JPH0519650B2 - - Google Patents

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JPH0519650B2
JPH0519650B2 JP10436884A JP10436884A JPH0519650B2 JP H0519650 B2 JPH0519650 B2 JP H0519650B2 JP 10436884 A JP10436884 A JP 10436884A JP 10436884 A JP10436884 A JP 10436884A JP H0519650 B2 JPH0519650 B2 JP H0519650B2
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signal
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Ryuzo Kano
Hideyuki Miki
Masashi Endo
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/37Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using pneumatic detection

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (イ) 目的 (産業上の利用分野) 本発明は各種工業プロセスのガス濃度の監視や
制御、公害監視のための排ガス濃度測定などに使
用される分析計であつて、ガス分子の赤外線吸収
効果を利用してガス分子の赤外線吸収の強さによ
り試料ガス中の特定成分の濃度を測定する非分散
形赤外線ガス分析計に関する。
(従来の技術) 第7図には単光源を用いた従来の赤外線ガス分
析計を示す。1は光源で、その光源1に対し試料
セル2と比較セル3が同量の光が入射されるよう
に互いに平行に配置されている。試料セル2には
測定成分を含んだ試料ガスが流され、比較セル3
には赤外線を吸収しない窒素や空気などの不活性
ガスが充填されている。4は光源1から試料セル
2と比較セル3に入射される光を同時断続する光
チヨツパ、5,6は各セル2,3を透過して検出
器7に入射する光の量を調整する光量調整器であ
る。検出器7は金属薄膜8により2個の室9,1
0に仕切られ、両室9,10には測定成分ガスが
充填されて密閉されたコンデンサマイクロホン方
式の検出器であつて、金属薄膜8とそれに対向し
て設けられた電極11とでコンデンサを形成して
いる。12はその検出器7の信号検出回路であ
る。
この従来の赤外線ガス分析計では光量調整器
5,6により検出器7の両室9,10に入射する
光量が等しくならないように調整される。まず、
赤外線吸収をもたないN2のような不活性なガス
(ゼロガス)を試料セル2に流したとき、検出器
7へ入射される光量は比較セル3側の方が多くな
るように光量調整器5,6が調整されているとす
る。検出器7では室10の方が室9より多くの光
量が入射されるので金属薄膜8は左方向へふくら
む。検出器7の両室9,10へ入射する光は光チ
ヨツパ4により同時断続されているので、金属薄
膜8も一定周波数で振動し、その検出信号は第8
図の記号15で示されるように得られ、この信号
の振幅がゼロ点となる。
次に試料セル2に一定濃度の測定成分を含むガ
ス(スパンガス)を流して同様の測定をすれば、
試料セル2で赤外線の吸収が起つて試料セル2を
透過する光量が減少するので、検出信号は第8図
の記号16で示されるようにその振幅が大きくな
る。この検出信号16の振幅がスパン点となる。
そして、試料セル2に測定ガスを流して同様の
測定を行なうと、第8図の記号17で示されるよ
うに成分ガスの濃度に応じた振幅の検出信号が得
られるので、これをゼロ点とスパン点の間で比例
配分して試料ガス濃度を求めることができる。
この従来の赤外線ガス分析計では上述の如く試
料セル2と比較セル3の透過光をそれぞれ検出器
7の別々の室9と10に入射させ、両透過光量の
差により試料セル2中の成分ガスの濃度を測定す
るものであり、かつ試料セル2と比較セル3の透
過光量が等しくなつては検出器7の金属薄膜8が
停止して検出ができなくなるため、光量調整器
5,6により試料セル2と比較セル3の透過光量
が異なるように調整していた。
(発明が解決しようとする問題点) この従来の赤外線ガス分析計では、試料セルが
汚れて透過光量が低下した場合、光量バランスを
調整するために光量調整器により比較セル側の光
量も低下させていた。そして、その調整は手動で
行なわれているため、煩らわしいものであつた。
また、試料セル側の光量低下に応じて比較セル
側の光量も低下させるため感度が低下する問題が
あつた。
本発明は、試料セルが汚れた場合に感度を低下
させないで、また特別な光量調整機構を用いない
で、しかも自動的に光量バランスを調整すること
ができる赤外線ガス分析計を提供することを目的
とするものである。
(ロ) 構成 (問題点を解決するための手段) 本発明の赤外線ガス分析計では、1個の光源を
用い、この光源からの光が試料セルと比較セルを
それぞれ透過した透過光を1個の検出器に交互に
導入し、両透過光の検出信号を別々に取り出す。
検出器としてはコンデンサマイクロホンもしくは
マイクロフローセンサを使用した一方向形圧力検
出方式もしくは前後室形検出方式のもの、又は半
導体検出器のいずれのものでもよく、その検出器
への透過光の導入は試料セルと比較セルの入射側
又は透過側に設けられた光チヨツパ手段により制
御されるが、試料セル透過光の検出信号(以下測
定信号という)と比較セル透過光の検出信号(以
下比較信号という)が、好ましくは相互に干渉し
ない程度の時間間隔(僅かに干渉があつても実質
的に影響のない程度の時間間隔も含む)をもつて
両透過光が検出器に導入される。
この光チヨツパ手段はステツピングモータによ
り駆動され、そのステツピングモータの駆動パル
スを制御することにより、試料セルから検出器へ
の光導入量と、比較セルから検出器への光導入量
を個別に調整できるようになつている。
(作用) 試料セルが汚れた場合、光チヨツパ手段による
試料セル側の開口時間を長くすることにより、試
料セルから検出器への光導入量を増加させること
により、光量バランスをとるようにする。
両セルに関する光チヨツパ手段の開口時間を長
くすれば感度が高くなり、逆に開口時間を短かく
すれば感度が低くなる。
測定信号と比較信号の差が出力信号として用い
られる。
(実施例) 第1図は本発明の一実施例の光学系を表わす。
なお、各図において同一又は同等な部分には同
一の記号を使用する。
光源1から放射された赤外線は光チヨツパ20
により試料セル2と比較セル3にそれぞれ固有の
時間間隔で断続されて、試料セル2と比較セル3
に交互に導入される。21は試料セル2又は比較
セル3を透過した光を単一の検出器22に入射さ
せる集光器である。検出器22は前後室形検出器
であり、光の入射に対して前後に配置された2個
の室22−1,22−2を有し、各室22−1,
22−2には測定成分ガスが充填されて密閉され
ており、入射光はまず前室22−1に入り、その
透過光が後室22−2に入る。両室22−1,2
2−2における光吸収の差に応じた圧力差は両室
間に設けられた圧力差検出素子23により検出さ
れる。圧力差検出素子23としては、コンデンサ
マイクロホン又はマイクロフローセンサが使用さ
れる。
光チヨツパ20はパルス発生器50からの駆動
パルス信号により駆動されるステツピングモータ
51により回転させられ、光源1からの光を試料
セル2と比較セル3に交互に入射させるように光
束を断続する。パルス発生器50の出力信号は、
スイツチ52を経て入力される後述の信号に基い
て調整されるようになつている。このとき、試料
セル2用の開口24の開口時間と、比較セル3用
の開口25の開口時間はそれぞれ駆動パルス信号
により個別に制御されている。
そのような光チヨツパ20は例えば第2図に示
されるようなものであり、試料セル2用の開口2
4と比較セル3用の開口25が互いに離れた位置
に設けられている。26,27はこの光チヨツパ
20が光束を断続するタイミングを検出するため
のホトカプラ如き光検出器で、そのための開口2
8,29からの光を受光して第3図に示されるパ
ルス信号30,31を発生する。
この光チヨツパ20が試料セル2と比較セル3
に交互に光を入射させる回転速度は検出器22の
応答時間より遅くなるように設定されている。そ
の結果、検出器22の検出信号は、第3図に示さ
れるように比較信号32と測定信号33とが相互
に干渉しない孤立波となる。
次に第3図のように得られる本実施例の検出信
号の処理系統を再び第1図により説明する。
検出器22で検出された比較信号32及び測定
信号33は増幅器40で増幅された後、光検出器
26,27により光チヨツパ20のタイミングで
比較信号Rと測定信号Mに分離される。両信号は
引き算器41に入力されて面積値が算出された
後、その差が求められる。引き算器41の出力は
試料セル中の成分ガスの濃度に対応した出力信号
となる。スイツチ52は、試料セル2にゼロガス
が流されたときにオンとなるスイツチであり、そ
のときの引算器41の出力信号がゼロになるよう
にパルス発生器50によリステツピングモータ5
1の回転を制御して、試料セル2用の開口24の
開口時間を調整するためのものである。
本実施例において、まず、パルス発生器50に
より比較セル3用の開口25の開口時間が所定値
になるように設定しておく。試料セル2にまず測
定成分を含まないゼロガスを流す。それにより、
スイツチ52がオンとなり、引算器41の出力信
号がゼロになるようにパルス発生器50、ステツ
ピングモータ51を介して光チヨツパ20の回転
が制御され、試料セル2と比較セル3のそれぞれ
の透過光量の積分値が等しくなり、ゼロ点の出力
レベルも0レベルになる。ゼロガスの導入を停止
すればスイツチ52がオフとなり、パルス発生器
50の出力信号はそのときの値で固定される。
そして、その後、仮に光源の光量が変化したり
検出器の感度が変化したりしたとしても、測定信
号と比較信号に全く同じ割合で影響が表われるの
で、ゼロ点のレベルは変化しない。
次に、試料セル2に測定成分を一定濃度含有す
るスパンガスを流し、そのときの出力信号をスパ
ン点とする。
次に、試料セル2に測定しようとする試料ガス
を流して得られる出力信号を、既に測定したスパ
ン点とゼロ点の間で比例配分してその試料ガスの
濃度が求められる。
長時間の測定により試料セル2が汚れ、測定信
号が変化することがある。そこで、一定時間測定
した後に再び試料セルにゼロガスを流す。
この場合の動作を第4図〜第6図により説明す
る。各図において、Aは比較信号と測定信号、B
はパルス発生器50の出力信号すわなちステツピ
ングモータ51への駆動パルス信号である。
いま、第4図に示されるように、比較信号32
と測定信号33−1の面積値が等しくなるよう
に、光チヨツパ20の各セル用の開口に対する駆
動パルス信号が34,35−1と設定されている
とする。
次に試料セル2が汚れてくると、測定セル側の
光量が減少して第5図に示されるように、測定信
号が33−2で示されるように減少してくる。そ
のため、第1図における引算器41に出力信号が
現れ、パルス発生器50にその信号が入力され
て、駆動パルス信号が第6図に記号35−2で示
されるようにその送出速度が遅くなり、試料セル
2用の開口24の開口時間が長くなるようにさ
れ、比側信号32の面積値と測定信号33−3の
面積値が等しくなるように調整される。
本実施例で感度を変えたい場合には、パルス発
生器50における比較セル用の光チヨツパ開口の
開口時間に対応する駆動パルス信号の設定値を変
更すればよい。それにより、試料セル用の光チヨ
ツパ開口の開口時間に対応する駆動パルス信号も
上述の如くゼロガスを流したときに調整される。
以上の実施例は本発明の一例であり、本発明の
範囲内で種々の変更が可能である。例えば光チヨ
ツパ20は測定セル2と比較セル3とに交互に、
望ましくは測定信号と比較信号とが相互に干渉し
ない程度の低速で光源1の光を導入できるもので
あればよく、開口の位置や形状は種々変形するこ
とができる。また、ホトカプラなどの光検出器2
6,27の位置も、検出信号が識別できる位置で
あれば任意に変更することができる。
検出器22は光の入射に対し前後2室に分離さ
れた方式のものを使用したが、測定成分ガスが充
填されたガス室が単一のコンデンサマイクロホン
方式又はマイクロフローセンサ方式の検出器を使
用してもよい。また、半導体検出器を使用しても
よい。
さらには、マイクロコンピユータを使用して定
期的にゼロガスを流し、自動的に駆動パルス信号
を調整してステツピングモータ51の回転を調整
すれば、自動校正機構を備えた赤外線ガス分析計
とすることができる。
ステツピングモータ51の回転はまた、マイク
ロコンピユータにより制御するようにしてもよ
い。
上記の実施例では、比較信号と測定信号の面積
比を用いているが、それに代えてピーク値を用い
るようにしてもよい。
(ハ) 発明の効果 本発明の効果を列挙すれば以下の如くである。
(1) 試料セルと比較セルの光量調整に従来のよう
な高価の光量調整機構を用いる必要がなく、ま
た複雑な調整工程も不要になる。
(2) 光量調整機構を組み込むための無駄なスペー
スがなくなり、一層高感度になる。
(3) 試料セルが汚れた場合でも比較側の光量に試
料側の光量を合わせるため、感度の低下なしに
調整をすることができる。
(4) 従来のように商用電源で一定速度のモータで
光チヨツパを駆動した場合、電源がふらつくと
指示もふらつくという問題があつたが、本発明
ではステツピングモータを使用しているので、
ふらつきは全く生じない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す概略図、第2
図は同実施例で使用されている光チヨツパを示す
平面図、第3図は同実施例の検出信号を示す波形
図、第4図ないし第6図は同実施例の動作を説明
するための図で、それぞれAは検出信号の波形
図、Bは駆動パルス信号である。第7図は従来の
赤外線式ガス分析計を示す概略図、第8図は第7
図の装置の検出信号を示す波形図である。 1……光源、2……試料セル、3……比較セ
ル、20……光チヨツパ、22……検出器、23
……圧力差検出素子、50……パルス発生器、5
1……ステツピングモータ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 単一光源からの赤外線光をそれぞれ試料セル
    と比較セルに導入し、両セルの透過光をセルの入
    射側又は透過側に設けられた光チヨツパ手段によ
    り断続して検出器に導入するガス分析計におい
    て、 前記検出器は単一の受光部をもつ検出器であ
    り、 前記光チヨツパ手段はステツピングモータによ
    り駆動され、試料セルの透過光と比較セルの透過
    光を交互に検出器に導入させ、かつ両セルから検
    出器への光の断続時間を前記ステツピングモータ
    の駆動パルスの制御により個別に調整する構造を
    有し、 測定セルの透過光の検出信号と比較セルの透過
    光の検出信号との差から測定セルのガス濃度を測
    定することを特徴とする赤外線ガス分析計。
JP10436884A 1984-05-22 1984-05-22 赤外線ガス分析計 Granted JPS60247139A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10436884A JPS60247139A (ja) 1984-05-22 1984-05-22 赤外線ガス分析計

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JP10436884A JPS60247139A (ja) 1984-05-22 1984-05-22 赤外線ガス分析計

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JPS60247139A JPS60247139A (ja) 1985-12-06
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2734507B2 (ja) * 1987-07-30 1998-03-30 株式会社島津製作所 赤外線ガス分析計
JPH0619083Y2 (ja) * 1988-03-26 1994-05-18 株式会社堀場製作所 ガス分析装置
JPH0489554A (ja) * 1990-08-01 1992-03-23 Fuji Electric Co Ltd 赤外線ガス分析計

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JPS60247139A (ja) 1985-12-06

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