JPS60247139A - 赤外線ガス分析計 - Google Patents

赤外線ガス分析計

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JPS60247139A
JPS60247139A JP10436884A JP10436884A JPS60247139A JP S60247139 A JPS60247139 A JP S60247139A JP 10436884 A JP10436884 A JP 10436884A JP 10436884 A JP10436884 A JP 10436884A JP S60247139 A JPS60247139 A JP S60247139A
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龍三 加納
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三木 英之
Masashi Endo
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Shimazu Seisakusho KK
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Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/37Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using pneumatic detection

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)目的 (産業上の利用分野) 本発明は各種工業プロセスのガス濃度の監視や制御、公
害監視のための排ガス濃度測定などに使用される分析計
であって、ガス分子の赤外線吸収効果を利用してガス分
子の赤外線吸収の強さにより試料ガス中の特定成分の濃
度を測定する非分散形赤外線ガス分析計に関する。
(従来の技術) 第7図には単光源を用いた従来の赤外線ガス分析計を示
す。1は光源で、その光源1に対し試料セル2と比較セ
ル3が同量の光が入射されるように互いに平行に配置さ
れている。試料セル2には測定成分を含んだ試料ガスが
流され、比較セル3には赤外線を吸収しない窒素や空気
などの不活性ガスが充填されている。4は光源1から試
料セル2と比較セル3に入射される光を同時断続する光
チョッパ、5,6は各セル2,3を透過して検出器7に
入射する光の量を調整する光量調整器である。検出器7
は金属薄膜8により2個の室9゜lOに仕切られ、両室
9,10には測定成分ガスが充填されて密閉されたコン
デンサマイクロホン方式の検出器であって、金属薄膜8
とそれに対向して設けられた電極11とでコンデンサを
形成している。12はその検出器7の信号検出回路であ
る。
この従来の赤外線ガス分析計では光量調整器5゜6によ
り検出器7の両室9,10に入射する光量が等しくなら
ないように調整される。まず、赤外線吸収をもたないN
2のような不活性なガス(ゼロガス)を試料セル2に流
したとき、検出器7へ入射される光量は比較セル3側の
方が多くなるように光量調整器5,6が調整されている
とする。
検出器7では室10の方が室9より多くの光量が入射さ
れるので金属薄膜8は左方向へふくらむ。
検出器7の両室9,10へ入射する光は光チョッパ4に
より同時断続されているので、金属薄膜8も一定周波数
で振動し、その検出信号は第8図の記号15で示される
ように得られ、この信号の振幅がゼロ点となる。
次に試料セル2に一定濃度の測定成分を含むガス(スパ
ンガス)を流して同様の測定をすれば、試料セル2で赤
外線の吸収が起って試料セル2を透過する光量が減少す
るので、検出信号は第8図の記号16で示されるように
その振幅が大きくなる。この検出信号16の振幅がスパ
ン点となる。
そして、試料セル2に測定ガスを流して同様の測定を行
なうと、第8図の記号17で示されるように成分ガスの
濃度に応じた振幅の検出信号が得られるので、これをゼ
ロ点とスパン点の間で比例配分して試料ガス濃度をめる
ことができる。
この従来の赤外線ガス分析計では上述の如く試料セル2
と比較セル3の透過光をそれぞれ検出器7の別々の室9
と10に入射させ、両透過光量の差により試料セル2中
の成分ガスの濃度を測定するものであり、かつ試料セル
2と比較セル3の透過光量が等しくなっては検出器7の
金属薄膜8が停止して検出ができなくなるため、光量調
整器5゜6により試料セル2と比較セル3の透過光量が
異なるように調整していた。
(発明が解決しようとする問題点) この従来の赤外線ガス分析計では、試料セルが汚れて透
過光量が低下した場合、光量バランスを調整するために
光量調整器により比較セル側の光量も低下させていた。
そして、その調整は手動で行なわれているため、煩られ
しいものであった。
また、試料セル側の光量低下に応じて比較セル側の光量
も低下させるため感度が低下する問題があった。
本発明は、試料セルが汚れた場合に感度を低下させない
で、また特別な光量調整機構を用いないで、しかも自動
的に光量バランスを調整することができる赤外線ガス分
析計を提供することを目的とするものである。
(ロ)構成 (問題点を解決するための手段) 本発明の赤外線ガス分析計では、1個の光源を用い、こ
の光源からの光が試料セルと比較セルをそれぞれ透過し
た透過光を1個の検出器に交互に導入し、両透過光の検
出信号を別々に取り出す。
検出器としてはコンデンサマイクロホンもしくはマイク
ロフローセンサを使用した一方向形圧力検出方式もしく
は前後室形検出方式のもの、又は半導体検出器のいずれ
のものでもよく、その検出器への透過光の導入は試料セ
ルと比較セルの入射側又は透過側に設けられた光チヨツ
パ手段により制御されるが、試料セル透過光の検出信号
(以下測定信号という)と比較セル透過光の検出信号(
以下比較信号という)が、好ましくは相互に干渉しない
程度の時間間隔(僅かに干渉があっても実質的に影響の
ない程度の時間間隔も含む)をもって両透過光が検出器
に導入される。
この光チヨツパ手段はステッピングモータにより駆動さ
れ、そのステッピングモータの駆動パルスを制御するこ
とにより、試料セルから検出器への光導入量と、比較セ
ルから検出器への光導入量を個別に調整できるようにな
っている。
(作用) 試料セルが汚れた場合、光チヨツパ手段による試料セル
側の開口時間を長くすることにより、試料セルから検出
器への光導入量を増加させることにより、光量バランス
をとるようにする。
両セルに関する光チヨツパ手段の開口時間を長くすれば
感度が高くなり、逆に開口時間を短かくすれば感度が低
くなる。
測定信号と比較信号の差が出力信号として用いられる。
(実施例) 第1図は本発明の一実施例の光学系を表わす。
なお、各図において同−又は同等な部分には同一の記号
を使用す名。
光源1から放射された赤外線は光チョッパ20により試
料セル2と比較セル3にそれぞれ固有の時間間隔で断続
されて、試料セル2と比較セル3に交互に導入される。
21は試料セル2又は比較セル3を透過した光を単一の
検出器22に入射させる集光器である。検出器22は前
後室形検出器であり、光の入射に対して前後に配置され
た2個の室22−1.22−2を有し、各室22−1゜
22−2には測定成分ガスが充填されて密閉されており
、入射光はまず前室22−1に入り、その透過光が後室
22−2に入る。両室22−1゜22−2における光吸
収の差に応じた圧力差は画室間に設けられた圧力差検出
素子23により検出される。圧力差検出素子23として
は、コンデンサマイクロホン又はマイクロフローセンサ
が使用される。
光チョッパ20はパルス発生器50からの駆動パルス信
号により駆動されるステッピングモータ51により回転
させられ、光源1からの光を試料セル2と比較セル3に
交互に入射させるように光束を断続する。パルス発生器
50の出力信号は、スイッチ52を経て入力される後述
の信号に基いて調整されるようになっている。このとき
、試料セル2用の開口24の開口時間と、比較セル3用
の開口25の開口時間はそれぞれ駆動パルス信号により
個別に制御されている。
そのような光チョッパ20は例えば第2図に示されるよ
うなものであり、試料セル2用の開口24と比較セル3
用の開口25が互いに離れた位置に設けられている。2
6.27はこの光チョッパ20が光束を断続するタイミ
ングを検出するためのホトカプラの如き光検出器で、そ
のための開口28.29からの光を受光して第3図に示
されるパルス信号30.31を発生する。
この光チョッパ20が試料セル2と比較セル3に交互に
光を入射させる回転速度は検出器22の応答時間より遅
くなるように設定されている。その結果、検出器22の
検出信号は、第3図に示されるように比較信号32と測
定信号33とが相互に干渉しない孤立波となる。
次に第3図のように得られる本実施例の検出信号の処理
系統を再び第1図により説明する。
検出器22で検出された比較信号32及び測定信号33
は増幅器40で増幅された後、光検出器26.27によ
り光チョッパ20のタイミングで比較信号Rと測定信号
Mに分離される。両信号は引き算器41に入力されて面
積値が算出された後、その差がめられる。引き算器41
の出力は試料セル中の成分ガスの濃度に対応した出力信
号となる。 スイッチ52は、試料セル2にゼロガスが
流されたときにオンとなるスイッチであり、そのときの
引算器41の出力信号がゼロになるようにパルス発生器
50によりステッピングモータ51の回転を制御して、
試料セル2用の開口24の開口時間を調整するためのも
のである。
本実施例において、まず、パルス発生器50により比較
セル3用の開口25の開口時間が所定値になるように設
定しておく。試料セル2にまず測定成分を含まないゼロ
ガスを流す。それにより、スイッチ52がオンとなり、
引算器41の出力信号がゼロになるようにパルス発生器
50.ステッピングモータ51を介して光チョッパ20
の回転が制御され、試料セル2と比較セル3のそれぞれ
の透過光量の積分値が等しくなり、ゼロ点の出力レベル
もOレベルになる。ゼロガスの導入を停止すればスイッ
チ52がオフとなり、パルス発生器50の出力信号はそ
のときの値で固定される。
そして、その後、仮に光源の光量が変化したり検出器の
感度が変化したりしたとしても、測定信号と比較信号に
全く同じ割合で影響が表われるので、ゼロ点のレベルは
変化しない。
次に、試料セル2に測定成分を一定濃度含有するスパン
ガスを流し、そのときの出力信号をスパン点とする。
次に、試料セル2に測定しようとする試料ガスを流して
得られる出力信号を、既に測定したスパン点とゼロ点の
間で比例配分してその試料ガスの濃度がめられる。
長時間の測定により試料セル2が汚れ、測定信号が変化
することがある。そこで、一定時間測定した後に再び試
料セルにゼロガスを流す。
この場合の動作を第4図〜第6図により説明する。各回
において、(A)は比較信号と測定信号、(B)はパル
ス発生器50の出力信号すなわちステッピングモータ5
1への駆動パルス信号である。
いま、第4図に示されるように、比較信号32と測定信
号33−1の面積値が等しくなるように、光チョッパ2
0の各セル用の開口に対する駆動パルス信号が34.3
5−1と設定されているとする。
次に試料セル2が汚れてくると、測定セル側の光量が減
少して第5図に示されるように、測定信号が33−2で
示されるように減少してくる。そのため、第1図におけ
る引算器41に出力信号が現れ、パルス発生器50にそ
の信号が入力されて、駆動パルス信号が第6図に記号3
5−2で示されるようにその送出速度が遅くなり、試料
セル2用の開口24の開口時間が長くなるようにされ、
北側信号32の面積値と測定信号33−3の面積値が等
しくなるように調整される。
本実施例で感度を変えたい場合には、パルス発生器50
における比較セル用の光チ五ツバ開口の開口時間に対応
する駆動パルス信号の設定値を変更すればよい。それに
より、試料セル用の光チヨツパ開口の開口時間に対応す
る駆動パルス信号も上述の如くゼロガスを流したときに
調整される。
以上の実施例は本発明の一例であり、本発明の範囲内で
種々の変更が可能である。例えば光チョッパ20は測定
セル2と比較セル3とに、交互に、望ましくは測定信号
と比較信号とが相互に干渉しない程度の低速で光源1の
光を導入できるものであればよく、開口の位置や形状は
種々変形することができる。また、ホトカプラなどの光
検出器26゜27の位置も、検出信号が識別できる位置
であれば任意に変更することができる。
検出器22は光の入射に対し前後2室に分離された方式
のものを使用したが、測定成分ガスが充填されたガス室
が単一のコンデンサマイクロホン方式又はマイクロフロ
ーセンサ方式の検出器を使用してモヨい。また、半導体
検出器を使用してもよい。
さらには、マイクロコンピュータを使用して定期的にゼ
ロガスを流し、自動的に駆動パルス信号を調整してステ
ッピングモータ51の回転を調整すれば、自動校正機構
を備えた赤外線ガス分析計とすることができる。
ステッピングモータ51の回転はまた、マイクロコンピ
ュータにより制御するようにしてもよい。
上記の実施例では、比較信号と測定信号の面積比を用い
ているが、それに代えてピーク値を用いるようにしても
よい。
(ハ)発明の効果 本発明の効果を列挙すれば以下の如くである。
(1)試料セルと比較セルの光量調整に従来のような高
価な光量調整機構を用いる必要がなく、また複雑な調整
工程も不要になる。
(2)光量調整機構を組み込むための無駄なスペースが
なくなり、一層高感度になる。
(3)試料セルが汚れた場合でも比較側の光量に試料側
の光量を合わせるため、感度の低下なしに調整をするこ
とができる。
(4)従来のように商用電源で一定速度のモータで光チ
ョッパを駆動した場合、電源がふらつくと指示もふらつ
くという問題があったが、本発明ではステッピングモー
タを使用しているので、ふらつきは全く生じない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す′概鵬図、第2図は同
実施例で使用されている光チョッパを示す平面図、第3
図は同実施例の検出信号を示す波形図、第4図ないし第
6図は同実施例の動作を説明するための図で、それぞれ
(A)は検出信号の波形図、(B)は駆動パルス信号で
ある。第7図は従来の赤外線式ガス分析計を示す概略図
、第8図は第7図の装置の検出信号を示す波形図である
。 1・・・・・・光源、 2・・・・・・試料セル、 3
・・・・・・比較セル、 20・・・・・・光チョッパ
、 22・・・・・・検出器、23・・・・・・圧力差
検出素子650・・・・・・パルス発生器、51・・・
・・・ステッピングモータ。 代理人 弁理士 野口繁雄

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)単一光源からの赤外線光をそれぞれ試料セルと比
    較セルに導入し、両セルの透過光をセルの入射側又は透
    過側に設けられた光チヨツパ手段により断続して検出器
    に導入するガス分析計において、 前記検出器は単一の受光部をもつ検出器であり、前記光
    チヨツパ手段はステッピングモータにより駆動され、試
    料セルの透過光と比較セルの透過光を交互に検出器に導
    入させ、かつ両セルから検出器への光の断続時間を前記
    ステッピングモータの駆動パルスの制御により個別に調
    整する構造を有し、 測定セルの透過光の検出信号と比較セルの透過光の検出
    信号との差から測定セルのガス濃度を測定することを特
    徴とする赤外線ガス分析計。
JP10436884A 1984-05-22 1984-05-22 赤外線ガス分析計 Granted JPS60247139A (ja)

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JP10436884A JPS60247139A (ja) 1984-05-22 1984-05-22 赤外線ガス分析計

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JP10436884A JPS60247139A (ja) 1984-05-22 1984-05-22 赤外線ガス分析計

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JPS60247139A true JPS60247139A (ja) 1985-12-06
JPH0519650B2 JPH0519650B2 (ja) 1993-03-17

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ID=14378866

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JP (1) JPS60247139A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6435245A (en) * 1987-07-30 1989-02-06 Shimadzu Corp Infrared ray gas analyzer
JPH01142848U (ja) * 1988-03-26 1989-09-29
JPH0489554A (ja) * 1990-08-01 1992-03-23 Fuji Electric Co Ltd 赤外線ガス分析計

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS6435245A (en) * 1987-07-30 1989-02-06 Shimadzu Corp Infrared ray gas analyzer
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JPH0489554A (ja) * 1990-08-01 1992-03-23 Fuji Electric Co Ltd 赤外線ガス分析計

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JPH0519650B2 (ja) 1993-03-17

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