JPH05180761A - 原子吸光分光分析装置 - Google Patents
原子吸光分光分析装置Info
- Publication number
- JPH05180761A JPH05180761A JP30252591A JP30252591A JPH05180761A JP H05180761 A JPH05180761 A JP H05180761A JP 30252591 A JP30252591 A JP 30252591A JP 30252591 A JP30252591 A JP 30252591A JP H05180761 A JPH05180761 A JP H05180761A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- incident
- spectroscope
- spectroscopes
- wavelengths
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 原子吸光分析で定量分析可能な試料の濃度範
囲を拡大する 【構成】 複数の分光器Ｍ１Ｍ２に同一試料原子化部２
を透過した光を分割して入射させ、各分光器毎に異なる
波長の光を検出し測光するようにした。異なる波長の光
として定量しようとする元素の異なる共鳴線の波長を設
定しておくと、共鳴線によって定量できる試料濃度範囲
が異なるから、同一試料を用いている今の場合何れかの
分光器において試料濃度が測定範囲に入っていることに
なる。
囲を拡大する 【構成】 複数の分光器Ｍ１Ｍ２に同一試料原子化部２
を透過した光を分割して入射させ、各分光器毎に異なる
波長の光を検出し測光するようにした。異なる波長の光
として定量しようとする元素の異なる共鳴線の波長を設
定しておくと、共鳴線によって定量できる試料濃度範囲
が異なるから、同一試料を用いている今の場合何れかの
分光器において試料濃度が測定範囲に入っていることに
なる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は試料を火炎或は試料原子
化炉において原子化し、原子化された試料雰囲気中を通
過する定量目的元素の共鳴線の吸収を測定して元素定量
を行う原子吸光分析装置に関する。
化炉において原子化し、原子化された試料雰囲気中を通
過する定量目的元素の共鳴線の吸収を測定して元素定量
を行う原子吸光分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】元素には通常何本かの共鳴線があって、
定量分析ではその何れを用いるかは任意であるが、共鳴
線によって定量分析に適した試料濃度範囲が存在し、そ
れらは共鳴線によって異なっているので、使用される試
料の濃度に応じて適当な共鳴線を選ぶか、一つ共鳴線で
試料を適当に稀釈して測定をすると云うようにしてい
る。前者の方法では、或る共鳴線を使って測定した所、
試料濃度が高すぎると判明したときは、別の共鳴線によ
る検量線を作り直さなければならない。後者の方法は検
量線を作り直す手間はないが、試料毎に稀釈作業が必要
であり、一回の稀釈で試料濃度が定量可能な範囲に入っ
ているとは限らず、一々測定してみないと稀釈程度の可
否が判明しないと云う難点がある。
定量分析ではその何れを用いるかは任意であるが、共鳴
線によって定量分析に適した試料濃度範囲が存在し、そ
れらは共鳴線によって異なっているので、使用される試
料の濃度に応じて適当な共鳴線を選ぶか、一つ共鳴線で
試料を適当に稀釈して測定をすると云うようにしてい
る。前者の方法では、或る共鳴線を使って測定した所、
試料濃度が高すぎると判明したときは、別の共鳴線によ
る検量線を作り直さなければならない。後者の方法は検
量線を作り直す手間はないが、試料毎に稀釈作業が必要
であり、一回の稀釈で試料濃度が定量可能な範囲に入っ
ているとは限らず、一々測定してみないと稀釈程度の可
否が判明しないと云う難点がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明は試料の稀釈と
か共鳴線を変えて再測定すると云った手間なしに一度に
測定をすますことのできる原子吸光分析装置を提供しよ
うとするものである。
か共鳴線を変えて再測定すると云った手間なしに一度に
測定をすますことのできる原子吸光分析装置を提供しよ
うとするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】一つの試料原子化部と、
この試料原子化部を透過した光束を複数の光束に分割す
る手段と、これらの分割された光束が入射せしめられる
各独立に波長設定できる複数の分光器と、各分光器毎の
測光データを採取する手段とにより原子吸光分析装置を
構成した。
この試料原子化部を透過した光束を複数の光束に分割す
る手段と、これらの分割された光束が入射せしめられる
各独立に波長設定できる複数の分光器と、各分光器毎の
測光データを採取する手段とにより原子吸光分析装置を
構成した。
【０００５】
【作用】複数の分光器に同一試料原子化部の透過光が入
射せしめられるので、各分光器は同一試料の同一原子化
条件下での測定を行うことになる。こゝで各分光器は独
立に波長設定可能だから、各分光器に対し、定量目的元
素の異なる共鳴線波長を設定しておけば、一度に複数の
共鳴線についての測定が完了し、試料を稀釈しなくて
も、その試料濃度は何れかの分光器において定量可能な
濃度範囲に入っていることになる。
射せしめられるので、各分光器は同一試料の同一原子化
条件下での測定を行うことになる。こゝで各分光器は独
立に波長設定可能だから、各分光器に対し、定量目的元
素の異なる共鳴線波長を設定しておけば、一度に複数の
共鳴線についての測定が完了し、試料を稀釈しなくて
も、その試料濃度は何れかの分光器において定量可能な
濃度範囲に入っていることになる。
【０００６】
【実施例】図１に本発明の一実施例を示す。この実施例
は分光器を二つ使用したもので、Ｍ１，Ｍ２が夫々分光
器であり、Ｓ１１，Ｓ２１は夫々の入射スリット、Ｓ１
２，Ｓ２２は出射スリットでＧ１，Ｇ２は分散素子の回
折格子であり、これは各独立に駆動される。１は定量し
ようとする元素の共鳴線を出す光源、２は試料原子化部
で、試料の性質によって試料原子化用バーナと試料原子
化炉とが交換可能である。光源１から出射した光束は試
料原子化部２を透過した後、半透明鏡ｍｈで２光束に分
割され、その一つが分光器Ｍ１に入射せしめられ、他の
一つの光束は鏡ｍ２を介して分光器Ｍ２に入射せしめら
れる。Ｐ１は分光器Ｍ１の出射光を測光する光電子増倍
管、Ｐ２は分光器Ｍ２の出射光を測光する光電子増倍管
である。これら二つの光電子増倍管の出力はデータ処理
装置３に取込まれてデータ処理され、分析結果が表示装
置４に表示される。
は分光器を二つ使用したもので、Ｍ１，Ｍ２が夫々分光
器であり、Ｓ１１，Ｓ２１は夫々の入射スリット、Ｓ１
２，Ｓ２２は出射スリットでＧ１，Ｇ２は分散素子の回
折格子であり、これは各独立に駆動される。１は定量し
ようとする元素の共鳴線を出す光源、２は試料原子化部
で、試料の性質によって試料原子化用バーナと試料原子
化炉とが交換可能である。光源１から出射した光束は試
料原子化部２を透過した後、半透明鏡ｍｈで２光束に分
割され、その一つが分光器Ｍ１に入射せしめられ、他の
一つの光束は鏡ｍ２を介して分光器Ｍ２に入射せしめら
れる。Ｐ１は分光器Ｍ１の出射光を測光する光電子増倍
管、Ｐ２は分光器Ｍ２の出射光を測光する光電子増倍管
である。これら二つの光電子増倍管の出力はデータ処理
装置３に取込まれてデータ処理され、分析結果が表示装
置４に表示される。
【０００７】分光器Ｍ１，Ｍ２は予め定量しようとする
元素の二つの共鳴線の波長に設定しておく。データ処理
装置にはこれら二つの共鳴線波長に対して作られた検量
線のデータを格納しておく。データ処理装置３では二つ
の光電子増倍管Ｐ１，Ｐ２からデータを取込み、二つの
共鳴線について夫々試料中の目的元素の濃度を夫々の共
鳴線に対する検量線から求めるが、このとき、何れかの
共鳴線についての測定データはその共鳴線に対する検量
線の濃度範囲を超えている。そこで濃度範囲が検量線の
濃度範囲にある方の共鳴線による測定結果を分析結果と
して表示する。
元素の二つの共鳴線の波長に設定しておく。データ処理
装置にはこれら二つの共鳴線波長に対して作られた検量
線のデータを格納しておく。データ処理装置３では二つ
の光電子増倍管Ｐ１，Ｐ２からデータを取込み、二つの
共鳴線について夫々試料中の目的元素の濃度を夫々の共
鳴線に対する検量線から求めるが、このとき、何れかの
共鳴線についての測定データはその共鳴線に対する検量
線の濃度範囲を超えている。そこで濃度範囲が検量線の
濃度範囲にある方の共鳴線による測定結果を分析結果と
して表示する。
【０００８】図２は本発明の他の実施例で、図１の半透
明鏡ｍｈを回転するセクターミラーｍｓとし、各分光器
Ｍ１，Ｍ２の出射光をセクターミラーｍｓ’で一つの光
電子増倍管Ｐに入射させるようにして、ｍｓとｍｓ’を
同期して回転させ、またその回転と同期して光電子増倍
管Ｐの出力をサンプリングすることにより、分光器Ｍ
１，Ｍ２の出射光のデータを各別に採取するようにした
ものである。図１，図２でＤ２は重水素ランプで、連続
スペクトル光を用いてバックグラウンド補正をするため
に設けられ、その出射光は半透明鏡Ｍｏにより光源１の
出射光束と重ねて分光器Ｍ１，Ｍ２に入射せしめられ
る。
明鏡ｍｈを回転するセクターミラーｍｓとし、各分光器
Ｍ１，Ｍ２の出射光をセクターミラーｍｓ’で一つの光
電子増倍管Ｐに入射させるようにして、ｍｓとｍｓ’を
同期して回転させ、またその回転と同期して光電子増倍
管Ｐの出力をサンプリングすることにより、分光器Ｍ
１，Ｍ２の出射光のデータを各別に採取するようにした
ものである。図１，図２でＤ２は重水素ランプで、連続
スペクトル光を用いてバックグラウンド補正をするため
に設けられ、その出射光は半透明鏡Ｍｏにより光源１の
出射光束と重ねて分光器Ｍ１，Ｍ２に入射せしめられ
る。
【０００９】図３は本発明の更に他の実施例を示す。こ
の実施例では分光器としてモノクロメータの代わりにポ
リクロメータを使用する。分光器Ｍのスペクトル像面上
で目的元素の複数の共鳴線波長位置に夫々スリットＳ
ｋ，Ｓｌ，Ｓｍ等を配置し、夫々の背後に受光素子Ｐ
ｋ，Ｐｌ，Ｐｍを置いて、同時に複数の共鳴線について
測定を行う。データ処理装置３におけるデータ処理の仕
方は前述各実施例と同じである。分光器のスペクトル像
面に複数のスリットを置く代わりにスペクトル像面に一
次元撮像素子を置き、所定の複数の波長位置の出力をサ
ンプリングするようにすることも可能である。
の実施例では分光器としてモノクロメータの代わりにポ
リクロメータを使用する。分光器Ｍのスペクトル像面上
で目的元素の複数の共鳴線波長位置に夫々スリットＳ
ｋ，Ｓｌ，Ｓｍ等を配置し、夫々の背後に受光素子Ｐ
ｋ，Ｐｌ，Ｐｍを置いて、同時に複数の共鳴線について
測定を行う。データ処理装置３におけるデータ処理の仕
方は前述各実施例と同じである。分光器のスペクトル像
面に複数のスリットを置く代わりにスペクトル像面に一
次元撮像素子を置き、所定の複数の波長位置の出力をサ
ンプリングするようにすることも可能である。
【００１０】
【発明の効果】原子吸光分析では一般に測定可能な濃度
範囲がせまいのであるが、本発明によれば、一元素につ
き同時に複数の共鳴線によって原子吸光分析を行うの
で、一試料そのまゝでその濃度範囲が何れかの共鳴線に
適合することになり、試料濃度を変えて測定をやり直す
とか、共鳴線の選択を変え、検量線を作り直して測定を
やり直すと云った手間がなくなり、一度の測定で分析を
完了することができる。また試料によっては試料原子化
炉によってフレーム試料原子化法による濃度範囲までカ
バーすることが可能となり、試料原子化部を交換する作
業の必要頻度も低下させることができる。
範囲がせまいのであるが、本発明によれば、一元素につ
き同時に複数の共鳴線によって原子吸光分析を行うの
で、一試料そのまゝでその濃度範囲が何れかの共鳴線に
適合することになり、試料濃度を変えて測定をやり直す
とか、共鳴線の選択を変え、検量線を作り直して測定を
やり直すと云った手間がなくなり、一度の測定で分析を
完了することができる。また試料によっては試料原子化
炉によってフレーム試料原子化法による濃度範囲までカ
バーすることが可能となり、試料原子化部を交換する作
業の必要頻度も低下させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例のブロック図
【図２】本発明の他の実施例のブロック図
【図３】本発明の更に他の実施例のブロック図
Ｆ１ 光源 ２ 試料原子化部 ３ データ処理回路 ４ 表示装置 Ｍ１，Ｍ２ 分光器 Ｐ１，Ｐ２ 光電子増倍管 ｍｋ 半透明鏡
Claims (1)
- 【請求項１】一つの試料原子化部と、この試料原子化部
透過光から選択された複数の波長の光を取出し測光する
手段と、これら複数の波長についての測光データから算
出される目的元素の濃度が最適範囲に入っている波長に
ついての測光データから目的元素の濃度を算出するデー
タ処理装置を備えた原子吸光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30252591A JPH05180761A (ja) | 1991-10-21 | 1991-10-21 | 原子吸光分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30252591A JPH05180761A (ja) | 1991-10-21 | 1991-10-21 | 原子吸光分光分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05180761A true JPH05180761A (ja) | 1993-07-23 |
Family
ID=17910017
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30252591A Pending JPH05180761A (ja) | 1991-10-21 | 1991-10-21 | 原子吸光分光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05180761A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003004982A1 (fr) * | 2001-07-05 | 2003-01-16 | Hamamatsu Photonics K.K. | Dispositif spectroscopique |
| JP2011512534A (ja) * | 2008-02-15 | 2011-04-21 | エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ | 質量分析法による定量化法 |
| WO2014002677A1 (ja) * | 2012-06-25 | 2014-01-03 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び試料測定方法 |
| WO2019043858A1 (ja) * | 2017-08-31 | 2019-03-07 | 株式会社島津製作所 | 原子吸光分光光度計及び原子吸光測定方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5127443A (ja) * | 1974-08-30 | 1976-03-08 | Hitachi Ltd | |
| JPS5533542A (en) * | 1978-08-31 | 1980-03-08 | Matsushita Electric Works Ltd | Dry preservation container |
| JPH03226650A (ja) * | 1990-01-31 | 1991-10-07 | Yokogawa Electric Corp | シート状物体の特性測定装置 |
-
1991
- 1991-10-21 JP JP30252591A patent/JPH05180761A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5127443A (ja) * | 1974-08-30 | 1976-03-08 | Hitachi Ltd | |
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| JPH03226650A (ja) * | 1990-01-31 | 1991-10-07 | Yokogawa Electric Corp | シート状物体の特性測定装置 |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003004982A1 (fr) * | 2001-07-05 | 2003-01-16 | Hamamatsu Photonics K.K. | Dispositif spectroscopique |
| US7038775B2 (en) | 2001-07-05 | 2006-05-02 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectroscopic device |
| JP2011512534A (ja) * | 2008-02-15 | 2011-04-21 | エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ | 質量分析法による定量化法 |
| WO2014002677A1 (ja) * | 2012-06-25 | 2014-01-03 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び試料測定方法 |
| JP2014006160A (ja) * | 2012-06-25 | 2014-01-16 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置及び試料測定方法 |
| CN104395730A (zh) * | 2012-06-25 | 2015-03-04 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置以及试样测量方法 |
| US10168345B2 (en) | 2012-06-25 | 2019-01-01 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analysis apparatus and sample measuring method |
| WO2019043858A1 (ja) * | 2017-08-31 | 2019-03-07 | 株式会社島津製作所 | 原子吸光分光光度計及び原子吸光測定方法 |
| JPWO2019043858A1 (ja) * | 2017-08-31 | 2020-04-16 | 株式会社島津製作所 | 原子吸光分光光度計及び原子吸光測定方法 |
| EP3677898A4 (en) * | 2017-08-31 | 2021-04-07 | Shimadzu Corporation | ATOMIC ABSORPTION SPECTROPHOTOMETER AND METHOD FOR MEASURING ATOMIC ABSORPTION |
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