JPH0511683B2 - - Google Patents
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- JPH0511683B2 JPH0511683B2 JP3213886A JP3213886A JPH0511683B2 JP H0511683 B2 JPH0511683 B2 JP H0511683B2 JP 3213886 A JP3213886 A JP 3213886A JP 3213886 A JP3213886 A JP 3213886A JP H0511683 B2 JPH0511683 B2 JP H0511683B2
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
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- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 4
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Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、各種産業において、位置検出、形状
検査等人間の目の代わりを果たす光電スイツチに
関する。
検査等人間の目の代わりを果たす光電スイツチに
関する。
通常の光電スイツチではパルス変調光を用いて
雑音の除去を図つている。即ち、このパルス変調
光に同期した同期信号を投光側から受光側に導
き、受光側においてこの同期信号によりゲートを
かけて投光されたパルス変調光のみを取り出しそ
の他の雑音成分を除去するようにしたものであ
る。ところで、適用によつては、投光側から受光
側への電気的接続を行えない場合等、投光側から
受光側へ同期信号の伝達をおこなえない場合があ
る。このような場合、従来は、受光側において受
光器からの出力信号を積分し、その積分出力が所
定のレベルに達したときに出力信号を生じるよう
な構成としている。こうして連続しないノイズを
除去し、連続して受光されるパルス変調光のみを
検出しようというのである。このため、従来の光
電スイツチでは、比較的定数が大きな積分回路を
用いる必要があるので、応答速度が遅くなる。ま
た時定数を大きくしても連続して到来してくる雑
音光に対しては誤動作を起こしやすいという欠点
がある。特に光電スイツチを第6図aに示すよう
に複数個並設して使用する場合、光電スイツチの
投光部T,Tの投射光範囲および受光部
R,Rの受光範囲が広いと、光電スイツチの
投光部Tからの光が被検出物体3によつて遮ら
れているにもかかわらず光電スイツチの投光部
Tからの光が光電スイツチの受光部Rに入
射する。そして投光部T,Tからはそれぞれ
異なつた位相周期のパルス光が投射されるように
なつているが、パルスの周期は似通つている場合
が多く、そのため投光部T,Tのパルス光の
タイミングが全く重なることもある。こうなると
他の光電スイツチの影響で誤動作をおこなつてし
まう。このため従来は、同図bで示すように投光
部T,Tおよび受光部R,Rの投光範囲
および受光範囲を狭くして、他の光電スイツチの
投射光が別の光電スイツチの受光部に入射しない
ようにすることが考えられている。しかしなが
ら、こうすると対応する投光部と受光部との光軸
を合わせることが困難になり、振動や衝撃等によ
り光軸が少しでもずれた場合、動作に不都合を来
す欠点がある。また、同図cに示すように、投光
部T,Tと受光部R,Rとを交互に配置
することも考えられるが、被検出物体3の表面反
射率が良好な場合には反射光が他の光電スイツチ
の受光部に入射してしまうので不都合である。以
上のように、投光側から受光側へ電気的接続をな
すことができない構成の光電スイツチの場合、連
続して到来するノイズに対して極めて弱く、特に
複数個並設して使用する際には、他の光電スイツ
チの影響を防止することができない。
雑音の除去を図つている。即ち、このパルス変調
光に同期した同期信号を投光側から受光側に導
き、受光側においてこの同期信号によりゲートを
かけて投光されたパルス変調光のみを取り出しそ
の他の雑音成分を除去するようにしたものであ
る。ところで、適用によつては、投光側から受光
側への電気的接続を行えない場合等、投光側から
受光側へ同期信号の伝達をおこなえない場合があ
る。このような場合、従来は、受光側において受
光器からの出力信号を積分し、その積分出力が所
定のレベルに達したときに出力信号を生じるよう
な構成としている。こうして連続しないノイズを
除去し、連続して受光されるパルス変調光のみを
検出しようというのである。このため、従来の光
電スイツチでは、比較的定数が大きな積分回路を
用いる必要があるので、応答速度が遅くなる。ま
た時定数を大きくしても連続して到来してくる雑
音光に対しては誤動作を起こしやすいという欠点
がある。特に光電スイツチを第6図aに示すよう
に複数個並設して使用する場合、光電スイツチの
投光部T,Tの投射光範囲および受光部
R,Rの受光範囲が広いと、光電スイツチの
投光部Tからの光が被検出物体3によつて遮ら
れているにもかかわらず光電スイツチの投光部
Tからの光が光電スイツチの受光部Rに入
射する。そして投光部T,Tからはそれぞれ
異なつた位相周期のパルス光が投射されるように
なつているが、パルスの周期は似通つている場合
が多く、そのため投光部T,Tのパルス光の
タイミングが全く重なることもある。こうなると
他の光電スイツチの影響で誤動作をおこなつてし
まう。このため従来は、同図bで示すように投光
部T,Tおよび受光部R,Rの投光範囲
および受光範囲を狭くして、他の光電スイツチの
投射光が別の光電スイツチの受光部に入射しない
ようにすることが考えられている。しかしなが
ら、こうすると対応する投光部と受光部との光軸
を合わせることが困難になり、振動や衝撃等によ
り光軸が少しでもずれた場合、動作に不都合を来
す欠点がある。また、同図cに示すように、投光
部T,Tと受光部R,Rとを交互に配置
することも考えられるが、被検出物体3の表面反
射率が良好な場合には反射光が他の光電スイツチ
の受光部に入射してしまうので不都合である。以
上のように、投光側から受光側へ電気的接続をな
すことができない構成の光電スイツチの場合、連
続して到来するノイズに対して極めて弱く、特に
複数個並設して使用する際には、他の光電スイツ
チの影響を防止することができない。
そこで本発明は光軸調整が容易におこなえるよ
うな投光範囲と受光範囲をもちながら、多数並設
した場合に相互の電気的な接続を必要とせず、他
の光電スイツチの投射光になどの雑音光による影
響を除去し、誤動作を防止することができる光電
スイツチを提供することを目的とする。
うな投光範囲と受光範囲をもちながら、多数並設
した場合に相互の電気的な接続を必要とせず、他
の光電スイツチの投射光になどの雑音光による影
響を除去し、誤動作を防止することができる光電
スイツチを提供することを目的とする。
本発明は、前述の問題解決のために、パルス変
調光を投射する投光手段と、このパルス変調光を
受光し且つ2値化信号を出力する受光手段及びそ
の信号処理手段の一対からなり、複数個並設して
使用することを可能となした光電スイツチであつ
て、 特定の光電スイツチのパルス変調光を標準周期
とし、それに隣接する他の光電スイツチのパルス
変調光を異周期として設定してなり、 前記信号処理手段は、少なくともパルス発振回
路と、検出回路と、シフトレジスタと、ビツトパ
ターン検出回路とを有し、 前記パルス発振回路は、時間基準を定めるクロ
ツクパルスを検出回路とシフトレジスタに入力す
るものであり、 前記検出回路は、受光手段から入力される周期
の異なる2種類の2値化信号を同時に検出可能
で、その検出信号をシフトレジスタに出力するも
のであり、 前記シフトレジスタは、D型フリツプ・フロツ
プを多段に直列に接続したもので、クロツクパル
スに応じて前記検出信号を読み込み且つ順次シフ
トさせ、それぞれ標準周期と異周期に対応するク
ロツクパルス数だけシフトさせる段から並列に2
系列の出力信号f、gを取り出し、ビツトパター
ン検出回路に出力するものであり、 前記ビツトパターン検出回路は、標準周期ビツ
トパターン検出部と異周期ビツトパターン検出部
とを備え、標準周期ビツトパターン検出部は標準
周期に略対応する前記並列出力信号fをゲート信
号として前記検出信号から標準周期に対応する出
力信号jを取り出し、異周期ビツトパターン検出
部は異周期に略対応する前記並列出力信号gをゲ
ート信号として前記出力信号jから標準周期と異
周期の検出信号が重なつた出力信号kを取り出す
ものであり、 前記出力信号jと出力信号kに基づいて、出力
信号jから標準周期と異周期の重なりを排除し、
真に標準周期の信号のみを取り出すことを可能と
なした光電スイツチを構成した。
調光を投射する投光手段と、このパルス変調光を
受光し且つ2値化信号を出力する受光手段及びそ
の信号処理手段の一対からなり、複数個並設して
使用することを可能となした光電スイツチであつ
て、 特定の光電スイツチのパルス変調光を標準周期
とし、それに隣接する他の光電スイツチのパルス
変調光を異周期として設定してなり、 前記信号処理手段は、少なくともパルス発振回
路と、検出回路と、シフトレジスタと、ビツトパ
ターン検出回路とを有し、 前記パルス発振回路は、時間基準を定めるクロ
ツクパルスを検出回路とシフトレジスタに入力す
るものであり、 前記検出回路は、受光手段から入力される周期
の異なる2種類の2値化信号を同時に検出可能
で、その検出信号をシフトレジスタに出力するも
のであり、 前記シフトレジスタは、D型フリツプ・フロツ
プを多段に直列に接続したもので、クロツクパル
スに応じて前記検出信号を読み込み且つ順次シフ
トさせ、それぞれ標準周期と異周期に対応するク
ロツクパルス数だけシフトさせる段から並列に2
系列の出力信号f、gを取り出し、ビツトパター
ン検出回路に出力するものであり、 前記ビツトパターン検出回路は、標準周期ビツ
トパターン検出部と異周期ビツトパターン検出部
とを備え、標準周期ビツトパターン検出部は標準
周期に略対応する前記並列出力信号fをゲート信
号として前記検出信号から標準周期に対応する出
力信号jを取り出し、異周期ビツトパターン検出
部は異周期に略対応する前記並列出力信号gをゲ
ート信号として前記出力信号jから標準周期と異
周期の検出信号が重なつた出力信号kを取り出す
ものであり、 前記出力信号jと出力信号kに基づいて、出力
信号jから標準周期と異周期の重なりを排除し、
真に標準周期の信号のみを取り出すことを可能と
なした光電スイツチを構成した。
本発明に係る光電スイツチを第1図のブロツク
概念図と第2図の概略タイミングチヤートに基づ
き説明する。尚、自己の発光周期を標準周期T1、
他の光電スイツチによる発光周期を異周期T2と
している。
概念図と第2図の概略タイミングチヤートに基づ
き説明する。尚、自己の発光周期を標準周期T1、
他の光電スイツチによる発光周期を異周期T2と
している。
投光手段1がパルス変調光を投射し、このパル
ス変調光を受光手段2が受光し、この受光した信
号を検出回路3が検出し、この検出回路3の出力
信号である検出信号dをシフトレジスタ5がパル
ス発振回路7のクロツクパルスに応じて順次直列
に読み込み且つ順次シフトさせ、並列出力信号
f、gを作成する。信号処理手段は、検出回路3
と、シフトレジスタ5と、パルス発振回路7と、
前述の並列出力信号fで特定されるビツトパター
ンに次に入光してくる信号があれば、標準周期
T1で入光した信号であると判断するとともに、
この標準周期T1で入光してくるもののうちで並
列出力信号gで特定されるビツトパターンに入光
してくる信号を異周期T2による干渉光の信号で
あると判断するビツトパターン検出回路11と、
この判断された信号j、kと前記クロツクパルス
bを分周したクリヤ信号i1とi2に基づいて検波信
号と干渉光を引き抜いた信号を作成するストロー
ブ信号引き抜き回路19から構成されている。
ス変調光を受光手段2が受光し、この受光した信
号を検出回路3が検出し、この検出回路3の出力
信号である検出信号dをシフトレジスタ5がパル
ス発振回路7のクロツクパルスに応じて順次直列
に読み込み且つ順次シフトさせ、並列出力信号
f、gを作成する。信号処理手段は、検出回路3
と、シフトレジスタ5と、パルス発振回路7と、
前述の並列出力信号fで特定されるビツトパター
ンに次に入光してくる信号があれば、標準周期
T1で入光した信号であると判断するとともに、
この標準周期T1で入光してくるもののうちで並
列出力信号gで特定されるビツトパターンに入光
してくる信号を異周期T2による干渉光の信号で
あると判断するビツトパターン検出回路11と、
この判断された信号j、kと前記クロツクパルス
bを分周したクリヤ信号i1とi2に基づいて検波信
号と干渉光を引き抜いた信号を作成するストロー
ブ信号引き抜き回路19から構成されている。
本発明に係る実施例を第3図の回路図、第4図
の回路図、第5図イ,ロのタイミングチヤート図
にて説明する。尚、第3,5図は異周期が標準周
期より長くした場合を例にしている。
の回路図、第5図イ,ロのタイミングチヤート図
にて説明する。尚、第3,5図は異周期が標準周
期より長くした場合を例にしている。
第3図で、1は投光手段で、例えば9クロツク
パルス周期(標準周期T1)のパルス変調光を投
光するものである。
パルス周期(標準周期T1)のパルス変調光を投
光するものである。
2は受光手段で、投光手段1及び他の光電スイ
ツチから入光してくる光信号を受光して光電変換
し、この変換した出力を高、低両レベルに2値化
した信号(2値化信号c)を出力する。ここで、
他の光電スイツチの投光手段からは例えば14クロ
ツクパルス周期(異周期T2)のパルス変調光を
投光するものとしている。
ツチから入光してくる光信号を受光して光電変換
し、この変換した出力を高、低両レベルに2値化
した信号(2値化信号c)を出力する。ここで、
他の光電スイツチの投光手段からは例えば14クロ
ツクパルス周期(異周期T2)のパルス変調光を
投光するものとしている。
3は検出回路で、前記受光手段2に接続され、
その構成は二つのモノマルチバイブレータ3a,
3bを並列に接続し、これらの出力はNAND
ゲート4の入力ゲートに供給され、このNAND
ゲート4の出力信号、即ち検出回路3の出力信号
(検出信号d)はシフトレジスタ5に供給される。
その構成は二つのモノマルチバイブレータ3a,
3bを並列に接続し、これらの出力はNAND
ゲート4の入力ゲートに供給され、このNAND
ゲート4の出力信号、即ち検出回路3の出力信号
(検出信号d)はシフトレジスタ5に供給される。
シフトレジスタ5の構成は、D型フリツプ・フ
ロツプを16段に直列に接続し、第9〜11段の各D
型フリツプ・フロツプの出力端子Qから並列に出
力信号f1、f2、f3を取り出し、これらは後述する
3入力NORゲート14の入力に供給され、同様
に第14〜16段の出力から並列に出力信号g1、
g2、g3を取り出し、これらは後述する3入力
NANDゲート16に供給される。ここで、f2は
第1段出力信号e′に対して標準周期T1だけシフ
トしてパルスであり、g2は異周期T2だけシフト
したパルスである。
ロツプを16段に直列に接続し、第9〜11段の各D
型フリツプ・フロツプの出力端子Qから並列に出
力信号f1、f2、f3を取り出し、これらは後述する
3入力NORゲート14の入力に供給され、同様
に第14〜16段の出力から並列に出力信号g1、
g2、g3を取り出し、これらは後述する3入力
NANDゲート16に供給される。ここで、f2は
第1段出力信号e′に対して標準周期T1だけシフ
トしてパルスであり、g2は異周期T2だけシフト
したパルスである。
6はフリツプ・フロツプで、パルス発振回路7
より発生するクロツクパルスaを分周した出力信
号(クロツクパルスb)をシフトレジスタ5のク
ロツク入力端子等に供給する。このクロツクパル
スbは、クロツクパルスaの1周期を1パルス幅
として、即ち2倍周期のパルスであり、本実施例
の時間基準はこれにより決定される。
より発生するクロツクパルスaを分周した出力信
号(クロツクパルスb)をシフトレジスタ5のク
ロツク入力端子等に供給する。このクロツクパル
スbは、クロツクパルスaの1周期を1パルス幅
として、即ち2倍周期のパルスであり、本実施例
の時間基準はこれにより決定される。
9は分周回路で、フリツプ・フロツプ6のクロ
ツクパルスbを入力として、さらに分周した信号
を出力し、これらはそれぞれクロツクパルスaと
クロツクパルスbとともに3入力NANDゲート
10,10′に入力され、それぞれクロツクパル
スbの1周期分だけ位相が異なるクリヤ信号i1と
クリヤ信号i2を出力する。NANDゲート10の
出力信号であるクリヤ信号i2は後述する検波信号
作成回路18とストローブ信号引き抜き回路19
に供給される。
ツクパルスbを入力として、さらに分周した信号
を出力し、これらはそれぞれクロツクパルスaと
クロツクパルスbとともに3入力NANDゲート
10,10′に入力され、それぞれクロツクパル
スbの1周期分だけ位相が異なるクリヤ信号i1と
クリヤ信号i2を出力する。NANDゲート10の
出力信号であるクリヤ信号i2は後述する検波信号
作成回路18とストローブ信号引き抜き回路19
に供給される。
11はビツトパターン検出回路で、これを標準
周期ビツトパターン検出部と異周期ビツトパター
ン検出部の2つに分割して説明する。
周期ビツトパターン検出部と異周期ビツトパター
ン検出部の2つに分割して説明する。
標準周期ビツトパターン検出部12は前述のシ
フトレジスタ5の第9〜11段の出力信号f1、f2、
f3を入力とする3入力NORゲート14と、その
出力信号fを一方の入力とし、他方の入力をシフ
トレジスタ5の1段目の出力信号eとする
NORゲート15で構成される。従つて、出力信
号fは、シフトレジスタ5の第1段の出力信号e
を9クロツクパルス(標準周期T1)だけシフト
させ且つそのパルス信号(低レベル)の前後をク
ロツクパルスbの1周期分だけ広げたパルス幅を
有する信号波形となる。また、NORゲート15
の出力信号jは、出力信号fのパルス信号が存在
している時にのみ、第1段の出力信号eのパルス
信号を反転させてそのまま出力した信号波形とな
る。
フトレジスタ5の第9〜11段の出力信号f1、f2、
f3を入力とする3入力NORゲート14と、その
出力信号fを一方の入力とし、他方の入力をシフ
トレジスタ5の1段目の出力信号eとする
NORゲート15で構成される。従つて、出力信
号fは、シフトレジスタ5の第1段の出力信号e
を9クロツクパルス(標準周期T1)だけシフト
させ且つそのパルス信号(低レベル)の前後をク
ロツクパルスbの1周期分だけ広げたパルス幅を
有する信号波形となる。また、NORゲート15
の出力信号jは、出力信号fのパルス信号が存在
している時にのみ、第1段の出力信号eのパルス
信号を反転させてそのまま出力した信号波形とな
る。
異周期ビツトパターン検出部13は、シフトレ
ジスタ5の第14〜16段の出力信号g1、g2、g3を
入力とする3入力NANDゲート16の出力信号
gを一方の入力とし、他方の入力を標準周期ビツ
トパターン検出部12の出力信号とするNAND
ゲート17で構成される。従つて、出力信号g
は、シフトレジスタ5の第1段の出力信号eを14
クロツクパルス(異周期T2)だけシフトさせ且
つそのパルス信号(高レベル)の前後をクロツク
パルスbの1周期分だけ広げたパルス幅を有する
信号波形となる。また、NANDゲート17の出
力信号kは、前記出力信号jと出力信号gの両パ
ルス信号が重なる時にのみ出力信号jのパルス信
号を反転させてそのまま出力した信号波形とな
る。
ジスタ5の第14〜16段の出力信号g1、g2、g3を
入力とする3入力NANDゲート16の出力信号
gを一方の入力とし、他方の入力を標準周期ビツ
トパターン検出部12の出力信号とするNAND
ゲート17で構成される。従つて、出力信号g
は、シフトレジスタ5の第1段の出力信号eを14
クロツクパルス(異周期T2)だけシフトさせ且
つそのパルス信号(高レベル)の前後をクロツク
パルスbの1周期分だけ広げたパルス幅を有する
信号波形となる。また、NANDゲート17の出
力信号kは、前記出力信号jと出力信号gの両パ
ルス信号が重なる時にのみ出力信号jのパルス信
号を反転させてそのまま出力した信号波形とな
る。
18は検波信号作成回路で、D型フリツプ・フ
ロツプ20と21を2段に接続した構成であり、
1段目のフリツプ・フロツプ20に前記出力信号
jが入力され、2段目のフリツプ・フロツプ21
から検波信号mが出力される。
ロツプ20と21を2段に接続した構成であり、
1段目のフリツプ・フロツプ20に前記出力信号
jが入力され、2段目のフリツプ・フロツプ21
から検波信号mが出力される。
19はストローブ信号引き抜き回路で、D型フ
リツプ・フロツプ22,23の2段とNORゲー
ト24を直列接続した構成であり、1段目のフリ
ツプ・フロツプ22に前記出力信号kが入力さ
れ、NORゲート24からストローブ信号pが出
力される。
リツプ・フロツプ22,23の2段とNORゲー
ト24を直列接続した構成であり、1段目のフリ
ツプ・フロツプ22に前記出力信号kが入力さ
れ、NORゲート24からストローブ信号pが出
力される。
次に、第5図イ,ロのタイミングチヤートに基
づき更に詳しく回路動作をのべる。なお、標準周
期T1で入光してくる信号をc1、異周期T2で入光
してくる信号をc2とし、d′のようにダツシユを付
したものは、パルス信号部分を示す。
づき更に詳しく回路動作をのべる。なお、標準周
期T1で入光してくる信号をc1、異周期T2で入光
してくる信号をc2とし、d′のようにダツシユを付
したものは、パルス信号部分を示す。
受光手段2により出力される2値化信号cの立
ち上がりを検出回路3が検出して検出信号dを出
力する。ここで検出回路3が2段構成されている
のは、2値化信号cのパルス信号c1、c2が連続し
て入力された場合、どちらかのパルス信号を1段
目のモノマルチバイブレータ3aが出力していて
も、2段目のモノマルチバイブレータ3bが次の
パルス信号を検出できるようにするためである。
この検出されたパルス信号d′をシフトレジスタ5
はクロツクパルスbをシフトパルスとして、順次
シフトさせ、第9〜11段の出力信号f1、f2、f3を
並列に取り出し、NORゲート14から出力され
るパルス信号f′が存在している間に、シフトレジ
スタ5の1段目からパルス信号e′が出力される
と、NORゲート15はパルス信号j′を出力する。
このことは、自己の周期つまり標準周期T1で入
光した光を検出したことになる。
ち上がりを検出回路3が検出して検出信号dを出
力する。ここで検出回路3が2段構成されている
のは、2値化信号cのパルス信号c1、c2が連続し
て入力された場合、どちらかのパルス信号を1段
目のモノマルチバイブレータ3aが出力していて
も、2段目のモノマルチバイブレータ3bが次の
パルス信号を検出できるようにするためである。
この検出されたパルス信号d′をシフトレジスタ5
はクロツクパルスbをシフトパルスとして、順次
シフトさせ、第9〜11段の出力信号f1、f2、f3を
並列に取り出し、NORゲート14から出力され
るパルス信号f′が存在している間に、シフトレジ
スタ5の1段目からパルス信号e′が出力される
と、NORゲート15はパルス信号j′を出力する。
このことは、自己の周期つまり標準周期T1で入
光した光を検出したことになる。
前記パルス信号j′は検波信号作成回路18と異
周期ビツトパターン検出部13に供給される。検
波信号作成回路18は信号j′を入力しクロツクパ
ルスbの反転信号とクリヤ信号i2に基づき検波信
号mを出力する。
周期ビツトパターン検出部13に供給される。検
波信号作成回路18は信号j′を入力しクロツクパ
ルスbの反転信号とクリヤ信号i2に基づき検波信
号mを出力する。
しかし、これだけでは標準周期T1に入光した
ものを検出するのみで、異周期T2の他の光電ス
イツチのパルス光と自身のパルス光が重なつた時
には、この他の光電スイツチによる干渉光も検出
する。即ち、異周期T2で設定される他の光電ス
イツチの入光信号が、標準周期T1の干渉光にな
る時には、シフトレジスタ5の第14〜16段の出力
信号g1、g2、g3を並列に取り出し、NANDゲー
ト16から出力されるパルス信号g′が出力されて
いる間に標準周期ビツトパターン検出部12のパ
ルス信号j′があるときである。
ものを検出するのみで、異周期T2の他の光電ス
イツチのパルス光と自身のパルス光が重なつた時
には、この他の光電スイツチによる干渉光も検出
する。即ち、異周期T2で設定される他の光電ス
イツチの入光信号が、標準周期T1の干渉光にな
る時には、シフトレジスタ5の第14〜16段の出力
信号g1、g2、g3を並列に取り出し、NANDゲー
ト16から出力されるパルス信号g′が出力されて
いる間に標準周期ビツトパターン検出部12のパ
ルス信号j′があるときである。
そこで、パルス信号g′とパルス信号j′をNAND
ゲート17により、両信号が重なるときを検出
し、この時のパルス信号k′をフリツプ・フロツプ
22がとらえ、クロツクパルスbの立ち下がりで
記憶し、その記憶された出力がフリツプ・フロツ
プ23のクロツク入力端子に入力されたとき、フ
リツプ・フロツプ23の出力端子Qの出力は反転
して高レベルとなり、次のクリヤ端子にクリヤ信
号i2のパルス信号i2′の立ち下がりエツジが入力さ
れることによりもとの低レベルにもどる。即ち、
パルス信号n′が作成される。このパルス信号n′お
よびクリヤ信号i1のパルス信号i1′をNORゲート
24に入力して、ストローブ信号pを完成するの
である。即ち、このストローブ信号pは標準周期
T1と異周期T2の信号が同期に到来したときは、
パルス信号を出力しておらず、両者を無視した信
号を作成することができたのである。
ゲート17により、両信号が重なるときを検出
し、この時のパルス信号k′をフリツプ・フロツプ
22がとらえ、クロツクパルスbの立ち下がりで
記憶し、その記憶された出力がフリツプ・フロツ
プ23のクロツク入力端子に入力されたとき、フ
リツプ・フロツプ23の出力端子Qの出力は反転
して高レベルとなり、次のクリヤ端子にクリヤ信
号i2のパルス信号i2′の立ち下がりエツジが入力さ
れることによりもとの低レベルにもどる。即ち、
パルス信号n′が作成される。このパルス信号n′お
よびクリヤ信号i1のパルス信号i1′をNORゲート
24に入力して、ストローブ信号pを完成するの
である。即ち、このストローブ信号pは標準周期
T1と異周期T2の信号が同期に到来したときは、
パルス信号を出力しておらず、両者を無視した信
号を作成することができたのである。
このストローブ信号pと検波信号mを後段(図
示しない)の積分回路で処理すると、他の光電ス
イツチの投射光及びその他の不規則雑音光による
誤動作を確実に防止した光電スイツチになる。
示しない)の積分回路で処理すると、他の光電ス
イツチの投射光及びその他の不規則雑音光による
誤動作を確実に防止した光電スイツチになる。
上記のものは、標準周期T1より異周期T2が長
い場合を示したが、第4図に標準周期をT2、異
周期をT1とした場合を示す。この回路の相違は
第3図の標準周期ビツトパターン検出部12と異
周期のビツトパターン検出部13とを入れ換えた
ものである。この入れ換えは単に手動式のスイツ
チでも可能であり、コンパクトに公知技術である
ゲート回路を組み合わせた切り換え回路で構成し
ても良い。
い場合を示したが、第4図に標準周期をT2、異
周期をT1とした場合を示す。この回路の相違は
第3図の標準周期ビツトパターン検出部12と異
周期のビツトパターン検出部13とを入れ換えた
ものである。この入れ換えは単に手動式のスイツ
チでも可能であり、コンパクトに公知技術である
ゲート回路を組み合わせた切り換え回路で構成し
ても良い。
そして、第3図に示した光電スイツチと第4図
に示した光電スイツチを隣接配置した場合には、
互いに他方の標準周期が異周期となるので、一方
の光電スイツチからの投射光が他方の光電スイツ
チの干渉光となつて誤動作を引き起こすことはな
いのである。
に示した光電スイツチを隣接配置した場合には、
互いに他方の標準周期が異周期となるので、一方
の光電スイツチからの投射光が他方の光電スイツ
チの干渉光となつて誤動作を引き起こすことはな
いのである。
以上でなる本発明は、シフトレジスタのシフト
段数とビツトパターン検出回路により、自己の発
した光信号と他の光電スイツチの発した光信号が
同時に到来する場合を検出し、両者をともに無視
するため、複数の光電スイツチを並設した場合で
も、他の光電スイツチの投射光に起因する干渉光
による誤動作を防止することができるとともに、
従来と同様に不規則な雑音光の影響も受けないの
で、投射光の範囲を拡張することができ、光軸調
整が極めて容易となる。
段数とビツトパターン検出回路により、自己の発
した光信号と他の光電スイツチの発した光信号が
同時に到来する場合を検出し、両者をともに無視
するため、複数の光電スイツチを並設した場合で
も、他の光電スイツチの投射光に起因する干渉光
による誤動作を防止することができるとともに、
従来と同様に不規則な雑音光の影響も受けないの
で、投射光の範囲を拡張することができ、光軸調
整が極めて容易となる。
また、投光手段のパルス変調光と受光側システ
ムとのクロツクパルスを非同期で使用することを
可能としている為、同期をとるための配線が不用
となり、光電スイツチの設置を極めて容易にし且
ついかなる設備機器に対しても適応可能となつた
のである。
ムとのクロツクパルスを非同期で使用することを
可能としている為、同期をとるための配線が不用
となり、光電スイツチの設置を極めて容易にし且
ついかなる設備機器に対しても適応可能となつた
のである。
さらには、回路の小型化、特に昨今の半導体技
術を利用して、回路全体をIC化することを可能
にしているので、大量生産ができ、コストを低下
することができる。
術を利用して、回路全体をIC化することを可能
にしているので、大量生産ができ、コストを低下
することができる。
第1図は本発明の概念を示すブロツク図、第2
図は本考案の概念を示すタイミングチヤート、第
3,4図は実施例の回路図、第5図は実施例の動
作波形を示すタイミングチヤート、第6図は従来
の光電スイツチの説明図である。 1……投光手段、2……受光手段、3……検出
回路、5……シフトレジスタ、9……分周回路、
11……ビツトパターン検出回路、12……標準
周期ビツトパターン検出部、13……異周期ビツ
トパターン検出部、18……検波信号作成回路、
19……ストローブ信号引き抜き回路。
図は本考案の概念を示すタイミングチヤート、第
3,4図は実施例の回路図、第5図は実施例の動
作波形を示すタイミングチヤート、第6図は従来
の光電スイツチの説明図である。 1……投光手段、2……受光手段、3……検出
回路、5……シフトレジスタ、9……分周回路、
11……ビツトパターン検出回路、12……標準
周期ビツトパターン検出部、13……異周期ビツ
トパターン検出部、18……検波信号作成回路、
19……ストローブ信号引き抜き回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 パルス変調光を投射する投光手段と、このパ
ルス変調光を受光し且つ2値化信号を出力する受
光手段及びその信号処理手段の一対からなり、複
数個並設して使用することを可能となした光電ス
イツチであつて、 特定の光電スイツチのパルス変調光を標準周期
とし、それに隣接する他の光電スイツチのパルス
変調光を異周期として設定してなり、 前記信号処理手段は、少なくともパルス発振回
路と、検出回路と、シフトレジスタと、ビツトパ
ターン検出回路とを有し、 前記パルス発振回路は、時間基準を定めるクロ
ツクパルスを検出回路とシフトレジスタに入力す
るものであり、 前記検出回路は、受光手段から入力される周期
の異なる2種類の2値化信号を同時に検出可能
で、その検出信号をシフトレジスタに出力するも
のであり、 前記シフトレジスタは、D型フリツプ・フロツ
プを多段に直列に接続したもので、クロツクパル
スに応じて前記検出信号を読み込み且つ順次シフ
トさせ、それぞれ標準周期と異周期に対応するク
ロツクパルス数だけシフトさせる段から並列に2
系列の出力信号f、gを取り出し、ビツトパター
ン検出回路に出力するものであり、 前記ビツトパターン検出回路は、標準周期ビツ
トパターン検出部と異周期ビツトパターン検出部
とを備え、標準周期ビツトパターン検出部は標準
周期に略対応する前記並列出力信号fをゲート信
号として前記検出信号から標準周期に対応する出
力信号jを取り出し、異周期ビツトパターン検出
部は異周期に略対応する前記並列出力信号gをゲ
ート信号として前記出力信号jから標準周期と異
周期の検出信号が重なつた出力信号kを取り出す
ものであり、 前記出力信号jと出力信号kに基づいて、出力
信号jから標準周期と異周期の重なりを排除し、
真に標準周期の信号のみを取り出すことを可能と
なしたことを特徴とする光電スイツチ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3213886A JPS62189815A (ja) | 1986-02-17 | 1986-02-17 | 光電スイツチ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3213886A JPS62189815A (ja) | 1986-02-17 | 1986-02-17 | 光電スイツチ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62189815A JPS62189815A (ja) | 1987-08-19 |
JPH0511683B2 true JPH0511683B2 (ja) | 1993-02-16 |
Family
ID=12350535
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3213886A Granted JPS62189815A (ja) | 1986-02-17 | 1986-02-17 | 光電スイツチ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62189815A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01120122A (ja) * | 1987-11-02 | 1989-05-12 | Yamatake Honeywell Co Ltd | 透過形光電スイッチ |
JP5865669B2 (ja) * | 2011-10-21 | 2016-02-17 | アズビル株式会社 | 光電スイッチ |
-
1986
- 1986-02-17 JP JP3213886A patent/JPS62189815A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62189815A (ja) | 1987-08-19 |
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