JPH05183023A - カード式コンタクトプローブ - Google Patents
カード式コンタクトプローブInfo
- Publication number
- JPH05183023A JPH05183023A JP5318991A JP5318991A JPH05183023A JP H05183023 A JPH05183023 A JP H05183023A JP 5318991 A JP5318991 A JP 5318991A JP 5318991 A JP5318991 A JP 5318991A JP H05183023 A JPH05183023 A JP H05183023A
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- Japan
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- contact
- probe
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 この発明は、端子部のピッチ間隔の極めて狭
いプリント基板、ＩＣ、ＬＳＩ，液晶基板等の端子部を
点検することができるカード式コンタクトプローブに関
するものである。 【構成】この発明に於いては、中心導体に絶縁体を介し
て外部導体を被覆し、被測定部に接触する先端部を下方
に向けて折曲してなるバネ性を有する同軸コンタクトプ
ローブを支持板上に固定し、該コンタクトプローブの上
面にはバネ性を有する弾性体を固定し、前記コンタクト
プローブの先端部が被測定面に当接すると、先端部は前
記弾性体のバネの力に抗して上方に上昇し、先端部が被
測定面から離れると、弾性体のバネの力により元の位置
に復帰するように構成したことを特徴とする。
いプリント基板、ＩＣ、ＬＳＩ，液晶基板等の端子部を
点検することができるカード式コンタクトプローブに関
するものである。 【構成】この発明に於いては、中心導体に絶縁体を介し
て外部導体を被覆し、被測定部に接触する先端部を下方
に向けて折曲してなるバネ性を有する同軸コンタクトプ
ローブを支持板上に固定し、該コンタクトプローブの上
面にはバネ性を有する弾性体を固定し、前記コンタクト
プローブの先端部が被測定面に当接すると、先端部は前
記弾性体のバネの力に抗して上方に上昇し、先端部が被
測定面から離れると、弾性体のバネの力により元の位置
に復帰するように構成したことを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、プリント基板、Ｉ
Ｃ、ＬＳＩ，液晶基板などの電気回路の断線、ショート
などを点検するコンタクトプローブに係り、更に詳記す
れば、上記プリント基板等の端子部のピッチ間隔の極め
て狭い基板等を点検するのに特に適したカード式コンタ
クトプローブに関するものである。
Ｃ、ＬＳＩ，液晶基板などの電気回路の断線、ショート
などを点検するコンタクトプローブに係り、更に詳記す
れば、上記プリント基板等の端子部のピッチ間隔の極め
て狭い基板等を点検するのに特に適したカード式コンタ
クトプローブに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】プリント配線基板の電気回路の断線、シ
ョート等を点検するため従来からコンタクトプローブが
使用されている。このコンタクトプローブは、図６に示
すように、プリント基板検査機の取付板１に固定的に装
着されるソケツト８に嵌合される胴部外部導体２と、こ
の胴部外部導体２にコイルスプリング３を介して装着さ
れる中心導体４とからなり、該中心導体４の先端部６が
プリント基板の被測定面５に押し当てられたときに、中
心導体４が胴部外部導体２に対して相対移動可能に構成
されている。
ョート等を点検するため従来からコンタクトプローブが
使用されている。このコンタクトプローブは、図６に示
すように、プリント基板検査機の取付板１に固定的に装
着されるソケツト８に嵌合される胴部外部導体２と、こ
の胴部外部導体２にコイルスプリング３を介して装着さ
れる中心導体４とからなり、該中心導体４の先端部６が
プリント基板の被測定面５に押し当てられたときに、中
心導体４が胴部外部導体２に対して相対移動可能に構成
されている。
【０００３】上記プリント基板の取付板１は、コンタク
トプローブ同士の絶縁の役割をするものであり、それ故
プラスチックで形成され、検査すべき端子部のピッチ間
隔に合わせて、多数のコンタクトプローブが装着されて
いる。しかして、最近端子部のピッチ間隔の狭いプリン
ト基板が開発されてきたが、上記従来技術によったので
は、ソケットが必要であること、取付板を介してコンタ
クトプローブ同士は、必然的にある程度は離れること、
コンタクトプローブにはスプリングが内装されているの
である程度の径は必要になること、などの理由から、せ
いぜいピッチ間隔0.6mm程度が限度であり、これ以下のピ
ッチ間隔の端子部の検査はすることができない問題があ
った。
トプローブ同士の絶縁の役割をするものであり、それ故
プラスチックで形成され、検査すべき端子部のピッチ間
隔に合わせて、多数のコンタクトプローブが装着されて
いる。しかして、最近端子部のピッチ間隔の狭いプリン
ト基板が開発されてきたが、上記従来技術によったので
は、ソケットが必要であること、取付板を介してコンタ
クトプローブ同士は、必然的にある程度は離れること、
コンタクトプローブにはスプリングが内装されているの
である程度の径は必要になること、などの理由から、せ
いぜいピッチ間隔0.6mm程度が限度であり、これ以下のピ
ッチ間隔の端子部の検査はすることができない問題があ
った。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、このよう
な問題点を解消しようとするものであり、コンタクトプ
ローブの細径化を計り、0.6mm以下のピッチ間隔の端子部
にも適用できるカード式コンタクトプローブを提供する
ことを目的とする。
な問題点を解消しようとするものであり、コンタクトプ
ローブの細径化を計り、0.6mm以下のピッチ間隔の端子部
にも適用できるカード式コンタクトプローブを提供する
ことを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的に沿う本発明の
構成は、中心導体に絶縁体を介して外部導体を被覆し、
被測定部に接触する先端部を下方に向けて折曲してなる
バネ性を有する同軸コンタクトプローブを支持板上に固
定し、該コンタクトプローブの上面にはバネ性を有する
弾性体を固定し、前記コンタクトプローブの先端部が被
測定面に当接すると、先端部は前記弾性体のバネの力に
抗して上方に上昇し、先端部が被測定面から離れると、
弾性体のバネの力により元の位置に復帰するように構成
したことを特徴とする。要するに、本発明は、コンタクト
プローブの内周若しくは中心導体の外周に絶縁体を被覆
することによってプラスチック製の取付板を不要とし、
コンタクトプローブ同士を接触させて固定することを可
能にすると共に、コンタクトプローブをバネ性を有する
材料から形成することにより、スプリングの内装を不要
とし、先端部の復帰を確実にするためにコンタクトプロ
ーブ上面には、弾性体を配設したことを要旨とするもの
である。
構成は、中心導体に絶縁体を介して外部導体を被覆し、
被測定部に接触する先端部を下方に向けて折曲してなる
バネ性を有する同軸コンタクトプローブを支持板上に固
定し、該コンタクトプローブの上面にはバネ性を有する
弾性体を固定し、前記コンタクトプローブの先端部が被
測定面に当接すると、先端部は前記弾性体のバネの力に
抗して上方に上昇し、先端部が被測定面から離れると、
弾性体のバネの力により元の位置に復帰するように構成
したことを特徴とする。要するに、本発明は、コンタクト
プローブの内周若しくは中心導体の外周に絶縁体を被覆
することによってプラスチック製の取付板を不要とし、
コンタクトプローブ同士を接触させて固定することを可
能にすると共に、コンタクトプローブをバネ性を有する
材料から形成することにより、スプリングの内装を不要
とし、先端部の復帰を確実にするためにコンタクトプロ
ーブ上面には、弾性体を配設したことを要旨とするもの
である。
【０００６】
【実施例】次に、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図１は、本発明の実施例を示す上面図であり、図
２は本発明の実施例を示す断面図である。基板１１上の
四辺には多数のコンタクトプローブ１２が、互いに接触
して固定され、その上面には、弾性体１３が、固定具１
４によってスペーサー１５を介して、基板１１に固定さ
れている。尚、弾性体１３の下面は、上下動自在となる
ように固定具１５に固定されている。
する。図１は、本発明の実施例を示す上面図であり、図
２は本発明の実施例を示す断面図である。基板１１上の
四辺には多数のコンタクトプローブ１２が、互いに接触
して固定され、その上面には、弾性体１３が、固定具１
４によってスペーサー１５を介して、基板１１に固定さ
れている。尚、弾性体１３の下面は、上下動自在となる
ように固定具１５に固定されている。
【０００７】本発明のコンタクトプローブ１２は、図４
に示すように、中心導体１６の外周に絶縁体１７を介し
て外部導体１８を被覆することにより構成されている。
中心導体１６としては、好ましくは、タングステン線の
外周にニッケルメッキしたものが使用され、絶縁体１７
としては好ましくはテフロンが使用され、外部導体１８
としては、好ましくは銅合金が使用される。本発明の基
板１１は、コンタクトプローブ同士を絶縁する目的は有
しないので、その材質は特に限定されず、例えばプラス
チック、金属等の適当な材料から形成することができ
る。
に示すように、中心導体１６の外周に絶縁体１７を介し
て外部導体１８を被覆することにより構成されている。
中心導体１６としては、好ましくは、タングステン線の
外周にニッケルメッキしたものが使用され、絶縁体１７
としては好ましくはテフロンが使用され、外部導体１８
としては、好ましくは銅合金が使用される。本発明の基
板１１は、コンタクトプローブ同士を絶縁する目的は有
しないので、その材質は特に限定されず、例えばプラス
チック、金属等の適当な材料から形成することができ
る。
【０００８】弾性体１３は、バネ性を有する材料である
なら特に限定されず、例えばゴムなどの単一材料であっ
ても或は２枚の板体の間にコイルスプリングを介装した
構造であってもよい。コンタクトプローブ１２を基板１
１上に固定するには、ハンダ付け或は接着等の適当な手
段により行えばよい。本発明のコンタクトプローブは、
極めて細く形成されているので、そのままでは末端にリ
ード線を接続するのは極めて困難であるが、図５に示す
ように、隣接する一方のコンタクトプローブ１２を折曲
させれば、末端にリード線２０を容易に接続することが
できる。
なら特に限定されず、例えばゴムなどの単一材料であっ
ても或は２枚の板体の間にコイルスプリングを介装した
構造であってもよい。コンタクトプローブ１２を基板１
１上に固定するには、ハンダ付け或は接着等の適当な手
段により行えばよい。本発明のコンタクトプローブは、
極めて細く形成されているので、そのままでは末端にリ
ード線を接続するのは極めて困難であるが、図５に示す
ように、隣接する一方のコンタクトプローブ１２を折曲
させれば、末端にリード線２０を容易に接続することが
できる。
【０００９】
【作用】次に、上記のように構成された本発明の作用を
説明する。図３に示すように、コンタクトプローブ１２
の先端を被測定面に当接させると、先端部１９は、図３
の破線で示すように、コンタクトプローブ自体のバネ性
により上方に反り返って弾性体１３を圧縮する。次い
で、検査終了後、コンタクトプローブ先端を被測定面か
ら離すと、先端部１９は、弾性体１３の復元力により元
の位置に復帰する。
説明する。図３に示すように、コンタクトプローブ１２
の先端を被測定面に当接させると、先端部１９は、図３
の破線で示すように、コンタクトプローブ自体のバネ性
により上方に反り返って弾性体１３を圧縮する。次い
で、検査終了後、コンタクトプローブ先端を被測定面か
ら離すと、先端部１９は、弾性体１３の復元力により元
の位置に復帰する。
【００１０】
【効果】以上述べたごとく、本発明によれば、コンタク
トプローブ自体の内部に絶縁体を被覆しているので、コ
ンタクトプローブ同士を接触させて基板に固定すること
ができ、しかもコイルスプリングを内装せずに、コンタ
クトプローブ自体のバネ性とコンタクトプローブの上方
に配設した弾性体とによって、コンタクトプローブ先端
部を上下動し得るように構成しているから、コンタクト
プローブ自体を極細に形成することができるので、従来
のコンタクトプローブでは不可能であったピッチ間隔の
極めて狭いプリント基板の端子部導通点検をすることが
できる。最近、プリント基板等の端子部は、益々縮小す
る傾向にあるので、これは極めて画期的な効果である。
具体的には、従来は、ピッチ間隔0.6mm以下の端子部の
点検をすることは不可能若しくは極めて困難を伴った
が、本発明によれば、0.2mm若しくはそれ以下のピッチ間
隔の端子部でも容易に点検することができる。
トプローブ自体の内部に絶縁体を被覆しているので、コ
ンタクトプローブ同士を接触させて基板に固定すること
ができ、しかもコイルスプリングを内装せずに、コンタ
クトプローブ自体のバネ性とコンタクトプローブの上方
に配設した弾性体とによって、コンタクトプローブ先端
部を上下動し得るように構成しているから、コンタクト
プローブ自体を極細に形成することができるので、従来
のコンタクトプローブでは不可能であったピッチ間隔の
極めて狭いプリント基板の端子部導通点検をすることが
できる。最近、プリント基板等の端子部は、益々縮小す
る傾向にあるので、これは極めて画期的な効果である。
具体的には、従来は、ピッチ間隔0.6mm以下の端子部の
点検をすることは不可能若しくは極めて困難を伴った
が、本発明によれば、0.2mm若しくはそれ以下のピッチ間
隔の端子部でも容易に点検することができる。
【００１１】
【図１】本発明の実施例を示す上面図である。
【図２】本発明の実施例を示す断面図である。
【図３】本発明の実施例を示す側面図である。
【図４】本発明のコンタクトプローブを示す断面図であ
る。
る。
【図５】本発明のコンタクトプローブにリード線を接続
した状態を示す断面図である。
した状態を示す断面図である。
【図４】従来のコンタクトプローブを示す断面図であ
る。
る。
【００１２】
１１ 基板 １２ コンタクトプローブ １３ 弾性体 １４ 固定具 １５ スペーサー １６ 中心導体 １７ 絶縁体 １８ 外部導体
【手続補正書】
【提出日】平成４年１２月１０日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図面の簡単な説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例を示す上面図である。
【図２】本発明の実施例を示す断面図である。
【図３】本発明の実施例を示す側面図である。
【図４】本発明のコンタクトプローブを示す断面図であ
る。
る。
【図５】本発明のコンタクトプローブにリード線を接続
した状態を示す断面図である。
した状態を示す断面図である。
【図６】従来のコンタクトプローブを示す断面図であ
る。
る。
Claims (1)
- 【請求項１】中心導体に絶縁体を介して外部導体を被覆
し、被測定部に接触する先端部を下方に向けて折曲して
なるバネ性を有する同軸コンタクトプローブを支持板上
に固定し、該コンタクトプローブの上面にはバネ性を有
する弾性体を固定し、前記コンタクトプローブの先端部
が被測定面に当接すると、先端部は前記弾性体のバネの
力に抗して上方に上昇し、先端部が被測定面から離れる
と、弾性体のバネの力により元の位置に復帰するように
構成したことを特徴とするカード式コンタクトプロー
ブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3053189A JP2651430B2 (ja) | 1991-02-26 | 1991-02-26 | カード式コンタクトプローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3053189A JP2651430B2 (ja) | 1991-02-26 | 1991-02-26 | カード式コンタクトプローブ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05183023A true JPH05183023A (ja) | 1993-07-23 |
| JP2651430B2 JP2651430B2 (ja) | 1997-09-10 |
Family
ID=12935931
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3053189A Expired - Fee Related JP2651430B2 (ja) | 1991-02-26 | 1991-02-26 | カード式コンタクトプローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2651430B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111504766A (zh) * | 2020-05-08 | 2020-08-07 | 强一半导体（苏州）有限公司 | 一种mems探针单转轴对称弯曲测试结构及其俯仰臂 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6124244A (ja) * | 1984-07-13 | 1986-02-01 | Toshiba Corp | 半導体装置のテスタ用固定カ−ド |
| JPS63208237A (ja) * | 1987-02-25 | 1988-08-29 | Hitachi Ltd | 半導体装置の測定装置 |
| JPH0250452A (ja) * | 1988-08-12 | 1990-02-20 | Nec Kyushu Ltd | プローバ |
-
1991
- 1991-02-26 JP JP3053189A patent/JP2651430B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6124244A (ja) * | 1984-07-13 | 1986-02-01 | Toshiba Corp | 半導体装置のテスタ用固定カ−ド |
| JPS63208237A (ja) * | 1987-02-25 | 1988-08-29 | Hitachi Ltd | 半導体装置の測定装置 |
| JPH0250452A (ja) * | 1988-08-12 | 1990-02-20 | Nec Kyushu Ltd | プローバ |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111504766A (zh) * | 2020-05-08 | 2020-08-07 | 强一半导体（苏州）有限公司 | 一种mems探针单转轴对称弯曲测试结构及其俯仰臂 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2651430B2 (ja) | 1997-09-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080523 Year of fee payment: 11 |
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| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 12 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090523 |
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| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |