JPH05190524A - 洗浄装置 - Google Patents

洗浄装置

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Publication number
JPH05190524A
JPH05190524A JP208292A JP208292A JPH05190524A JP H05190524 A JPH05190524 A JP H05190524A JP 208292 A JP208292 A JP 208292A JP 208292 A JP208292 A JP 208292A JP H05190524 A JPH05190524 A JP H05190524A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cleaning
cleaning tank
vessel
side valve
washing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP208292A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiko Yamamoto
山本  和彦
Yukiko Nakashige
由紀子 中重
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Semiconductor Engineering Corp
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Renesas Semiconductor Engineering Corp
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Semiconductor Engineering Corp, Mitsubishi Electric Corp filed Critical Renesas Semiconductor Engineering Corp
Priority to JP208292A priority Critical patent/JPH05190524A/ja
Publication of JPH05190524A publication Critical patent/JPH05190524A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B3/00Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
    • B08B3/04Cleaning involving contact with liquid
    • B08B3/08Cleaning involving contact with liquid the liquid having chemical or dissolving effect

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 この発明は、例えば半導体ウエハを洗浄する
洗浄装置に関し、洗浄時に洗浄槽内の純水への空気中の
酸素の溶け込みを防止し、半導体ウエハ表面に成長する
自然酸化膜およびしみを低減できる洗浄装置を得ること
を目的とする。 【構成】 密閉洗浄槽6は、半導体ウエハ4がセットさ
れたウエハカセット5を収納し、蓋6aにより密閉さ
れ、洗浄時に槽内の純水が空気に触れることを防止する
構造となっている。この密閉洗浄槽6には、純水を注水
する注水配管3および排水する排水配管8が接続されて
いる。注水配管3および排水配管8のそれぞれには、注
水側バルブ2および排水側バルブ7が設けられている。
密閉洗浄槽6には、槽内の純水量を検出するセンサ9が
設けられている。制御部11は、センサ9および洗浄時
間を設定するタイマ10の出力信号に基づいて、注水側
バルブ2および排水側バルブ7の開閉を制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば半導体ウエハ
を洗浄する洗浄装置に関し、特に洗浄媒体である純水へ
の空気中の酸素の溶け込みを防止できる洗浄装置構造に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】図3は従来の洗浄装置の一例を示す断面
図であり、図において1は洗浄槽、2は洗浄槽1に接続
された注水配管3に設けられた注水側バルブ、4は半導
体ウエハ、5はウエハカセットである。つぎに、動作に
ついて説明する。まづ、注水側バルブ2を開状態とし、
洗浄槽1内に注水配管3を介して洗浄媒体である純水を
注水し、オーバーフロー状態とする。そこで、半導体ウ
エハ4をセットしたウエハカセット5を洗浄槽1内に収
納して洗浄を行う。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の洗浄装置は以上
のように構成されているので、洗浄槽1内に注水された
純水に空気中の酸素が溶け込み、洗浄中の半導体ウエハ
4表面に自然酸化膜が成長し、また半導体ウエハ4にし
みが発生するという課題があった。
【0004】この発明は、上記のような課題を解決する
ためになされたもので、洗浄槽内の洗浄媒体への空気中
の酸素の溶け込みを防止し、半導体ウエハ表面に成長す
る自然酸化膜、および半導体ウエハ表面に発生するしみ
を低減できる洗浄を自動的に行える洗浄装置を得ること
を目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明に係る洗浄装置
は、密閉可能な洗浄槽と、この洗浄槽に接続され、洗浄
槽に洗浄媒体を注水する注水配管と、洗浄槽に接続さ
れ、洗浄槽内の洗浄媒体を排水する排水配管と、洗浄槽
内の洗浄媒体の水位を検出するセンサと、注水配管に設
けられた注水側バルブと、排水配管に設けられた排水側
バルブと、センサの出力信号により注水側バルブおよび
排水側バルブの開閉を制御する制御部とを備えるもので
ある。
【0006】
【作用】この発明においては、洗浄槽内の洗浄媒体の水
位をセンサで検出し、洗浄槽内が洗浄媒体で一杯に満た
され、洗浄槽内の洗浄媒体の流速が所定の流速となるよ
うに、制御部で注水側バルブおよび排水側バルブの開閉
状態を制御し、自動的に半導体ウエハを洗浄するととも
に、洗浄槽内の洗浄媒体への空気中の酸素の溶け込みを
防止する。
【0007】
【実施例】以下、この発明の実施例を図について説明す
る。 実施例1.図1の(a)、(b)はそれぞれこの発明の
洗浄装置の一実施例の構成を示す構成図および使用状態
を示す断面図であり、図において図3に示した従来の洗
浄装置と同一または相当部分には同一符号を付し、その
説明を省略する。6は蓋6aにより密閉される密閉洗浄
槽、7は密閉洗浄槽6に接続された排水配管8に設けら
れた排水側バルブ、9は密閉洗浄槽6内の純水量をモニ
タするセンサ、10は洗浄時間を設定できるタイマ、1
1はセンサ9およびタイマ10の出力信号により注水側
バルブ2および排水側バルブ7の開閉状態を制御する制
御部である。
【0008】つぎに、上記実施例1の動作について説明
する。まづ、注水側バルブ2および排水側バルブ7を閉
状態とし、半導体ウエハ4をセットしたウエハカセット
5を密閉洗浄槽6内に収納する。つぎに、蓋6aで密閉
洗浄槽6を密閉し、タイマ10で洗浄時間を設定し、洗
浄をスタートする。洗浄がスタートすると、制御部11
からの信号により注水側バルブ2が開状態となり、密閉
洗浄槽6内に注水配管3を介して純水が注水される。密
閉洗浄槽6内の純水が槽一杯になったことをセンサ9が
検出すると、センサ9からの検出信号を入力した制御部
11により、密閉洗浄槽6内に注水される純水が所定の
流量となるように、注水側バルブ2および排水側バルブ
7の開閉状態が自動的に調節される。
【0009】設定された洗浄時間が終了すると、タイマ
10からの信号を入力した制御部11により、注水側バ
ルブ2が閉状態となり、排水側バルブ7が全開状態とな
り、密閉洗浄槽6内の純水の排水が開始される。センサ
9が密閉洗浄槽6内の純水の排水終了を検出すると、セ
ンサ9からの検出信号を入力した制御部11によりブザ
ー(図示せず)が鳴らされ、作業者に排水終了が報知さ
れる。そこで、作業者は、蓋6aを開け、ウエハカセッ
ト5を取り出す。
【0010】このように、上記実施例1では、密閉洗浄
槽6が蓋6aで密閉され、密閉洗浄槽6内一杯に純水を
満たしているので、密閉洗浄槽6内の純水は空気に触れ
ず、純水中への空気中の酸素の溶け込みを防止でき、水
洗時の半導体ウエハ4の表面に成長する自然酸化膜およ
びウエハ4の表面に発生するしみを低減し、さらに密閉
洗浄槽6内の純水量をセンサ9で検出し、制御部11に
より注水側バルブ2および排水側バルブ7の開閉状態を
制御しているので、自動的に半導体ウエハ4の洗浄がで
きる。
【0011】実施例2.図2はこの発明の洗浄装置の他
の実施例を示す構成図である。上記実施例1では、1つ
の密閉洗浄槽6を用い純水による半導体ウエハ4の水洗
工程を行っているが、この実施例では、2つの密閉洗浄
槽6を用い、一方の密閉洗浄槽6で純水による水洗工程
を、他方の密閉洗浄槽6で薬液による処理工程を、組み
合わせて行うもので、上記実施例1と同様の効果を奏
し、さらに、薬液による処理工程では、薬液を密閉洗浄
槽6内に注水する前に半導体ウエハ4をセットしたウエ
ハカセット5を収納しており、作業者が直接薬液に触れ
ることがなく、作業の安全性が確保される。
【0012】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、洗浄槽
を密閉化構造とし、洗浄槽内の洗浄媒体量を検出するセ
ンサの出力に基づいて制御部により注水側バルブおよび
排水側バルブの開閉状態を制御するようにしているの
で、洗浄槽内の洗浄媒体への空気中の酸素の溶け込みを
防止でき、半導体ウエハの表面に成長する自然酸化物お
よび半導体ウエハの表面に発生するしみを低減できる洗
浄を自動的に行える洗浄装置が得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)、(b)はそれぞれこの発明の洗浄装置
の一実施例の構成を示す構成図および使用状態を示す断
面図である。
【図2】この発明の洗浄装置の他の実施例を示す構成図
である。
【図3】従来の洗浄装置の一例を示す構成図である。
【符号の説明】
2 注水側バルブ 3 注水配管 6 密閉洗浄槽 7 排水側バルブ 8 排水配管 11 制御部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 密閉可能な洗浄槽と、前記洗浄槽に接続
    され、前記洗浄槽に洗浄媒体を注水する注水配管と、前
    記洗浄槽に接続され、前記洗浄槽内の前記洗浄媒体を排
    水する排水配管と、前記洗浄槽内の前記洗浄媒体の水位
    を検出するセンサと、前記注水配管に設けられた注水側
    バルブと、前記排水配管に設けられた排水側バルブと、
    前記センサの出力信号により前記注水側バルブおよび前
    記排水側バルブの開閉を制御する制御部とを備えたこと
    を特徴とする洗浄装置。
JP208292A 1992-01-09 1992-01-09 洗浄装置 Pending JPH05190524A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP208292A JPH05190524A (ja) 1992-01-09 1992-01-09 洗浄装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP208292A JPH05190524A (ja) 1992-01-09 1992-01-09 洗浄装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05190524A true JPH05190524A (ja) 1993-07-30

Family

ID=11519431

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JP208292A Pending JPH05190524A (ja) 1992-01-09 1992-01-09 洗浄装置

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