JP2607423B2 - 電子部品の自動検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電子部品の自動検査装
置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】ＩＣ、コンデンサ、ディスクリートデバ
イス等のモールド型電子部品（以下これらを総称して電
子部品と云う）の特性を連続的に検査するこの種の自動
検査装置としては、電子部品を一個ずつ確実に分離して
測定位置に搬送供給する手段として一般に分離ピンを用
いているが、特にモールド型電子部品の場合、電子部品
のジャム、摩擦などによりシュート中で停止し易いとい
う問題があった。その原因は、電子部品を合成樹脂でモ
ールド形成する際、金型のパーティングラインに沿って
発生するバリによるもので、前後の電子部品同士のバリ
が互いに干渉し合って電子部品の動きを拘束するためで
ある。すなわち、バリが互いに接触して重なり合うと、
電子部品をシュートに押し付け、結果として電子部品の
滑動を阻止する。その場合、リード数が多く、重量のあ
る大型電子部品は、自重で滑りはじめるためバリによる
影響は少ないが、小型軽量部品にあっては完全に拘束さ
れてしまい流れない事態が生じるものである。

【０００３】そこでこのような問題を解決するものとし
て同一出願人によって既に出願された特開平５−１５２
３９７号公報に記載の自動検査装置が知られている。こ
の自動検査装置は、スティックから未検査の電子部品が
順次供給されるプールシュートの下方に複数個のフィー
ドシュートを並列配置し、前記プールシュートから順次
排出される電子部品をフィードシャトルによって振り分
けて各フィードシュートに１つずつ順次供給し、各フィ
ードシュートから排出される電子部品を間欠的に回転さ
れるロータリーシュートのバケットで受け取って対応す
る測定シュートに受け渡すように構成したものである。
このような自動検査装置によれば電子部品をフィードシ
ャトルとロータリーシュートのバケットによって振り分
けているので、プールシュートから測定シュート間での
電子部品の受け渡しに際して電子部品がジャム、摩擦等
によって停止することがなく、円滑に受け渡すことがで
き、装置の稼動率を向上させることができるという利点
を有する。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の自動検査装置においては、電子部品を振り分け
るフィードシャトル、各フィードシュートから排出され
る電子部品を受け取るロータリーシュート等を備えてい
るので構造が著しく複雑で、またこれらの駆動制御も面
倒であるという問題があった。また、測定シュートはデ
バイス受け渡し位置と待機位置間を往復移動して昇降部
材から所定個数の未検査電子部品を受け取り、その後測
定位置に移動して未検査電子部品を測定位置のソケット
に接触させ、特性測定後は検査済みとなった電子部品を
保持して測定位置から後退してデバイス受け渡し位置と
待機位置間を繰り返し往復移動することで検査済み電子
部品を順次排出シュートに落下させると同時に昇降部材
から未検査電子部品を順次受け取るよう構成されている
ため、検査済み電子部品と未検査電子部品の入れ替え動
作に時間がかかるという問題があった。さらに、昇降部
材が急激に停止すると、電子部品が飛び跳ねるので測定
位置へ電子部品を搬送することができず、電子部品の飛
び跳ねがなくなるまで待たなければならないという問題
があった。

【０００５】したがって、本発明は上記したような従来
の問題点に鑑みてなされたもので、その目的とするとこ
ろは、電子部品を個別分離して搬送供給することによ
り、電子部品のジャムを解消し、検査時間の短縮を図る
と共に、装置の信頼性を向上させるようにした電子部品
の自動検査装置を提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、未検査電子部品が順次供給されるプールシ
ュートと、このプールシュートの直下に配置され第１デ
バイス受渡位置と待機位置間を往復移動するアイドルシ
ュートと、このアイドルシュートの直下に配置され第２
デバイス受渡位置と測定位置間を往復移動する測定シュ
ートと、この測定シュートの直下に配置された排出シュ
ートと、前記第１，第２デバイス受渡位置間を往復移動
する昇降自在なデバイス受渡し部材とを備え、このデバ
イス受渡し部材は、未検査電子部品を収納する収納部
と、前記第１デバイス受渡位置にある時前記プールシュ
ート内の未検査電子部品を係止するデバイス係止部を有
し、第２デバイス受渡位置に移動することにより前記ア
イドルシュート内の未検査電子部品を前記測定シュート
に受け渡し、前記アイドルシュートはデバイス収納部と
デバイス受止部を有し、前記デバイス受渡し部材が前記
第２デバイス受渡位置に移動すると前記プールシュート
から未検査電子部品の供給を受けて待機位置に一時退避
することにより前記デバイス受止部が前記プールシュー
ト内の未検査電子部品の落下を阻止し、前記デバイス受
渡し部材が上昇復帰すると第１デバイス受渡位置に移動
復帰し、前記測定シュートはデバイス収納部とデバイス
受止部を有し、前記デバイス受渡し部材から未検査電子
部品を受け取ると測定位置に移動して前記デバイス受止
部により前記待機位置にある前記アイドルシュート内の
未検査電子部品が落下するのを阻止し、特性検査終了後
第２デバイス受渡位置に移動復帰して検査済みとなった
電子部品を前記排出シュートに排出するものである。

【０００７】

【作用】本発明において、アイドルシュートは第１デバ
イス受渡位置と待機位置間を往復移動する。測定シュー
トは、第２デバイス受渡位置と測定位置間を往復移動す
る。デバイス受渡し部材は第１，第２デバイス受渡位置
間を往復移動する。アイドルシュートは第１デバイス受
渡位置にて未検査電子部品をプールシュートから受け取
ると待機位置に移動して一時待機し、デバイス受渡し部
材が第１デバイス受渡位置に上昇復帰し、測定シュート
が測定位置に移動すると、第１デバイス受渡位置に復帰
する。アイドルシュートの待機状態において、アイドル
シュートのデバイス受止部はプールシュートから未検査
電子部品が落下するのを阻止する。デバイス受渡し部材
は第１デバイス受渡位置から第２デバイス受渡位置に移
動すると、アイドルシュート内の未検査電子部品を測定
シュートに受け渡す。デバイス受渡し部材が第２デバイ
ス受渡位置に移動すると、測定シュートはデバイス受渡
し部材から未検査電子部品を受け取ると、測定位置に移
動して未検査電子部品を測定位置のソケットに接触さ
せ、特性測定後第２デバイス受渡位置に復帰して検査済
みとなった電子部品を排出シュートに排出し、この排出
が終了するとデバイス受渡し部材が下降してアイドルシ
ュート内の未検査電子部品を測定シュートに受け渡す。
測定シュートのデバイス受止部は、測定シュートが測定
位置に移動すると、待機位置に待機しているアイドルシ
ュート内の未検査電子部品が落下するのを阻止する。

【０００８】

【実施例】以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて
詳細に説明する。図１は本発明に係る電子部品の自動検
査装置を示す概略正面図である。同図において、１は多
数の未検査電子部品２を整列収納するスティック、３は
多数のスティック１を収納するストッカ（デバイス収納
部）、４はストッカ３が設置されたローディング部、５
は未検査電子部品２を搬送する傾斜したシュートで、そ
の傾斜角度は電子部品１個当たりの検査時間によって決
定される。ストッカ３内のスティック１は開口端が下向
きになるように反時計方向に回動されてシュート５と同
一角度に設定保持されることにより、内部に収納されて
いる未検査電子部品２をシュート５上に順次排出する。
この未検査電子部品２はリード線２ａを下に向けてシュ
ート５上に排出された後、自重によってシュート５上を
滑動して略垂直なプールシュート６を通り、測定部７に
導かれると、テスタ８によって特性測定される。シュー
ト５の終端には上下方向に回動自在な反転装置９が設け
られており、これによって未検査電子部品２の前後を逆
にし、そのリード２ａをテスタ８側に向けることでテス
タ８による測定を容易にすると共に、アンローディング
時の上下方向の向きおよびスティック１内のデバイス位
置とスティック出口の関係がローディング時と同じにな
るようにしている。テスタ８によって特性測定され検査
済みとなった電子部品２は、排出シュート１０および選
別シュート１１を通って各カテゴリへその性能に応じて
分類され、アンローディング部１２に設置された空のス
ティック１３に順次収納される。

【０００９】図２は測定部の構成を示す一部破断斜視
図、図３は同測定部の側断面図である。これらの図にお
いて、１５は前記プールシュート６の直下に配置され不
図示の駆動装置によって第１デバイス受渡位置と待機
位置間を往復移動されるアイドルシュート、１６はア
イドルシュー１５と排出シュート１０との間にこれらと
近接して配置され不図示の駆動装置によって第２デバイ
ス受渡位置と測定位置間を往復移動される測定シュ
ート、１７は不図示の駆動装置によって第１デバイス受
渡位置と第２デバイス受渡位置間を往復移動される
昇降自在なデバイス受渡し部材である。待機位置は、
第１デバイス受渡位置から図３左方に電子部品１つ分
程度ずれた位置とされる。第２デバイス受渡位置は第
１デバイス受渡位置の直下位置とされる。測定位置
は、第２デバイス受渡位置の図３左方位置とされ、こ
の位置にテスタ８のソケット８Ａが配置されている。

【００１０】前記アイドルシュート１５は、図２に示す
ように直方体のブロック状に形成されて、上下面に貫通
し前記プールシュート６の搬送通路２０に連通するデバ
イス収納部２１を有している。デバイス収納部２１は、
平面視凹型で電子部品１つを収納し得る大きさおよび長
さを有している。またアイドルシュート１５のテスタ８
とは反対側の面１５ａの中央には前記デバイス収納部２
１に連通する溝２２が高さ方向全長にわたって形成され
ると共に、デバイス受止部２３を有している。デバイス
受止部２３は、前記面１５ａの上部中央に前記溝２２を
挟んでその両側に水平に突設された左右一対の突起で構
成されている。

【００１１】前記測定シュート１６は、アイドルシュー
ト１５と同一構造で、上下面に貫通し前記アイドルシュ
ート１５のデバイス収納部２１に連通するデバイス収納
部２４を有している。また測定シュート１６のテスタ８
とは反対側の面１６ａの中央には前記デバイス収納部２
４に連通する溝２５が高さ方向全長にわたって形成され
ると共に、デバイス受止部２６を有している。デバイス
受止部２６は、前記面１６ａの上部中央に前記溝２５を
挟んでその両側に水平に突設された左右一対の突起で構
成されている。

【００１２】前記排出シュート１０は、前記測定シュー
ト１６のデバイス収納部２５に連通する通路２７と、テ
スタ８側とは反対側の面１０ａに形成され前記通路２７
に連通する溝２８を有している。

【００１３】前記デバイス受渡し部材１７は、金属板の
プレス加工等によって側面視コ字状に形成されることに
より、垂直基部１７Ａと、この垂直基部１７Ａの上下端
一側に対設された略水平なデバイス係止部１７Ｂおよび
デバイス受部１７Ｃとを一体に有し、デバイス係止部１
７Ｂとデバイス受部１７Ｃの間隔が電子部品２の高さ寸
法より大きく設定され、またこれら両部１７Ｂ，１７Ｃ
間の凹部が電子部品２を収納する収納部３０を形成して
いる。デバイス係止部１７Ｂおよびデバイス受部１７Ｃ
の先端部は、前記アイドルシュート１５および測定シュ
ート１６の溝２２，２５からデバイス収納部２１，２４
内に挿入されており、デバイス係止部１７Ｂは、デバイ
ス受渡し部材１７が第１デバイス受渡位置に移動した
際、プールシュート６の下端開口部を閉鎖してプールシ
ュート６内の電子部品２が落下するのを阻止する。一
方、デバイス受部１７Ｃはアイドルシュート１５内の電
子部品２を測定シュート１６に受け渡す際、電子部品２
の下面を支持する。

【００１４】次に、上記構成からなる電子部品の自動検
査装置の特性測定動作を図３〜図６に基づいて詳細に説
明する。図３はアイドルシュート１５内の未検査電子部
品２を測定シュート１６に受け渡す直前の状態を示す図
である。この状態において、アイドルシュート１５およ
びデバイス受渡し部材１７は共に第１デバイス受渡位置
に位置しており、デバイス受渡し部材１７の収納部３
０がアイドルシュート１５のデバイス収納部２１と一致
している。デバイス受渡し部材１７のデバイス係止部１
７Ｂはプールシュート６の下端開口部を閉塞し、電子部
品２がアイドルシュート１５内に落下するのを阻止して
いる。一方、デバイス受部１７Ｃはアイドルシュート１
５内の電子部品２の下面を支持している。

【００１５】この状態よりデバイス受渡し部材１７が所
定距離下降して第２デバイス受渡位置に移動すると、
アイドルシュート１５内の未検査電子部品２は、デバイ
ス受渡し部材１７により保持されて移送され、図４に示
すように測定シュート１６のデバイス収納部２４内に移
る。つまり、デバイス受渡し部材１７はアイドルシュー
ト１５内の未検査電子部品２を測定シュート１６に受け
渡す。デバイス受渡し部材１７が第１デバイス受渡位置
から第２デバイス受渡位置に移動すると、プールシ
ュート６の下端開口部が開放されるため、プールシュー
ト６内の未検査電子部品２はアイドルシュート１５のデ
バイス収納部２１内に落下し、デバイス受渡し部材１７
のデバイス係止部１７Ｂにより受け止められる。アイド
ルシュート１５のデバイス収納部２１内に電子部品２が
落下すると、アイドルシュート１５は図５に示すように
第１デバイス受渡位置から待機位置に移動する。ア
イドルシュート１５が待機位置に移動すると、そのデ
バイス受止部２３はプールシュート６内へ落下してきた
電子部品２を受け止め、その落下を阻止する。アイドル
シュート１５が待機位置に退避すると、測定シュート
１６も第２デバイス受渡位置から測定位置に移動
し、未検査電子部品２のリード２ａをテスタ８のソケッ
ト８Ａに接触させる。したがって、未検査電子部品２の
抵抗等の特性測定が行われる。デバイス受渡し部材１７
は電子部品２を測定シュート１６に受け渡すと、上昇移
動して第１デバイス受渡位置に戻る。図６はこの状態
を示す。測定シュート１６が測定位置に移動すると、
そのデバイス受止部２６は、待機中のアイドルシュート
１５内の電子部品２の下面を係止することで、その落下
を阻止する。

【００１６】前記テスタ８による特性測定が終了する
と、測定シュート１６内の未検査電子部品２は測定済み
電子部品となる。特性測定後、アイドルシュート１５は
元の第１デバイス受渡位置に移動復帰し、測定シュー
ト１６は元の第２デバイス受渡位置に移動復帰する。
図３はこの状態を示す。測定シュート１６が第２デバイ
ス受渡位置に復帰すると、測定シュート１６内の検査
済みとなった電子部品２’は排出シュート１０に落下
し、選別シュート１１（図１）を通り、測定結果に基づ
いて分類され、指定された分類カテゴリのスティック１
３内に収納される。このような動作を繰り返すことで、
未検査電子部品２の特性検査が自動的に行われる。

【００１７】かくしてこのような構成からなる電子部品
の自動検査装置にあっては、アイドルシュート１５がプ
ールシュート６から未検査電子部品２を受け取ると待機
位置に退避すると次の電子部品２が落下するため、プ
ールシュート６からアイドルシュート１５への電子部品
２の受け渡しに際して電子部品２がジャム、摩擦等によ
って停止することがなく、円滑に移送することができ
る。また、アイドルシュート１５から測定シュート１６
への電子部品２の受け渡しに際しても、デバイス受渡し
部材１７が電子部品２を受け取って測定シュート１６に
受け渡すため、アイドルシュート１５内の電子部品２が
アイドルシュート１５内に引っ掛かって滞留したりする
ことがなく、円滑かつ確実に受け渡すことができる。し
たがって、ジャムが発生せず、電子部品２の受け渡し、
特性検査を円滑かつ確実に行うことができる。またデバ
イス受渡し部材１７は電子部品２を測定シュート１６に
受け渡すと、直ちに上昇して第１デバイス受渡位置に
復帰することができ、またアイドルシュート１５内の未
検査電子部品２はデバイス受渡し部材１７の収納部３０
内に収納された状態で測定シュート１６に受け渡される
ので、デバイス受渡し部材１７が第２デバイス受渡位置
で急激に停止しても飛び跳ねたりすることがなく、こ
のため測定シュート１６が直ちに測定位置に移動して
特性検査を行うことができる。したがって、電子部品２
の高速搬送、検査が可能である。

【００１８】なお、上記実施例は反転装置９を備えた自
動検査装置について説明したが、これは必ずしも必要で
はない。

【００１９】

【発明の効果】以上説明したように本発明に係る電子部
品の自動検査装置によれば、構造が簡単で、電子部品が
デバイスジャム、摩耗等によってアイドルシュート、デ
バイス受渡し部材、測定シュート内で停止したりするこ
とがなく、電子部品を安定且つ確実に移送することがで
き、装置の稼働率および信頼性を向上させることができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る電子部品の自動検査装置を示す概
略正面図である。

【図２】測定部の構成を示す一部破断斜視図である。

【図３】同測定部の側断面図である。

【図４】電子部品の受け渡し動作を説明するための図で
ある。

【図５】電子部品の受け渡し動作を説明するための図で
ある。

【図６】電子部品の受け渡し動作を説明するための図で
ある。

【符号の説明】

１ スティック ２ 電子部品 ５ シュート ６ プールシュート ７ 測定部 ８ テスタ １０ 排出シュート １５ アイドルシュート １６ 測定シュート １７ デバイス受渡し部材 １７Ｂ デバイス係止部 １７Ｃ デバイス受部 ２１ デバイス収納部 ２３ デバイス受止部 ２４ デバイス収納部 ２６ デバイス受止部 ３０ 収納部 第１デバイス受渡位置 待機位置 第２デバイス受渡位置 測定位置

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 未検査電子部品が順次供給されるプール
   シュートと、このプールシュートの直下に配置され第１
   デバイス受渡位置と待機位置間を往復移動するアイドル
   シュートと、このアイドルシュートの直下に配置され第
   ２デバイス受渡位置と測定位置間を往復移動する測定シ
   ュートと、この測定シュートの直下に配置された排出シ
   ュートと、前記第１，第２デバイス受渡位置間を往復移
   動する昇降自在なデバイス受渡し部材とを備え、 このデバイス受渡し部材は、未検査電子部品を収納する
   収納部と、前記第１デバイス受渡位置にある時前記プー
   ルシュート内の未検査電子部品を係止するデバイス係止
   部を有し、第２デバイス受渡位置に移動することにより
   前記アイドルシュート内の未検査電子部品を前記測定シ
   ュートに受け渡し、 前記アイドルシュートはデバイス収納部とデバイス受止
   部を有し、前記デバイス受渡し部材が前記第２デバイス
   受渡位置に移動すると前記プールシュートから未検査電
   子部品の供給を受けて待機位置に一時退避することによ
   り前記デバイス受止部が前記プールシュート内の未検査
   電子部品の落下を阻止し、前記デバイス受渡し部材が上
   昇復帰すると第１デバイス受渡位置に移動復帰し、 前記測定シュートはデバイス収納部とデバイス受止部を
   有し、前記デバイス受渡し部材から未検査電子部品を受
   け取ると測定位置に移動して前記デバイス受止部により
   前記待機位置にある前記アイドルシュート内の未検査電
   子部品が落下するのを阻止し、特性検査終了後第２デバ
   イス受渡位置に移動復帰して検査済みとなった電子部品
   を前記排出シュートに排出することを特徴とする電子部
   品の自動検査装置。