JPH05130648A - テストパターン信号発生装置 - Google Patents

テストパターン信号発生装置

Info

Publication number
JPH05130648A
JPH05130648A JP3318691A JP31869191A JPH05130648A JP H05130648 A JPH05130648 A JP H05130648A JP 3318691 A JP3318691 A JP 3318691A JP 31869191 A JP31869191 A JP 31869191A JP H05130648 A JPH05130648 A JP H05130648A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
horizontal
signal
vertical
test pattern
counter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3318691A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Nobemoto
和夫 延本
Makoto Terasono
誠 寺園
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP3318691A priority Critical patent/JPH05130648A/ja
Priority to US07/928,054 priority patent/US5319446A/en
Priority to KR1019920019733A priority patent/KR960012671B1/ko
Publication of JPH05130648A publication Critical patent/JPH05130648A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T1/00General purpose image data processing
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N17/00Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • H04N17/02Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for colour television signals

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ハードウェア量を大幅に削減して、小形で安
価なテストパターン信号発生装置を得る。 【構成】 水平カウンタと垂直カウンタとの計数値に従
って、水平メモリおよび垂直メモリより読み出した情報
に含まれる記号に基づいて水平、垂直の同期信号を生成
し、またこれら両メモリの出力よりテストパターンの輝
度・色度信号およびデータ信号を合成する。 【効果】 カウンタなどのハードウェア量およびメモリ
容量を大幅に削減することが可能となって、小形で安価
なテストパターン信号発生装置が得られる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、ブラウン管(以下、
CRTという)や液晶を利用したディスプレイモニタの
テストパターン信号を生成するテストパターン信号発生
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図12は従来のテストパターン信号発生
装置を示すブロック図である。図において、1a〜1h
は対象となるディスプレイモニタに対応した同期信号の
周期、同期信号のパルス幅、データ表示領域の開始、終
了などを、後述する対応したカウンタにセットするラッ
チ回路である。
【0003】2a〜2hはドットクロックあるいは水平
同期信号を計数し、計数値が対応するラッチ回路1a〜
1hによってセットされた値になると、カウントアップ
信号を出力してリセットされるカウンタである。
【0004】3a〜3dはカウンタ2a〜2h中の対応
する2つからのカウントアップ信号にてセット・リセッ
トされ、水平同期信号、垂直同期信号、水平データ表示
領域パルス、あるいは垂直データ表示領域パルスを生成
するフリップフロップである。
【0005】次に動作について説明する。ここで、図1
3はディスプレイモニタにおける信号の一般的なタイミ
ング図であり、同図(a)は垂直同期信号、(b)は水
平同期信号、(c)は時間軸を拡大した水平同期信号、
(d)はデータ信号を示している。
【0006】これらはディスプレイモニタの画面上に表
示され得る最小の光点に相当するデータ信号のパルス幅
を持ったクロック、即ちドットクロックを計数すること
によって得られる。
【0007】つまり、図13(c)に示すように水平同
期信号の周期およびパルス幅は、ドットクロックのそれ
ぞれa個分あるいはb個分の長さで表され、同図(a)
に示すように垂直同期信号の周期およびパルス幅は、水
平同期信号のそれぞれA個分あるいはB個分の長さで表
される。
【0008】ここで、ディスプレイモニタのCRT上で
は、図14に示すように電子ビームの走査は左から右に
振れながら上から下へと順に降りてゆき、垂直同期信号
はその最初の走査線の左端の位置に相当し、水平同期信
号は各走査線の左端の位置に相当している。
【0009】なお、このようなディスプレイモニタでは
一般的に、図14に二点鎖線Xで示した走査が行われる
全領域を表示には使用せず、同図に一点鎖線Yで示した
走査が安定した領域のみを表示のために使用している。
【0010】従って、垂直方向では図15(a)に示す
ように、垂直同期信号より水平走査線C本目からD本目
までをデータ表示領域と決め、水平方向では同図(b)
に示すように、水平同期信号よりドットクロックc個目
からd個目までをデータ表示領域と決めている。
【0011】従来のテストパターン信号発生装置は図1
2に示すように、この図15のタイミングチャートに示
すA〜Dあるいはa〜dの各値を持った信号を、カウン
タを利用してその出力でセット・リセットされるフリッ
プフロップなどで作成していた。
【0012】即ち、カウンタ2aにはラッチ回路1aよ
り、水平同期信号の周期に対応するドットクロック数
“a”がセットされ、カウンタ2bにはラッチ回路1b
より水平同期信号のパルス幅に対応するドットクロック
数“b”がセットされる。
【0013】カウンタ2aはドットクロックの計数を行
って、その計数値がラッチ回路1aにてセットされた値
“a”に達するとカウントアップし、カウントアップ信
号を自身およびカウンタ2bのリセット端子とフリップ
フロップ3aに送る。
【0014】フリップフロップ3aはこのカウントアッ
プ信号を受け取るとセットされてその出力をハイレベル
にする。一方、カウンタ2bは計数値がリセットされ、
その後ドットクロックの計数を継続する。
【0015】カウンタ2bはその計数値がラッチ回路1
bにてセットされた値“b”に達するとリセット信号を
フリップフロップ3aに送出する。フリップフロップ3
aはこれによってリセットされ、その出力をローレベル
にする。従って、フリップフロップ3aからは図13
(c)に示す、周期“a”、パルス幅“b”の水平同期
信号が出力される。
【0016】カウンタ2cおよび2dはこの水平同期信
号を入力として同様に動作し、そのフリップフロップ3
bより図13(a)に示す周期“A”、パルス幅“B”
の垂直同期信号を出力する。同様にして、カウンタ2
e,2fはドットクロックを、カウンタ2g,2hは水
平同期信号を計数し、フリップフロップ3cあるいは3
dより水平データあるいは垂直データの表示領域パルス
を出力する。
【0017】なお、カウンタ2fおよび2hからはその
計数値がテストパターンを表示するためのデータが格納
されている記憶素子にアクセスするためのアドレスとし
て出力される。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】従来のテストパターン
信号発生装置は以上のように構成されているので、水平
同期信号、垂直同期信号、水平データ表示領域パルス、
および垂直データ表示領域パルス生成のため、その各々
に対してラッチ回路1a〜1h、カウンタ2a〜2h、
およびフリップフロップ3a〜3dが必要となり、ま
た、カウントデータが極めて大きなものであるため、例
えばカウンタ2aだけにも3〜4個のカウンタ用ICを
必要とし、そのハードウェア量が膨大なものとなって装
置が大形化するばかりか、データ信号の作成にも大容量
のメモリを必要とするなどの問題点があった。
【0019】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、ハードウェア量の大幅な削減を
可能とし、小形で安価なテストパターン信号発生装置を
得ることを目的とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明に係るテ
ストパターン信号発生装置は、計数値が水平周期のドッ
トクロック数になるとカウントアップする水平カウンタ
の計数値でアクセスされ、1回のアクセスで読み出され
る情報中に、水平同期信号を規定する信号およびテスト
パターンの水平方向を規定する信号を含む水平メモリ
と、計数値が垂直周期の走査線数になるとカウントアッ
プする垂直カウンタの計数値でアクセスされ、1回のア
クセスで読み出される情報中に、垂直同期信号を規定す
る信号およびテストパターンの垂直方向を規定する信号
を含む垂直メモリと、水平および垂直メモリより読み出
された出力を合成してテストパターン信号を出力する出
力回路とを備えたものである。
【0021】請求項2の発明に係るテストパターン信号
発生装置は、計数値が水平周期のドットクロック数にな
るとカウントアップする水平カウンタの計数値でアクセ
スされ、1回のアクセスで読み出される情報中に、水平
同期信号を規定する信号およびテストパターンの水平方
向を規定する信号を含む水平メモリと、計数値が垂直周
期の走査線数になるとカウントアップする垂直カウンタ
の計数値でアクセスされ、1回のアクセスで読み出され
る情報中に、垂直同期信号を規定する信号およびテスト
パターンの垂直方向を規定する信号を含む垂直メモリ
と、水平および垂直メモリより読み出された出力を、テ
ストパターンの輝度・色度信号およびデータ信号に合成
する出力回路とを備えたものである。
【0022】
【作用】請求項1の発明におけるテストパターン信号発
生装置は、水平カウンタの計数値でアクセスされる水平
メモリより読み出された情報に含まれる信号と、垂直カ
ウンタの計数値でアクセスされる垂直メモリより読み出
された情報に含まれる信号に基づいて水平同期信号およ
び垂直同期信号を生成し、また出力回路にてこれらの信
号を合成することにより、ハードウェア量を大幅に削減
して小形で安価なテストパターン信号発生装置を実現す
る。
【0023】請求項2の発明におけるテストパターン信
号発生装置は、水平カウンタの計数値でアクセスされる
水平メモリより読み出された情報に含まれる信号と、垂
直カウンタの計数値でアクセスされる垂直メモリより読
み出された情報に含まれる信号に基づいて水平同期信号
および垂直同期信号を生成し、また出力回路にて前記各
メモリの出力よりテストパターンの輝度・色度信号およ
びデータ信号を合成することにより、ハードウェア量を
大幅に削減して小形で安価なテストパターン信号発生装
置を実現する。
【0024】
【実施例】実施例1.以下、この発明の一実施例を図に
ついて説明する。図1において、4aは対象となるディ
スプレイモニタに対応した水平周期のドットクロック数
“a”を後述する水平カウンタにセットする水平ラッチ
回路であり、4bは同じく垂直周期の走査線数“A”を
後述する垂直カウンタにセットする垂直ラッチ回路であ
る。
【0025】5aはドットクロックが入力される都度歩
進してその計数値を出力し、計数値が水平ラッチ回路4
aによってセットされた水平周期のドットクロック数
“a”に達するとカウントアップし、カウントアップ信
号を発生してリセットされる水平カウンタである。
【0026】5bは水平カウンタ5aのカウントアップ
信号が入力される都度歩進してその計数値を出力し、計
数値が垂直ラッチ回路4bによってセットされた垂直周
期の走査線数“A”に達するとカウントアップしてリセ
ットされる垂直カウンタである。
【0027】6aは水平カウンタ5aの計数値をアドレ
スとしてアクセスされ、1回のアクセスで読み出される
情報中に、水平同期信号を規定する信号およびテストパ
ターンの水平方向を規定する信号を含んだ水平メモリで
ある。
【0028】6bは垂直カウンタ5bの計数値をアドレ
スとしてアクセスされ、1回のアクセスで読み出される
情報中に、垂直同期信号を規定する信号およびテストパ
ターンの垂直方向を規定する信号を含んだ垂直メモリで
ある。
【0029】7はこれら水平メモリ6aおよび垂直メモ
リ6bより読み出された情報より、テストパターンの輝
度・色度信号およびデータ信号を合成して出力する出力
回路である。
【0030】次に動作について説明する。水平カウンタ
5aには水平ラッチ回路4aによって水平周期1周期分
のドットクロック数“a”がセットされる。水平カウン
タ5aは入力されるドットクロックの計数を行い、計数
値がこの“a”に達するとリセットされ、またその計数
値は歩進の都度水平メモリ6aに送られる。
【0031】従って、水平メモリ6aはこのカウンタ5
aの計数値“0”〜“a”をアドレスとして周期的にア
クセスされることとなる。この水平メモリ6aは1回の
アクセスによって、例えば1バイトの情報が読み出され
るものであり、図2はその内容の一例を示す説明図であ
る。
【0032】この図2では、この水平メモリ6aから読
み出される情報のD0 ビットを水平同期信号を規定する
信号、D1 〜D3 ビットをデータ信号を規定する信号、
4〜D7 ビットを輝度信号を規定する信号とした場合
を示している。
【0033】即ち、水平メモリ6aのD0 ビットには、
0番地からb番地までに“1”が、他の番地には“0”
がそれぞれ書き込まれている。従って、水平メモリ6a
のD0 ビットからは、図3(a)に示すように、カウン
タ5aの計数値が“b”になるまでは“1”、それ以後
は“0”の水平同期信号が出力されることになる。
【0034】また、同様にして、D1 ビットのc番地か
らd番地までを“1”、他の番地を“0”としておけ
ば、図3(b)に示すデータ信号となる。さらに、D2
ビットのc番地とd番地だけを“1”、他の番地を
“0”とすれば、そのポイントのみを光らせる図3
(c)に示すデータ信号となり、それを垂直方向に走査
することで、図4に示すようにデータ表示領域の左右に
縦線を表示することができる。
【0035】さらに、D4 ,D5 ,D6 ,D7 ビットの
輝度信号も他の信号と同様にアクセスされるので、それ
らのe番地をそれぞれ“1”,“0”,“0”,“0”
とし、他の番地を全て“1”にしておけば、当該部分の
輝度を他の部分の輝度の半分にすることができる。
【0036】図3の(d)〜(g)にこれら各輝度信号
のそれぞれの様子を示す。なお、この輝度信号を赤,
青,緑の色信号として選択すれば、水平方向における任
意の位置の表示色をコントロールすることも可能とな
る。
【0037】垂直側も前述の水平側と原理的には同一で
ある。即ち、垂直ラッチ回路4bにて垂直周期1周期分
の走査線の数“A”がセットされた垂直カウンタ5b
は、入力される水平カウンタ5aのカウントアップ信号
を計数し、その計数値が“A”に達するとリセットされ
る。
【0038】従って、垂直メモリ6bはこの垂直カウン
タ5bの計数値“0”〜“A”をアドレスとして周期的
にアクセスされ、その1回のアクセスによって図5にそ
の内容を示す1バイトの情報が読み出される。この場合
も、D0 ビットは垂直同期信号を規定する信号、D1
3 ビットはデータ信号、D4 〜D7 ビットは輝度信号
や色度信号を規定する信号となっている。
【0039】従って、垂直メモリ6bのD0 ビットに
は、0番地からB番地までに“1”が、他の番地には
“0”が書き込まれ、図6(a)に示す垂直同期信号が
出力される。同様にして、D2 ビットをC番地とD番地
だけを“1”とすれば図6(c)に示すデータ信号とな
り、これは水平方向の走査では変化しないので、図7に
示すようにデータ表示領域の上下に横線を表示すること
ができる。
【0040】また、その他のD4 〜D7 ビットを輝度信
号や色度信号として使用する場合も同様にして、データ
表示領域の垂直方向の任意の位置の輝度や色度を指定す
ることが可能となる。図示の例では、D4 〜D6 ビット
にそれぞれ赤,緑,青の色度信号を対応させている。
【0041】即ち、C番地から10番地の間はD4 ビッ
トのみが“1”、それに続く10番地はD5 ビットのみ
が“1”、さらにそれに続く10番地はD6 ビットのみ
が“1”、さらにそれに続く10番地はD4 〜D6 ビッ
トが全て“1”となっており、これによって、図6の
(d)〜(f)に示すように赤,緑,青,白の各色が表
示される。
【0042】その後、水平メモリ6aおよび垂直メモリ
6bから読み出された、1バイトの情報中のD1 〜D7
ビットは出力回路7に送られて合成され、テストパター
ンの輝度・色度信号およびデータ信号として出力され
る。
【0043】即ち、水平メモリ6aと垂直メモリ6bの
2 ビットから出力された信号を合成すれば、図8に示
すように縦線と横線を任意に組み合わせた画面を表示す
ることが可能となり、また、水平メモリ6aのD4 〜D
7 ビットと垂直メモリ6bのD4 〜D6 ビットからの信
号を合成すれば、輝度,色度についても縦方向,横方向
の任意の位置のコントロールも可能となる。
【0044】実施例2.なお、上記実施例では、水平カ
ウンタ5aにてドットクロックを計数するものを示した
が、現段階でのメモリのアクセス時間は30nsec 程度
が限度で、ドットクロックとしては30MHz程度のも
のしか使用できない。
【0045】そこで、例えば50MHzのドットクロッ
クが必要な場合には、図10に示すように、分周器8を
設けて当該ドットクロックを25MHzに分周し、それ
を水平カウンタ5aで計数するようにしてもよい。
【0046】その場合、水平メモリ6aおよび垂直メモ
リ6bの内容を、ドットクロックが半分になったものと
して設定したタイミングチャートに合わせて書き込む必
要がある。そのようにすることによって、前述の実施例
の場合とほぼ同様に、テストパターンとして問題のない
程度の信号を得ることができる。
【0047】ただし、前記実施例における水平メモリ5
aのD2 ビットからの出力で縦線を表示した場合、倍の
パルス幅のドットクロックを使用しているため、縦線の
幅も2倍となってしまう。そのため、図10に示す実施
例では、整形用ICを用いてその縦線の太さを整形して
いる。
【0048】図10において8がその整形用ICで、例
えば74F393(三菱電機(株)製)が用いられてい
る。即ち、この整形用IC8の端子Rに図11(a)に
示す極性反転した水平メモリ5aのD2 ビットからの信
号を入力し、端子CKにドットクロックを入力する。
【0049】これによって、整形用IC8は端子Rの信
号がローレベルの間だけ端子CKの信号のカウント開始
を行い、ドットクロックの1周期分に該当する信号をそ
の端子Q0 より出力する。このようにドットクロックの
1周期分のパルス幅に整形された信号は、前記実施例の
場合と同様に使用することが可能となる。
【0050】なお、垂直側についてはこのような処置は
全く必要ない。
【0051】
【発明の効果】以上のように、請求項1の発明によれ
ば、水平メモリより読み出された情報に含まれる信号か
ら水平同期信号を、垂直メモリより読み出された情報に
含まれる信号から垂直同期信号を生成し、これらの信号
を合成するように構成したので、カウンタなどのハード
ウェア量およびメモリ容量を大幅に削減することが可能
となって、小形で安価なテストパターン信号発生装置が
得られる効果がある。
【0052】また、請求項2の発明によれば、水平メモ
リより読み出された情報に含まれる信号から水平同期信
号を、垂直メモリより読み出された情報に含まれる信号
から垂直同期信号を生成し、また両メモリの出力よりテ
ストパターンの輝度・色度信号およびデータ信号を合成
するように構成したので、カウンタなどのハードウェア
量およびメモリ容量を大幅に削減することが可能となっ
て、小形で安価なテストパターン信号発生装置が得られ
る効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例よるにテストパターン信号
発生装置を示すブロック図である。
【図2】水平メモリの内容を示す説明図である。
【図3】水平メモリの各ビットからの出力波形を示すタ
イミング図である。
【図4】縦線の表示例を示す説明図である。
【図5】垂直メモリの内容を示す説明図である。
【図6】垂直メモリの各ビットからの出力波形を示すタ
イミング図である。
【図7】横線の表示例を示す説明図である。
【図8】水平メモリと垂直メモリの出力の合成例を示す
説明図である。
【図9】水平メモリと垂直メモリの出力の合成例を示す
説明図である。
【図10】この発明の他の実施例を示すブロック図であ
る。
【図11】その動作を示すタイミング図である。
【図12】従来のテストパターン信号発生装置を示すブ
ロック図である。
【図13】ディスプレイモニタにおける各信号の関係を
示すタイミング図である。
【図14】同期信号と走査線、および走査線とデータ表
示領域との関係を示す説明図である。
【図15】垂直同期信号および水平同期信号とデータ表
示領域との時間関係を示すタイミングチャートである。
【符号の説明】
5a 水平カウンタ 5b 垂直カウンタ 6a 水平メモリ 6b 垂直メモリ 7 出力回路

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ドットクロックを計数して歩進し、計数
    値が水平周期のドットクロック数に達するとカウントア
    ップしてリセットされる水平カウンタと、前記水平カウ
    ンタのカウントアップ信号を計数して歩進し、計数値が
    垂直周期の走査線数に達するとカウントアップしてリセ
    ットされる垂直カウンタと、前記水平カウンタの計数値
    をアドレスとしてアクセスされ、1回のアクセスで読み
    出される情報中に、水平同期信号を規定する信号および
    テストパターンの水平方向を規定する信号を含む水平メ
    モリと、前記垂直カウンタの計数値をアドレスとしてア
    クセスされ、1回のアクセスで読み出される情報中に、
    垂直同期信号を規定する信号およびテストパターンの垂
    直方向を規定する信号を含む垂直メモリと、前記水平メ
    モリおよび垂直メモリの出力を合成して、テストパター
    ン信号を出力する出力回路とを備えたテストパターン信
    号発生装置。
  2. 【請求項2】 ドットクロックを計数して歩進し、計数
    値が水平周期のドットクロック数に達するとカウントア
    ップしてリセットされる水平カウンタと、前記水平カウ
    ンタのカウントアップ信号を計数して歩進し、計数値が
    垂直周期の走査線数に達するとカウントアップしてリセ
    ットされる垂直カウンタと、前記水平カウンタの計数値
    をアドレスとしてアクセスされ、1回のアクセスで読み
    出される情報中に、水平同期信号を規定する信号および
    テストパターンの水平方向を規定する信号を含む水平メ
    モリと、前記垂直カウンタの計数値をアドレスとしてア
    クセスされ、1回のアクセスで読み出される情報中に、
    垂直同期信号を規定する信号およびテストパターンの垂
    直方向を規定する信号を含む垂直メモリと、前記水平メ
    モリおよび垂直メモリの出力を合成して、前記テストパ
    ターンの輝度・色度信号およびデータ信号として出力す
    る出力回路とを備えたテストパターン信号発生装置。
JP3318691A 1991-11-07 1991-11-07 テストパターン信号発生装置 Pending JPH05130648A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3318691A JPH05130648A (ja) 1991-11-07 1991-11-07 テストパターン信号発生装置
US07/928,054 US5319446A (en) 1991-11-07 1992-08-11 Test pattern signal generator
KR1019920019733A KR960012671B1 (ko) 1991-11-07 1992-10-26 테스트패턴신호 발생장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3318691A JPH05130648A (ja) 1991-11-07 1991-11-07 テストパターン信号発生装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05130648A true JPH05130648A (ja) 1993-05-25

Family

ID=18101940

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3318691A Pending JPH05130648A (ja) 1991-11-07 1991-11-07 テストパターン信号発生装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5319446A (ja)
JP (1) JPH05130648A (ja)
KR (1) KR960012671B1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007323076A (ja) * 2006-06-02 2007-12-13 Thomson Licensing ディスプレイ装置制御方法及び回路
JP2015222896A (ja) * 2014-05-23 2015-12-10 大日本印刷株式会社 色調整装置及び色調整方法

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3437664B2 (ja) * 1994-01-31 2003-08-18 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 信号発生回路及びそれを用いた画像表示装置の調整方法
KR960003448A (ko) * 1994-06-09 1996-01-26 김광호 텔레비젼 화면 조정용 테스트 패턴 디스플레이 방법 및 그 장치
KR0151353B1 (ko) * 1995-06-14 1998-10-15 김광호 모니터의 자기진단회로 및 그 방법
US6025829A (en) * 1996-10-28 2000-02-15 Welch Allyn, Inc. Image generator for video display
US5987624A (en) * 1997-06-10 1999-11-16 Paradise Electronics, Inc. Method and apparatus for automatically determining signal parameters of an analog display signal received by a display unit of a computer system
JPH11190987A (ja) * 1997-10-20 1999-07-13 Sony Corp 表示装置、マーカー信号構成方法、マーカー信号検出回路、及び制御信号発生回路
US6084566A (en) * 1997-12-29 2000-07-04 Motorola, Inc. Pattern display circuit
US7978218B2 (en) * 1998-05-27 2011-07-12 Advanced Testing Technologies Inc. Single instrument/card for video applications
US7253792B2 (en) * 1998-05-27 2007-08-07 Advanced Testing Technologies, Inc. Video generation and capture techniques
USRE45960E1 (en) 1998-05-27 2016-03-29 Advanced Testing Technologies, Inc. Single instrument/card for video applications
US7768533B2 (en) 1998-05-27 2010-08-03 Advanced Testing Technologies, Inc. Video generator with NTSC/PAL conversion capability
US7495674B2 (en) * 1998-05-27 2009-02-24 Advanced Testing Technologies, Inc. Video generation and capture techniques
US6396536B1 (en) 1998-05-27 2002-05-28 Advanced Testing Technologies, Inc. Automatic test instrument for multi-format video generation and capture
TW483242B (en) * 2001-05-09 2002-04-11 Novatek Microelectronics Corp Color code decoding circuit for 3D display and the method thereof
US7671856B2 (en) 2005-01-03 2010-03-02 Tektronix, Inc. Measuring timing parameters of RGBHV analog video
CA2620120A1 (en) * 2005-08-31 2007-03-08 Thomson Licensing Efficient test generator for video test patterns
CN102164301B (zh) * 2010-12-28 2013-02-13 福州瑞芯微电子有限公司 一种lcd控制器与视频输入控制器的相互测试方法
US8497908B1 (en) 2011-12-13 2013-07-30 Advanced Testing Technologies, Inc. Unified video test apparatus
US8648869B1 (en) 2012-02-13 2014-02-11 Advanced Testing Technologies, Inc. Automatic test instrument for video generation and capture combined with real-time image redisplay methods

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01174092A (ja) * 1987-12-28 1989-07-10 Canon Inc テストパターン信号発生器

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4414567A (en) * 1981-09-24 1983-11-08 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Pattern generating circuit
JPS6254180A (ja) * 1985-09-03 1987-03-09 Hitachi Electronics Eng Co Ltd パタ−ン発生装置
JPS62198292A (ja) * 1986-02-25 1987-09-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd デイスプレイ装置
JPS63301691A (ja) * 1987-05-30 1988-12-08 Sony Corp テレビジヨン受像機
US4855820A (en) * 1987-10-05 1989-08-08 Joel Barbour Down hole video tool apparatus and method for visual well bore recording
JPH01304493A (ja) * 1988-06-02 1989-12-08 Nec Corp Crtモニタ装置
JPH026766A (ja) * 1988-06-20 1990-01-10 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> テストパターン発生器
JPH02296489A (ja) * 1989-05-11 1990-12-07 Oki Electric Ind Co Ltd テストパターン発生方法
DE4000359A1 (de) * 1990-01-09 1991-07-11 Broadcast Television Syst Testbildsignalgeber

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01174092A (ja) * 1987-12-28 1989-07-10 Canon Inc テストパターン信号発生器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007323076A (ja) * 2006-06-02 2007-12-13 Thomson Licensing ディスプレイ装置制御方法及び回路
JP2015222896A (ja) * 2014-05-23 2015-12-10 大日本印刷株式会社 色調整装置及び色調整方法

Also Published As

Publication number Publication date
US5319446A (en) 1994-06-07
KR930010777A (ko) 1993-06-23
KR960012671B1 (ko) 1996-09-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH05130648A (ja) テストパターン信号発生装置
US5402148A (en) Multi-resolution video apparatus and method for displaying biological data
US4278972A (en) Digitally-controlled color signal generation means for use with display
US4357604A (en) Variable size character display
JPS5846027B2 (ja) ラスタ走査型ビデオ表示器用タイミング信号発生装置
JPH051946B2 (ja)
US4683469A (en) Display terminal having multiple character display formats
JPS60249185A (ja) デイスプレイコントロ−ラ
US4286264A (en) Signal generator for a graphic console
KR920010747B1 (ko) 매트릭스 표시장치와 매트릭스 표시장치에 공급될 표시데이타를 기억하기 위한 표시데이타 공급회로
US4554536A (en) Logic timing diagram display apparatus
JP3593715B2 (ja) 映像表示装置
KR100206580B1 (ko) 액정 표시 장치의 4분주 데이타를 위한 메모리 장치
JP3003734B2 (ja) 表示制御装置
JPS645308B2 (ja)
JPS6138473B2 (ja)
SU1043730A1 (ru) Устройство дл отображени информации на экране телевизионного приемника
JPS5857116B2 (ja) 陰極線管表示装置の制御回路
KR100261213B1 (ko) 디스플레이되는 문자마다 바탕색 선택이 가능한 온 스크린 디스플레이장치
JPS6177892A (ja) カラ−画像表示方式
JPS60205581A (ja) 表示装置
JPS58205182A (ja) 陰極線管表示装置
JPS60205490A (ja) 表示制御回路
JPS5832382B2 (ja) Crtディスプレイ制御回路
JPS6367083A (ja) 映像縮小表示回路