JP3597274B2 - 眼科装置 - Google Patents
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Description
【産業上の利用分野】
本発明は、非接触で被検眼の角膜の厚さの測定が可能な眼科装置、例えば、パコメーター、角膜厚さ測定機能が付加された角膜内皮細胞撮影装置等の眼科装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来から特開平6−327634号公報に開示されているように、角膜の厚さ測定機能が付加された角膜内皮細胞撮影装置が知られている。この眼科装置では、被検眼に対して斜め方向からスリット光を投影し、その反射光を被検眼光軸に対して略対称な方向から受光して、角膜内皮細胞を含んだ角膜反射像を観察・撮影する。また、角膜内皮細胞像の観察・撮影とともに、その角膜内皮細胞像の一部をハーフミラー等で分割し、角膜表面での反射光と角膜裏面での反射光による光像を一次元ラインセンサー等で受光してその像間隔を測定し、その値から被検眼角膜の厚さを求めている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、この従来の眼科装置で角膜の厚さを測定する場合、角膜が曲率をもっているために、被検眼と装置本体とのアライメント状態によって角膜表面での反射角が変化すること等の理由により、角膜表面での反射光と角膜裏面での反射光による像の間隔が変化し、その結果、測定時のアライメント誤差により角膜厚さの測定値がばらつくという問題が生じている。この角膜厚さの測定値のばらつきはアライメント許容範囲の大きさに依存し、通常角膜厚さの約10%程度の大きさを有する。人眼の平均的な角膜の厚さは0.5mm程度であるので、その誤差量は0.05mm程度となり、無視できない大きさとなり、角膜厚さの測定にとって致命的な欠点となっている。角膜厚さの測定精度を保つために、アライメント許容範囲を狭くすることは、検者及び被検者への負担を急激に増加させることになり、かえって測定の信頼性を低下させることとなる。
【0004】
本発明は、上記の事情に鑑みて為されたもので、測定時のアライメント状態に極力左右されることなく角膜厚さを正確に測定できる眼科装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明に係わる眼科装置は、被検眼の角膜の厚さを光学的に非接触で測定する角膜厚測定手段と、装置本体と被検眼との相対位置関係を検出するアライメント検出手段とを有し、アライメント検出手段の測定時の光軸方向のずれ量に関する出力情報に基づき角膜厚測定手段により得られた測定値を補正する測定値補正手段が設けられている。
【0006】
【作用】
本発明に係わる眼科装置によれば、角膜厚測定手段は被検眼の角膜の厚さを光学的に非接触で測定する。アライメント検出手段は装置本体と被検眼との相対位置関係を意味する情報を出力し、測定値補正手段はアライメント検出手段の測定時の光軸方向のずれ量に関する出力情報に基づき角膜厚測定手段により得られた測定値を補正する。
【0007】
【発明の実施の形態】
図1、図2は本発明に係わる眼科装置としての角膜厚さ測定機能付き角膜内皮細胞撮影装置の光学系を示している。
【0008】
その図1、図2において、装置Sは被検眼Eの前眼部を観察するための前眼部観察光学系10、XY方向のアライメント検出を行なうための指標光を被検眼Eの角膜Cに投影するための指標投影光学系20、アライメント指標光の角膜Cによる反射光を受光して装置Sと角膜Cの相対位置を検出するXYアライメント検出光学系30、角膜内皮細胞を投影するためのスリット光を角膜Cに対して斜めから照射する撮影用照明光学系40、Z方向のアライメント検出及び角膜厚測定用のスリット光を角膜Cに対して斜めから照射するZアライメント検出用の照明光学系50、撮影用の照明光学系40と被検眼光軸に関して対称な位置に設けられて撮影用照明光学系40により照射されたスリット光の角膜Cによる反射光を受光することにより角膜内皮細胞像を撮影する撮影光学系60、照明光学系50により照射されたスリット光の角膜Cによる反射光を受光してZ方向のアライメント検出及び角膜厚さ測定のための角膜像を受像するZアライメント用の検出光学系70、被検眼Eに固視像を提供する固視標投影光学系80を備えている。
【0009】
前眼部観察光学系10は、被検眼Eの左右に位置して前眼部をダイレクトに赤外光で照明する複数個の前眼部観察光源11、ハーフミラー12、対物レンズ13、ハーフミラー14、遮光板15、CCDカメラ16を備え、O1はその光軸である。前眼部観察光源11によって照明された被検眼Eの前眼部像はハーフミラー12、対物レンズ13、ハーフミラー14を経て、CCDカメラ16に導かれる。遮蔽板15は前眼部観察時は光路上から退避されていて、角膜内皮細胞撮影時には光路中に挿入される。
【0010】
指標投影光学系20は、赤外光を出射する光源21、集光レンズ22、開口絞り23、指標を形成するピンホール板24、ダイクロイックミラー25、ピンホール板24に焦点を一致させるようにして光路上に配置された投影レンズ26、ハーフミラー12を有する。光源21から出射された赤外光は、集光レンズ22により集光されつつ開口絞り23を通過してピンホール板24に導かれる。ピンホール板24を通過した光束はダイクロイックミラー25で反射され、投影レンズ26によって平行光束Kとなり、ハーフミラー12で反射されて角膜Cに導かれる。角膜Cに投影された指標光は、図3に示すように角膜Cの頂点Pと角膜Cの曲率中心O2との中間位置に輝点像Rを形成するようにして角膜表面Tで反射される。なお、開口絞り23は投影レンズ26に関して角膜頂点Pと共役な位置に設けられている。
【0011】
XYアライメント検出光学系30は、ハーフミラー12、対物レンズ13、ハーフミラー14、アライメントセンサ31を有する。指標投影光学系20により角膜Cに投影され輝点像Rを形成するように反射された指標光は、ハーフミラー12を透過し対物レンズ13で集束されつつハーフミラー14でその一部が反射されてアライメントセンサ31上に輝点像Rの像R´を形成する。アライメントセンサ31はPSD等の位置検出が可能な受光素子である。XYアライメント検出回路91aは、アライメントセンサ31の出力に基づき装置Sと角膜Cの相対位置(XY方向)を公知の手段によって演算し、制御回路93及び測定値補正演算回路94に出力する。一方、ハーフミラー14を透過した角膜反射光束はCCDカメラ16に導かれて輝点像R´´を形成する。CCDカメラ16はモニタ装置に画像信号を出力し、図4に示すように被検眼Eの前眼部像E´、輝点像R´´がモニタ装置の画面17に表示される。なお、符号18は図示しない画像生成手段によって生成されたアライメント許容範囲を示すマークである。検者はこの画面を観察しつつ、輝点像R´´がマーク18内に入ってピントが合うように被検眼Eに対して装置Sを移動させることによりアライメントを行なう。
【0012】
撮影用照明光学系40は、キセノンランプからなる撮影用照明光源41、集光レンズ42、スリット板43、可視光を透過し赤外光を反射するダイクロイックミラー44、開口絞り45、対物レンズ46を有し、O3はその光軸である。撮影時に、撮影用照明光源41から出射された可視光は集光レンズ42により集光されてスリット板43に導かれ、ダイクロイックミラー44を透過し、開口絞り45を通過して、対物レンズ46により角膜Cに導かれ、その角膜Cが横断照明される。
【0013】
図5(a)は、照明光学系40により投光されたスリット光束の角膜Cにおける反射状態を示し、スリット光束の一部は空気と角膜Cとの境界面である角膜表面Tにおいてまず反射される。また、角膜表面Tを透過した光束の一部は角膜内皮細胞面Nで反射される。角膜表面Tからの反射光束T´の光量が最も大きく、角膜内皮細胞面Nからの反射光束N´の光量は相対的に小さく、角膜実質Mからの反射光束M´の光量が最も小さい。
【0014】
照明光学系50は、赤外光を出射する光源51、集光レンズ52、スリット板53、ダイクロイックミラー44、開口絞り45、対物レンズ46を有する。光源51から出射された赤外光は、集光レンズ52で集束されつつスリット板53を通過する。その通過光束はダイクロイックミラー44で反射され、開口絞り45を通過して対物レンズ46により集束され、角膜Cに導かれる。照明光学系50により投光されたスリット光束は、撮影用照明光学系40によって投光されたスリット光束と同様に、図5(a)に示すように反射される。撮影光学系60は、対物レンズ61、赤外光を反射しかつ可視光を透過するダイクロイックミラー62、マスク63、ミラー64、リレーレンズ65、遮光板66、前眼部観察光束の妨げとならない位置に配設されると共に物面側(被検眼E側)の傾斜角θと同一角をもって傾斜するミラー67、CCDカメラ16を有し、O4はその光軸である。
【0015】
撮影用照明光学系40から出射されかつ角膜Cによって反射された可視光反射光束は、対物レンズ61により集光されつつダイクロイックミラー62を透過してマスク63上に一旦角膜内皮細胞像として結像される。角膜内皮細胞像を形成する以外の余分の反射光束はこのマスク63により遮蔽され、マスク63を通過した角膜内皮細胞像を形成する反射光束はミラー64で反射され、リレーレンズ65により集束されつつミラー67に導かれかつ反射されて、CCDカメラ16上に角膜内皮細胞像を形成する。CCDカメラ16はモニタ装置に画像信号を出力し、モニタ装置の画面17には図5(b)に示すように角膜内皮細胞像68aが表示される。この図5(b)において、破線で示す68bはマスク63によって遮蔽されないとしたら角膜表面Tからの反射光束T´により形成される光像である。この図5(b)において、斜線部分はマスク63によって遮蔽された部分である。なお、遮蔽板66は角膜内皮細胞撮影時は光路上から退避されていて、前眼部観察時には光路中に挿入される。固視標投影光学系80は、可視光を出射する固視標用光源81、ピンホール板82、ダイクロイックミラー25、投影レンズ26、ハーフミラー12を有する。固視標用光源81から出射された固視標光は、ピンホール板82を経てダイクロイックミラー25を透過し投影レンズ26により平行光束とされた後、ハーフミラー12に反射される。被検者は、このハーフミラー12に反射された固視標光を固視目標として注視することにより視線が固定される。
【0016】
Zアライメント用の検出光学系70は、対物レンズ61、ダイクロイックミラー62、合焦位置検出センサ71を有する。照明光学系50により投光されたスリット光の角膜Cによる反射光は、対物レンズ61により集束されつつダイクロイックミラー62に導かれかつ反射され、合焦位置検出センサ71上に結像される。合焦位置検出センサ71はラインセンサ等の光量分布が検出可能な受光素子である。合焦位置検出センサ71上には、図6(a)に示す光像が形成され、その光量分布は図6(b)のようになる。その図6(a)において、符号72は角膜表面Tにおいて反射された光束T´の光像であり、符号73は角膜内皮細胞面Nで反射された光束N´の光像である。zアライメント検出回路91bは、合焦位置検出センサ71の出力に基づき光束N´の光量のピーク位置73´を検出し、これにより角膜内皮細胞面の位置が検出される。この角膜内皮細胞面Nの位置検出方法の詳細は特開平6−327634号公報に記載されているのでその詳細な説明は省略する。この位置検出結果は制御回路93及び測定値補正演算回路94に入力される。角膜厚測定回路92は、合焦位置検出センサ71の出力に基づき光束T´の光量のピーク位置72´と光束N´の光量のピーク位置73´との間の間隔k(図6(b)を参照)を検出する。そして、この検出結果の出力に基づき、結像倍率Mをパラメータとして、ピーク位置72´、73´を合焦位置検出センサ71と対物レンズ61に関して共役な面71´に射影した点Q3、Q4の間隔K´を求める。そして、このK´から傾斜角θや角膜の屈折率等をパラメータとして角膜厚Dを演算する。その演算結果は測定値補正演算回路94に入力される。
【0017】
次に、演算値の補正について説明する。
【0018】
アライメント調整が完全な場合、即ち、図7(a)に示すようにアライメント適正位置からの被検眼のずれ量がゼロの場合には、角膜厚測定回路92により得られた角膜厚さの値がそのまま正確な値として制御回路93に出力される。
【0019】
次に、図7(b)に示すように、アライメント許容範囲内で、例えばZ方向に一定のずれ量ΔZだけ微小にずれた状態での正確な角膜厚の演算を説明する。被検眼が理想位置よりΔZだけずれると、角膜表面Tの反射点qの位置が約ΔZ・tanθだけずれるとともに、反射光の反射方向が約2・tanθ/R(Rは角膜曲率半径)ずれることになる。これらのずれは、合焦位置検出センサ71上の角膜表面反射像のピーク位置72と角膜内皮像のピーク位置73との間隔Kに影響を与える。従って、これらの影響によるKの値の変化ΔKを演算し、この変化量ΔKに基づき測定値K´に補正を加えれば、ずれ量ΔZが存在する状況下でも正確な角膜厚値Dを得ることができる。このようにして得られた補正値は、制御回路93に出力される。制御回路93は補正された角膜厚さの測定値をモニタ装置やプリンタに出力する。
【0020】
なお、あらかじめずれ量ΔZと補正量との関係を実験により求めて、テーブルの形で記憶させておいても良い。
【0021】
次に測定及び撮影の手順を述べる。
【0022】
制御回路93は光源11、21、51、81を点灯させる。検者はモニタ装置の画面を観察しながらアライメントを行い、装置Sと被検眼Eが所定位置関係になると、つまり、アライメント検出回路91の出力が所定範囲内に入ると、自動的に角膜厚さの測定及び内皮細胞の撮影が行われ、角膜厚補正演算回路94は、角膜厚測定回路92とアライメント検出回路91の出力に基づき角膜厚さを求め、制御回路93に出力する。その後、制御回路93は、光源11、21、51、81を消灯し、光源41を発光させ、角膜内皮細胞の撮影を行う。モニタ装置の画面17には角膜の厚さ及び角膜内皮細胞像が表示される。
【0023】
以上、発明の実施の形態においては、角膜表面における反射位置、反射方向の変化のみを考慮して補正を行ったが、角膜裏面における反射角の変化をも考慮して補正することにより、更に測定値の精度を上げることができる。その他、他のパラメータをも考慮して補正することも可能である。
【0024】
【発明の効果】
本発明にかかる角膜厚測定装置は、以上説明したように構成したので、測定時のアライメント状態による測定誤差を解消して測定精度の向上を図れると共に、アライメント許容範囲を広く取ることができ検者及び被検者の負担の軽減を図ることができるという効果を奏する。すなわち、測定時のアライメント状態に極力左右されることなく角膜厚さを正確に測定できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる眼科装置の光学系の要部構成図であってその平面配置図である。
【図2】本発明に係わる眼科装置の光学系の要部構成図であってその側面配置図である。
【図3】角膜に照射されたアライメント光束の反射の説明図である。
【図4】モニターの画面に表示された前眼部像を示す図である。
【図5】角膜に照射されるスリット光束と画面に表示される角膜内皮細胞像の説明図であって、(a)は角膜に照射されたスリット光束の反射の説明図、(b)は画面に表示された角膜内皮細胞像の説明図である。
【図6】角膜からのスリット反射光束と合焦位置検出センサとの位置関係を示す説明図であって、(a)はその合焦位置検出センサに投影された反射光束の光像を示す説明図、(b)はその光量分布を示す図である。
【図7】角膜厚さの補正を説明するための光束の入反射関係を示す図であって、(a)は装置と被検眼とが理想状態にある場合の説明図、(b)は装置と被検眼とが理想状態からΔZだけz方向にずれている場合の説明図である。
【符号の説明】
70…アライメント検出光学系(アライメント検出手段)
92…角膜厚さ測定回路(角膜厚測定手段)
94…測定値補正演算回路(測定値補正手段)
C…角膜
E…被検眼
S…装置
D…角膜厚さ
Claims (2)
- 被検眼の角膜の厚さを光学的に非接触で測定する角膜厚測定手段と、装置本体と被検眼との相対位置関係を検出するアライメント検出手段とを有し、前記アライメント検出手段の測定時の光軸方向のずれ量に関する出力情報に基づき前記角膜厚測定手段により得られた測定値を補正する測定値補正手段が設けられている眼科装置。
- 前記被検眼に対して斜めからスリット光を照射する照明光学系と、被検眼の光軸に関して前記照明光学系と略対称に配置されて前記被検眼の角膜内皮細胞を含めて角膜反射像を観察撮影する観察撮影光学系とを有する請求項1に記載の眼科装置。
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