JPH0510995A - パルス幅測定装置 - Google Patents

パルス幅測定装置

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Publication number
JPH0510995A
JPH0510995A JP16315291A JP16315291A JPH0510995A JP H0510995 A JPH0510995 A JP H0510995A JP 16315291 A JP16315291 A JP 16315291A JP 16315291 A JP16315291 A JP 16315291A JP H0510995 A JPH0510995 A JP H0510995A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pulse width
bit counter
cpu
measurement
overflow
Prior art date
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Pending
Application number
JP16315291A
Other languages
English (en)
Inventor
Izumi Maruyama
泉 丸山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Priority to JP16315291A priority Critical patent/JPH0510995A/ja
Publication of JPH0510995A publication Critical patent/JPH0510995A/ja
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  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 CPUにパルス測定中の状態を知らせるため
に従来の測定終了割り込み信号のほかに、Nビットカウ
ンタのオーバーフローした時に発生する信号を設け正確
にパルスの幅を測定できるようにしようとするものであ
る。 【構成】 測定したいパルス幅をカウントするNビット
カウンタ2にオーバーフロー検出回路4を設け、このオ
ーバーフロー検出回路4によってNビットカウンタ2の
オーバーフローをCPUに割り込みをかけることによっ
て,長い周期のパルス幅を測定することが可能としたも
のである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、パルス幅測定装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、パルス幅測定装置は、図2に示す
ように制御回路1、Nビットカウンタ2及び、アンドゲ
ート3により構成されていた。測定すべきパルス入力信
号PULSEを制御回路1に入力し制御回路1の出力カ
ウント制御信号COUNTは基準クロックMCLKと共
にアンドゲート3に入力し、アンドゲート3の出力信号
CCLKがNビットカウンタ2に入力する。ここでカウ
ント制御信号COUNTは、パルス幅を測定時にHIG
Hレベルとなる。また測定終了割り込み信号INTEは
制御回路1より出力しCPU(中央処理装置)に測定の
終了を知らせている。ー方CPUは制御回路1に対して
測定開始等の命令はデータバス5を通して指示しパルス
の幅は、CPUが測定を終了した割り込みを受け付ける
とNビットカウンタ2の値を読み基準クロックMCLK
の周期との計算によって得ることができるようになって
いた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の技術で
はCPUにパルス幅測定中の状態を知らせる方法が測定
終了割り込み信号INTEしかなく、もし測定すべくパ
ルス幅が大きく、Nビットカウンタ2がオーバーフロー
してしまった場合には、正しく測定することができずそ
のため、パルス幅を予測し、基準クロックMCLKの周
期を正確に行なわなければならなかった。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
にこの発明は、CPUにパルス測定中の状態を知らせる
ために従来の測定終了割り込み信号INTEのほかに、
Nビットカウンタ2のオーバーフロー割り込み信号IN
TOを設け正確にパルスの幅を測定できるようにしよう
とするものである。
【0005】
【作用】上記のように構成されたパルス幅測定装置で
は、CPUは測定終了割り込み信号INTEとNビット
カウンタ2のオーバーフロー割り込み信号INTOを監
視することにより正確にパルス幅を測定することが可能
になる。
【0006】
【実施例】以下に、この発明のパルス幅測定装置の実施
例を図に基ずいて説明する。図1の回路は制御回路1、
Nビットカウンタ2、アンドゲート3、及びオーバーフ
ロー検出回路4により構成されている。測定すべきパル
ス入力信号PULSEを制御回路1に入力し、制御回路
1の出力カウント制御信号COUNTは基準クロックM
CLKと共にアンドゲート3に入力し、アンドゲート3
の出力信号CCLKがNビットカウンタ2に入力する。
ここでカウント制御信号COUNTは、パルス幅を測定
時にHIGHレベルとなる。また測定終了割り込み信号
INTEは制御回路1より出力しCPUに測定の終了を
知らせ、Nビットカウンタ2に接続されたオーバーフロ
ー検出回路4はNビットカウンタ2がオーバーフローす
るとオーバーフロー割り込み信号INTOによってCP
Uにカウンタがオーバーフローしたことを知らせてい
る。ー方CPUは制御回路1に対して測定開始等の命令
はデータバス5を通して指示でき、Nビットカウンタ2
も同様にデータバス5によってCPUに接続され、カウ
ント値を読み書きできる構成となっている。
【0007】本発明の構成を用いてパルス幅を測定する
には、まずCPUによってNビットカウンタ2をクリア
し、次に制御回路1に測定開始の命令をあたえる。制御
回路1は、パルス入力信号PULSEが有効な時にカウ
ント制御信号COUNTをHIGHレベルの出力とし、
基準クロックMCLKとアンドゲート3によって論理積
された信号CCLKがNビットカウンタ2に入力され
る。Nビットカウンタ2は、入力されたCCLKの変化
によってカウントする。ここでNビットカウンタ2の値
が2のN乗マイナス1(NはNビットカウンタ2のN)
までに測定が終了し制御回路1の出力測定終了割り込み
信号INTEが発生した場合には従来の測定と同様にC
PUはNビットカウンタ2の値を読みだしてパルスの幅
を算出することができる。ところがNビットカウンタ2
の値が2のN乗マイナス1以上になってしまった場合に
は、オーバーフロー検出回路4はCPUにオーバーフロ
ー割り込み信号INTOを発生する。またNビットカウ
ンタ2はオーバーフローしたため2のN乗マイナス1の
つぎに0より再度カウントをくり返している。
【0008】CPUはオーバーフローしたことを知ると
その回数を記憶しておく、最終的に測定終了の割り込み
信号INTEが発生するとCPUはNビットカウンタ2
の値を読み出し読みだした値に測定終了までにオーバー
フロー割り込みの数と2のN乗マイナス1の積算値を加
えることにより測定期間に何回かの基準クロックMCL
Kが入力されたことがわかる。この値によりパルスの幅
を算出することができるものである。
【0009】
【発明の効果】以上に、説明したように、この発明は、
測定したいパルス幅をカウントするNビットカウンタに
オーバーフロー検出回路を設け、このオーバーフロー検
出回路によってNビットカウンタのオーバーフローをC
PUに割り込みをかけることによって,長い周期のパル
ス幅を測定することが可能になった。また基準クロック
MCLKを短い周期にすることにより従来以上の精度で
パルスの幅を測定することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明にかかるシステム構成図である。
【図2】従来のシステム構成図である。
【符号の説明】
1 制御回路 2 Nビットカウンタ 3 アンドゲート 4 オーバーフロー検出回路 5 データバス

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 CPUに接続された制御回路及びカウン
    タと、カウンタに接続されたフロー検出回路からなり、
    カウンタの入力クロックとして制御回路出力と被測定パ
    ルス入力の論理積が入力されるパルス幅測定装置におい
    て、CPUはパルス幅測定状態を2種類の割り込み信号
    によつて認識することを特徴とするパルス幅測定装置。
JP16315291A 1991-07-03 1991-07-03 パルス幅測定装置 Pending JPH0510995A (ja)

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JP16315291A JPH0510995A (ja) 1991-07-03 1991-07-03 パルス幅測定装置

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JPH0510995A true JPH0510995A (ja) 1993-01-19

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JP16315291A Pending JPH0510995A (ja) 1991-07-03 1991-07-03 パルス幅測定装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011191178A (ja) * 2010-03-15 2011-09-29 Tesetsuku:Kk 時間幅測定装置
KR20150143270A (ko) 2013-06-03 2015-12-23 쥬가이로 고교 가부시키가이샤 스터드 볼트 접속 부재 및 공업로의 내면 개수 방법
CN106707034A (zh) * 2016-12-26 2017-05-24 哈尔滨工业大学 基于Windows系统函数和多线程技术的脉冲信号检测方法

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