JPH0519950Y2 - - Google Patents
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- JPH0519950Y2 JPH0519950Y2 JP1987142739U JP14273987U JPH0519950Y2 JP H0519950 Y2 JPH0519950 Y2 JP H0519950Y2 JP 1987142739 U JP1987142739 U JP 1987142739U JP 14273987 U JP14273987 U JP 14273987U JP H0519950 Y2 JPH0519950 Y2 JP H0519950Y2
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 73
- 239000012809 cooling fluid Substances 0.000 claims description 57
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 47
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 26
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 24
- 239000012774 insulation material Substances 0.000 claims description 6
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 3
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 17
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 13
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 2
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 238000002791 soaking Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N Alumina Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 229910052878 cordierite Inorganic materials 0.000 description 1
- JSKIRARMQDRGJZ-UHFFFAOYSA-N dimagnesium dioxido-bis[(1-oxido-3-oxo-2,4,6,8,9-pentaoxa-1,3-disila-5,7-dialuminabicyclo[3.3.1]nonan-7-yl)oxy]silane Chemical compound [Mg++].[Mg++].[O-][Si]([O-])(O[Al]1O[Al]2O[Si](=O)O[Si]([O-])(O1)O2)O[Al]1O[Al]2O[Si](=O)O[Si]([O-])(O1)O2 JSKIRARMQDRGJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 229910001415 sodium ion Inorganic materials 0.000 description 1
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- Furnace Details (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この考案は、冷却流体を流して反応管の急速な
冷却を可能とした半導体熱処理装置に関する。
冷却を可能とした半導体熱処理装置に関する。
半導体基板たとえばシリコンウエーハ(以下、
ウエーハという)は、ウエーハボートに積載され
て半導体熱処理装置の反応管内に搬入される。そ
して、たとえば、反応管の内部温度をほぼ1200℃
にし、反応管内のウエーハをほぼ1200℃に加熱し
て、拡散酸化等の、熱処理が施されている。熱処
理後、ウエーハを積載したウエーハボートが反応
管から搬出され、ウエーハは次工程に送られる。
ほぼ1200℃という高温に加熱されたウエーハが、
もし、高温のまま反応炉から搬出されて外気に触
れると、温度雰囲気の急激な変化によつて、ウエ
ーハに熱変形や内部歪が生じる。そのため、反応
管を冷却し、反応管の内部温度を800℃程度に降
下させて、ウエーハを冷却した後、ウエーハは反
応管から搬出されている。
ウエーハという)は、ウエーハボートに積載され
て半導体熱処理装置の反応管内に搬入される。そ
して、たとえば、反応管の内部温度をほぼ1200℃
にし、反応管内のウエーハをほぼ1200℃に加熱し
て、拡散酸化等の、熱処理が施されている。熱処
理後、ウエーハを積載したウエーハボートが反応
管から搬出され、ウエーハは次工程に送られる。
ほぼ1200℃という高温に加熱されたウエーハが、
もし、高温のまま反応炉から搬出されて外気に触
れると、温度雰囲気の急激な変化によつて、ウエ
ーハに熱変形や内部歪が生じる。そのため、反応
管を冷却し、反応管の内部温度を800℃程度に降
下させて、ウエーハを冷却した後、ウエーハは反
応管から搬出されている。
半導体熱処理装置は、反応管の回りに配設され
たヒータ、たとえば、ヒートコイルによつて反応
管を加熱して、反応管内のウエーハを間接的に加
熱している。そして、ヒートコイル、炉体カバー
間に、断熱材が配設されている。この断熱材は、
反応管を効率よく加熱する観点から有効である反
面、反応管からの放熱の障害となり自然冷却を妨
げて反応管の迅速な冷却を困難とする。そのた
め、反応管の冷却に長時間を要して、大きな時間
的損失を招き、半導体熱処理装置の稼働率を低い
ものとしている。
たヒータ、たとえば、ヒートコイルによつて反応
管を加熱して、反応管内のウエーハを間接的に加
熱している。そして、ヒートコイル、炉体カバー
間に、断熱材が配設されている。この断熱材は、
反応管を効率よく加熱する観点から有効である反
面、反応管からの放熱の障害となり自然冷却を妨
げて反応管の迅速な冷却を困難とする。そのた
め、反応管の冷却に長時間を要して、大きな時間
的損失を招き、半導体熱処理装置の稼働率を低い
ものとしている。
冷却時間を短縮して急速冷却を行なうために、
所定の熱処理終了後、反応管、ヒートコイル間の
隙間に冷却流体を流して反応管を強制的に冷却す
る構成が提案されている。冷却流体として、常温
の空気が一般に使用されるが、窒素ガスや、ヘリ
ウム、ネオン、アルゴン等のような不活性ガスを
使用することもある。ここで、軸線方向にのびた
冷却流体用パイプが、反応管、ヒートコイルの間
の隙間に配設され、パイプの先端を開口させて、
流出口としている。そして、冷却流体は、反応
管、ヒートコイル間の隙間に先端の流出口から流
出し、反応管、ヒートコイルから熱を奪いなが
ら、その隙間内を流れ、排出口から外部に放出さ
れる。そのため、この強制冷却によれば、反応管
の急速冷却が可能となり、冷却時間が短縮され
て、半導体熱処理装置の稼働率が改善される。
所定の熱処理終了後、反応管、ヒートコイル間の
隙間に冷却流体を流して反応管を強制的に冷却す
る構成が提案されている。冷却流体として、常温
の空気が一般に使用されるが、窒素ガスや、ヘリ
ウム、ネオン、アルゴン等のような不活性ガスを
使用することもある。ここで、軸線方向にのびた
冷却流体用パイプが、反応管、ヒートコイルの間
の隙間に配設され、パイプの先端を開口させて、
流出口としている。そして、冷却流体は、反応
管、ヒートコイル間の隙間に先端の流出口から流
出し、反応管、ヒートコイルから熱を奪いなが
ら、その隙間内を流れ、排出口から外部に放出さ
れる。そのため、この強制冷却によれば、反応管
の急速冷却が可能となり、冷却時間が短縮され
て、半導体熱処理装置の稼働率が改善される。
もし、冷却中での反応管の温度分布が軸線方向
に一定でないと、物理的に同一な特性を持つウエ
ーハが得られない。そのため、通常、軸線方向に
のびた冷却流体用パイプの長さを変え、前端の開
口、つまり、冷却流体の流出口が螺旋階段状に位
置するように、冷却流体用パイプが配設されてい
る。このような構成では、流出口の位置、流体の
流量を調製することによつて、軸線方向における
温度分布を均一に維持したまま、反応管が冷却さ
れる。
に一定でないと、物理的に同一な特性を持つウエ
ーハが得られない。そのため、通常、軸線方向に
のびた冷却流体用パイプの長さを変え、前端の開
口、つまり、冷却流体の流出口が螺旋階段状に位
置するように、冷却流体用パイプが配設されてい
る。このような構成では、流出口の位置、流体の
流量を調製することによつて、軸線方向における
温度分布を均一に維持したまま、反応管が冷却さ
れる。
しかしながら、冷却流体用パイプの配設された
ヒートコイル、反応管間の隙間は、反応管の内部
温度をほぼ1200℃とするために、ヒートコイルへ
の通電によつて1300〜1350℃に高温化される。そ
のため、耐熱性、絶縁性にすぐれ、ヒートシヨツ
クにも強い材質から冷却流体用パイプを成形する
必要があり、一般に、冷却流体用パイプは、アル
ミナセラミツク、コージライト等から成形されて
いる。しかし、1300〜1350℃に加熱された冷却流
体用パイプ内に常温の空気を流して、反応管、ヒ
ータ間の隙間を800℃程度に冷却している。その
ため、冷却流体用パイプは1300〜1350℃への加熱
と常温空気による冷却を繰返し受け、耐熱性、ヒ
ートシヨツクの点から十分でなく、長期間使用す
ると、冷却流体用パイプの変形、割れが生じ、冷
却流体用パイプの耐久性が問題となつている。
ヒートコイル、反応管間の隙間は、反応管の内部
温度をほぼ1200℃とするために、ヒートコイルへ
の通電によつて1300〜1350℃に高温化される。そ
のため、耐熱性、絶縁性にすぐれ、ヒートシヨツ
クにも強い材質から冷却流体用パイプを成形する
必要があり、一般に、冷却流体用パイプは、アル
ミナセラミツク、コージライト等から成形されて
いる。しかし、1300〜1350℃に加熱された冷却流
体用パイプ内に常温の空気を流して、反応管、ヒ
ータ間の隙間を800℃程度に冷却している。その
ため、冷却流体用パイプは1300〜1350℃への加熱
と常温空気による冷却を繰返し受け、耐熱性、ヒ
ートシヨツクの点から十分でなく、長期間使用す
ると、冷却流体用パイプの変形、割れが生じ、冷
却流体用パイプの耐久性が問題となつている。
また、厳密に物理的に同一な特性を持つウエー
ハを得るには、円周方向にも反応管を均一に冷却
する必要がある。しかしながら、冷却流体の流出
口を螺旋階段状に配置した公知の構成では、反応
管を円周方向に均一に冷却できない。
ハを得るには、円周方向にも反応管を均一に冷却
する必要がある。しかしながら、冷却流体の流出
口を螺旋階段状に配置した公知の構成では、反応
管を円周方向に均一に冷却できない。
更に、冷却流体用パイプは、ヒートコイル、反
応管から離反してそれらの間に配設される。その
ため、冷却流体用パイプの装着にテクニツクを必
要とし、容易に行なえない。また、冷却流体用パ
イプの確実な固定が難しく、冷却流体用パイプ
は、構造上、もろく、破損しやすい。
応管から離反してそれらの間に配設される。その
ため、冷却流体用パイプの装着にテクニツクを必
要とし、容易に行なえない。また、冷却流体用パ
イプの確実な固定が難しく、冷却流体用パイプ
は、構造上、もろく、破損しやすい。
冷却流体用パイプの据付けスペースを確保する
ために、ヒートコイル、反応管間の隙間が大きく
なる傾向にある。そして、ヒートコイル、反応管
間の隙間が大きいと、ヒートコイルに通電し、加
熱したとき、この隙間で対流が生じやすく、安定
した温度雰囲気が得られない。
ために、ヒートコイル、反応管間の隙間が大きく
なる傾向にある。そして、ヒートコイル、反応管
間の隙間が大きいと、ヒートコイルに通電し、加
熱したとき、この隙間で対流が生じやすく、安定
した温度雰囲気が得られない。
また、従来の構成では、冷却流体用パイプの開
口に近い部分で反応管は十分に冷却され、離れる
につれて、冷却が不十分となり、円周方向で反応
管を均一に冷却することが難しい。
口に近い部分で反応管は十分に冷却され、離れる
につれて、冷却が不十分となり、円周方向で反応
管を均一に冷却することが難しい。
この考案は、上記のような公知の構成における
欠点を除去した半導体熱処理装置、特に、軸線方
向だけでなく円周方向でも均一に冷却しながら、
急速な冷却を可能とする半導体熱処理装置の提供
を目的としている。
欠点を除去した半導体熱処理装置、特に、軸線方
向だけでなく円周方向でも均一に冷却しながら、
急速な冷却を可能とする半導体熱処理装置の提供
を目的としている。
この目的を達成するため、この考案によれば、
冷却流体用流路は断熱材内に設けられ、冷却流体
の流出口が軸線方向の異なる位置でヒータサイド
に開口されている。
冷却流体用流路は断熱材内に設けられ、冷却流体
の流出口が軸線方向の異なる位置でヒータサイド
に開口されている。
以下、図面を参照しながらこの考案の実施例に
ついて詳細に説明する。
ついて詳細に説明する。
第1図に示すように、この考案に係る半導体熱
処理装置10は、熱処理されるべきシリコンウエ
ーハような半導体基板(図示しない)の収納され
る反応管12を具備し、反応管は炉体カバー14
内に垂直に配設されている。そして、反応管12
の下端に設けられた反応ガス導入部15から、反
応ガスが反応管の内部に導入される。反応管12
を加熱するために、ヒータ、たとえば、ヒートコ
イル16が反応管の周囲に配設されている。反応
管12は、一般に、中央部が両端部に比較して加
熱されやすい。そのため、軸線方向で反応管12
を均一に加熱するように、ヒートコイル16は、
複数、たとえば、上中下の3個のセクシヨンに分
割され、それぞれのセクシヨンに供給される電流
値を制御して、ヒートコイルの加熱温度が調製さ
れている。更に、断熱材18がヒートコイル1
6、炉体カバー14間に配設されている。
処理装置10は、熱処理されるべきシリコンウエ
ーハような半導体基板(図示しない)の収納され
る反応管12を具備し、反応管は炉体カバー14
内に垂直に配設されている。そして、反応管12
の下端に設けられた反応ガス導入部15から、反
応ガスが反応管の内部に導入される。反応管12
を加熱するために、ヒータ、たとえば、ヒートコ
イル16が反応管の周囲に配設されている。反応
管12は、一般に、中央部が両端部に比較して加
熱されやすい。そのため、軸線方向で反応管12
を均一に加熱するように、ヒートコイル16は、
複数、たとえば、上中下の3個のセクシヨンに分
割され、それぞれのセクシヨンに供給される電流
値を制御して、ヒートコイルの加熱温度が調製さ
れている。更に、断熱材18がヒートコイル1
6、炉体カバー14間に配設されている。
この考案によれば、軸線方向にのびた複数本の
冷却流体用流路22が断熱材18内に設けられて
いる。そして、実施例では、断熱材18は成形品
19を組合せて成形され、成形品は、フアイバー
をプレス成形し、1400〜1800℃の高温に加熱し、
焼結して作られている。成形品19の成形を容易
に行なうために、成形品を円周方向、軸線方向に
それぞれ分割して成形することが好ましく、実施
例では、第2図からよくわかるように、円周方
向、軸線方向にそれぞれに4分割されている。そ
して、16個の同一形状の成形品19の継目に耐熱
性接着剤を塗布し、各成形品を円周方向に4個、
軸線方向に4個ずつ接着、連結して、円筒形の断
熱材18が形成されている。各成形品19は矩形
の凹み24を内壁に複数個持ち(第2図、第3図
参照)、ヒートコイル16を支持するブラケツト
(図示しない)がこの凹みに取付けられる。
冷却流体用流路22が断熱材18内に設けられて
いる。そして、実施例では、断熱材18は成形品
19を組合せて成形され、成形品は、フアイバー
をプレス成形し、1400〜1800℃の高温に加熱し、
焼結して作られている。成形品19の成形を容易
に行なうために、成形品を円周方向、軸線方向に
それぞれ分割して成形することが好ましく、実施
例では、第2図からよくわかるように、円周方
向、軸線方向にそれぞれに4分割されている。そ
して、16個の同一形状の成形品19の継目に耐熱
性接着剤を塗布し、各成形品を円周方向に4個、
軸線方向に4個ずつ接着、連結して、円筒形の断
熱材18が形成されている。各成形品19は矩形
の凹み24を内壁に複数個持ち(第2図、第3図
参照)、ヒートコイル16を支持するブラケツト
(図示しない)がこの凹みに取付けられる。
冷却流体用流路22は断熱材18内にパイプを
埋設して構成してもよい。しかし、実施例のよう
に、断熱材18を成形品19から作り、軸線方向
にのびた空洞26を成形品に設け、この空洞から
冷却流体用流路22を設けることが好ましい。第
3図に示すように、実施例では空洞26の断面形
状を円形としているが、円形以外の断面としても
よい。
埋設して構成してもよい。しかし、実施例のよう
に、断熱材18を成形品19から作り、軸線方向
にのびた空洞26を成形品に設け、この空洞から
冷却流体用流路22を設けることが好ましい。第
3図に示すように、実施例では空洞26の断面形
状を円形としているが、円形以外の断面としても
よい。
そして、空洞26よりなる冷却流体用流路22
は、流出口が軸線方向の異なる位置でヒータサイ
ド、つまり、半径方向内方に開口した流出口23
を備えている。冷却流体の流出口23は、第3
図、第4図に示すように、軸線と直交せず、軸線
に対して傾斜してのびるとともに、成形品の内壁
19aに対して傾斜して開口されている。このよ
うな形状では、冷却流体は渦流化されて流出口2
3から流出される。第1図、第4図に矢視するよ
うに、実施例では、冷却流体は、反応ガスと同様
に、下方から上方に流される。そして、流路22
を流れる冷却流体は、流出口23から、反応管1
2、ヒートコイル16間の隙間28に流出し、断
熱材18の上端で側方に開口する排気口(図示し
ない)を介して、外部に排出される。
は、流出口が軸線方向の異なる位置でヒータサイ
ド、つまり、半径方向内方に開口した流出口23
を備えている。冷却流体の流出口23は、第3
図、第4図に示すように、軸線と直交せず、軸線
に対して傾斜してのびるとともに、成形品の内壁
19aに対して傾斜して開口されている。このよ
うな形状では、冷却流体は渦流化されて流出口2
3から流出される。第1図、第4図に矢視するよ
うに、実施例では、冷却流体は、反応ガスと同様
に、下方から上方に流される。そして、流路22
を流れる冷却流体は、流出口23から、反応管1
2、ヒートコイル16間の隙間28に流出し、断
熱材18の上端で側方に開口する排気口(図示し
ない)を介して、外部に排出される。
同一の成形品19を組合わせて断熱材18を形
成できるように、空洞26は成形品19を軸線方
向に貫通して形成されている。そして、軸線方向
の異なる位置に開口する流路の流出口23の位置
に応じて、プラグ30を、たとえば、成形品19
の上端で空洞26に取付けて、流路の有効長さを
限定することが好ましい。流路の流出口23は、
たとえば、螺旋階段状に配置される。そのため、
第2図において、8個の空洞26を反時計方向に
26a〜26d,26a〜26dとすれば、空洞
26aは最下段の成形品19の上端で、空洞26
bは下から2段目の成形品の上端で、空洞26C
は上から2段目の成形品の上端で、空洞26dは
最上段の成形品の上端で、プラグ30によつて、
それぞれ閉塞されている。なお、各成形品19に
おいて、流出口23は、第3図に示すように、た
とえば、隣接する流路の流出口と異なる位置で3
個ずつ設けられる。無論、図示の流出口23の
数、配列等は一例であり、これに限定されない。
成できるように、空洞26は成形品19を軸線方
向に貫通して形成されている。そして、軸線方向
の異なる位置に開口する流路の流出口23の位置
に応じて、プラグ30を、たとえば、成形品19
の上端で空洞26に取付けて、流路の有効長さを
限定することが好ましい。流路の流出口23は、
たとえば、螺旋階段状に配置される。そのため、
第2図において、8個の空洞26を反時計方向に
26a〜26d,26a〜26dとすれば、空洞
26aは最下段の成形品19の上端で、空洞26
bは下から2段目の成形品の上端で、空洞26C
は上から2段目の成形品の上端で、空洞26dは
最上段の成形品の上端で、プラグ30によつて、
それぞれ閉塞されている。なお、各成形品19に
おいて、流出口23は、第3図に示すように、た
とえば、隣接する流路の流出口と異なる位置で3
個ずつ設けられる。無論、図示の流出口23の
数、配列等は一例であり、これに限定されない。
上記のように、この考案によれば、冷却流体用
流路22が断熱材18内に設けられているため、
従来のようなパイプの変形、割れを考慮する必要
がない。また、流路の流出口23が軸線方向の異
なる位置でヒートサイドに開口されているため、
軸線方向において、反応管12を均一に冷却でき
る。
流路22が断熱材18内に設けられているため、
従来のようなパイプの変形、割れを考慮する必要
がない。また、流路の流出口23が軸線方向の異
なる位置でヒートサイドに開口されているため、
軸線方向において、反応管12を均一に冷却でき
る。
そして、焼結した成形品19から断熱材18を
形成すれば、成形品に設けた空洞26から冷却流
体用流路22を構成できる。そのため、冷却流体
用パイプが不要となり、半導体熱処理装置10の
構成が簡単化されるとともに、パイプの取付け作
業が省略され、半導体熱処理装置の組立てが容易
に行なえる。
形成すれば、成形品に設けた空洞26から冷却流
体用流路22を構成できる。そのため、冷却流体
用パイプが不要となり、半導体熱処理装置10の
構成が簡単化されるとともに、パイプの取付け作
業が省略され、半導体熱処理装置の組立てが容易
に行なえる。
また、冷却流体用流路22は断熱材18の厚さ
を増加させることなく断熱材内に形成できる。そ
して、冷却流体用パイプを反応管12、ヒートコ
イル16間の隙間28に配設しないため、隙間2
8は小さくなり、内径の小さな軽量のヒートコイ
ル16が使用できる。そのため、半導体熱処理装
置10が小型、軽量化される。
を増加させることなく断熱材内に形成できる。そ
して、冷却流体用パイプを反応管12、ヒートコ
イル16間の隙間28に配設しないため、隙間2
8は小さくなり、内径の小さな軽量のヒートコイ
ル16が使用できる。そのため、半導体熱処理装
置10が小型、軽量化される。
更に、隙間28が小さくなるため、対流の発生
が抑制され、安定した温度雰囲気が確保される。
が抑制され、安定した温度雰囲気が確保される。
流出口23が軸線に対して傾斜してのびるとと
もに、断熱材の内壁19aに対して傾斜して開口
した実施例の構成では、冷却流体は反応管12に
対して直角に流出されず、反応管の接線方向に渦
流化されて噴出される。そして、冷却流体は、反
応管12に激突せず、反応管に沿つて流れ、反応
管に斜め方向からゆるやかに接触するにすぎな
い。つまり、ほぼ常温の冷却流体が1300〜1350℃
の反応管12に激突することなく、渦流化されて
ゆるやかに接触して流れる。そのため、円周方向
にも均一に冷却されるとともに、急激な温度変化
を生じることなく冷却され、急激な温度変化に起
因する反応管の破損が阻止される。
もに、断熱材の内壁19aに対して傾斜して開口
した実施例の構成では、冷却流体は反応管12に
対して直角に流出されず、反応管の接線方向に渦
流化されて噴出される。そして、冷却流体は、反
応管12に激突せず、反応管に沿つて流れ、反応
管に斜め方向からゆるやかに接触するにすぎな
い。つまり、ほぼ常温の冷却流体が1300〜1350℃
の反応管12に激突することなく、渦流化されて
ゆるやかに接触して流れる。そのため、円周方向
にも均一に冷却されるとともに、急激な温度変化
を生じることなく冷却され、急激な温度変化に起
因する反応管の破損が阻止される。
また、フアイバーをプレス成形し、たとえば、
1400〜1800℃の高温に加熱し、焼結した成形品1
9から断熱材18を形成した実施例の構成では、
成形品の膨張、収縮の発生が抑制される。そのた
め、このような成形品19からなる断熱材18に
おいて、隙間の発生が防止され、断熱材の隙間を
介した熱や冷却流体の漏出が阻止されるため、安
定した温度雰囲気が確保される。
1400〜1800℃の高温に加熱し、焼結した成形品1
9から断熱材18を形成した実施例の構成では、
成形品の膨張、収縮の発生が抑制される。そのた
め、このような成形品19からなる断熱材18に
おいて、隙間の発生が防止され、断熱材の隙間を
介した熱や冷却流体の漏出が阻止されるため、安
定した温度雰囲気が確保される。
一般に、反応管12は、微細な孔を持つ石英ガ
ラスより形成されている。そして、反応管の側面
にコーテイング加工を施したり、側壁を厚くする
等の処置をしないと、冷却流体に含まれるナトリ
ウムイオン等の不純物が反応管12の側壁に浸透
して、反応管内に流入する虞れがある。そのた
め、高い純度の冷却流体を供給する必要がある。
しかし、第1図に一点鎖線で示すように、たとえ
ば、SiCから成る均熱管34をヒートコイル16
と反応管12との間に配設すれば、熱伝導が均一
化されるとともに、均熱管が不純物バリヤー(障
壁)として機能し、高い純度の冷却流体を供給す
る必要がなくなる。
ラスより形成されている。そして、反応管の側面
にコーテイング加工を施したり、側壁を厚くする
等の処置をしないと、冷却流体に含まれるナトリ
ウムイオン等の不純物が反応管12の側壁に浸透
して、反応管内に流入する虞れがある。そのた
め、高い純度の冷却流体を供給する必要がある。
しかし、第1図に一点鎖線で示すように、たとえ
ば、SiCから成る均熱管34をヒートコイル16
と反応管12との間に配設すれば、熱伝導が均一
化されるとともに、均熱管が不純物バリヤー(障
壁)として機能し、高い純度の冷却流体を供給す
る必要がなくなる。
たとえば、冷却流体用流路22に供給される冷
却流体の流量は、流路に連結されたパイプ36
(第1図参照)に設けられた流量制御弁(図示し
ない)を、パルスモータ(図示しない)によつて
自動的に絞つて制御される。ここで、パルスモー
タの動作を、ヒートコイル16の電流値に関連し
て制御することが好ましい。
却流体の流量は、流路に連結されたパイプ36
(第1図参照)に設けられた流量制御弁(図示し
ない)を、パルスモータ(図示しない)によつて
自動的に絞つて制御される。ここで、パルスモー
タの動作を、ヒートコイル16の電流値に関連し
て制御することが好ましい。
この考案は、拡散炉に限定されず、CVD処理
など種々の熱処理のための半導体熱処理装置に応
用できる。また、実施例では、反応管は垂直に配
設されているが、反応管が水平に位置する半導体
熱処理装置に応用してもよい。
など種々の熱処理のための半導体熱処理装置に応
用できる。また、実施例では、反応管は垂直に配
設されているが、反応管が水平に位置する半導体
熱処理装置に応用してもよい。
上述した実施例は、この考案を説明するための
ものであり、この考案を何等限定するものでな
く、この考案の技術範囲内で変形、改造等の施さ
れたものも全てこの考案に包含されることはいう
までもない。
ものであり、この考案を何等限定するものでな
く、この考案の技術範囲内で変形、改造等の施さ
れたものも全てこの考案に包含されることはいう
までもない。
上記のようにこの考案によれば、冷却流体用流
路は、高温化される反応管、ヒータ間の隙間でな
く、断熱材内に位置しているため、高温化され
ず、変形、割れが防止され、構造上、破損しにく
い。特に、成形品から断熱材を形成すれば、断熱
材に設けた空洞から冷却流体用流路が構成でき、
パイプが不要となる。そのため、半導体熱処理装
置の構成が簡単化でき、かつ、パイプの取付け作
業が省略されるため、半導体熱処理装置の組立て
が容易に行なえる。
路は、高温化される反応管、ヒータ間の隙間でな
く、断熱材内に位置しているため、高温化され
ず、変形、割れが防止され、構造上、破損しにく
い。特に、成形品から断熱材を形成すれば、断熱
材に設けた空洞から冷却流体用流路が構成でき、
パイプが不要となる。そのため、半導体熱処理装
置の構成が簡単化でき、かつ、パイプの取付け作
業が省略されるため、半導体熱処理装置の組立て
が容易に行なえる。
また、冷却流体の流出口が軸線方向の異なる位
置でヒータサイドに開口しているため、軸線方向
での反応管の均一冷却が確保される。
置でヒータサイドに開口しているため、軸線方向
での反応管の均一冷却が確保される。
更に、反応管、ヒータ間の隙間が小さくなり、
内径の小さな軽量のヒータが採用できるため、半
導体熱処理装置が小型、軽量化される。また、反
応管、ヒータ間の隙間が小さくなるため、軸線方
向の対流がこの隙間に生じにくくなり、安定した
温度雰囲気が確保される。
内径の小さな軽量のヒータが採用できるため、半
導体熱処理装置が小型、軽量化される。また、反
応管、ヒータ間の隙間が小さくなるため、軸線方
向の対流がこの隙間に生じにくくなり、安定した
温度雰囲気が確保される。
そして、流出口が冷却流体の流出口が断熱材の
軸線に対して傾斜してのびるとともに、断熱材の
内壁に対して傾斜して開口されている。このよう
に三次元的に傾斜して開口しているため、冷却流
体は、反応管に激突することもなく、接線方向に
渦流化されて反応管に沿つて流れ、反応管に斜め
方向から緩やかに接触し、反応管は円周方向にも
均一に冷却されるとともに、急激な温度変化を生
じることなく冷却される。
軸線に対して傾斜してのびるとともに、断熱材の
内壁に対して傾斜して開口されている。このよう
に三次元的に傾斜して開口しているため、冷却流
体は、反応管に激突することもなく、接線方向に
渦流化されて反応管に沿つて流れ、反応管に斜め
方向から緩やかに接触し、反応管は円周方向にも
均一に冷却されるとともに、急激な温度変化を生
じることなく冷却される。
第1図は、この考案に係る半導体熱処理装置の
縦断面図、第2図は、断熱材の概略斜視図、第3
図、第4図は、断熱材用成形品の平面図、正面図
である。 10……半導体熱処理装置、12……反応管、
14……炉体カバー、16……ヒートコイル、1
8……断熱材、19……断熱材用成形品、19a
……成形品の内壁、22……冷却流体用流路、2
3……冷却流体用流路の流出口、26……成形品
の空洞、28……反応管、ヒートコイル間の隙
間、30……空洞閉塞用プラグ、34……均熱
管。
縦断面図、第2図は、断熱材の概略斜視図、第3
図、第4図は、断熱材用成形品の平面図、正面図
である。 10……半導体熱処理装置、12……反応管、
14……炉体カバー、16……ヒートコイル、1
8……断熱材、19……断熱材用成形品、19a
……成形品の内壁、22……冷却流体用流路、2
3……冷却流体用流路の流出口、26……成形品
の空洞、28……反応管、ヒートコイル間の隙
間、30……空洞閉塞用プラグ、34……均熱
管。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 反応管を加熱するヒータの熱が外部に漏出す
るのを防止するために、断熱材を炉体カバーと
ヒータとの間に配設した半導体熱処理装置にお
いて、 断熱材の軸線方向にのびた複数本の冷却流体
用流路が断熱材内に設けられ、 冷却流体の流出口が、断熱材の軸線に対して
傾斜してのびるとともに、断熱材の内壁に対し
て傾斜して開口されて、軸線方向の異なる位置
でヒータサイドに設けられていることを特徴と
する半導体熱処理装置。 (2) 断熱材がフアイバーをプレスし高温で焼成し
た成形品からなり、冷却流体用流路が成形品に
設けられた空洞より形成されている請求項1記
載の半導体熱処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1987142739U JPH0519950Y2 (ja) | 1987-09-18 | 1987-09-18 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1987142739U JPH0519950Y2 (ja) | 1987-09-18 | 1987-09-18 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6448022U JPS6448022U (ja) | 1989-03-24 |
JPH0519950Y2 true JPH0519950Y2 (ja) | 1993-05-25 |
Family
ID=31408943
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1987142739U Expired - Lifetime JPH0519950Y2 (ja) | 1987-09-18 | 1987-09-18 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0519950Y2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4607678B2 (ja) * | 2005-06-15 | 2011-01-05 | 東京エレクトロン株式会社 | 熱処理装置、ヒータ及びヒータの製造方法 |
JP4739057B2 (ja) * | 2006-02-20 | 2011-08-03 | 東京エレクトロン株式会社 | 熱処理装置、ヒータ及びその製造方法 |
JP5543196B2 (ja) * | 2009-12-28 | 2014-07-09 | 株式会社日立国際電気 | 加熱装置及び基板処理装置並びに半導体装置の製造方法 |
JP5993272B2 (ja) * | 2012-10-18 | 2016-09-14 | 東京エレクトロン株式会社 | 断熱壁体の製造方法 |
JP6091377B2 (ja) * | 2013-08-21 | 2017-03-08 | 東京エレクトロン株式会社 | 断熱壁体の製造方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56146227A (en) * | 1980-04-16 | 1981-11-13 | Hitachi Ltd | Heat treatment furnace |
JPS61241916A (ja) * | 1985-04-18 | 1986-10-28 | Deisuko Saiyaa Japan:Kk | 半導体熱処理装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59143039U (ja) * | 1983-03-11 | 1984-09-25 | 富士通株式会社 | 加熱炉 |
-
1987
- 1987-09-18 JP JP1987142739U patent/JPH0519950Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56146227A (en) * | 1980-04-16 | 1981-11-13 | Hitachi Ltd | Heat treatment furnace |
JPS61241916A (ja) * | 1985-04-18 | 1986-10-28 | Deisuko Saiyaa Japan:Kk | 半導体熱処理装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6448022U (ja) | 1989-03-24 |
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