JPH05183191A - Ledプリントヘッド - Google Patents

Ledプリントヘッド

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JPH05183191A
JPH05183191A JP35855591A JP35855591A JPH05183191A JP H05183191 A JPH05183191 A JP H05183191A JP 35855591 A JP35855591 A JP 35855591A JP 35855591 A JP35855591 A JP 35855591A JP H05183191 A JPH05183191 A JP H05183191A
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JP
Japan
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wire
bonding
led array
bond
array
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JP35855591A
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English (en)
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Shunji Murano
俊次 村野
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 LEDプリントヘッドのLEDアレイを小型
化し、同時にLEDアレイへのワイヤボンディング不良
を防止する。 【構成】 LEDアレイにセカンドボンドを行い、LE
Dアレイ搭載基板にファーストボンドする。セカンドボ
ンドでのキャピラリー外周痕に沿ったワイヤ厚δをワイ
ヤ線径の1/8〜1/3、好ましくは1/6〜1/4と
する。セカンドボンドではファーストボンドよりもボン
ディング部のワイヤの広がりが小さく、かつδを大きく
する程、広がりが減少する。この結果ボンディングパッ
ドを小型化し、LEDアレイを小型化できる。厚さδを
線径の1/8〜1/3とすることにより、ボンディング
強度を向上させ、同時にLEDアレイへの衝撃を減少で
きる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の利用分野】この発明はLEDプリントヘッドの
ワイヤボンディングに関し、特にワイヤボンディングの
改良によるLEDアレイの小型化と、ボンディング強度
の向上、ボンディング時のLEDアレイの損傷の防止に
関する。
【0002】
【従来技術】LEDプリントヘッドでは、LEDアレイ
と基板をワイヤボンディングで接続するため、高密度の
ワイヤボンディングを行う。LEDプリントヘッドでは
多数のワイヤボンディングを行うので、ボンディングの
不良率を低くしなければならない。1箇所でもボンディ
ング不良があると、装置全体が不良となる。これらのワ
イヤボンディングには多数の公知技術が有り、例えば実
開昭61−138,247号や同61−75132号は
ボンディングパッドの位置認識について提案している。
また特公昭63−42853号は、ボンディングパッド
を高密度に配置するためパッドを2列に配置し、パッド
の両側の配線を細く絞って、狭い領域に多数のパッドを
配置することを提案している。さらに実開昭60−99
536号は、細いリード線と太いリード線とを使い分
け、リード線相互のショートを防止することを提案して
いる。しかしながらこれらの公報は、基板側にセカンド
ボンドを行うものとしている。
【0003】これとは別にLEDプリントヘッドでのワ
イヤボンディングに関する問題として、LEDアレイが
脆弱でボンディング時に破壊されあるいはクラックが生
じ易いことがある。またLEDアレイは高価であり、プ
リントヘッドのコストを低下させるためにはアレイの小
型化が必要である。
【0004】
【発明の課題】この発明の課題は、ボンディング条件の
改善を通じてLEDアレイを小型化すると共に、ボンデ
ィング強度を改善し、かつボンディング時のLEDアレ
イの損傷を防止することにある。
【0005】
【発明の構成】この発明は、LEDアレイに設けたボン
ディングパッドと、該LEDアレイを搭載した基板に設
けたボンディングパッドとを、ワイヤボンディングで接
続したLEDプリントヘッドにおいて、該LEDアレイ
側のボンディングパッドに、ワイヤボンディングのセカ
ンドボンドを行うと共に、セカンドボンド部でのボンデ
ィングツール痕外周部でのワイヤ厚をワイヤ線径の1/
8〜1/3としたことを特徴とする。ここにボンディン
グツール痕外周部でのワイヤ厚は、より好ましくはワイ
ヤ線径の1/6〜1/4とする。またセカンドボンドと
は、ワイヤボンディングにおける最初の一端のボンディ
ング(ファーストボンド)に対する、他端のボンディン
グを指す、
【0006】
【発明の作用】ワイヤボンディングのファーストボンド
とセカンドボンドとを比較すると、セカンドボンドの方
がボンディング部でのワイヤの広がりが小さい。またセ
カンドボンドでのボンディング部のワイヤの広がりは、
ボンディングツール外周痕でのワイヤの厚さで定まる。
即ちセカンドボンド部には、キャピラリー等のボンディ
ングツールの加圧痕がパッドに残る。この加圧痕の外周
でのワイヤの厚さを、ボンディングツール外周痕でのワ
イヤの厚さδとする。するとセカンドボンド部でのワイ
ヤの広がりは、δを大きくする程小さくなる。例えば線
径25μmの金線やAl線の場合、ファーストボンド部
の円形のボンディング部直径は100μm以上である。
これに対して厚さδを4〜6μmとすると、セカンドボ
ンド部でのワイヤの広がりは60〜70μmとなる。ボ
ンディング部を小さくできれば、例えばLEDアレイで
のボンディングパッドを従来の2列から1列に変更し、
アレイの幅を小さくすることができる。パッドを従来と
同じ2列に配置する場合でも、ボンディング部の小型化
に応じパッドを小型化し、アレイの基板面積を縮小する
ことができる。
【0007】従来のLEDプリントヘッドでLEDアレ
イにファーストボンドを行うのは、LEDアレイへのワ
イヤボンディングが難しく、かつLEDアレイに用いる
GaAsやGaP等の基板が脆弱で、ボンディング時に
破壊されたり、クラックが生じたりし易いからである。
しかしながら発明者は、前記の厚さδとボンディング強
度が密接に関係することを見い出した。即ちδがワイヤ
線径(直径,以下同じ)の1/6以下の領域では、δを
増す程セカンドボンドの強度が向上する。一方δが線径
の1/4以上の領域では、δを増すとセカンドボンド強
度が低下する。この値δは、ボンディング時のLEDア
レイの損傷とも関係があり、δが小さい程ボンディング
時のアレイの損傷確率が高い。これはボンディング時の
荷重によりワイヤの変形が進行してδが減少し、ボンデ
ィング時の荷重がアレイの損傷の主因だからである。そ
こで厚さδを適切な値とすれば、LEDアレイへのセカ
ンドボンド強度を向上させ、かつLEDアレイのボンデ
ィング時の損傷を防止できる。
【0008】厚さδの好ましい範囲はワイヤの線径にほ
ぼ比例して変化し、例えば線径25μmの金線やAl線
では3〜8μmが好ましく、最も好ましくは4〜6μm
である。線径20μmの金線では、厚さδは2.5〜6
μmが好ましく、最も好ましくは3〜5μmとする。ま
た線径32μmの金線では4〜10μmが好ましく、最
も好ましくは5〜8μmとする。これらのことから、厚
さδをワイヤ線径の1/8〜1/3、より好ましくは1
/6〜1/4とした。厚さδの好ましい範囲は線材の材
質とは関係がなく、例えば金線でもAl線でも、同じ線
径であれば同じ範囲が好ましい。
【0009】
【実施例】
【0010】
【ワイヤボンディング】図4に示す形状で、ワイヤボン
ディングを行った。図において、2はLEDプリントヘ
ッドのLEDアレイで、3は個々のLEDである。4は
ガラスやセラミック等の基板で、ここではガラス基板と
し、6はLED3毎に設けたボンディングパッド、7は
基板4上の高密度配線のボンディングパッドである。ボ
ンディングパッド6は真空蒸着やスパッタリングでLE
Dアレイ2の全面に形成し、エッチングで形状を定め
る。パッド6の厚さは2〜3μmで、材質は例えばAl
である。パッド6は、薄膜技術で成膜するため、またエ
ッチング精度を高めるために厚くできず、このためボン
ディング強度が低下し易い。パッド6は例えば1列に平
行に配置し、LED3の配列ピッチに応じたピッチで配
置する。
【0011】8はワイヤで、ここでは線径20μm,2
5μm,32μmの金線と、線径25μmのAl線につ
いて、ワイヤボンディングを行った。10は、基板4上
のボンディングパッド7へのファーストボンド部で、1
2はLEDアレイ2のパッド6へのセカンドボンド部で
ある。
【0012】LEDプリントヘッドには、これ以外にレ
ンズアレイやハウジング、LEDアレイ2の制御回路等
が必要であるが、ワイヤボンディングとは関係が無いの
で省略した。
【0013】ワイヤボンディングは、基板4やLEDア
レイ2を例えば170℃に加熱し、超音波とワイヤ8に
加える荷重とで行った。セカンドボンドの機構を図5,
図6に示す。ボンディングツールのキャピラリー14に
ワイヤ8を通し、先端にボールを形成して基板4側にフ
ァーストボンドする。ボンディングツールの種類はキャ
ピラリー14に限らず、任意である。次いでキャピラリ
ー14をLEDアレイ2のパッド6へと移動させ、キャ
ピラリー14を超音波振動させながら、荷重を加えてワ
イヤ8をパッド6にボンディングし、同時にワイヤ8を
切断する。セカンドボンド時の圧力や超音波でパッド6
には、図5のようなキャピラリー痕16が生じる。キャ
ピラリー痕16の外周部(図のラインD)でのワイヤ8
の垂直方向の厚さを、厚さδと呼ぶ。δが適切な場合に
は、セカンドボンド部12の強度は充分高く、セカンド
ボンド部12は図5のような形状となる。これに対して
δが小さ過ぎる場合には、セカンドボンド部12は図6
のように広がり、張力を加えるとワイヤ8はラインDの
付近で断線する。
【0014】厚さδとセカンドボンド部12でのワイヤ
の広がり、(ラインDに沿ったセカンドボンド部12の
幅)、は密接な関係が有り、厚さδが大きい程セカンド
ボンド部12の広がりが小さい。そこでδを適切な値と
することにより、ボンディングパッド6を小さくし、図
7のようにLEDアレイ2に1列にボンディングパッド
6を配置することができる。
【0015】ワイヤ8として線径25μmの金線やAl
線を用いる場合、厚さδを4〜6μmとすれば、セカン
ドボンド部12でのワイヤの広がりは60〜70μmと
なる(図3)。これに対してファーストボンド部10で
の、ワイヤの広がりは100〜110μm程度となる。
300DPI(ドット/インチ)のLEDアレイ2で
は、LED3の配列ピッチは84.7μmで、従来例で
はボンディングパッドを2列に配置せねばならない。そ
のため従来例では、アレイ2上のボンディングパッドに
一辺110μmの正方形等を用い、LED3の幅(LE
Dアレイ2の長手方向の幅)を50μm、長さを60μ
mとし、これらの分離用のギャップに両端で各40μ
m、パッドとパッド、LED3とパッドに各20μmを
割り当てると、LEDアレイ2の幅は少なくとも400
μmとなる。これに対して実施例では、図7のようにL
EDアレイ2を配置し、ボンディングパッド6を幅(L
EDアレイ2の長手方向の幅)70μm、長さ100μ
m、LED3の配置を300DPI(ドット/インチ)
の幅50μm、長さ60μmとする。これらのギャップ
に両端の各30μmと中央の20μmの合計80μmを
割り当てると、LEDアレイ2の幅を240μmとする
ことができる。
【0016】600DPI等の高分解能のLEDアレイ
2では、LED2やボンディングパッド6も小型化して
基板面積が減少するので、ボンディングパッドを例えば
2列に配置しても良い。このような例を図8に示す。図
において、32は分解能600DPIのLEDアレイ、
36はボンディングパッドでLED3の両側に配置し、
ワイヤ8相互のショートを防止した。この例では、ワイ
ヤ8に線径20μmのものを用い、厚さδを3〜5μm
とし、LEDアレイ32でのセカンドボンド部12のワ
イヤの広がりを60〜50μm程度とした(図3参
照)。これに応じてパッド36は例えば幅60μm、長
さ80μmとし、LED3は幅25μm、長さ30μ
m、ギャップを両端で各20μm、パッド36とLED
3の間で各10μmとすると、アレイ32の幅は250
μmとなる。
【0017】LEDアレイ2の幅は300DPIの分解
能で240μmまで小型化できることを示したが、アレ
イ2の幅wが高さhよりも狭いと倒れ易く取り扱い難
い。このことを図9に示す。アレイ2の高さhはボンデ
ィング時の衝撃に耐えること等から少なくとも200μ
m以上が好ましく、より好ましくは300±100μ
m、さらに好ましくは300±50μmとする。これに
応じてアレイ2やアレイ32の幅は、アレイ高さh±6
0μm、より好ましくはh±30μmとする。例えば図
7の配置でアレイ2の幅をさらに小型化しても、アレイ
が倒れ易くなるので、小型化を進めるよりは高さhとの
適当な比を保つ方が良い。なおアレイ2をシリコンやG
e等の異種基板上にエピタキシャル成長させる場合には
シリコン基板等が衝撃を支えるので、アレイ2のGaA
s部の厚さは例えば100μm以上とし、より好ましく
は200μm±50μmとする。
【0018】
【セカンドボンド部12の特性】表1に、最適ワイヤボ
ンディング条件を示す。
【0019】
【表1】 最適ワイヤボンディング条件 ワイヤ8の種類 LED側 基板側 金線 32μm 超音波(W) 0.14 0.145 荷重 (g) 60 65 金線 25μm 超音波(W) 0.135 0.14 荷重 (g) 55 60 金線 20μm 超音波(W) 0.13 0.135 荷重 (g) 45 50 Al線25μm 超音波(W) 0.145 0.15 荷重 (g) 60 65 * 線径は直径で示す。
【0020】図1〜図3に、セカンドボンド部12の特
性を示す。ワイヤボンディング後のワイヤ8を引っ張
り、どこで断線するかを調べた。図4の位置A,B,C
で断線する場合やパッド6自体がアレイ2から剥がれる
場合には、セカンドボンド部12が良好とし、図4の位
置D,Eで断線するものをセカンドボンド不良とした。
良好と判定した場合には、セカンドボンド部12には充
分な強度が有り、セカンドボンド部12の強度はワイヤ
8自体の強度よりも高い、あるいはファーストボンド部
10の強度やパッド6の強度よりも高いといえる。
【0021】線径25μmの金線をワイヤ8とした場合
の、厚さδとセカンドボンド不良率との関係を図1に示
す。図1から明らかなように、δが3μm未満では不良
率が高く、δが4μmでは不良率はさらに減少する。δ
が6μmを越えると不良率は再度増加し、δが8μm以
上では不良率は高い。δが3μm以下や4μm以下での
不良は、主として図4での位置Dに沿った断線である。
一方δが6μm以上や8μm以上での不良は、図4の位
置Eでワイヤ8がセカンドボンド部12から外れる不良
である。これはδが小さ過ぎる場合には、キャピラリー
外周痕での位置Dでのワイヤの変形が過剰で、ここに強
度の低い箇所があることを示している。またδが大き過
ぎる場合には、セカンドボンド部12でのワイヤの変形
が不足で、パッド6との密着強度が不足していることを
示している。
【0022】ここでは線径25μmの金線を例に説明し
たが、この傾向は線径20μmや32μmの金線、ある
いは線径25μmのAl線でも同様で、線径20μmの
金線ではδが2.5μm未満では位置Dでの断線頻度が
高く、δを3μm以上とすると、不良率が減少する。δ
を5μm超とすると位置Eでの不良率が増加し、6μm
超では位置Eでの不良率がさらに増加する。同様に線径
32μmの金線の場合、δが4μm未満では位置Dでの
断線頻度が高く、δが5μm以上では不良率が減少し、
δが8μmを越すと位置Eでの不良率が増加し、δが1
0μm以上で不良率はさらに増す。金線とAl線とによ
る最適δの差は見られず、25μmのAl線でもδが3
μm未満では位置Dでの不良率が高く、δが4μmまで
δと共に不良率が減少し、6μmを越えると位置Eでの
不良率が増加し、8μm以上では位置Eでの不良が顕著
となる。これらのことから、セカンドボンド部12での
キャピラリー外周痕でのワイヤ8の厚さδは、ワイヤ8
の線径の1/8〜1/3、より好ましくは1/6〜1/
4とした。
【0023】図2に、線径25μmの金線での、セカン
ドボンド時の荷重とδやセカンドボンド不良率の関係を
示す。なお超音波エネルギーは最適値の0.14Wであ
り、LEDアレイ2の損傷率はセカンドボンド不良率と
共に増加する。図から、キャピラリー外周痕でのワイヤ
厚δは主としてボンディング時の荷重で定まること、δ
が小さい程アレイ2のボンディング時の不良率が増加
し、同時にLEDアレイ2の損傷率が増加することが分
かる。従来例でδが小さい主因は、薄いパッド6にワイ
ヤ8を密着させるため荷重を大きくしようとしたためで
ある。そこでセカンドボンドの荷重を適切にする必要が
あり、線径25μmの金線やAl線に対しては50〜7
0g,最適には60±5g、線径32μmの金線やAl
線に対しては55〜75g,最適には65±5g、線径
20μmの金線やAl線に対しては45〜55g,最適
には50±2gとする。
【0024】図3に、δと図5のラインDに沿ったセカ
ンドボンド部12でのワイヤの広がりを示す。図から明
らかなように、δを増すとセカンドボンド部12の広が
りは減少し、小さなパッド6にボンディングできること
が分かる。またセカンドボンド部12でのワイヤの広が
りはほぼ線径に比例し、25μmや20μmの線材で
は、広がりはより小さくなる。
【0025】
【発明の効果】この発明では、ボンディング条件の改善
を通じてLEDアレイを小型化すると共に、ボンディン
グ強度を改善し、かつボンディング時のLEDアレイの
損傷を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 ボンディングツール痕外周端部でのワイヤ
厚δと、セカンドボンド不良率との関係を示す実施例の
特性図
【図2】 セカンドボンド荷重と、ワイヤ厚δ及びセ
カンドボンド不良率との関係を示す実施例の特性図
【図3】 セカンドボンドでのワイヤの広がりとδと
の関係を示す実施例の特性図
【図4】 δの定義を示す実施例の側面図
【図5】 適切なδでのセカンドボンド部の平面図
【図6】 δが小さ過ぎる場合の、セカンドボンド部
の平面図
【図7】 実施例の要部平面図
【図8】 変形例の要部平面図
【図9】 LEDアレイの幅と高さとの関係を示す、
実施例の要部平面図
【符号の説明】
2 LEDアレイ 3 LED 4 基板 6 ボンディングパッド 8 ワイヤ 10 ファーストボンド部 12 セカンドボンド部 14 キャピラリー 16 キャピラリー痕
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/60 301 A 6918−4M

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 LEDアレイに設けたボンディングパ
    ッドと、該LEDアレイを搭載した基板に設けたボンデ
    ィングパッドとを、ワイヤボンディングで接続したLE
    Dプリントヘッドにおいて、 該LEDアレイ側のボンディングパッドに、ワイヤボン
    ディングのセカンドボンドを行うと共に、セカンドボン
    ド部でのボンディングツール痕外周部でのワイヤ厚をワ
    イヤ線径の1/8〜1/3としたことを特徴とする、L
    EDプリントヘッド。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005347401A (ja) * 2004-06-01 2005-12-15 Meiko:Kk 光素子チップ部品
KR100758683B1 (ko) * 2005-11-15 2007-09-13 후지제롯쿠스 가부시끼가이샤 Led 어레이 헤드 및 화상 기록 장치
JP2008251668A (ja) * 2007-03-29 2008-10-16 Suzuka Fuji Xerox Co Ltd ワイヤーボンディング方法およびledプリントヘッド用ベースの製造方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005347401A (ja) * 2004-06-01 2005-12-15 Meiko:Kk 光素子チップ部品
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JP2008251668A (ja) * 2007-03-29 2008-10-16 Suzuka Fuji Xerox Co Ltd ワイヤーボンディング方法およびledプリントヘッド用ベースの製造方法
JP4530230B2 (ja) * 2007-03-29 2010-08-25 鈴鹿富士ゼロックス株式会社 ワイヤーボンディング方法およびledプリントヘッドの製造方法

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