高田
Akira Hirakawa
明 平川
Masamichi Kawano
雅道 川野
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 描画パタ−ンの輪郭精度、とくに狭い間隔を
おいた二つの描画パタ−ンの隣接部の輪郭精度を向上し
た電子線描画装置を提供する。 【構成】 描画パタ−ンを分解して得られる基本図形に
輪郭部を設け、基本図形の隣接辺の短い方の輪郭部を省
略し、電子線照射により各輪郭部に与えるエネルギ付与
量を中央部より高めるようにする。また、上記輪郭部情
報を基本図形の形状、位置情報等と共にファイル化す
る。また、電子線の加速電圧により上記エネルギ付与量
を制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】半導体など本発明は電子線描画装
置に関わり、IC,LSI等の複雑、精緻なパタ−ン図
形の描画精度を向上した電子線描画装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の電子線描画装置においては、多角
形等の複雑なパタ−ン図形を矩形、台形、平行四辺形等
の基本パタ−ンに分解してファイルに格納して順次描画
制御系へ転送し、照射する電子線エネルギ密度を各基本
パタ−ンの中心部では周辺の輪郭部より低く設定して描
画するようにしていた。
【0003】しかしながら、上記輪郭部が接する部分で
は上記電子線エネルギ密度が過大となって描画精度を劣
化させるので、いくつかの改良方法が提案されていた。
すなわち、特開昭62−257724号公報には、上記
分割部に照射する電子線のエネルギをブランキングによ
り補正することが開示されている。また、特開昭59−
119834号公報には、上記基本パタ−ンの形状を予
め変えて上記重なり部の形状を補正することが開示され
ている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術において
は、上記基本パタ−ンが微小な間隙をおいて隣接する場
合に、各輪郭部に照射される電子線エネルギの影響が間
隙部におよび、間隙部の輪郭がぼけるという問題を十分
に改善することができなかった。上記微小間隙部の「輪
郭ぼけ」につき、図2〜8を用いて説明する。図2は微
小な間隙をおいて配置された二つの描画パタ−ン1と2
の平面図である。
【0005】描画パタ−ン1、2の間隙部の辺5と6は
双方に照射される電子線の散乱により図2の輪郭3、4
のように拡がり、また、だれて歪んでしまう。これを近
接効果現象と呼んでいる。この原因は電子線エネルギが
散乱により拡がるためであり、このため試料上の感光剤
は電子線が照射された部分の周辺部にまで拡がって感光
する。この結果、パタ−ン間の間隙部におけるエネルギ
堆積量レベルが図3の7の上昇すると間隙部の輪郭は図
2の3、4のようにだれてしまうのである。なお、図3
は図2のa−a’断面におけるエネルギ堆積量を示して
いる。
【0006】従来装置においては、上記「だれ」の防止
するためには図4に示すように各描画パタ−ンをその輪
郭部と中心部とに分離し、中心部にくらべて輪郭部の電
子線照射によるエネルギ付与量を大きくするようにして
いた。また従来の電子線描画装置においては、描画パタ
−ンを単純な矩形、台形、平行四辺形等の基本図形に分
解してから各基本図形を順次描画するので、例えば図2
のパタ−ン1、2においては、これらを図5の11、1
2および21、22のように分解し、次いで図6に示す
ように各基本図形毎に輪郭部を設け、各輪郭部に照射す
る電子線のエネルギ付与量を中心部にくらべて強くする
ようにしていた。
【0007】この結果、例えば図6のa−a’断面にお
けるエネルギ付与量は図7のようになり、これに対応す
るエネルギ堆積量は図8のようなっていた。この場合、
図6の輪郭部36と37が隣接するのでその部分のエネ
ルギ堆積量は図8のピ−ク361に示すように相対的に
大きくなり、その影響がパタ−ン間隙部に及ぶので、エ
ネルギ堆積量が71のように増加するという問題が生じ
ていた。本発明の目的は、上記間隙部の描画精度を向上
し、さらに他の輪郭部の描画精度も向上することのでき
る電子線描画装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、隣接する基本図形のそれぞれの辺の長さを比較して
短い方の辺の輪郭部を省略するようにする。このため、
各基本図形の形状情報と位置情報と上記隣接する基本図
形の隣接辺の長さ情報とを記憶するようにし、さらに、
上記隣接辺の長さ情報を(1)隣接辺の長さが等しい場
合と、(2)隣接辺の長さが不揃いな場合と、(3)隣
接辺が存在しない場合とに区分するフラグ情報とし、
(1)と(3)の場合には輪郭部の生成を省略し、
(2)の場合には長い方の隣接辺のみに輪郭部を設ける
ようにする。また、電子線のエネルギ密度を制御して上
記各輪郭部に照射する電子線のエネルギ堆積量を制御す
るようにし、電子線の加速電圧により上記電子線のエネ
ルギ密度を制御するようにする。
【0009】
【作用】上記隣接する基本図形の2辺の内、長い方の辺
にのみ輪郭部を設けることにより、辺の隣接部における
電子線のエネルギ堆積量が適正化される。また上記フラ
グ情報により、隣接する基本図形の2辺の大小関係を判
断して長い方の辺にのみに輪郭部が設けられる。また、
上記各輪郭部に照射する電子線のエネルギ堆積量が電子
線の加速電圧により制御される。
【0010】
【実施例】図1は本発明による電子線描画装置の構成図
である。デイスク106に登録された描画パタ−ンデ−
タは制御用計算機94からの描画開始指令にしたがいC
PUバス95を介して図形デ−タメモリ96に転送され
る。また、制御用計算機94は描画順序にしたがって図
形デ−タメモリ96の描画パタ−ンデ−タを呼び出して
基本パタ−ンに分解し、デ−タ制御系/信号処理系97
に描画指令を送り、本体102内の電子光学系の電子線
105を制御して描画を実行する。同時に制御用計算機
94は、ステ−ジ制御系98、ロ−ダ制御系98、真空
排気系100、電源制御系101等にも各描画シ−ケン
スに応じた制御指令を送る。また、本体102内の反射
電子センサ104によりステ−ジ103の位置や半導体
デバイス、マスク、レティクル等の試料107に照射さ
れる電子線の状態を検知して信号処理系97、デ−タ制
御系97に信号を送り、上記描画の補正を行なう。
【0011】従来技術においては例えば図6に示すよう
に、各基本図形の輪郭部に中心部より大きな電子線照射
エネルギを付与するようにしていた。しかし、図6の3
6、37のように輪郭部が接する部分ではエネルギ堆積
量が過大となるのでその影響により描画パタ−ン1と2
の間隙部のエネルギ堆積量レベルが上昇して描画パタ−
ンが歪むという問題があった。
【0012】本発明では上記輪郭部の隣接を避けるた
め、例えば描画パタ−ン2の各基本図形21、22の輪
郭部を図9のようにする。すなわち、図6における輪郭
部36と同37のうち、輪郭部の短い36を省略して上
記エネルギ堆積量が局部的に過大になる点を防止する。
描画パタ−ン1についても同様である。また、描画パタ
−ン1と2の間隙部の各輪郭部のエネルギ堆積量を他の
輪郭部のエネルギ堆積量より低め、さらに、中央部のエ
ネルギ堆積量を輪郭部のエネルギ堆積量より低めて描画
パタ−ン1と2の間隙部に堆積するエネルギ量を十分に
低下させるようにする。
【0013】次ぎに上記輪郭部36の省略方法について
説明する。例えば描画パタ−ン2を基本図形21と22
に分割する場合には、基本図形21と22の隣接辺の長
い方に例えばフラグ1をセットし、短い辺にはフラグ2
をセットする。フラグ1はその辺に輪郭部を設けること
を意味し、フラグ2は輪郭部を設けないことを意味す
る。図12の50ように隣接辺の長さが等しい場合には
双方の辺にフラグを2として双方に輪郭部を設けないよ
うにし、また、隣接辺が存在しない場合にはフラグを0
とする。フラグ0は輪郭部を設ける辺が存在しないこと
を意味する。
【0014】本発明では上記フラグを他の基本図形デ−
タとともに例えば図10のようなフォ−マットで表現し
てファイルする。図10に示したファイルの最上欄には
例えば図11のような基本図形の各辺のフラグを記載
し、第2、3欄には基準座標値XとYを、また、第4、
5欄に基本図形の幅Wと高さHを記載し、第6欄には上
記基本図形に対応する電子線照射エネルギ量のテ−ブル
番号を記載する。図13は上記ファイルの作成過程を示
すフロ−チャ−トである。
【0015】上記ファイルは図1の図形デ−タ用メモリ
96に格納され、そのデ−タに基づいて制御用計算機9
4は描画制御系(デ−タ制御系/信号処理系97、ステ
−ジ制御系98)を制御して輪郭分解をする/しないを
判別し、基本図形の輪郭部(図9の34、37〜43)
と中央部(図9の35、38)のそれぞれに指定された
エネルギが堆積されるように電子線を照射する。
【0016】図14は本発明における描画パタ−ン1と
同2の間隙部を含む部分の電子線エネルギ付与量を示す
図であり、図7の310から370の部分に対応してい
る。なお、本発明では上記のようにパタ−ン2の輪郭部
36が省略されるので図7の360も省略される。図1
4のネルギ付与量に対応して、図15に示すようなエネ
ルギ堆積量分布が得られる。上記輪郭部36の省略によ
り図8の361に対応するエネルギ堆積量の山が図15
の371のように低くなり、またその幅も狭くなるの
で、描画パタ−ン1と同2の間隙部におけるエネルギ堆
積量は72のように低くなり、間隙部の描画歪が低減さ
れる。
【0017】従来装置では、電子線の加速電圧を一定に
して照射時間を調整することにより上記各輪郭部や中央
部のエネルギ堆積量を制御するようにしていた。しかし
ながら、電子線のエネルギは加速電圧に比例し、また、
上記電子線のエネルギが高くなると電子線のエネルギが
試料106上にて拡がる範囲、すなわち露光範囲が狭く
なるので、本発明では上記各部のエネルギ堆積量を電子
線の加速電圧により調整するようにする。例えば輪郭部
31のエネルギ堆積量310を加速電圧により高める
と、その輪郭の「切れ」を良くなり「だれ」が低減され
る。
【0018】
【発明の効果】上記のように隣接する基本図形の2辺の
内、長い方の辺にのみ輪郭部を設けることによりこの部
分のエネルギ堆積量が減少するので、上記基本図形の他
の辺に及ぼす影響も低減され、これにより狭い間隔をお
いて隣接する二つの描画パタ−ンの間隙部のエネルギ堆
積レベルを低下してその部分の描画歪を低減することが
できる。
【0019】また、隣接する基本図形の2辺の長さが等
しい場合には輪郭部を設けないようにするので、その部
分のエネルギ堆積量の増加により生じる描画歪を除去す
ることができる。また、各基本図形の情報に上記隣接辺
情報を加えて一括記憶することにより、上記基本図形隣
接部の電子線描画を効率化することが出来る。さらに、
上記各輪郭部に照射する電子線のエネルギを電子線の加
速電圧により制御することにより上記各輪郭部のエネル
ギ堆積量の幅を狭くして、電子線描画の精度を向上する
ことができる。以上により、半導体デバイスの描画精度
を向上した電子線描画を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による電子線描画装置の構成図である。
【図2】狭い間隔をおいて隣接する二つの描画パタ−ン
の平面図である。
【図3】図2におけるa−a’断面のエネルギ堆積量分
布図である。
【図4】図2の各描画パタ−ンに輪郭部を設けた平面図
である。
【図5】図2の各描画パタ−ンを基本図形に分解した平
面図である。
【図6】図5の各基本図形に輪郭部を設けた平面図であ
る。
【図7】図6におけるa−a’断面のエネルギ付与量の
分布図である。
【図8】図6におけるa−a’断面のエネルギ堆積量分
布図である。
【図9】本発明における輪郭部配置を示す平面図であ
る。
【図10】本発明における基本図形情報を記述するファ
イルの図デ−タある。
【図11】基本図形の一例である。
【図12】隣接する二つの基本図形例である。
【図13】本発明における基本図形処理のフロ−チャ−
トである。
【図14】図6のa−a’断面における本発明のエネル
ギ付与量の分布図である。
【図15】図14に対応するエネルギ堆積量分布図であ
る。
【符号の説明】
1、2 各描画パタ−ン 3、4 実際の描画パタ−ンの辺 5、6 正しい描画パタ−ンの辺 7、71、72 二つの描画パタ−ン間隙部のエネルギ
堆積量 11、12、21、22 各基本図形 31、33、34、36、37 各輪郭 32、35、38 各中心部 94 電子線描画装置の制御用計算機 95 制御用計算機のCPUバス 96 図形デ−タ用メモリ 97 デ−タ制御系/信号処理系 98 ステ−ジ制御系 99 ロ−ダ制御系 100 真空排気系 101 電源制御系 102 本体 103 ステ−ジ 104 反射電子センサ 105 電子線 106 ディスク 107 試料 310、330 各輪郭部のエネルギ付与量 320、350 各中心部のエネルギ堆積量
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川野 雅道 茨城県勝田市大字市毛882番地 株式会社 日立製作所計測器事業部内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料上に描画する図形パタ−ンを矩形、
    台形、平行四辺形等の基本図形の集合に分解する手段
    と、上記各基本図形の周辺に輪郭部を設ける手段と、上
    記試料の輪郭部に照射するの電子線のエネルギ堆積量を
    上記輪郭部に囲まれた中央部に照射する電子線のエネル
    ギ堆積量より高める手段とを備えた電子線描画装置にお
    いて、上記基本図形が隣接する場合に隣接する基本図形
    のそれぞれの辺の長さを比較して短い方の辺の上記輪郭
    部の形成を省略する手段を備えたことを特徴とする電子
    線描画装置。
  2. 【請求項2】 請求項1において、上記基本図形の形状
    情報と位置情報と上記隣接する基本図形の隣接辺の長さ
    情報とを格納する記憶手段を備えたことを特徴とする電
    子線描画装置。
  3. 【請求項3】 請求項2において、上記記憶手段に格納
    する上記基本図形の隣接辺の長さ情報をフラグ情報と
    し、上記フラグ情報により(1)隣接辺の長さが等しい
    場合と、(2)隣接辺の長さが不揃いな場合と、(3)
    隣接辺が存在しない場合とに区分し、上記輪郭部生成手
    段は上記(1)と(3)の場合に輪郭部の生成を省略
    し、(2)の場合には長い方の隣接辺のみに輪郭部を生
    成するようにしたことを特徴とする電子線描画装置。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし3のいずれかにおいて、
    電子線のエネルギ密度を制御する手段を備え、これによ
    り上記各輪郭部に照射する電子線のエネルギ堆積量を制
    御するようにしたことを特徴とする電子線描画装置。
  5. 【請求項5】 請求項4において、上記電子線のエネル
    ギ密度制御手段を電子線の加速電圧により電子線のエネ
    ルギ密度を制御するものとしたことを特徴とする電子線
    描画装置。
JP1987092A 1992-02-05 1992-02-05 電子線描画装置 Pending JPH05217869A (ja)

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JP (1) JPH05217869A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5958636A (en) * 1996-11-11 1999-09-28 Nec Corporation Pattern drawing method using charged particle beams
JP2010129900A (ja) * 2008-11-28 2010-06-10 Dainippon Printing Co Ltd 描画データ作成プログラム、描画データ作成方法、描画データ作成装置、描画システム

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5958636A (en) * 1996-11-11 1999-09-28 Nec Corporation Pattern drawing method using charged particle beams
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