JPH01189547A - 吸光光度法センサー - Google Patents
吸光光度法センサーInfo
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- JPH01189547A JPH01189547A JP1282288A JP1282288A JPH01189547A JP H01189547 A JPH01189547 A JP H01189547A JP 1282288 A JP1282288 A JP 1282288A JP 1282288 A JP1282288 A JP 1282288A JP H01189547 A JPH01189547 A JP H01189547A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は吸光光度法センサーに関する。
吸光光度法は、比色により被測定液中の物質濃度を測定
する手段として広く用いられており、この方法を用いた
センサーは、発光部、セル、受光部を備えている。同セ
ンサーは、分析機器等に組み込まれるので、極力小型化
が望まれ、そのためには、前記発光部、セル、および受
光部を一体化するのが最良の方法である。
する手段として広く用いられており、この方法を用いた
センサーは、発光部、セル、受光部を備えている。同セ
ンサーは、分析機器等に組み込まれるので、極力小型化
が望まれ、そのためには、前記発光部、セル、および受
光部を一体化するのが最良の方法である。
ところで、前記のように、発光部、セル、および受光部
が一体化されていると、セルに注入される被測定液の温
度が周囲の温度と異なる場合、セルに隣接して配置され
た受光部の受光素子（半導体素子）が室温程度の低い温
度になることがある。同受光素子が温度低下すると、そ
の熱的な出力ドリフトが比較的大きい数ｍ Ｖ ／ ’
Ｃ程度となり、この大きなドリフトがそのまま測定誤差
となってあられれていた。
が一体化されていると、セルに注入される被測定液の温
度が周囲の温度と異なる場合、セルに隣接して配置され
た受光部の受光素子（半導体素子）が室温程度の低い温
度になることがある。同受光素子が温度低下すると、そ
の熱的な出力ドリフトが比較的大きい数ｍ Ｖ ／ ’
Ｃ程度となり、この大きなドリフトがそのまま測定誤差
となってあられれていた。
このような熱的な出力ドリフトを防止する方法として、
冷却管あるいは加温管により被測定液を対象に温度を一
定に保つようにしていたが、被測定液の温度を調節する
ものであったので、大がかりな付帯設備が必要であった
。
冷却管あるいは加温管により被測定液を対象に温度を一
定に保つようにしていたが、被測定液の温度を調節する
ものであったので、大がかりな付帯設備が必要であった
。
このような事情に鑑み、この発明は、受光手段からの出
力ドリフトを十分小幅に抑えて、測定誤差を小さくする
ようにした吸光光度法センサーを提供することを課題と
する。
力ドリフトを十分小幅に抑えて、測定誤差を小さくする
ようにした吸光光度法センサーを提供することを課題と
する。
この発明では、前記課題を解決するため、受光部が、そ
の受光手段を加温する加温手段と、同加温手段を制御す
る温度調節手段を有していて、前記受光手段を一定温度
に保つようになっている。
の受光手段を加温する加温手段と、同加温手段を制御す
る温度調節手段を有していて、前記受光手段を一定温度
に保つようになっている。
この発明においては、受光手段が、被測定液や周囲の温
度に応じて温度低下しないように制御されることで、同
手段からの出力ドリフトが小幅に抑えられる。
度に応じて温度低下しないように制御されることで、同
手段からの出力ドリフトが小幅に抑えられる。
以下に、この発明を、その実施例をあられす図面を参照
しつつ詳しく説明する。
しつつ詳しく説明する。
第１図は、この発明にかかる吸光光度法センサーを模式
的にあられしている。このセンサーは、同図にみるよう
に、被測定液１が入れられる透明なセル２を備えている
。このセル２は、下部に注入口３が、また上部に排出口
４がそれぞれ開口している。被測定液１は、前記注入口
３を通して圧入されて排出口４から出されるようになっ
ている。前記セル２の一側には発光部５が密着して設置
されている。この発光部５は、前記セル２に向く一端部
が開口していて、同発光部５のケース内に設けられた高
輝度ランプ（発光手段）６から発せられた光は、光学フ
ィルター７と前記開口を通してセル２の被測定液１中を
通るようになっている。前記セル２の他側には、前記発
光部５に対向する位置にセル２と密着する受光部８が設
置されている。この受光部８も、セル２側に密着する一
端部が開口していて、この開口を通して、前記被測定液
１を通過した光が導入されるようになっている。前記受
光部８は、そのケース内に受光素子（受光手段）９が設
けられていて、前記開口に対向するように配置されてい
る。この受光素子９の前記開口側の前面にはガラスヒー
ター（加温手段）１０が設けられている。このガラスヒ
ーター１０は、前記開口に対向して配置されているガラ
ス基板１１と、その背面に設けられていてスパッタ法で
数千人の波長が得られるようにされた透明なＳｎ Ｏｚ
膜１２とを備えている。前記Ｓｎ０ｗ膜１２は、外部の
直流電源１３により電圧が印加されて発熱するヒーター
となっている。前記直流電源１３には温度調節器（温度
調節手段）１４が接続されている。なお、前記ヒーター
として透明なＳｎ Ｏ２膜１２が用いられているのは、
発光部５からの光エネルギーの損失を抑えるためである
が、発光部５からの光エネルギーの損失を抑えることが
できれば、他の発熱手段を用いることもできる。前記ガ
ラスヒーター１０は、受光素子９の温度保持を容易にす
るため、できるだけ同素子９に密着して設置するのが望
ましい。
的にあられしている。このセンサーは、同図にみるよう
に、被測定液１が入れられる透明なセル２を備えている
。このセル２は、下部に注入口３が、また上部に排出口
４がそれぞれ開口している。被測定液１は、前記注入口
３を通して圧入されて排出口４から出されるようになっ
ている。前記セル２の一側には発光部５が密着して設置
されている。この発光部５は、前記セル２に向く一端部
が開口していて、同発光部５のケース内に設けられた高
輝度ランプ（発光手段）６から発せられた光は、光学フ
ィルター７と前記開口を通してセル２の被測定液１中を
通るようになっている。前記セル２の他側には、前記発
光部５に対向する位置にセル２と密着する受光部８が設
置されている。この受光部８も、セル２側に密着する一
端部が開口していて、この開口を通して、前記被測定液
１を通過した光が導入されるようになっている。前記受
光部８は、そのケース内に受光素子（受光手段）９が設
けられていて、前記開口に対向するように配置されてい
る。この受光素子９の前記開口側の前面にはガラスヒー
ター（加温手段）１０が設けられている。このガラスヒ
ーター１０は、前記開口に対向して配置されているガラ
ス基板１１と、その背面に設けられていてスパッタ法で
数千人の波長が得られるようにされた透明なＳｎ Ｏｚ
膜１２とを備えている。前記Ｓｎ０ｗ膜１２は、外部の
直流電源１３により電圧が印加されて発熱するヒーター
となっている。前記直流電源１３には温度調節器（温度
調節手段）１４が接続されている。なお、前記ヒーター
として透明なＳｎ Ｏ２膜１２が用いられているのは、
発光部５からの光エネルギーの損失を抑えるためである
が、発光部５からの光エネルギーの損失を抑えることが
できれば、他の発熱手段を用いることもできる。前記ガ
ラスヒーター１０は、受光素子９の温度保持を容易にす
るため、できるだけ同素子９に密着して設置するのが望
ましい。
前記ガラスヒーター１０の設定温度は、セル２内を通る
被測定液１の温度によって異なる。被測定液１の温度が
室温以上であれば、前記ヒーター１０を被測定液１の温
度以上にし、被測定液１の温度が室温以下であれば、前
記ヒーター１０を室温以上に制御する。この制御は、前
記セル２に設けられた温度センサーからの出力信号を受
けて動作する前記温度調節器１４と、この調節器１４で
ヒーター１０への印加電圧を制御する前記電源１３とに
よってなされる。
被測定液１の温度によって異なる。被測定液１の温度が
室温以上であれば、前記ヒーター１０を被測定液１の温
度以上にし、被測定液１の温度が室温以下であれば、前
記ヒーター１０を室温以上に制御する。この制御は、前
記セル２に設けられた温度センサーからの出力信号を受
けて動作する前記温度調節器１４と、この調節器１４で
ヒーター１０への印加電圧を制御する前記電源１３とに
よってなされる。
前記のように、この発明にかかる吸光光度法センサーは
、受光部が、前記受光手段を加温する加温手段と、同加
温手段を制御する温度調節手段を有していて、前記受光
手段を一定温度に保つようになっているので、受光手段
が、被測定液や周囲の温度に応じて温度低下しないよう
に制御されて、同手段からの出力ドリフトが十分小幅に
抑えられ、これにより、測定誤差が非常に小さくなるも
のである。
、受光部が、前記受光手段を加温する加温手段と、同加
温手段を制御する温度調節手段を有していて、前記受光
手段を一定温度に保つようになっているので、受光手段
が、被測定液や周囲の温度に応じて温度低下しないよう
に制御されて、同手段からの出力ドリフトが十分小幅に
抑えられ、これにより、測定誤差が非常に小さくなるも
のである。
前記実施例に基づいて実際に被測定液中の物質濃度を測
定し、その測定誤差がどの程度であったかをつぎに説明
する。前記被測定液１は、温度が４０℃で銅濃度が２．
８ｇ／ ｌの無電解銅メツキ液とされ、これをセル２に
連続して注入し、前記発光部５内の高輝度ランプ６から
の光を光学フィルター７を通してセル２に照射し、ガラ
スヒーター１０をさらに通過させたものを受光素子９で
検出した。受光素子９には、通常であれば２〜３ｆｆｌ
νの出力ドリフトが生じるＳｉフォトトランジスタが用
いられた。前記ガラスヒーター１０は、ガラス基板１１
上にＳｎ Ｏ＊膜１２をスパッタ法により形成したもの
を用い、外部電源１３によりＳｎＯ！膜１２に電圧が印
加されて発熱させるものとされている。この実施例にお
いては、被測定液１の温度が室温よりも高いので、前記
に基づいて、ガラスヒーター１０に密着して設置された
受光素子９の温度を、被測定液１の温度（４０℃）以上
の４５℃に設定した。この設定は前記温度調節器１４で
行った。以上の条件のもとて受光素子９に得られた出力
電圧は、長時間にわたって１５０±０．５ ｍＶと安定
で、銅濃度の測定誤差は３％以内であった（比較例） 上記構成の吸光光度法センサーから透明なＳｎＯ，ＰＪ
１２付のガラスヒーター１０を取り除いた構造の吸光光
度法センサーを用いて全く同様の測定を行った。その結
果、受光素子９に得られた出力電圧は１６５ｍＶであっ
た。しかし、この電圧は安定下になく、長時間の放置に
伴って受光素子９が被測定液１からの温度の影響を受け
て低温化することにより、出力電圧は６〜８ｍＶのドリ
フトを生じ、銅濃度測定誤差は１０％を越えた。
定し、その測定誤差がどの程度であったかをつぎに説明
する。前記被測定液１は、温度が４０℃で銅濃度が２．
８ｇ／ ｌの無電解銅メツキ液とされ、これをセル２に
連続して注入し、前記発光部５内の高輝度ランプ６から
の光を光学フィルター７を通してセル２に照射し、ガラ
スヒーター１０をさらに通過させたものを受光素子９で
検出した。受光素子９には、通常であれば２〜３ｆｆｌ
νの出力ドリフトが生じるＳｉフォトトランジスタが用
いられた。前記ガラスヒーター１０は、ガラス基板１１
上にＳｎ Ｏ＊膜１２をスパッタ法により形成したもの
を用い、外部電源１３によりＳｎＯ！膜１２に電圧が印
加されて発熱させるものとされている。この実施例にお
いては、被測定液１の温度が室温よりも高いので、前記
に基づいて、ガラスヒーター１０に密着して設置された
受光素子９の温度を、被測定液１の温度（４０℃）以上
の４５℃に設定した。この設定は前記温度調節器１４で
行った。以上の条件のもとて受光素子９に得られた出力
電圧は、長時間にわたって１５０±０．５ ｍＶと安定
で、銅濃度の測定誤差は３％以内であった（比較例） 上記構成の吸光光度法センサーから透明なＳｎＯ，ＰＪ
１２付のガラスヒーター１０を取り除いた構造の吸光光
度法センサーを用いて全く同様の測定を行った。その結
果、受光素子９に得られた出力電圧は１６５ｍＶであっ
た。しかし、この電圧は安定下になく、長時間の放置に
伴って受光素子９が被測定液１からの温度の影響を受け
て低温化することにより、出力電圧は６〜８ｍＶのドリ
フトを生じ、銅濃度測定誤差は１０％を越えた。
なお、前記セル内への被測定液の導入は、連続法による
他に間歇法によることもある。
他に間歇法によることもある。
この発明にかかる吸光光度法センサーは、以上のように
構成されているため、受光手段が、被測定液や周囲の温
度に応じて温度低下しないように制御されることで、同
手段からの出力ドリフトが十分小幅に抑えられて、測定
誤差を低くすることができるようになった。
構成されているため、受光手段が、被測定液や周囲の温
度に応じて温度低下しないように制御されることで、同
手段からの出力ドリフトが十分小幅に抑えられて、測定
誤差を低くすることができるようになった。
第１図はこの発明にかかる吸光光度法センサーの一実施
例をあられした模式図である。 １・・・被測定液 ２・・・セル ５・・・発光部 ６
・・・発光手段 ８・・・受光部 ９・・・受光手段（
受光素子）１０・・・ガラスヒーター（加温手段）
１４・・・温度調節器（温度調節手段） 代理人 弁理士 松 本 武 彦 第１図 手続補正書（自発 し 昭和６３年 ４月 ８日
例をあられした模式図である。 １・・・被測定液 ２・・・セル ５・・・発光部 ６
・・・発光手段 ８・・・受光部 ９・・・受光手段（
受光素子）１０・・・ガラスヒーター（加温手段）
１４・・・温度調節器（温度調節手段） 代理人 弁理士 松 本 武 彦 第１図 手続補正書（自発 し 昭和６３年 ４月 ８日
Claims (1)
- １ 被測定液が入れられるセルと、発光手段を有してい
て前記セルの一側に配置されている発光部と、前記セル
の他側に配置されていて前記発光手段から発せられ前記
セルを通過してくる光を受け入れる受光手段を有してい
る受光部とを備え、前記発光手段からの光がセル内の被
測定液を通過して前記受光手段に受け入れられたとき同
受光手段が出力する出力値に基づいて前記被測定液中に
含まれる物質の濃度を測定するようになっている吸光光
度法センサーにおいて、前記受光部が前記受光手段を加
温する加温手段と同加温手段を制御する温度調節手段を
有していて、前記受光手段を一定温度に保つようになっ
ていることを特徴とする吸光光度法センサー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1282288A JPH01189547A (ja) | 1988-01-23 | 1988-01-23 | 吸光光度法センサー |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1282288A JPH01189547A (ja) | 1988-01-23 | 1988-01-23 | 吸光光度法センサー |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01189547A true JPH01189547A (ja) | 1989-07-28 |
Family
ID=11816078
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1282288A Pending JPH01189547A (ja) | 1988-01-23 | 1988-01-23 | 吸光光度法センサー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01189547A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06265474A (ja) * | 1993-03-11 | 1994-09-22 | Ricoh Co Ltd | 光散乱測定装置 |
| JPH0784133A (ja) * | 1993-09-13 | 1995-03-31 | Nec Corp | 波長多重通信用光ノード装置 |
| JPH09113446A (ja) * | 1995-10-13 | 1997-05-02 | Horiba Ltd | 赤外線ガス分析計 |
| JPH11132730A (ja) * | 1997-10-30 | 1999-05-21 | Anritsu Corp | 寸法測定装置 |
| WO2018043404A1 (ja) * | 2016-08-30 | 2018-03-08 | 静岡製機株式会社 | 穀粒の品質測定装置 |
-
1988
- 1988-01-23 JP JP1282288A patent/JPH01189547A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06265474A (ja) * | 1993-03-11 | 1994-09-22 | Ricoh Co Ltd | 光散乱測定装置 |
| JPH0784133A (ja) * | 1993-09-13 | 1995-03-31 | Nec Corp | 波長多重通信用光ノード装置 |
| JPH09113446A (ja) * | 1995-10-13 | 1997-05-02 | Horiba Ltd | 赤外線ガス分析計 |
| JPH11132730A (ja) * | 1997-10-30 | 1999-05-21 | Anritsu Corp | 寸法測定装置 |
| WO2018043404A1 (ja) * | 2016-08-30 | 2018-03-08 | 静岡製機株式会社 | 穀粒の品質測定装置 |
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