JPH05146409A - 角膜厚さ測定装置 - Google Patents
角膜厚さ測定装置Info
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- JPH05146409A JPH05146409A JP3310401A JP31040191A JPH05146409A JP H05146409 A JPH05146409 A JP H05146409A JP 3310401 A JP3310401 A JP 3310401A JP 31040191 A JP31040191 A JP 31040191A JP H05146409 A JPH05146409 A JP H05146409A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 個人差による測定誤差の解消を図ると共に測
定精度の向上を図ることのできる角膜厚さ測定装置を提
供することを目的とする。 【構成】 角膜厚さ測定装置は、被検眼Ｅの光軸Ｏ3に
対して斜め方向から照明光を角膜１５に向けて照射する
照明光学系１７と、角膜１５の表面３０からの反射光束
と裏面３１からの反射光束とを受光する受光光学系２２
とを備え、照明光学系１７の光軸と受光光学系２２の光
軸とは被検眼の光軸に対してほぼ左右対称位置に配置さ
れ、受光光学系２２には各反射光束の結像位置に微小光
電素子列からなる光電変換素子が設けられ、光電変換素
子は表面３０からの反射光束による光電変換信号と裏面
３１からの反射光束による光電変換信号とに基づき角膜
１５の厚さを計測する計測回路３５に接続されている。
定精度の向上を図ることのできる角膜厚さ測定装置を提
供することを目的とする。 【構成】 角膜厚さ測定装置は、被検眼Ｅの光軸Ｏ3に
対して斜め方向から照明光を角膜１５に向けて照射する
照明光学系１７と、角膜１５の表面３０からの反射光束
と裏面３１からの反射光束とを受光する受光光学系２２
とを備え、照明光学系１７の光軸と受光光学系２２の光
軸とは被検眼の光軸に対してほぼ左右対称位置に配置さ
れ、受光光学系２２には各反射光束の結像位置に微小光
電素子列からなる光電変換素子が設けられ、光電変換素
子は表面３０からの反射光束による光電変換信号と裏面
３１からの反射光束による光電変換信号とに基づき角膜
１５の厚さを計測する計測回路３５に接続されている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、角膜の厚さを光学的に
測定する角膜厚さ測定装置に関するものである。
測定する角膜厚さ測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来から、角膜の厚さを光学的に測定す
る角膜厚さ測定装置として、図１に示すようにスリット
照明光Ｐを被検眼１の光軸Ｏ1に沿って入射させ、所定
角度θの方向から角膜２を観察しながらプレンパラレル
３を回転させ、図２に示すように像２bと像２f´とが重
ならせ、そのプレンパラレル３の回転角φに基づき角膜
の厚さを測定する角膜厚さ測定装置が知られている。
る角膜厚さ測定装置として、図１に示すようにスリット
照明光Ｐを被検眼１の光軸Ｏ1に沿って入射させ、所定
角度θの方向から角膜２を観察しながらプレンパラレル
３を回転させ、図２に示すように像２bと像２f´とが重
ならせ、そのプレンパラレル３の回転角φに基づき角膜
の厚さを測定する角膜厚さ測定装置が知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来の角膜厚さ測定装置は、測定者が角膜２を観察しなが
ら像２bと像２f´とを合致させて角膜２の厚さを測定す
る構成であるため、個人差、時間差による測定誤差が生
じると共に、像２bと像２f´を合致させるのが困難で、
測定者及び被検者に疲労を生じさせ易いという欠点があ
る。
来の角膜厚さ測定装置は、測定者が角膜２を観察しなが
ら像２bと像２f´とを合致させて角膜２の厚さを測定す
る構成であるため、個人差、時間差による測定誤差が生
じると共に、像２bと像２f´を合致させるのが困難で、
測定者及び被検者に疲労を生じさせ易いという欠点があ
る。
【０００４】本発明は上記事情に鑑みなされたものであ
って、個人差による測定誤差の解消を図ると共に測定精
度の向上を図ることのできる角膜厚さ測定装置を提供す
ることを目的とする。
って、個人差による測定誤差の解消を図ると共に測定精
度の向上を図ることのできる角膜厚さ測定装置を提供す
ることを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明に係わる角膜厚さ
測定装置は、被検眼の光軸に対して斜め方向から照明光
を角膜に向けて照射する照明光学系と、前記角膜の表面
から反射された反射光束と前記角膜の裏面から反射され
た反射光束とを受光する受光光学系とを備え、前記照明
光学系の光軸と前記受光光学系の光軸とは、前記被検眼
の光軸に対してほぼ左右対称位置に配置され、前記受光
光学系には前記各反射光束の結像位置に微小光電素子列
からなる光電変換素子が設けられ、該光電変換素子は前
記角膜の表面から反射された反射光束に対応する光電変
換信号と前記角膜の裏面から反射された反射光束に対応
する光電変換信号とに基づき前記角膜の厚さを計測する
計測回路に接続されている。
測定装置は、被検眼の光軸に対して斜め方向から照明光
を角膜に向けて照射する照明光学系と、前記角膜の表面
から反射された反射光束と前記角膜の裏面から反射され
た反射光束とを受光する受光光学系とを備え、前記照明
光学系の光軸と前記受光光学系の光軸とは、前記被検眼
の光軸に対してほぼ左右対称位置に配置され、前記受光
光学系には前記各反射光束の結像位置に微小光電素子列
からなる光電変換素子が設けられ、該光電変換素子は前
記角膜の表面から反射された反射光束に対応する光電変
換信号と前記角膜の裏面から反射された反射光束に対応
する光電変換信号とに基づき前記角膜の厚さを計測する
計測回路に接続されている。
【０００６】
【作用】本発明に係わる角膜厚さ測定装置によれば、被
検眼の光軸に対して斜め方向から照明光束が角膜に向け
て照射される。その照明光束は主として境界面である角
膜の表面と角膜の裏面とで反射される。その角膜の表面
で反射された反射光束の光量とその角膜の裏面で反射さ
れた反射光束の光量とは、被検眼の光軸に沿って照明光
束を角膜に向けて照射した場合の反射光束の光量に較べ
て大きい。受光光学系は、その角膜の表面で反射された
反射光束とその角膜の裏面で反射された反射光束とを受
光する。光電変換素子は角膜の表面から反射された反射
光束に対応する光電変換信号と角膜の裏面から反射され
た反射光束に対応する光電変換信号とを出力する。計測
回路は、角膜の表面から反射された反射光束に対応する
光電変換信号と角膜の裏面から反射された反射光束に対
応する光電変換信号とに基づき角膜の厚さを計測する。
検眼の光軸に対して斜め方向から照明光束が角膜に向け
て照射される。その照明光束は主として境界面である角
膜の表面と角膜の裏面とで反射される。その角膜の表面
で反射された反射光束の光量とその角膜の裏面で反射さ
れた反射光束の光量とは、被検眼の光軸に沿って照明光
束を角膜に向けて照射した場合の反射光束の光量に較べ
て大きい。受光光学系は、その角膜の表面で反射された
反射光束とその角膜の裏面で反射された反射光束とを受
光する。光電変換素子は角膜の表面から反射された反射
光束に対応する光電変換信号と角膜の裏面から反射され
た反射光束に対応する光電変換信号とを出力する。計測
回路は、角膜の表面から反射された反射光束に対応する
光電変換信号と角膜の裏面から反射された反射光束に対
応する光電変換信号とに基づき角膜の厚さを計測する。
【０００７】
【実施例】次に、本発明の角膜厚さ測定装置の実施例を
図３〜図６に基づいて説明する。
図３〜図６に基づいて説明する。
【０００８】図３はその角膜厚さ測定装置を示す平面図
であって、図３において、１０は被検眼Ｅの前眼部を観
察する前眼部観察光学系である。この前眼部観察光学系
１０は、ハーフミラー１１、対物レンズ１２、光路切り
換えミラー１３、エリアＣＣＤ１４から大略構成され、
Ｏ2はその光軸である。被検眼Ｅの前眼部は図示を略す
前眼部照明光源によって照明される。ハーフミラー１１
はアライメント光学系１２´の一部を構成している。光
路切り換えミラー１３はアライメントが完了する前まで
は前眼部観察光学系１０の光路から退避されている。ア
ライメント光学系１２´はアライメント用光源１３´、
投影レンズ１４´から概略構成される。アライメント光
学系１２´からのアライメント指標光束は被検眼Ｅの角
膜１５に投影される。角膜１５により反射されたアライ
メント指標光束はハーフミラー１１、対物レンズ１２を
介してエリアＣＣＤ１４に被検眼Ｅの前眼部像と共に結
像される。エリアＣＣＤ１４は駆動処理回路１５により
走査されると共に処理され、その前眼部像とアライメン
ト指標像とがモニター１６に表示される。測定者は図示
を略す固視標を固視させつつアライメント指標像を観察
することにより被検眼Ｅに対する装置光学系のアライメ
ントを行う。光路切り換えミラー１３はアライメントが
完了すると前眼部観察光学系１０の光路に挿入される。
であって、図３において、１０は被検眼Ｅの前眼部を観
察する前眼部観察光学系である。この前眼部観察光学系
１０は、ハーフミラー１１、対物レンズ１２、光路切り
換えミラー１３、エリアＣＣＤ１４から大略構成され、
Ｏ2はその光軸である。被検眼Ｅの前眼部は図示を略す
前眼部照明光源によって照明される。ハーフミラー１１
はアライメント光学系１２´の一部を構成している。光
路切り換えミラー１３はアライメントが完了する前まで
は前眼部観察光学系１０の光路から退避されている。ア
ライメント光学系１２´はアライメント用光源１３´、
投影レンズ１４´から概略構成される。アライメント光
学系１２´からのアライメント指標光束は被検眼Ｅの角
膜１５に投影される。角膜１５により反射されたアライ
メント指標光束はハーフミラー１１、対物レンズ１２を
介してエリアＣＣＤ１４に被検眼Ｅの前眼部像と共に結
像される。エリアＣＣＤ１４は駆動処理回路１５により
走査されると共に処理され、その前眼部像とアライメン
ト指標像とがモニター１６に表示される。測定者は図示
を略す固視標を固視させつつアライメント指標像を観察
することにより被検眼Ｅに対する装置光学系のアライメ
ントを行う。光路切り換えミラー１３はアライメントが
完了すると前眼部観察光学系１０の光路に挿入される。
【０００９】前眼部観察光学系１０の光軸Ｏ2を境に一
側には照明光学系１７が設けられている。照明光学系１
７は被検眼Ｅの光軸Ｏ2に対して斜め方向からスリット
照明光を角膜１５に向けて照射する役割を果たす。照明
光学系１７は照明光源１８、集光レンズ１９、スリット
２０、投影レンズ２１からなり、Ｏ4はその光軸であ
る。光軸Ｏ4は光軸Ｏ2に対してθの傾きを持っている。
側には照明光学系１７が設けられている。照明光学系１
７は被検眼Ｅの光軸Ｏ2に対して斜め方向からスリット
照明光を角膜１５に向けて照射する役割を果たす。照明
光学系１７は照明光源１８、集光レンズ１９、スリット
２０、投影レンズ２１からなり、Ｏ4はその光軸であ
る。光軸Ｏ4は光軸Ｏ2に対してθの傾きを持っている。
【００１０】前眼部観察光学系１０の光軸Ｏ2を境に他
側には受光光学系２２が設けられている。受光光学系２
２は対物レンズ２３、ハーフミラー２４、視野絞り２
５、全反射ミラー２６、結像レンズ２７から概略なって
いる。受光光学系２２の光軸Ｏ5は前眼部観察光学系１
０の光軸Ｏ2に対して光軸Ｏ4とほぼ対称に配置されてい
る。アライメント完了時点で照明光学系１７の光軸Ｏ4
と受光光学系２２の光軸Ｏ5とは被検眼Ｅの光軸Ｏ2に対
してほぼ対称となる。角膜１５により反射されたスリッ
ト照明光束は対物レンズ２３を介してハーフミラー２４
に導かれる。ハーフミラー２４はその反射光束の一部を
光電変換素子としての一次元ラインセンサー２８に向け
て反射し、残りを透過する。ハーフミラー２４を透過し
た反射光束は視野絞り２５の位置でいったん結像され、
全反射ミラー２６により結像レンズ２７に向けて反射さ
れ、結像レンズ２７、光路切り換えミラー１３を介して
エリアＣＣＤ１４に結像され、角膜１５の内皮像がモニ
ター１６に表示される。一次元ラインセンサ２８と視野
絞り２５とはアライメントが完了した状態で角膜１５の
内皮位置に関してほぼ共役である。
側には受光光学系２２が設けられている。受光光学系２
２は対物レンズ２３、ハーフミラー２４、視野絞り２
５、全反射ミラー２６、結像レンズ２７から概略なって
いる。受光光学系２２の光軸Ｏ5は前眼部観察光学系１
０の光軸Ｏ2に対して光軸Ｏ4とほぼ対称に配置されてい
る。アライメント完了時点で照明光学系１７の光軸Ｏ4
と受光光学系２２の光軸Ｏ5とは被検眼Ｅの光軸Ｏ2に対
してほぼ対称となる。角膜１５により反射されたスリッ
ト照明光束は対物レンズ２３を介してハーフミラー２４
に導かれる。ハーフミラー２４はその反射光束の一部を
光電変換素子としての一次元ラインセンサー２８に向け
て反射し、残りを透過する。ハーフミラー２４を透過し
た反射光束は視野絞り２５の位置でいったん結像され、
全反射ミラー２６により結像レンズ２７に向けて反射さ
れ、結像レンズ２７、光路切り換えミラー１３を介して
エリアＣＣＤ１４に結像され、角膜１５の内皮像がモニ
ター１６に表示される。一次元ラインセンサ２８と視野
絞り２５とはアライメントが完了した状態で角膜１５の
内皮位置に関してほぼ共役である。
【００１１】その一次元ラインセンサー２８には図４に
示すように角膜１５の表面３０からのスリット反射光束
Ｐ1と角膜１５の裏面３１からのスリット反射光束Ｐ2と
が受光される。この図４において、Ｐ11はスリット２０
の端縁２０aによって定義される照明光束であり、Ｐ12
はスリット２０の端縁２０bによって定義される照明光
束であり、Ｐ13は角膜１５の表面３０において反射され
た光束Ｐ11を示す反射光束であり、Ｐ14は角膜１５の裏
面３１において反射された光束Ｐ11を示す反射光束であ
る。また、Ｐ15は角膜１５の表面３０において反射され
た光束Ｐ12を示す反射光束であり、Ｐ16は角膜１５の裏
面３１において反射された光束Ｐ12を示す反射光束であ
る。さらに、実線で示す照明光束Ｋ1はスリット２０の
中央を通る主光束であり、Ｋ2は角膜１５の表面３０に
おいて反射された反射主光束を示し、Ｋ3は角膜１５の
裏面３１において反射された反射主光束を示している。
示すように角膜１５の表面３０からのスリット反射光束
Ｐ1と角膜１５の裏面３１からのスリット反射光束Ｐ2と
が受光される。この図４において、Ｐ11はスリット２０
の端縁２０aによって定義される照明光束であり、Ｐ12
はスリット２０の端縁２０bによって定義される照明光
束であり、Ｐ13は角膜１５の表面３０において反射され
た光束Ｐ11を示す反射光束であり、Ｐ14は角膜１５の裏
面３１において反射された光束Ｐ11を示す反射光束であ
る。また、Ｐ15は角膜１５の表面３０において反射され
た光束Ｐ12を示す反射光束であり、Ｐ16は角膜１５の裏
面３１において反射された光束Ｐ12を示す反射光束であ
る。さらに、実線で示す照明光束Ｋ1はスリット２０の
中央を通る主光束であり、Ｋ2は角膜１５の表面３０に
おいて反射された反射主光束を示し、Ｋ3は角膜１５の
裏面３１において反射された反射主光束を示している。
【００１２】一次元ラインセンサー２８の微小光電素子
列は駆動回路３３によって駆動走査される。駆動回路３
３は図５（イ）に示すようにクロックパルスＣを一定周
期で出力する。一次元ラインセンサ２８からは反射光束
Ｐ1と反射光束Ｐ2とに基づいて図５（ロ）に示す光電変
換信号が出力される。その図５（ロ）において、符号Ｓ
1は反射光束Ｐ1に対応する光電変換信号であり、符号Ｓ
2は反射光束Ｐ2に対応する光電変換信号である。光電変
換信号Ｓ1においてその立ち上がり部Ｓ11は角膜１５の
表面３０において反射された反射光束Ｐ13に対応し、立
ち下がり部Ｓ12は角膜１５の表面３０において反射され
た反射光束Ｐ15に対応している。また、光電変換信号Ｓ
2においてその立ち上がり部Ｓ21は角膜１５の裏面３１
において反射された反射光束Ｐ14に対応し、立ち下がり
部Ｓ22は角膜１５の裏面３１において反射された反射光
束Ｐ16に対応している。光電変換信号Ｓ1のフラット部
Ｆ1は反射光束Ｐ13と反射光束Ｐ15との間の反射光束に
よるものであり、光電変換信号Ｓ2のフラット部Ｆ2は反
射光束Ｐ14と反射光束Ｐ16との間の反射光束によるもの
である。光電変換信号Ｓ1と光電変換信号Ｓ2との間の出
力が若干低くなっているのは、角膜実質からの反射光束
が境界面に較べて小さいからである。
列は駆動回路３３によって駆動走査される。駆動回路３
３は図５（イ）に示すようにクロックパルスＣを一定周
期で出力する。一次元ラインセンサ２８からは反射光束
Ｐ1と反射光束Ｐ2とに基づいて図５（ロ）に示す光電変
換信号が出力される。その図５（ロ）において、符号Ｓ
1は反射光束Ｐ1に対応する光電変換信号であり、符号Ｓ
2は反射光束Ｐ2に対応する光電変換信号である。光電変
換信号Ｓ1においてその立ち上がり部Ｓ11は角膜１５の
表面３０において反射された反射光束Ｐ13に対応し、立
ち下がり部Ｓ12は角膜１５の表面３０において反射され
た反射光束Ｐ15に対応している。また、光電変換信号Ｓ
2においてその立ち上がり部Ｓ21は角膜１５の裏面３１
において反射された反射光束Ｐ14に対応し、立ち下がり
部Ｓ22は角膜１５の裏面３１において反射された反射光
束Ｐ16に対応している。光電変換信号Ｓ1のフラット部
Ｆ1は反射光束Ｐ13と反射光束Ｐ15との間の反射光束に
よるものであり、光電変換信号Ｓ2のフラット部Ｆ2は反
射光束Ｐ14と反射光束Ｐ16との間の反射光束によるもの
である。光電変換信号Ｓ1と光電変換信号Ｓ2との間の出
力が若干低くなっているのは、角膜実質からの反射光束
が境界面に較べて小さいからである。
【００１３】一次元ラインセンサ２８からの光電変換出
力は、増幅回路３４によって増幅されて計測回路３５に
入力される。計測回路３５は図６に示すように微分回路
３６を有する。微分回路３６は光電変換信号Ｓ1、Ｓ2に
基づいて図５（ハ）に示すように微分出力Ｂ1、Ｂ2、Ｂ
3、Ｂ4を出力する。微分出力Ｂ1は立ち上がり部Ｓ11に
基づく信号であり、微分出力Ｂ2は立ち下がり部Ｓ12に
基づく信号であり、微分出力Ｂ3は立ち上がり部Ｓ21に
基づく信号であり、微分出力Ｂ4は立ち下がり部Ｓ22に
基づく信号である。
力は、増幅回路３４によって増幅されて計測回路３５に
入力される。計測回路３５は図６に示すように微分回路
３６を有する。微分回路３６は光電変換信号Ｓ1、Ｓ2に
基づいて図５（ハ）に示すように微分出力Ｂ1、Ｂ2、Ｂ
3、Ｂ4を出力する。微分出力Ｂ1は立ち上がり部Ｓ11に
基づく信号であり、微分出力Ｂ2は立ち下がり部Ｓ12に
基づく信号であり、微分出力Ｂ3は立ち上がり部Ｓ21に
基づく信号であり、微分出力Ｂ4は立ち下がり部Ｓ22に
基づく信号である。
【００１４】微分出力Ｂ1、Ｂ3はピーク検出器３７に入
力される。微分出力Ｂ2、Ｂ4は反転回路３８により反転
されてピーク検出器３９に入力される。ピーク検出器３
７はその微分出力Ｂ1、Ｂ3に基づき図５（ニ）に示すク
ロックパルスＣＬ1、ＣＬ2を出力し、ピーク検出器３９
はその微分出力Ｂ2、Ｂ4に基づき図５（ホ）に示すクロ
ックパルスＣＬ3、ＣＬ4を出力する。クロックパルスＣ
Ｌ1、ＣＬ2は分周器４０に入力され、クロックパルスＣ
Ｌ3、ＣＬ4は分周器４１に入力される。分周器４０はそ
のクロックパルスＣＬ1によりハイとなり、クロックパ
ルスＣＬ2によりローとなる。分周器４１はクロックパ
ルスＣＬ3によりハイとなり、クロックパルスＣＬ4によ
りローとなる。
力される。微分出力Ｂ2、Ｂ4は反転回路３８により反転
されてピーク検出器３９に入力される。ピーク検出器３
７はその微分出力Ｂ1、Ｂ3に基づき図５（ニ）に示すク
ロックパルスＣＬ1、ＣＬ2を出力し、ピーク検出器３９
はその微分出力Ｂ2、Ｂ4に基づき図５（ホ）に示すクロ
ックパルスＣＬ3、ＣＬ4を出力する。クロックパルスＣ
Ｌ1、ＣＬ2は分周器４０に入力され、クロックパルスＣ
Ｌ3、ＣＬ4は分周器４１に入力される。分周器４０はそ
のクロックパルスＣＬ1によりハイとなり、クロックパ
ルスＣＬ2によりローとなる。分周器４１はクロックパ
ルスＣＬ3によりハイとなり、クロックパルスＣＬ4によ
りローとなる。
【００１５】分周器４０の出力はアンド回路４２の一入
力端子に入力され、アンド回路４２の他入力端子にはク
ロック信号発生器４３の基準クロック信号が入力されて
いる。分周器４１の出力はアンド回路４４の一入力端子
に入力され、アンド回路４４の他入力端子には基準クロ
ック信号が入力されている。アンド回路４２は分周器４
０がハイの間、図５（ヘ）に示す基準クロック信号ＳＣ
Ｌを通過させ、アンド回路４４は分周器４１がハイの
間、図５（ト）に示す基準クロック信号ＳＣＬ´を通過
させる。アンド回路４２の出力はカウンタ４５に入力さ
れ、アンド回路４４の出力はカウンタ４６に入力され
る。カウンタ４５は基準クロック信号ＳＣＬの個数をカ
ウントし、カウンタ４６は基準クロック信号ＳＣＬ´の
個数をカウントする。カウンタ４５のカウント情報とカ
ウンタ４６のカウント情報とは演算回路４７に入力され
る。
力端子に入力され、アンド回路４２の他入力端子にはク
ロック信号発生器４３の基準クロック信号が入力されて
いる。分周器４１の出力はアンド回路４４の一入力端子
に入力され、アンド回路４４の他入力端子には基準クロ
ック信号が入力されている。アンド回路４２は分周器４
０がハイの間、図５（ヘ）に示す基準クロック信号ＳＣ
Ｌを通過させ、アンド回路４４は分周器４１がハイの
間、図５（ト）に示す基準クロック信号ＳＣＬ´を通過
させる。アンド回路４２の出力はカウンタ４５に入力さ
れ、アンド回路４４の出力はカウンタ４６に入力され
る。カウンタ４５は基準クロック信号ＳＣＬの個数をカ
ウントし、カウンタ４６は基準クロック信号ＳＣＬ´の
個数をカウントする。カウンタ４５のカウント情報とカ
ウンタ４６のカウント情報とは演算回路４７に入力され
る。
【００１６】クロックパルスＣＬ1とクロックパルスＣ
Ｌ2との間隔Ｄ1は図４に示す距離Ｌ1に対応し、クロッ
クパルスＣＬ3とクロックパルスＣＬ4との間隔Ｄ2は図
４に示す距離Ｌ2に対応している。また、間隔Ｄ1と間隔
Ｄ2との平均値Ｄは図４に示す距離Ｌに対応している。
角膜１５の概略厚さｄ´と距離Ｌとの間には、照明主光
束Ｋ1の角膜１５の表面３０における点Ａから照明主光
束Ｋ1の角膜１５の裏面３１における点Ａ´までの長さ
をＷとすると、三角関数の公式により、 Ｌ＝Ｗcos（９０°−２θ） ｄ´＝Ｗcosθ より、 ｄ´＝Ｌcosθ／cos（９０°−２θ） ここで、角度θを30°に設定すると、 ｄ´＝Ｌ すなわち、角膜１５の概略厚さｄ´は距離Ｌで表わされ
る。
Ｌ2との間隔Ｄ1は図４に示す距離Ｌ1に対応し、クロッ
クパルスＣＬ3とクロックパルスＣＬ4との間隔Ｄ2は図
４に示す距離Ｌ2に対応している。また、間隔Ｄ1と間隔
Ｄ2との平均値Ｄは図４に示す距離Ｌに対応している。
角膜１５の概略厚さｄ´と距離Ｌとの間には、照明主光
束Ｋ1の角膜１５の表面３０における点Ａから照明主光
束Ｋ1の角膜１５の裏面３１における点Ａ´までの長さ
をＷとすると、三角関数の公式により、 Ｌ＝Ｗcos（９０°−２θ） ｄ´＝Ｗcosθ より、 ｄ´＝Ｌcosθ／cos（９０°−２θ） ここで、角度θを30°に設定すると、 ｄ´＝Ｌ すなわち、角膜１５の概略厚さｄ´は距離Ｌで表わされ
る。
【００１７】なお、ここで得られる角膜１５の概略厚さ
ｄ´は、空気と角膜との屈折率の相違、角膜の曲率を無
視して計算した値であり、これらを補正することにより
角膜１５の厚さｄを正確に求めることができる。たとえ
ば、角膜１５の厚さｄは角膜頂点Ｈから点Ｈ´までの長
さを加えることにより補正される。
ｄ´は、空気と角膜との屈折率の相違、角膜の曲率を無
視して計算した値であり、これらを補正することにより
角膜１５の厚さｄを正確に求めることができる。たとえ
ば、角膜１５の厚さｄは角膜頂点Ｈから点Ｈ´までの長
さを加えることにより補正される。
【００１８】これらの演算は演算部４７によって行わ
れ、その演算結果はモニター１５、あるいはプリンター
４８に向かって出力される。
れ、その演算結果はモニター１５、あるいはプリンター
４８に向かって出力される。
【００１９】
【発明の効果】本発明に係る角膜厚さ測定装置は、以上
説明のように構成したので、個人差による測定誤差の解
消を図ると共に測定精度の向上を図ることができるとい
う効果を奏する。
説明のように構成したので、個人差による測定誤差の解
消を図ると共に測定精度の向上を図ることができるとい
う効果を奏する。
【図１】従来の角膜厚さ測定装置の光学系を示す図であ
る。
る。
【図２】従来の角膜厚さ測定装置の測定方法を説明する
ための説明図である。
ための説明図である。
【図３】本発明に係わる角膜厚さ測定装置の光学系の実
施例を示す平面図である。
施例を示す平面図である。
【図４】本発明に係わる角膜厚さ測定装置の光学系によ
る照明光束の反射状態の説明図である。
る照明光束の反射状態の説明図である。
【図５】本発明に係わる計測回路のタイミングチャート
図である。
図である。
【図６】本発明に係わる計測回路の詳細構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
１５…角膜 １７…照明光学系 ２２…受光光学系 ２８…一次元ラインセンサ（光電変換素子） ３０…表面 ３１…裏面 ３５…計測回路 Ｅ…被検眼 Ｏ1〜Ｏ5…光軸
Claims (1)
- 【請求項１】 被検眼の光軸に対して斜め方向から照明
光を角膜に向けて照射する照明光学系と、前記角膜の表
面から反射された反射光束と前記角膜の裏面から反射さ
れた反射光束とを受光する受光光学系とを備え、 前記照明光学系の光軸と前記受光光学系の光軸とは、前
記被検眼の光軸に対してほぼ左右対称位置に配置され、
前記受光光学系には前記各反射光束の結像位置に微小光
電素子列からなる光電変換素子が設けられ、該光電変換
素子は前記角膜の表面から反射された反射光束に対応す
る光電変換信号と前記角膜の裏面から反射された反射光
束に対応する光電変換信号とに基づき前記角膜の厚さを
計測する計測回路に接続されていることを特徴とする角
膜厚さ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03310401A JP3112108B2 (ja) | 1991-11-26 | 1991-11-26 | 角膜厚さ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03310401A JP3112108B2 (ja) | 1991-11-26 | 1991-11-26 | 角膜厚さ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05146409A true JPH05146409A (ja) | 1993-06-15 |
| JP3112108B2 JP3112108B2 (ja) | 2000-11-27 |
Family
ID=18004820
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03310401A Expired - Fee Related JP3112108B2 (ja) | 1991-11-26 | 1991-11-26 | 角膜厚さ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3112108B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6095651A (en) * | 1996-12-23 | 2000-08-01 | University Of Rochester | Method and apparatus for improving vision and the resolution of retinal images |
| US6199986B1 (en) | 1999-10-21 | 2001-03-13 | University Of Rochester | Rapid, automatic measurement of the eye's wave aberration |
| US6271914B1 (en) | 1996-11-25 | 2001-08-07 | Autonomous Technologies Corporation | Objective measurement and correction of optical systems using wavefront analysis |
-
1991
- 1991-11-26 JP JP03310401A patent/JP3112108B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6271914B1 (en) | 1996-11-25 | 2001-08-07 | Autonomous Technologies Corporation | Objective measurement and correction of optical systems using wavefront analysis |
| US6095651A (en) * | 1996-12-23 | 2000-08-01 | University Of Rochester | Method and apparatus for improving vision and the resolution of retinal images |
| US6379005B1 (en) | 1996-12-23 | 2002-04-30 | University Of Rochester | Method and apparatus for improving vision and the resolution of retinal images |
| US6948818B2 (en) | 1996-12-23 | 2005-09-27 | University Of Rochester | Method and apparatus for improving vision and the resolution of retinal images |
| US7416305B2 (en) | 1996-12-23 | 2008-08-26 | University Of Rochester | Method and apparatus for improving vision and the resolution of retinal images |
| US6199986B1 (en) | 1999-10-21 | 2001-03-13 | University Of Rochester | Rapid, automatic measurement of the eye's wave aberration |
| US6299311B1 (en) | 1999-10-21 | 2001-10-09 | University Of Rochester | Rapid, automatic measurement of the eye's wave aberration |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3112108B2 (ja) | 2000-11-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |