JPH05152397A - 電子部品の自動検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電子部品を個別分離して搬送供給することに
より、電子部品のジャムを解消し、検査時間の短縮を図
ると共に、装置の信頼性を向上させる。 【構成】 スティック２から電子部品３が順次供給され
るプールシュート４と、並列配置された複数個のフィー
ドシュート７と、プールシュート４内の電子部品を振り
分け前記各フィードシュート７に１つずつ順次供給する
フィードシャトル６と、それぞれ複数個の電子部品収納
部を有して並列配置された複数個の測定シュート９と、
それぞれフィードシュート７からの電子部品を受け取り
対応する測定シュート９に受け渡す複数個のバケット１
１を有して間欠的に回転されるロータリーシュート８
と、ロータリーシュート８のバケット１１を進退移動さ
せるバケット駆動手段とで構成した。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電子部品の自動検査装
置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来から、ＩＣ、コンデンサ、ディスク
リートデバイス等のモールド型電子部品（以下総称して
電子部品と云う）の特性を検査する場合、検査時間の短
縮を図るため一台の装置で複数個（例えば３２個）の電
子部品のある特性をテストプログラムにしたがって同時
に検査することが行われている。特性検査に際して、未
検査の電子部品は一端が開放するスティック等の容器内
に所定個数収納されており、このスティックを検査時に
所定角度傾斜させることにより、下端開放部から電子部
品を自重により１つずつ排出してプールシュートに溜
め、このプールシュート内の電子部品をフィードシャト
ルによって１つずつ分離して、並設された複数個の測定
ステーションのヒートシュートへ分配する。ヒートシュ
ートは恒温槽内にあり、電子部品を所定時間熱（または
冷却）する。所定温度に熱せられた電子部品は、個別に
分離されて測定部のソケットに接続されることで抵抗等
の特性を測定され、測定終了後は各カテゴリへその性能
に応じて分類され、排出シュートを通ってアンローディ
グ部に設置された空のスティックに順次収納される。な
お、測定ステーションは、例えば４つの測定部を有して
８列設けられることにより、３２個の電子部品の特性、
例えば抵抗を同時に測定する。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、この種の自
動検査装置において、従来は電子部品を一個ずつ確実に
分離して所定位置に搬送供給する手段として一般に分離
ピンを用いているが、特にモールド型電子部品の場合、
電子部品のジャム、摩擦などによりシュート中で停止し
易いという問題があった。その原因は、電子部品を合成
樹脂でモールド形成する際、金型のパーティングライン
に沿って発生するバリによるもので、前後の電子部品同
士のバリが互いに干渉し合って電子部品の動きを拘束す
るためである。すなわち、バリが互いに接触して重なり
合うと、電子部品をシュートに押し付け結果として電子
部品の滑動を阻止する。その場合、リード数が多く、重
量のある大型電子部品は、自重で滑りはじめるためバリ
による影響は少ないが、小型軽量部品にあっては完全に
拘束されてしまい流れない事態が生じるものである。

【０００４】したがって、本発明は上記したような従来
の問題点に鑑みてなされたもので、その目的とするとこ
ろは、電子部品を個別分離して搬送供給することによ
り、電子部品のジャムを解消し、検査時間の短縮を図る
と共に、装置の信頼性を向上させるようにした電子部品
の自動検査装置を提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するためになされたもので、その第１の発明は、スティ
ックから電子部品が順次供給されるプールシュートと、
並列配置された複数個のフィードシュートと、前記プー
ルシュートから順次排出される電子部品を振り分け前記
各フィードシュートに１つずつ順次供給するフィードシ
ャトルと、それぞれ複数個の電子部品収納部を有して並
列配置された複数個の測定シュートと、それぞれフィー
ドシュートから順次排出される電子部品を受け取り対応
する測定シュートに受け渡す複数個のバケットを有して
間欠的に回転されるロータリーシュートと、ロータリー
シュートのバケットを進退移動させるバケット駆動手段
とで構成したものである。第２の発明は、それぞれ複数
段の測定部を有して並列配置された複数個の測定ステー
ションと、それぞれ複数個の電子部品収納部を有して各
測定ステーションに対応して並列配設された複数個の測
定シュートと、それぞれ複数個の電子部品支持部を有し
て各測定シュートに対応して並列配置された複数個の昇
降部材とを備え、前記測定シュートは電子部品を保持し
てデバイス受け渡し位置、待機位置および測定位置間を
往復移動し、測定位置に移動した際各電子部品収納部内
の電子部品をソケットに接触させ、ソケットによる特性
検査後デバイス受け渡し位置と待機位置間を繰り返し往
復移動してデバイス受け渡し位置に戻るたびに最下段の
電子部品収納部内に収納されている電子部品を排出シュ
ートに落下させ、前記昇降部材は前記測定シュートのデ
バイス受け渡し位置と待機位置間の往復動作に伴い昇降
動作を繰り返すことにより、前記デバイス受け渡し位置
に供給される電子部品を順次受け取って前記測定シュー
トの最上段の電子部品収納部に受け渡す一方、各電子部
品収納部内の電子部品を一段下の電子部品収納部に順次
移動させるものである。

【０００６】

【作用】本発明において、ロータリーシュートは、バケ
ットによって電子部品を個別に収納保持し、測定シュー
トに受け渡す。測定シュートは未検査の電子部品が各電
子部品収納部に収納されると、測定位置に移動して未検
査電子部品を測定部のソケットに接触させ、特性測定後
は測定位置から後退してデバイス受け渡し位置と待機位
置間を繰り返し往復移動し、デバイス受け渡し位置に戻
る度に最下段の電子部品収納部に収納されている検査済
み電子部品を排出シュートに落下させる一方、昇降部材
から未検査電子部品を受け取る。昇降部材は、デバイス
受け渡し位置に配置され、上昇時に測定シュートに供給
される未検査の電子部品を受け取ると共に、測定シュー
トに収納されている検査済み電子部品のうち最下段のも
のを除く他の全てを支持し、下降時に前記未検査電子部
品を最上段の電子部品収納部に受け渡す一方、支持して
いた検査済み電子部品を一段下の電子部品収納部に移動
させる。

【０００７】

【実施例】以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて
詳細に説明する。図１は本発明に係る電子部品の自動検
査装置を示す概略正面図、図２は図１のＡ矢視図、図３
はロータリーシュートのバケットとその駆動手段を示す
斜視図、図４は測定ステーション部の斜視図である。

【０００８】図１および図２において、１は供給部スト
ッカ、２は多数の未検査電子部品３を一列に整列収納し
て供給部ストッカ１内に積層配置されたスティック、４
は垂直方向に所定角度傾斜して配設されたプールシュー
トで、下端部には、シュート４内の電子部品３を１個ず
つ順次分離するシャッタ等の分離機構５が配設され、ま
たプールシュート４の下流側にはフィードシャトル６、
フィードシュート７、ロータリーシュート８および測定
シュート９が一連に配設されている。フィードシュート
７は、プールシュート４と同一傾斜角度で左右方向に８
列配設されている。フィードシャトル６は、左右方向に
移動自在に配設され、プールシュート４から排出された
未検査電子部品３を受け取ると、各列のフィードシュー
ト７に順次振り分け供給する。ロータリーシュート８
は、ディスク１０と、ディスク１０の外周部に径方向に
進退移動自在に配設され、且つばねによって中心方向に
付勢された例えば１６個のバケット１１とからなり、前
記各列のフィードシュート７に対応して８列同軸配置さ
れている。各列のディスク１０は同一回転軸によって軸
支され、一定時間毎に間欠的に回動される。測定シュー
ト９は上下方向に所定の間隔をおいて設けられた４つの
電子部品収納部１５Ａ〜１５Ｄ（図４参照）を有し、各
列のロータリーシュート８に対応して左右方向に８列配
設されている。前記測定ステーション１３は、前記ロー
タリーシュート８によって供給される未検査電子部品３
を後述する昇降部材１６（図４）によって前記測定シュ
ート９に受け渡すデバイス受け渡し位置と、測定シュ
ート９の待機位置と、測定位置を有して各列の測定
シュート９に対応するよう８列設けられ、また各列のス
テーション１３の測定位置には４つのソケット１７が
前記測定シュート９の各電子部品収納部１５Ａ〜１５Ｄ
に対応して４段に配設されている。

【０００９】供給部ストッカ１内のスティック２は開口
端が下に向くように反時計方向に所定角度回動されてプ
ールシュート４と同一傾斜角度に設定保持されることに
より、未検査電子部品３をプールシュート４上に排出す
る。この電子部品３はプールシュート４内に一時プール
され、分離機構５によって順次一個ずつ分離排出された
後フィードシャトル６によって各列のフィードシュート
７に振り分け供給される。各列のフィードシュート７に
供給された未検査電子部品３は、間欠回転する各列のロ
ータリーシュート８の各バケット１１に一個ずつ順次収
納保持される。なお、フィードシュート７、ロータリー
シュート８、測定シュート９および測定ステーション１
３は所定温度（５０°Ｃ〜１５０°Ｃ程度）に保持され
た恒温槽１８内に収納配置されている。

【００１０】ロータリーシュート８のバケット１１を進
退移動させるバケット駆動手段２０は、図３に示すよう
にエアシリンダ２１と、回動軸２３の一端に設けられエ
アシリンダ２１によって回動される第１回動レバー２２
と、回転軸２３の他端に設けられた第２回動レバー２４
とを備え、第２回動レバー２４の先端がローラ２５を介
して部材２６を押圧することにより、各列のフィードシ
ュート７の下端開口部に対応する８個のバケット１１を
一斉に突出させて各列のフィードシュート７の下部に移
動させる。したがって、各列のフィードシュート７から
排出される未検査電子部品３は前記突出したバケット１
１によってそれぞれ収納される。ロータリーシュート８
は図１時計方向に間欠的に回転してフィードシュート７
から順次未検査電子部品３を受け取り、所定角度回動し
て前記未検査電子部品３を収納しているバケット１１が
測定シュート９の上部に対応一致すると、上記したと同
様なバケット駆動機構（図示せず）によって８個のバケ
ット１１を一斉に突出させ、これによって当該バケット
１１に収納されている未検査電子部品３が各列の測定シ
ュート９に排出される。各列の測定シュート９は、４つ
全ての電子部品収納部１５Ａ〜１５Ｄに未検査電子部品
３が収納されると、デバイス受け渡し位置から測定位
置に移動して各電子部品３をソケット１７に接触させ
る。したがって、測定ステーション１３は、各列４個、
８列の測定シュート９に収納されている合計３２個の未
検査電子部品３の特性検査を同時に行う。ソケット１７
による特性測定が終了すると測定シュート９は再びデバ
イス受け渡し位置に戻って検査済みの電子部品を下段
の電子部品収納部から排出シュート３０（図１）に順次
排出すると同時に、上方から未検査電子部品３の供給を
受け、検査済み電子部品と未検査電子部品の入れ替えが
行われる。そして、測定シュート９から排出された検査
済み電子部品は、排出シュート３０を通って各カテゴリ
へその性能に応じて分類され、ソートシュート３１を経
て収納部ストッカ３２内に設置された空のスティック３
３に順次収納され、次工程に搬送される。なお、図１に
おいて３４はシャッタである。

【００１１】次に、測定ステーション１３および測定シ
ュート９の構成、検査済み電子部品と未検査電子部品の
入れ替え動作等を図４および図５に基づいて詳細に説明
する。

【００１２】測定シュート９は、平面視コ字状に形成さ
れて各段の測定部に設けられたソケット１７に対応する
よう縦方向に所定の間隔をおいて並設された４つのブロ
ック９Ａ〜９Ｄと、これらのブロック９Ａ〜９Ｄの後背
面を連結する連結部材４０とを備え、各ブロック９Ａ〜
９Ｄの凹部が上下およびソケット１７方向に開放して電
子部品収納部１５Ａ〜１５Ｄを形成している。各電子収
納部１５Ａ〜１５Ｄは電子部品３をリード４１がソケッ
ト１７方向に突出した状態で収納する。そして、測定シ
ュート９は、電子部品３の特性検査時に不図示の駆動装
置によってデバイス受け渡し位置から待機位置を通
って測定位置に移動され、特性検査後待機位置に戻
り、電子部品の入れ替えのため該待機位置と前記デバ
イス受け渡し位置間を４回往復移動されるように構成
されている。

【００１３】前記測定ステーション１３には、前述のソ
ケット１７に加えて昇降部材１６と、電子部品３を案内
するガイド板４２が配設されている。昇降部材１６は、
デバイス受け渡し位置に昇降自在に配置されるもの
で、金属板の折り曲げ加工によって図４に示す如く形成
されることにより、ブロック９Ａの高さ寸法より大きな
間隔をおいて上下方向に設けられた前後方向に延在する
４つの水平アーム１６Ａ〜１６Ｄと、水平アーム１６Ａ
〜１６Ｄの基部を連結する垂直な連結板１６Ｅとからな
り、各水平アーム１６Ａ〜１６Ｄの先端部は測定シュー
ト９側に略直角に折り曲げられて各電子部品収納部１５
Ａ〜１５Ｄの真下に位置することにより、電子部品収納
部１５Ａ〜１５Ｄ内にそれぞれ収納されている電子部品
３の下面を支持する電子部品支持部４３ａ〜４３ｄを形
成している。前記ガイド板４２は、上下方向に所定の間
隔をおいて４段に配設されることにより、各段のデバイ
ス受け渡し位置と測定位置間をそれぞれ連結してい
る。各ガイド板４２の一端は前記各ブロック９Ａ〜９Ｄ
の下方に挿入され、またその挿入端部の昇降部材１６側
側面には、前記各電子部品支持部４３ａ〜４３ｄの上下
動を可能にするため切欠き４６が形成されている。

【００１４】図５(a) 〜(f)は検査済み電子部品と未検
査電子部品の入れ替え動作を説明するための図である。
同(a) 図は特性検査状態を示し、この状態において測定
シュート９は測定位置に移動停止しており、各電子収
納部１５Ａ〜１５Ｄ内に収納されている４つの電子部品
３ａ〜３ｄのリードを対応するソケット１７に接触させ
ている。この時、昇降部材１６は下方位置に待機してい
る。

【００１５】ソケット１７による電子部品３ａ〜３ｄの
特性検査が終了すると、測定シュート９は待機位置に
戻り、昇降部材１６は上昇して停止し、ロータリーシュ
ート８（図１）から供給される未検査の電子部品３ｅを
最上段の電子部品支持部４３ａにて受け取る（(b)
図）。昇降部材１６は上昇して上方位置に停止すると、
最上段の電子部品支持部４３ａを最上段の測定部、換言
すれば１段目のガイド板４２（図４）より上方に位置さ
せ、２段目〜４段目の電子部品支持部４３ｂ〜４３ｄ
を、２段目〜４段目の測定部と同一高さ、換言すれば２
段目〜４段目のガイド板４２の上面と同一高さにする。
昇降部材１６が上昇して停止すると、測定シュート９は
(c) 図に示すようにデバイス受け渡し位置に移動復帰
する。すると、上から１段目〜３段目の電子部品収納部
１５Ａ〜１５Ｃに収納されている検査済み電子部品３ａ
〜３ｃは２段目〜４段目の電子部品支持部４３ｂ〜４３
ｄによって底面を支持され、最下段の電子部品収納部１
５Ｄに収納されていた検査済み電子部品３ｄは、昇降部
材１６によっては支持されず排出シュート３０（図１）
に落下し、スティック３３に収納される。前記検査済み
電子部品３ｄが排出シュート３０に落下すると、最下段
の電子部品収納部１５Ｄは空になり、昇降部材１６は元
の下方位置に下降して停止する（(d) 図）。昇降部材１
６が下降すると、１段目〜３段目の電子部品収納部１５
Ａ〜１５Ｃ内に収納されていた検査済み電子部品３ａ〜
３ｃは、２段目〜４段目の電子部品支持部４３ｂ〜４３
ｄによって底面を支持されているため、２段目〜４段目
の電子部品収納部１５Ｂ〜１５Ｄ内に移動し、最上段の
電子部品支持部４３ａに載置されている未検査電子部品
３ｅは１段目の電子部品収納部１５Ａに収納される。未
検査電子部品３ｅが１段目の電子部品収納部１５Ａに収
納されると、測定シュート９はデバイス受け渡し位置
から再び待機位置に移動して停止し（(e) 図）、続い
て昇降部材１６が上昇移動して停止することによりロー
タリーシュート８から供給される次の未検査電子部品３
ｆを最上段の電子部品支持部４３ａにて受け取る（(f)
図）。そして、上記(c) 〜(f) の動作を３回繰り返し行
うことにより、２段目〜４段目の電子部品収納部１５Ｂ
〜１５Ｄ内に収納されている残り３つの検査済み電子部
品３ａ〜３ｃを順次下段の電子部品収納部に移動させて
排出シュート３０に排出する一方、上記未検査電子部品
３ｅに加えて新たな３つの未検査電子部品３ｆ・・・を
電子部品収納凹部１５Ａ〜１５Ｄに取り込む。このよう
にして４つ全ての検査済み電子部品３ａ〜３ｄが未検査
電子部品３ｅ、３ｆ・・・に置き換えられると、測定シ
ュート９は(a) 図に示すように再び測定位置に移動し
て次の特性検査が行われる。

【００１６】かくしてこのような構成からなる電子部品
の自動検査装置にあっては、ロータリーシュート８のバ
ケット１１によって電子部品３を１つずつ収納して測定
シュート９に供給するようにしているので、ロータリー
シュート８から測定シュート９への電子部品３の受け渡
しに際して電子部品３がジャム、摩擦等によって停止す
ることがなく、円滑に移送することができる。また、測
定シュート９においても各電子部品を昇降部材１６の電
子部品支持部４３ａ〜４３ｄによって分離しているの
で、ジャムが発生せず、電子部品３の特性検査、未検査
電子部品の電子部品収納部１５Ａ〜１５Ｄへの供給、検
査済み電子部品の排出シュート３０への排出を良好且つ
確実に行うことができる。

【００１７】

【発明の効果】以上説明したように本発明に係る電子部
品の自動検査装置によれば、電子部品がデバイスジャ
ム、摩耗等によってシュート途中で停止したりすること
がなく、電子部品を安定且つ確実に移送することがで
き、装置の稼働率および信頼性を向上させることができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る電子部品の自動検査装置を示す概
略正面図である。

【図２】図１のＡ矢視図である。

【図３】ロータリーシュートのバケットとその駆動手段
を示す斜視図である。

【図４】電子部品の供給装置を示す正面図である。

【図５】(a) 〜(f) は検査済み電子部品と未検査電子部
品の入れ替え動作を説明するための図である。

【符号の説明】

２ スティック ３ 電子部品 ４ プールシュート ６ フィードシャトル ７ フィードシュート ８ ロータリーシュート ９ 測定シュート １１ バケット １３ 測定ステーション １５Ａ〜１５Ｄ 電子部品収納部 １６ 昇降部材 １７ ソケット ２０ バケット駆動手段 ３０ 排出シュート ４２ ガイド板 ４３ａ〜４３ｄ 電子部品支持部

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 スティックから電子部品が順次供給され
   るプールシュートと、並列配置された複数個のフィード
   シュートと、前記プールシュートから順次排出される電
   子部品を振り分け前記各フィードシュートに１つずつ順
   次供給するフィードシャトルと、それぞれ複数個の電子
   部品収納部を有して並列配置された複数個の測定シュー
   トと、それぞれフィードシュートから順次排出される電
   子部品を受け取り対応する測定シュートに受け渡す複数
   個のバケットを有して間欠的に回転されるロータリーシ
   ュートと、ロータリーシュートのバケットを進退移動さ
   せるバケット駆動手段とを備えたことを特徴とする電子
   部品の自動検査装置。
2. 【請求項２】 それぞれ複数段の測定部を有して並列配
   置された複数個の測定ステーションと、それぞれ複数個
   の電子部品収納部を有して各測定ステーションに対応し
   て並列配設された複数個の測定シュートと、それぞれ複
   数個の電子部品支持部を有して各測定シュートに対応し
   て並列配置された複数個の昇降部材とを備え、前記測定
   シュートは電子部品を保持してデバイス受け渡し位置、
   待機位置および測定位置間を往復移動し、測定位置に移
   動した際各電子部品収納部内の電子部品をソケットに接
   触させ、ソケットによる特性検査後デバイス受け渡し位
   置と待機位置間を繰り返し往復移動してデバイス受け渡
   し位置に戻るたびに最下段の電子部品収納部内に収納さ
   れている電子部品を排出シュートに落下させ、前記昇降
   部材は前記測定シュートのデバイス受け渡し位置と待機
   位置間の往復動作に伴い昇降動作を繰り返すことによ
   り、前記デバイス受け渡し位置に供給される電子部品を
   順次受け取って前記測定シュートの最上段の電子部品収
   納部に受け渡す一方、各電子部品収納部内の電子部品を
   一段下の電子部品収納部に順次移動させることを特徴と
   する電子部品の自動検査装置。