JPH09108185A - 眼科装置 - Google Patents
眼科装置Info
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- JPH09108185A JPH09108185A JP7269801A JP26980195A JPH09108185A JP H09108185 A JPH09108185 A JP H09108185A JP 7269801 A JP7269801 A JP 7269801A JP 26980195 A JP26980195 A JP 26980195A JP H09108185 A JPH09108185 A JP H09108185A
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- corneal
- cornea
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/1005—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for measuring distances inside the eye, e.g. thickness of the cornea
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- Veterinary Medicine (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定時のアライメント状態に極力左右される
ことなく角膜厚さを正確に測定できる眼科装置を提供す
る。 【解決手段】 本発明の眼科装置は、被検眼Ｅの角膜Ｃ
の厚さＤを光学的に非接触で測定する角膜厚測定手段９
２と、装置本体Ｓと被検眼Ｅとの相対位置関係を検出す
るアライメント検出手段７０とを有し、アライメント検
出手段７０の測定時の出力情報に基づき角膜厚測定手段
９２により得られた測定値を補正する測定値補正手段９
４が設けられている。
ことなく角膜厚さを正確に測定できる眼科装置を提供す
る。 【解決手段】 本発明の眼科装置は、被検眼Ｅの角膜Ｃ
の厚さＤを光学的に非接触で測定する角膜厚測定手段９
２と、装置本体Ｓと被検眼Ｅとの相対位置関係を検出す
るアライメント検出手段７０とを有し、アライメント検
出手段７０の測定時の出力情報に基づき角膜厚測定手段
９２により得られた測定値を補正する測定値補正手段９
４が設けられている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、非接触で被検眼の角膜
の厚さの測定が可能な眼科装置、例えば、パコメータ
ー、角膜厚さ測定機能が付加された角膜内皮細胞撮影装
置等の眼科装置に関する。
の厚さの測定が可能な眼科装置、例えば、パコメータ
ー、角膜厚さ測定機能が付加された角膜内皮細胞撮影装
置等の眼科装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から特開平６−３２７６３４号公報
に開示されているように、角膜の厚さ測定機能が付加さ
れた角膜内皮細胞撮影装置が知られている。この眼科装
置では、被検眼に対して斜め方向からスリット光を投影
し、その反射光を被検眼光軸に対して略対称な方向から
受光して、角膜内皮細胞を含んだ角膜反射像を観察・撮
影する。また、角膜内皮細胞像の観察・撮影とともに、
その角膜内皮細胞像の一部をハーフミラー等で分割し、
角膜表面での反射光と角膜裏面での反射光による光像を
一次元ラインセンサー等で受光してその像間隔を測定
し、その値から被検眼角膜の厚さを求めている。
に開示されているように、角膜の厚さ測定機能が付加さ
れた角膜内皮細胞撮影装置が知られている。この眼科装
置では、被検眼に対して斜め方向からスリット光を投影
し、その反射光を被検眼光軸に対して略対称な方向から
受光して、角膜内皮細胞を含んだ角膜反射像を観察・撮
影する。また、角膜内皮細胞像の観察・撮影とともに、
その角膜内皮細胞像の一部をハーフミラー等で分割し、
角膜表面での反射光と角膜裏面での反射光による光像を
一次元ラインセンサー等で受光してその像間隔を測定
し、その値から被検眼角膜の厚さを求めている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来の眼科装置で角膜の厚さを測定する場合、角膜が曲率
をもっているために、被検眼と装置本体とのアライメン
ト状態によって角膜表面での反射角が変化すること等の
理由により、角膜表面での反射光と角膜裏面での反射光
による像の間隔が変化し、その結果、測定時のアライメ
ント誤差により角膜厚さの測定値がばらつくという問題
が生じている。この角膜厚さの測定値のばらつきはアラ
イメント許容範囲の大きさに依存し、通常角膜厚さの約
１０％程度の大きさを有する。人眼の平均的な角膜の厚
さは０．５ｍｍ程度であるので、その誤差量は０．０５
ｍｍ程度となり、無視できない大きさとなり、角膜厚さ
の測定にとって致命的な欠点となっている。角膜厚さの
測定精度を保つために、アライメント許容範囲を狭くす
ることは、検者及び被検者への負担を急激に増加させる
ことになり、かえって測定の信頼性を低下させることと
なる。
来の眼科装置で角膜の厚さを測定する場合、角膜が曲率
をもっているために、被検眼と装置本体とのアライメン
ト状態によって角膜表面での反射角が変化すること等の
理由により、角膜表面での反射光と角膜裏面での反射光
による像の間隔が変化し、その結果、測定時のアライメ
ント誤差により角膜厚さの測定値がばらつくという問題
が生じている。この角膜厚さの測定値のばらつきはアラ
イメント許容範囲の大きさに依存し、通常角膜厚さの約
１０％程度の大きさを有する。人眼の平均的な角膜の厚
さは０．５ｍｍ程度であるので、その誤差量は０．０５
ｍｍ程度となり、無視できない大きさとなり、角膜厚さ
の測定にとって致命的な欠点となっている。角膜厚さの
測定精度を保つために、アライメント許容範囲を狭くす
ることは、検者及び被検者への負担を急激に増加させる
ことになり、かえって測定の信頼性を低下させることと
なる。
【０００４】本発明は、上記の事情に鑑みて為されたも
ので、測定時のアライメント状態に極力左右されること
なく角膜厚さを正確に測定できる眼科装置を提供するこ
とを目的とする。
ので、測定時のアライメント状態に極力左右されること
なく角膜厚さを正確に測定できる眼科装置を提供するこ
とを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明に係わる眼科装置
は、被検眼の角膜の厚さを光学的に非接触で測定する角
膜厚測定手段と、装置本体と被検眼との相対位置関係を
検出するアライメント検出手段とを有し、アライメント
検出手段の測定時の出力情報に基づき角膜厚測定手段に
より得られた測定値を補正する測定値補正手段が設けら
れている。
は、被検眼の角膜の厚さを光学的に非接触で測定する角
膜厚測定手段と、装置本体と被検眼との相対位置関係を
検出するアライメント検出手段とを有し、アライメント
検出手段の測定時の出力情報に基づき角膜厚測定手段に
より得られた測定値を補正する測定値補正手段が設けら
れている。
【０００６】
【作用】本発明に係わる眼科装置によれば、角膜厚測定
手段は被検眼の角膜の厚さを光学的に非接触で測定す
る。アライメント検出手段は装置本体と被検眼との相対
位置関係を意味する情報を出力し、測定値補正手段はア
ライメント検出手段の測定時の出力情報に基づき角膜厚
測定手段により得られた測定値を補正する。
手段は被検眼の角膜の厚さを光学的に非接触で測定す
る。アライメント検出手段は装置本体と被検眼との相対
位置関係を意味する情報を出力し、測定値補正手段はア
ライメント検出手段の測定時の出力情報に基づき角膜厚
測定手段により得られた測定値を補正する。
【０００７】
【発明の実施の形態】図１、図２は本発明に係わる眼科
装置としての角膜厚さ測定機能付き角膜内皮細胞撮影装
置の光学系を示している。
装置としての角膜厚さ測定機能付き角膜内皮細胞撮影装
置の光学系を示している。
【０００８】その図１、図２において、装置Ｓは被検眼
Ｅの前眼部を観察するための前眼部観察光学系１０、Ｘ
Ｙ方向のアライメント検出を行なうための指標光を被検
眼Ｅの角膜Ｃに投影するための指標投影光学系２０、ア
ライメント指標光の角膜Ｃによる反射光を受光して装置
Ｓと角膜Ｃの相対位置を検出するＸＹアライメント検出
光学系３０、角膜内皮細胞を投影するためのスリット光
を角膜Ｃに対して斜めから照射する撮影用照明光学系４
０、Ｚ方向のアライメント検出及び角膜厚測定用のスリ
ット光を角膜Ｃに対して斜めから照射するＺアライメン
ト検出用の照明光学系５０、撮影用の照明光学系４０と
被検眼光軸に関して対称な位置に設けられて撮影用照明
光学系４０により照射されたスリット光の角膜Ｃによる
反射光を受光することにより角膜内皮細胞像を撮影する
撮影光学系６０、照明光学系５０により照射されたスリ
ット光の角膜Ｃによる反射光を受光してＺ方向のアライ
メント検出及び角膜厚さ測定のための角膜像を受像する
Ｚアライメント用の検出光学系７０、被検眼Ｅに固視像
を提供する固視標投影光学系８０を備えている。
Ｅの前眼部を観察するための前眼部観察光学系１０、Ｘ
Ｙ方向のアライメント検出を行なうための指標光を被検
眼Ｅの角膜Ｃに投影するための指標投影光学系２０、ア
ライメント指標光の角膜Ｃによる反射光を受光して装置
Ｓと角膜Ｃの相対位置を検出するＸＹアライメント検出
光学系３０、角膜内皮細胞を投影するためのスリット光
を角膜Ｃに対して斜めから照射する撮影用照明光学系４
０、Ｚ方向のアライメント検出及び角膜厚測定用のスリ
ット光を角膜Ｃに対して斜めから照射するＺアライメン
ト検出用の照明光学系５０、撮影用の照明光学系４０と
被検眼光軸に関して対称な位置に設けられて撮影用照明
光学系４０により照射されたスリット光の角膜Ｃによる
反射光を受光することにより角膜内皮細胞像を撮影する
撮影光学系６０、照明光学系５０により照射されたスリ
ット光の角膜Ｃによる反射光を受光してＺ方向のアライ
メント検出及び角膜厚さ測定のための角膜像を受像する
Ｚアライメント用の検出光学系７０、被検眼Ｅに固視像
を提供する固視標投影光学系８０を備えている。
【０００９】前眼部観察光学系１０は、被検眼Ｅの左右
に位置して前眼部をダイレクトに赤外光で照明する複数
個の前眼部観察光源１１、ハーフミラー１２、対物レン
ズ１３、ハーフミラー１４、遮光板１５、ＣＣＤカメラ
１６を備え、Ｏ１はその光軸である。前眼部観察光源１
１によって照明された被検眼Ｅの前眼部像はハーフミラ
ー１２、対物レンズ１３、ハーフミラー１４を経て、Ｃ
ＣＤカメラ１６に導かれる。遮蔽板１５は前眼部観察時
は光路上から退避されていて、角膜内皮細胞撮影時には
光路中に挿入される。
に位置して前眼部をダイレクトに赤外光で照明する複数
個の前眼部観察光源１１、ハーフミラー１２、対物レン
ズ１３、ハーフミラー１４、遮光板１５、ＣＣＤカメラ
１６を備え、Ｏ１はその光軸である。前眼部観察光源１
１によって照明された被検眼Ｅの前眼部像はハーフミラ
ー１２、対物レンズ１３、ハーフミラー１４を経て、Ｃ
ＣＤカメラ１６に導かれる。遮蔽板１５は前眼部観察時
は光路上から退避されていて、角膜内皮細胞撮影時には
光路中に挿入される。
【００１０】指標投影光学系２０は、赤外光を出射する
光源２１、集光レンズ２２、開口絞り２３、指標を形成
するピンホール板２４、ダイクロイックミラー２５、ピ
ンホール板２４に焦点を一致させるようにして光路上に
配置された投影レンズ２６、ハーフミラー１２を有す
る。光源２１から出射された赤外光は、集光レンズ２２
により集光されつつ開口絞り２３を通過してピンホール
板２４に導かれる。ピンホール板２４を通過した光束は
ダイクロイックミラー２５で反射され、投影レンズ２６
によって平行光束Ｋとなり、ハーフミラー１２で反射さ
れて角膜Ｃに導かれる。角膜Ｃに投影された指標光は、
図３に示すように角膜Ｃの頂点Ｐと角膜Ｃの曲率中心Ｏ
２との中間位置に輝点像Ｒを形成するようにして角膜表
面Ｔで反射される。なお、開口絞り２３は投影レンズ２
６に関して角膜頂点Ｐと共役な位置に設けられている。
光源２１、集光レンズ２２、開口絞り２３、指標を形成
するピンホール板２４、ダイクロイックミラー２５、ピ
ンホール板２４に焦点を一致させるようにして光路上に
配置された投影レンズ２６、ハーフミラー１２を有す
る。光源２１から出射された赤外光は、集光レンズ２２
により集光されつつ開口絞り２３を通過してピンホール
板２４に導かれる。ピンホール板２４を通過した光束は
ダイクロイックミラー２５で反射され、投影レンズ２６
によって平行光束Ｋとなり、ハーフミラー１２で反射さ
れて角膜Ｃに導かれる。角膜Ｃに投影された指標光は、
図３に示すように角膜Ｃの頂点Ｐと角膜Ｃの曲率中心Ｏ
２との中間位置に輝点像Ｒを形成するようにして角膜表
面Ｔで反射される。なお、開口絞り２３は投影レンズ２
６に関して角膜頂点Ｐと共役な位置に設けられている。
【００１１】ＸＹアライメント検出光学系３０は、ハー
フミラー１２、対物レンズ１３、ハーフミラー１４、ア
ライメントセンサ３１を有する。指標投影光学系２０に
より角膜Ｃに投影され輝点像Ｒを形成するように反射さ
れた指標光は、ハーフミラー１２を透過し対物レンズ１
３で集束されつつハーフミラー１４でその一部が反射さ
れてアライメントセンサ３１上に輝点像Ｒの像Ｒ´を形
成する。アライメントセンサ３１はＰＳＤ等の位置検出
が可能な受光素子である。ＸＹアライメント検出回路９
１ａは、アライメントセンサ３１の出力に基づき装置Ｓ
と角膜Ｃの相対位置（ＸＹ方向）を公知の手段によって
演算し、制御回路９３及び測定値補正演算回路９４に出
力する。一方、ハーフミラー１４を透過した角膜反射光
束はＣＣＤカメラ１６に導かれて輝点像Ｒ´´を形成す
る。ＣＣＤカメラ１６はモニタ装置に画像信号を出力
し、図４に示すように被検眼Ｅの前眼部像Ｅ´、輝点像
Ｒ´´がモニタ装置の画面１７に表示される。なお、符
号１８は図示しない画像生成手段によって生成されたア
ライメント許容範囲を示すマークである。検者はこの画
面を観察しつつ、輝点像Ｒ´´がマーク１８内に入って
ピントが合うように被検眼Ｅに対して装置Ｓを移動させ
ることによりアライメントを行なう。
フミラー１２、対物レンズ１３、ハーフミラー１４、ア
ライメントセンサ３１を有する。指標投影光学系２０に
より角膜Ｃに投影され輝点像Ｒを形成するように反射さ
れた指標光は、ハーフミラー１２を透過し対物レンズ１
３で集束されつつハーフミラー１４でその一部が反射さ
れてアライメントセンサ３１上に輝点像Ｒの像Ｒ´を形
成する。アライメントセンサ３１はＰＳＤ等の位置検出
が可能な受光素子である。ＸＹアライメント検出回路９
１ａは、アライメントセンサ３１の出力に基づき装置Ｓ
と角膜Ｃの相対位置（ＸＹ方向）を公知の手段によって
演算し、制御回路９３及び測定値補正演算回路９４に出
力する。一方、ハーフミラー１４を透過した角膜反射光
束はＣＣＤカメラ１６に導かれて輝点像Ｒ´´を形成す
る。ＣＣＤカメラ１６はモニタ装置に画像信号を出力
し、図４に示すように被検眼Ｅの前眼部像Ｅ´、輝点像
Ｒ´´がモニタ装置の画面１７に表示される。なお、符
号１８は図示しない画像生成手段によって生成されたア
ライメント許容範囲を示すマークである。検者はこの画
面を観察しつつ、輝点像Ｒ´´がマーク１８内に入って
ピントが合うように被検眼Ｅに対して装置Ｓを移動させ
ることによりアライメントを行なう。
【００１２】撮影用照明光学系４０は、キセノンランプ
からなる撮影用照明光源４１、集光レンズ４２、スリッ
ト板４３、可視光を透過し赤外光を反射するダイクロイ
ックミラー４４、開口絞り４５、対物レンズ４６を有
し、Ｏ３はその光軸である。撮影時に、撮影用照明光源
４１から出射された可視光は集光レンズ４２により集光
されてスリット板４３に導かれ、ダイクロイックミラー
４４を透過し、開口絞り４５を通過して、対物レンズ４
６により角膜Ｃに導かれ、その角膜Ｃが横断照明され
る。
からなる撮影用照明光源４１、集光レンズ４２、スリッ
ト板４３、可視光を透過し赤外光を反射するダイクロイ
ックミラー４４、開口絞り４５、対物レンズ４６を有
し、Ｏ３はその光軸である。撮影時に、撮影用照明光源
４１から出射された可視光は集光レンズ４２により集光
されてスリット板４３に導かれ、ダイクロイックミラー
４４を透過し、開口絞り４５を通過して、対物レンズ４
６により角膜Ｃに導かれ、その角膜Ｃが横断照明され
る。
【００１３】図５（ａ）は、照明光学系４０により投光
されたスリット光束の角膜Ｃにおける反射状態を示し、
スリット光束の一部は空気と角膜Ｃとの境界面である角
膜表面Ｔにおいてまず反射される。また、角膜表面Ｔを
透過した光束の一部は角膜内皮細胞面Ｎで反射される。
角膜表面Ｔからの反射光束Ｔ´の光量が最も大きく、角
膜内皮細胞面Ｎからの反射光束Ｎ´の光量は相対的に小
さく、角膜実質Ｍからの反射光束Ｍ´の光量が最も小さ
い。
されたスリット光束の角膜Ｃにおける反射状態を示し、
スリット光束の一部は空気と角膜Ｃとの境界面である角
膜表面Ｔにおいてまず反射される。また、角膜表面Ｔを
透過した光束の一部は角膜内皮細胞面Ｎで反射される。
角膜表面Ｔからの反射光束Ｔ´の光量が最も大きく、角
膜内皮細胞面Ｎからの反射光束Ｎ´の光量は相対的に小
さく、角膜実質Ｍからの反射光束Ｍ´の光量が最も小さ
い。
【００１４】照明光学系５０は、赤外光を出射する光源
５１、集光レンズ５２、スリット板５３、ダイクロイッ
クミラー４４、開口絞り４５、対物レンズ４６を有す
る。光源５１から出射された赤外光は、集光レンズ５２
で集束されつつスリット板５３を通過する。その通過光
束はダイクロイックミラー４４で反射され、開口絞り４
５を通過して対物レンズ４６により集束され、角膜Ｃに
導かれる。照明光学系５０により投光されたスリット光
束は、撮影用照明光学系４０によって投光されたスリッ
ト光束と同様に、図５（ａ）に示すように反射される。
撮影光学系６０は、対物レンズ６１、赤外光を反射しか
つ可視光を透過するダイクロイックミラー６２、マスク
６３、ミラー６４、リレーレンズ６５、遮光板６６、前
眼部観察光束の妨げとならない位置に配設されると共に
物面側（被検眼Ｅ側）の傾斜角θと同一角をもって傾斜
するミラー６７、ＣＣＤカメラ１６を有し、Ｏ４はその
光軸である。
５１、集光レンズ５２、スリット板５３、ダイクロイッ
クミラー４４、開口絞り４５、対物レンズ４６を有す
る。光源５１から出射された赤外光は、集光レンズ５２
で集束されつつスリット板５３を通過する。その通過光
束はダイクロイックミラー４４で反射され、開口絞り４
５を通過して対物レンズ４６により集束され、角膜Ｃに
導かれる。照明光学系５０により投光されたスリット光
束は、撮影用照明光学系４０によって投光されたスリッ
ト光束と同様に、図５（ａ）に示すように反射される。
撮影光学系６０は、対物レンズ６１、赤外光を反射しか
つ可視光を透過するダイクロイックミラー６２、マスク
６３、ミラー６４、リレーレンズ６５、遮光板６６、前
眼部観察光束の妨げとならない位置に配設されると共に
物面側（被検眼Ｅ側）の傾斜角θと同一角をもって傾斜
するミラー６７、ＣＣＤカメラ１６を有し、Ｏ４はその
光軸である。
【００１５】撮影用照明光学系４０から出射されかつ角
膜Ｃによって反射された可視光反射光束は、対物レンズ
６１により集光されつつダイクロイックミラー６２を透
過してマスク６３上に一旦角膜内皮細胞像として結像さ
れる。角膜内皮細胞像を形成する以外の余分の反射光束
はこのマスク６３により遮蔽され、マスク６３を通過し
た角膜内皮細胞像を形成する反射光束はミラー６４で反
射され、リレーレンズ６５により集束されつつミラー６
７に導かれかつ反射されて、ＣＣＤカメラ１６上に角膜
内皮細胞像を形成する。ＣＣＤカメラ１６はモニタ装置
に画像信号を出力し、モニタ装置の画面１７には図５
（ｂ）に示すように角膜内皮細胞像６８ａが表示され
る。この図５（ｂ）において、破線で示す６８ｂはマス
ク６３によって遮蔽されないとしたら角膜表面Ｔからの
反射光束Ｔ´により形成される光像である。この図５
（ｂ）において、斜線部分はマスク６３によって遮蔽さ
れた部分である。なお、遮蔽板６６は角膜内皮細胞撮影
時は光路上から退避されていて、前眼部観察時には光路
中に挿入される。固視標投影光学系８０は、可視光を出
射する固視標用光源８１、ピンホール板８２、ダイクロ
イックミラー２５、投影レンズ２６、ハーフミラー１２
を有する。固視標用光源８１から出射された固視標光
は、ピンホール板８２を経てダイクロイックミラー２５
を透過し投影レンズ２６により平行光束とされた後、ハ
ーフミラー１２に反射される。被検者は、このハーフミ
ラー１２に反射された固視標光を固視目標として注視す
ることにより視線が固定される。
膜Ｃによって反射された可視光反射光束は、対物レンズ
６１により集光されつつダイクロイックミラー６２を透
過してマスク６３上に一旦角膜内皮細胞像として結像さ
れる。角膜内皮細胞像を形成する以外の余分の反射光束
はこのマスク６３により遮蔽され、マスク６３を通過し
た角膜内皮細胞像を形成する反射光束はミラー６４で反
射され、リレーレンズ６５により集束されつつミラー６
７に導かれかつ反射されて、ＣＣＤカメラ１６上に角膜
内皮細胞像を形成する。ＣＣＤカメラ１６はモニタ装置
に画像信号を出力し、モニタ装置の画面１７には図５
（ｂ）に示すように角膜内皮細胞像６８ａが表示され
る。この図５（ｂ）において、破線で示す６８ｂはマス
ク６３によって遮蔽されないとしたら角膜表面Ｔからの
反射光束Ｔ´により形成される光像である。この図５
（ｂ）において、斜線部分はマスク６３によって遮蔽さ
れた部分である。なお、遮蔽板６６は角膜内皮細胞撮影
時は光路上から退避されていて、前眼部観察時には光路
中に挿入される。固視標投影光学系８０は、可視光を出
射する固視標用光源８１、ピンホール板８２、ダイクロ
イックミラー２５、投影レンズ２６、ハーフミラー１２
を有する。固視標用光源８１から出射された固視標光
は、ピンホール板８２を経てダイクロイックミラー２５
を透過し投影レンズ２６により平行光束とされた後、ハ
ーフミラー１２に反射される。被検者は、このハーフミ
ラー１２に反射された固視標光を固視目標として注視す
ることにより視線が固定される。
【００１６】Ｚアライメント用の検出光学系７０は、対
物レンズ６１、ダイクロイックミラー６２、合焦位置検
出センサ７１を有する。照明光学系５０により投光され
たスリット光の角膜Ｃによる反射光は、対物レンズ６１
により集束されつつダイクロイックミラー６２に導かれ
かつ反射され、合焦位置検出センサ７１上に結像され
る。合焦位置検出センサ７１はラインセンサ等の光量分
布が検出可能な受光素子である。合焦位置検出センサ７
１上には、図６（ａ）に示す光像が形成され、その光量
分布は図６（ｂ）のようになる。その図６（ａ）におい
て、符号７２は角膜表面Ｔにおいて反射された光束Ｔ´
の光像であり、符号７３は角膜内皮細胞面Ｎで反射され
た光束Ｎ´の光像である。ｚアライメント検出回路９１
ｂは、合焦位置検出センサ７１の出力に基づき光束Ｎ´
の光量のピーク位置７３´を検出し、これにより角膜内
皮細胞面の位置が検出される。この角膜内皮細胞面Ｎの
位置検出方法の詳細は特開平６−３２７６３７４号公報
に記載されているのでその詳細な説明は省略する。この
位置検出結果は制御回路９３及び測定値補正演算回路９
４に入力される。角膜厚測定回路９２は、合焦位置検出
センサ７１の出力に基づき光束Ｔ´の光量のピーク位置
７２´と光束Ｎ´の光量のピーク位置７３´との間の間
隔ｋ（図６（ｂ）を参照）を検出する。そして、この検
出結果の出力に基づき、結像倍率Ｍをパラメータとし
て、ピーク位置７２´、７３´を合焦位置検出センサ７
１と対物レンズ６１に関して共役な面７１´に射影した
点Ｑ３、Ｑ４の間隔Ｋ´を求める。そして、このＫ´か
ら傾斜角θや角膜の屈折率等をパラメータとして角膜厚
Ｄを演算する。その演算結果は測定値補正演算回路９４
に入力される。
物レンズ６１、ダイクロイックミラー６２、合焦位置検
出センサ７１を有する。照明光学系５０により投光され
たスリット光の角膜Ｃによる反射光は、対物レンズ６１
により集束されつつダイクロイックミラー６２に導かれ
かつ反射され、合焦位置検出センサ７１上に結像され
る。合焦位置検出センサ７１はラインセンサ等の光量分
布が検出可能な受光素子である。合焦位置検出センサ７
１上には、図６（ａ）に示す光像が形成され、その光量
分布は図６（ｂ）のようになる。その図６（ａ）におい
て、符号７２は角膜表面Ｔにおいて反射された光束Ｔ´
の光像であり、符号７３は角膜内皮細胞面Ｎで反射され
た光束Ｎ´の光像である。ｚアライメント検出回路９１
ｂは、合焦位置検出センサ７１の出力に基づき光束Ｎ´
の光量のピーク位置７３´を検出し、これにより角膜内
皮細胞面の位置が検出される。この角膜内皮細胞面Ｎの
位置検出方法の詳細は特開平６−３２７６３７４号公報
に記載されているのでその詳細な説明は省略する。この
位置検出結果は制御回路９３及び測定値補正演算回路９
４に入力される。角膜厚測定回路９２は、合焦位置検出
センサ７１の出力に基づき光束Ｔ´の光量のピーク位置
７２´と光束Ｎ´の光量のピーク位置７３´との間の間
隔ｋ（図６（ｂ）を参照）を検出する。そして、この検
出結果の出力に基づき、結像倍率Ｍをパラメータとし
て、ピーク位置７２´、７３´を合焦位置検出センサ７
１と対物レンズ６１に関して共役な面７１´に射影した
点Ｑ３、Ｑ４の間隔Ｋ´を求める。そして、このＫ´か
ら傾斜角θや角膜の屈折率等をパラメータとして角膜厚
Ｄを演算する。その演算結果は測定値補正演算回路９４
に入力される。
【００１７】次に、演算値の補正について説明する。
【００１８】アライメント調整が完全な場合、即ち、図
７（ａ）に示すようにアライメント適正位置からの被検
眼のずれ量がゼロの場合には、角膜厚測定回路９２によ
り得られた角膜厚さの値がそのまま正確な値として制御
回路９３に出力される。
７（ａ）に示すようにアライメント適正位置からの被検
眼のずれ量がゼロの場合には、角膜厚測定回路９２によ
り得られた角膜厚さの値がそのまま正確な値として制御
回路９３に出力される。
【００１９】次に、図７（ｂ）に示すように、アライメ
ント許容範囲内で、例えばＺ方向に一定のずれ量ΔＺだ
け微小にずれた状態での正確な角膜厚の演算を説明す
る。被検眼が理想位置よりΔＺだけずれると、角膜表面
Ｔの反射点ｑの位置が約ΔＺ・tanθだけずれるととも
に、反射光の反射方向が約２・tanθ／Ｒ（Ｒは角膜曲
率半径）ずれることになる。これらのずれは、合焦位置
検出センサ７１上の角膜表面反射像のピーク位置７２と
角膜内皮像のピーク位置７３との間隔Ｋに影響を与え
る。従って、これらの影響によるＫの値の変化ΔＫを演
算し、この変化量ΔＫに基づき測定値Ｋ´に補正を加え
れば、ずれ量ΔＺが存在する状況下でも正確な角膜厚値
Ｄを得ることができる。このようにして得られた補正値
は、制御回路９３に出力される。制御回路９３は補正さ
れた角膜厚さの測定値をモニタ装置やプリンタに出力す
る。
ント許容範囲内で、例えばＺ方向に一定のずれ量ΔＺだ
け微小にずれた状態での正確な角膜厚の演算を説明す
る。被検眼が理想位置よりΔＺだけずれると、角膜表面
Ｔの反射点ｑの位置が約ΔＺ・tanθだけずれるととも
に、反射光の反射方向が約２・tanθ／Ｒ（Ｒは角膜曲
率半径）ずれることになる。これらのずれは、合焦位置
検出センサ７１上の角膜表面反射像のピーク位置７２と
角膜内皮像のピーク位置７３との間隔Ｋに影響を与え
る。従って、これらの影響によるＫの値の変化ΔＫを演
算し、この変化量ΔＫに基づき測定値Ｋ´に補正を加え
れば、ずれ量ΔＺが存在する状況下でも正確な角膜厚値
Ｄを得ることができる。このようにして得られた補正値
は、制御回路９３に出力される。制御回路９３は補正さ
れた角膜厚さの測定値をモニタ装置やプリンタに出力す
る。
【００２０】なお、あらかじめずれ量ΔＺと補正量との
関係を実験により求めて、テーブルの形で記憶させてお
いても良い。
関係を実験により求めて、テーブルの形で記憶させてお
いても良い。
【００２１】次に測定及び撮影の手順を述べる。
【００２２】制御回路９３は光源１１、２１、５１、８
１を点灯させる。検者はモニタ装置の画面を観察しなが
らアライメントを行い、装置Ｓと被検眼Ｅが所定位置関
係になると、つまり、アライメント検出回路９１の出力
が所定範囲内に入ると、自動的に角膜厚さの測定及び内
皮細胞の撮影が行われ、角膜厚補正演算回路９４は、角
膜厚測定回路９２とアライメント検出回路９１の出力に
基づき角膜厚さを求め、制御回路９３に出力する。その
後、制御回路９３は、光源１１、２１、５１、８１を消
灯し、光源４１を発光させ、角膜内皮細胞の撮影を行
う。モニタ装置の画面１７には角膜の厚さ及び角膜内皮
細胞像が表示される。
１を点灯させる。検者はモニタ装置の画面を観察しなが
らアライメントを行い、装置Ｓと被検眼Ｅが所定位置関
係になると、つまり、アライメント検出回路９１の出力
が所定範囲内に入ると、自動的に角膜厚さの測定及び内
皮細胞の撮影が行われ、角膜厚補正演算回路９４は、角
膜厚測定回路９２とアライメント検出回路９１の出力に
基づき角膜厚さを求め、制御回路９３に出力する。その
後、制御回路９３は、光源１１、２１、５１、８１を消
灯し、光源４１を発光させ、角膜内皮細胞の撮影を行
う。モニタ装置の画面１７には角膜の厚さ及び角膜内皮
細胞像が表示される。
【００２３】以上、発明の実施の形態においては、角膜
表面における反射位置、反射方向の変化のみを考慮して
補正を行ったが、角膜裏面における反射角の変化をも考
慮して補正することにより、更に測定値の精度を上げる
ことができる。その他、他のパラメータをも考慮して補
正することも可能である。
表面における反射位置、反射方向の変化のみを考慮して
補正を行ったが、角膜裏面における反射角の変化をも考
慮して補正することにより、更に測定値の精度を上げる
ことができる。その他、他のパラメータをも考慮して補
正することも可能である。
【００２４】
【発明の効果】本発明にかかる角膜厚測定装置は、以上
説明したように構成したので、測定時のアライメント状
態による測定誤差を解消して測定精度の向上を図れると
共に、アライメント許容範囲を広く取ることができ検者
及び被検者の負担の軽減を図ることができるという効果
を奏する。すなわち、測定時のアライメント状態に極力
左右されることなく角膜厚さを正確に測定できる。
説明したように構成したので、測定時のアライメント状
態による測定誤差を解消して測定精度の向上を図れると
共に、アライメント許容範囲を広く取ることができ検者
及び被検者の負担の軽減を図ることができるという効果
を奏する。すなわち、測定時のアライメント状態に極力
左右されることなく角膜厚さを正確に測定できる。
【図１】 本発明に係わる眼科装置の光学系の要部構成
図であってその平面配置図である。
図であってその平面配置図である。
【図２】 本発明に係わる眼科装置の光学系の要部構成
図であってその側面配置図である。
図であってその側面配置図である。
【図３】 角膜に照射されたアライメント光束の反射の
説明図である。
説明図である。
【図４】 モニターの画面に表示された前眼部像を示す
図である。
図である。
【図５】 角膜に照射されるスリット光束と画面に表示
される角膜内皮細胞像の説明図であって、（ａ）は角膜
に照射されたスリット光束の反射の説明図、（ｂ）は画
面に表示された角膜内皮細胞像の説明図である。
される角膜内皮細胞像の説明図であって、（ａ）は角膜
に照射されたスリット光束の反射の説明図、（ｂ）は画
面に表示された角膜内皮細胞像の説明図である。
【図６】 角膜からのスリット反射光束と合焦位置検出
センサとの位置関係を示す説明図であって、（ａ）はそ
の合焦位置検出センサに投影された反射光束の光像を示
す説明図、（ｂ）はその光量分布を示す図である。
センサとの位置関係を示す説明図であって、（ａ）はそ
の合焦位置検出センサに投影された反射光束の光像を示
す説明図、（ｂ）はその光量分布を示す図である。
【図７】 角膜厚さの補正を説明するための光束の入反
射関係を示す図であって、（ａ）は装置と被検眼とが理
想状態にある場合の説明図、（ｂ）は装置と被検眼とが
理想状態からΔＺだけｚ方向にずれている場合の説明図
である。
射関係を示す図であって、（ａ）は装置と被検眼とが理
想状態にある場合の説明図、（ｂ）は装置と被検眼とが
理想状態からΔＺだけｚ方向にずれている場合の説明図
である。
７０…アライメント検出光学系（アライメント検出手
段） ９２…角膜厚さ測定回路（角膜厚測定手段） ９４…測定値補正演算回路（測定値補正手段） Ｃ…角膜 Ｅ…被検眼 Ｓ…装置 Ｄ…角膜厚さ
段） ９２…角膜厚さ測定回路（角膜厚測定手段） ９４…測定値補正演算回路（測定値補正手段） Ｃ…角膜 Ｅ…被検眼 Ｓ…装置 Ｄ…角膜厚さ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 勝 東京都板橋区蓮沼町75番１号株式会社トプ コン内
Claims (2)
- 【請求項１】 被検眼の角膜の厚さを光学的に非接触で
測定する角膜厚測定手段と、装置本体と被検眼との相対
位置関係を検出するアライメント検出手段とを有し、前
記アライメント検出手段の測定時の出力情報に基づき前
記角膜厚測定手段により得られた測定値を補正する測定
値補正手段が設けられている眼科装置。 - 【請求項２】 前記被検眼に対して斜めからスリット光
を照射する照明光学系と、被検眼の光軸に関して前記照
明光学系と略対称に配置されて前記被検眼の角膜内皮細
胞を含めて角膜反射像を観察撮影する観察撮影光学系と
を有する請求項１に記載の眼科装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26980195A JP3597274B2 (ja) | 1995-10-18 | 1995-10-18 | 眼科装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26980195A JP3597274B2 (ja) | 1995-10-18 | 1995-10-18 | 眼科装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09108185A true JPH09108185A (ja) | 1997-04-28 |
| JP3597274B2 JP3597274B2 (ja) | 2004-12-02 |
Family
ID=17477365
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26980195A Expired - Fee Related JP3597274B2 (ja) | 1995-10-18 | 1995-10-18 | 眼科装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3597274B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006068110A (ja) * | 2004-08-31 | 2006-03-16 | Tomey Corporation | 眼科装置 |
| JP2008188047A (ja) * | 2007-01-31 | 2008-08-21 | Nidek Co Ltd | 眼軸長測定装置 |
| JP2009034452A (ja) * | 2007-08-03 | 2009-02-19 | Nidek Co Ltd | 眼科用超音波測定装置及びプログラム |
| CN102670173A (zh) * | 2011-02-25 | 2012-09-19 | 佳能株式会社 | 眼科设备及其控制方法 |
| JP2012249768A (ja) * | 2011-06-01 | 2012-12-20 | Nidek Co Ltd | 前眼部測定装置 |
| JP2013223759A (ja) * | 2013-06-24 | 2013-10-31 | Nidek Co Ltd | 眼軸長測定装置 |
-
1995
- 1995-10-18 JP JP26980195A patent/JP3597274B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006068110A (ja) * | 2004-08-31 | 2006-03-16 | Tomey Corporation | 眼科装置 |
| JP2008188047A (ja) * | 2007-01-31 | 2008-08-21 | Nidek Co Ltd | 眼軸長測定装置 |
| JP2009034452A (ja) * | 2007-08-03 | 2009-02-19 | Nidek Co Ltd | 眼科用超音波測定装置及びプログラム |
| CN102670173A (zh) * | 2011-02-25 | 2012-09-19 | 佳能株式会社 | 眼科设备及其控制方法 |
| US8911091B2 (en) | 2011-02-25 | 2014-12-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Ophthalmologic apparatus having corneal thickness correction |
| JP2012249768A (ja) * | 2011-06-01 | 2012-12-20 | Nidek Co Ltd | 前眼部測定装置 |
| US9078601B2 (en) | 2011-06-01 | 2015-07-14 | Nidek Co., Ltd. | Anterior segment measuring apparatus |
| JP2013223759A (ja) * | 2013-06-24 | 2013-10-31 | Nidek Co Ltd | 眼軸長測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3597274B2 (ja) | 2004-12-02 |
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