DE4000359A1 - Testbildsignalgeber - Google Patents

Description

Die Erfindung geht aus von einem Testbildsignalgeber nach der Gattung des Hauptanspruchs.

Aus der DE 37 19 485 A1 ist bereits ein Generator zur Erzeugung von zirkularen Zonenplattensignalen zum Testen von Schaltungen für digitale Fernsehsignale bekannt. Hiermit sind als Testsignal jedoch nur Zonenplattensignale erzeugbar.

Ausgehend von diesem bekannten Zonenplattengenerator liegt der vorliegenden Erfindung demgegenüber die Aufgabe zugrunde, einen Testbildsignalgeber nach dem Zonenplattenprinzip zur Erzeugung unterschiedlicher Testsignalformen anzugeben.

Die Lösung dieser Aufgabe ist im Kennzeichen des Hauptanspruchs angegeben.

Der erfindungsgemäße Testbildsignalgeber mit den kennzeichnenden Merkmalen des Hauptanspruchs hat den Vorteil, daß bei sehr geringem zusätzlichem Schaltungsaufwand eine Vielzahl komplexer Testmuster erzeugt werden kann.

Durch die in den Unteransprüchen aufgeführten Maßnahmen sind vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen des im Hauptanspruch angegebenen Testbildsignalgebers möglich.

Eine weitere Lösung dieser Aufgabe ist im Kennzeichen des Anspruchs 5 angegeben.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert.

Die Figur zeigt ein Blockschaltbild des erfindungsgemäßen Testbildsignalgebers. Ein mit dem Abtasttakt CLK getakteter Pixelzähler 1 wird mit dem H-frequenten Impulssignal zurückgesetzt. Ein mit diesem H-Signal getakteter Zeilenzähler 2 wird mit dem 2V-Impulssignal zurückgesetzt. Die 12 Bit-Ausgangssignale des Zählers 1 und des Zählers 2 können ein orthogonales Abtastraster erzeugen. Mit dem Ausgang des Zählers 1 ist ein erster Festwertspeicher 3 und mit dem Ausgang des Zählers 2 ein zweiter Festwertspeicher 4 verbunden, welche so programmiert sind, daß jeweils die Phasenwerte eines horizontalen bzw. vertikalen Wobbelsignals generiert werden. Aufgrund der Orthogonalität des Abtastrasters können diese Phasenwerte in einer nachfolgenden Addierstufe 5 linear superponiert werden. Am Ausgang der Addierstufe 5 ist dann ein Signal mit quadratisch steigender Phase abnehmbar, wenn die Festwertspeicher 3 und 4 jeweils eine Parabelfunktion enthalten.

Der Ausgang der Addierstufe 5 ist einerseits direkt und andererseits - gemäß der Erfindung - über einen weiteren Festwertspeicher 6, welcher mit einer Quadratwurzelfunktion programmiert ist, mit einem Umschalter 7 verbunden. In der gezeichneten Stellung des Schalters 7 wird das Ausgangssignal der Addierstufe 5 über diesen Festwertspeicher 6 geführt, so daß dann durch die Wurzelfunktion ein phasenlineares Signal erzeugt wird. Mit dem erfindungsgemäßen Festwertspeicher 6 kann z. B. ein runder Farbbalken generiert werden. Dabei wird in die Festwertspeicher 3 und 4 eine Quadratfunktion geladen, so daß die Kreisgleichung erfüllt ist. Um äquidistante Abstände der einzelnen Farbbalken zu erreichen, muß das erzeugte Abtastraster nach der Addierstufe 5 erfindungsgemäß mit einer Wurzelfunktion bewertet werden. Auf diese Art kann jedes eindimensionale Testbild kreisförmig dargestellt werden.

Bei Umschaltung des Schalters 7 in die andere Stellung wird das bekannte Zonenplattensignal weitergeleitet. In der nachfolgenden weiteren Addierstufe 8 besteht außerdem die Möglichkeit der Einspeisung einer temporären Komponente, z. B. eines zeitlichen Wobbelsignals oder eines konstanten Bewegungs-Frequenzsignals. Der Ausgang der weiteren Addierstufe 8 ist an einen nachfolgenden Festwertspeicher 9 angeschlossen, welcher die als Adressignal zugeführten Phasenwerte in Amplitudenwerte umwandelt. Der Ausgang des Festwertspeichers 9 ist schließlich einerseits direkt und andererseits über einen Festwertspeicher 11 zur Erzeugung von einblendbaren Marken über einen weiteren Schalter 12 mit dem Ausgang 13 verbunden.

Um weitere komplexe Testsignale erzeugen und darstellen zu können, ist ein über Eingangsleitungen E ansteuerbarer Mikroprozessor 14 (bzw. EPROM-Speicher) vorgesehen, mit welchem sowohl die Festwertspeicher 3 und 4 als auch 9 unterschiedlich ladbar sind. So kann beispielsweise die in den Speichern 3 und 4 gespeicherte Parabelfunktion durch eine Geradengleichung oder Konstante, auch in unterschiedlicher Zusammensetzung, ersetzt werden. Auch die Kurvenform im Speicher 9 kann durch Ansteuerung vom Mikroprozessor 14 geändert werden, was eine Veränderung des Testsignals bewirkt. Ferner ist auch die der Addierstufe 8 zugeführte zeitliche Komponente vom Mikroprozessor 14 über eine Akkumulatoreinrichtung 15 steuerbar.

Claims (5)

1. Testbildsignalgeber nach dem Zonenplattenprinzip zur Erzeugung unterschiedlicher Testsignalformen mit einem H-frequenten und einem V-frequenten Zähler (1, 2) zur Erzeugung eines orthogonalen Abtastrasters, mit je einem daran angeschlossenen Festwertspeicher (3, 4) zur Erzeugung der H- und V-frequenten Phasenwerte sowie einer diese Phasenwerte zusammenfassenden Addierstufe (5) und einem nachfolgenden dritten Festwertspeicher (9) zur Umwandlung der Phasenwerte in Amplitudenwerte, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen Addierstufe (5) und drittem Festwertspeicher (9) ein vierter Festwertspeicher (6) zur Bewertung des erzeugten Abtastrasters mit einer Quadratwurzelfunktion einschaltbar ist.

2. Testbildsignalgeber nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Mikroprozessor (14) vorgesehen ist, von welchem der dritte Festwertspeicher (9) mit verschiedenen Kurvenformen ladbar ist.

3. Testbildsignalgeber nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß nach dem vierten Festwertspeicher (6) eine weitere Addierstufe (8) zur Addition einer vom Mikroprozessor (14) gesteuerten zeitlichen Komponente vorgesehen ist.

4. Testbildsignalgeber nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in den Testsignalweg nach der Addierstufe (5) ein fünfter Festwertspeicher (11) zur Einblendung von Marken einschaltbar ist.

5. Testbildsignalgeber nach dem Zonenplattenprinzip zur Erzeugung unterschiedlicher Testsignalformen mit einem H-frequenten und einem V-frequenten Zähler (1, 2) zur Erzeugung eines orthogonalen Abtastrasters, mit je einem daran angeschlossenen Festwertspeicher (3, 4) zur Erzeugung der H- und V-frequenten Phasenwerte sowie einer diese Phasenwerte zusammenfassenden Addierstufe (5) und einem nachfolgenden dritten Festwertspeicher (9) zur Umwandlung der Phasenwerte in Amplitudenwerte, dadurch gekennzeichnet, daß ein Mikroprozessor (14) vorgesehen ist, von welchem die Festwertspeicher (3, 4) zur Erzeugung der H- und V-frequenten Phasenwerte mit verschiedenen Funktionen ladbar sind, so daß am Ausgang der Addierstufe (5) ein variables Abtastraster abnehmbar ist.