JPH049775A - 装置試験機 - Google Patents
装置試験機Info
- Publication number
- JPH049775A JPH049775A JP2113431A JP11343190A JPH049775A JP H049775 A JPH049775 A JP H049775A JP 2113431 A JP2113431 A JP 2113431A JP 11343190 A JP11343190 A JP 11343190A JP H049775 A JPH049775 A JP H049775A
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- equipment
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 111
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 19
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
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- 238000012905 input function Methods 0.000 description 1
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は製品装置の試験を行うために使用する装置試験
機に関する。
機に関する。
製品装置を試験するための装置試験機としては、(イ)
その製品装置(被試験装置)に対応して試験を一体とし
て行う専用試験機や、(ロ)個々の製品装置と対応する
試験機の部分とパーソナルコンピュータとを組み合わせ
た形で試験を行う試験機とが存在している。
その製品装置(被試験装置)に対応して試験を一体とし
て行う専用試験機や、(ロ)個々の製品装置と対応する
試験機の部分とパーソナルコンピュータとを組み合わせ
た形で試験を行う試験機とが存在している。
このうち前者の専用試験機では製品装置が多品種少量生
産のもである場合には、製品の数だけ試験機を作成する
必要があり、試験機の開発コストや試験機の占めるフロ
アのコストあるいは個々の試験機の管理のだtのコスト
等の各種コストが非常に大きくなるという問題がある。
産のもである場合には、製品の数だけ試験機を作成する
必要があり、試験機の開発コストや試験機の占めるフロ
アのコストあるいは個々の試験機の管理のだtのコスト
等の各種コストが非常に大きくなるという問題がある。
また、後者の装置試験機では、パーソナルコンピュータ
という共通の装置に被試験装置対応の試験機を組み合わ
せた2分割された構成となっている。このため、共通の
装置としてのパーソナルコンビ二一夕の数を少なくする
ことができるという利点がある。すなわち、検査工程の
品種ごとの負荷に応シてパーソナルコンピュータを負荷
の無い品種の試験機から融通させて使用することができ
る。しかしながら、この後者の装置試験機でも全品種の
製品装置が同時に試験の対象となる場合には、これら製
品装置の数だけ共通の装置としてのパーソナルコンピュ
ータを用意しなければならず、前者の専用試験機と同様
の問題を生じる可能性がある。
という共通の装置に被試験装置対応の試験機を組み合わ
せた2分割された構成となっている。このため、共通の
装置としてのパーソナルコンビ二一夕の数を少なくする
ことができるという利点がある。すなわち、検査工程の
品種ごとの負荷に応シてパーソナルコンピュータを負荷
の無い品種の試験機から融通させて使用することができ
る。しかしながら、この後者の装置試験機でも全品種の
製品装置が同時に試験の対象となる場合には、これら製
品装置の数だけ共通の装置としてのパーソナルコンピュ
ータを用意しなければならず、前者の専用試験機と同様
の問題を生じる可能性がある。
そごで本発明の目的は、同一の品種または異なる品種が
同時に多数試験の対象となる場合であってもコストの大
幅な増加を防ぐことのできる装置試験機を提供すること
にある。
同時に多数試験の対象となる場合であってもコストの大
幅な増加を防ぐことのできる装置試験機を提供すること
にある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明では、試験を行う製品装置とそれぞれ対応して接
続され、それらの製品装置固有の試験機能を有する複数
の装置インターフェイス試験機と、これら複数の装置イ
ンターフェイス試験機と接続され、これらの試験進行を
制御する機能を有する共通試験機と、この共通試験機と
接続されマンマシンインターフェイス機能を有する入出
力装置とを装置試験機に具備させる。
続され、それらの製品装置固有の試験機能を有する複数
の装置インターフェイス試験機と、これら複数の装置イ
ンターフェイス試験機と接続され、これらの試験進行を
制御する機能を有する共通試験機と、この共通試験機と
接続されマンマシンインターフェイス機能を有する入出
力装置とを装置試験機に具備させる。
すなわち本発明では、装置を3つの層構造とし、装置イ
ンターフェイス試験機から共通部分を除去することでコ
ストの低減を図ることができる。
ンターフェイス試験機から共通部分を除去することでコ
ストの低減を図ることができる。
以下実施例につき本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の一実施例における装置試験機を製品装
置に接続した状態を表わしたものである。
置に接続した状態を表わしたものである。
この装置試験機は、1台のパーソナルコンピュータ11
と、これと制御線12を介して接続された共通試験機1
3と、この共通試験機13に制御線14を介して接続さ
れた複数の装置インターフェイス試験機15−1.15
−2、・・・・・・15−Nから構成されている。それ
ぞれの装置インターフェイス試験機15−1、]5−2
、・・・・・・15−Nには、インターフェイス線16
−1.16−2・・・・・16−Nを介してそれぞれ対
応する製品装置17−1.17−2・・・・・・17−
Nが接続されている。
と、これと制御線12を介して接続された共通試験機1
3と、この共通試験機13に制御線14を介して接続さ
れた複数の装置インターフェイス試験機15−1.15
−2、・・・・・・15−Nから構成されている。それ
ぞれの装置インターフェイス試験機15−1、]5−2
、・・・・・・15−Nには、インターフェイス線16
−1.16−2・・・・・16−Nを介してそれぞれ対
応する製品装置17−1.17−2・・・・・・17−
Nが接続されている。
このような構成の装置試験機は、次のような機能を備え
ている。
ている。
(i)試験の開始、中断、終了等の各状態を指示するた
めの入力機能。
めの入力機能。
(11)試験の結果を表示するための出力機能。
(iii )試験の開始、中断、終了等の指示にしたが
って、具体的な試験項目の進行を管理する機能。
って、具体的な試験項目の進行を管理する機能。
(iv>具体的試験項目にしたがって試験を実行する機
能。
能。
このうち(1)〜(iii )の3つの機能は、製品装
置が異なってもすべての試験機に共通である。
置が異なってもすべての試験機に共通である。
そこで本発明の装置試験機では、パーソナルコンピュー
タ11にこれら3つの機能のうち(i)おヨヒ(ii)
の機能すなわちマンマシンインターフェイス機能を具備
させる。そして、3つメモリの機能としての試験進行管
理機能を共通試験機13に具備させる。4つ目の機能と
しての具体的に試験を実行する機能は、それぞれの装置
インターフェイス試験機15に具備させている。
タ11にこれら3つの機能のうち(i)おヨヒ(ii)
の機能すなわちマンマシンインターフェイス機能を具備
させる。そして、3つメモリの機能としての試験進行管
理機能を共通試験機13に具備させる。4つ目の機能と
しての具体的に試験を実行する機能は、それぞれの装置
インターフェイス試験機15に具備させている。
この装置試験機による試験動作を次に説明する。
オペレータはパーソナルコンピュータ11のキーボード
IIAから各装置インターフェイス試験機15−1.1
5−2、・・・・・・15−Nの1つを指定するI N
TF番号と、実行したい試験項目を人力する。すると、
パーソナルコンピュータ11のモニタデイスプレィII
Bにこれらの表示が行われる。これと共に、パーソナル
コンピュータ11は共通試験機13に対して試験を開始
させるだめの指示を行う。
IIAから各装置インターフェイス試験機15−1.1
5−2、・・・・・・15−Nの1つを指定するI N
TF番号と、実行したい試験項目を人力する。すると、
パーソナルコンピュータ11のモニタデイスプレィII
Bにこれらの表示が行われる。これと共に、パーソナル
コンピュータ11は共通試験機13に対して試験を開始
させるだめの指示を行う。
共通試験機13は、パーソナルコンピュータ11からI
NTF番号と試験項目を受信する。そして例えば該当す
る装置インターフェイス試験機]5−1に対して第1の
試験項目を開始させるための指示を行う。
NTF番号と試験項目を受信する。そして例えば該当す
る装置インターフェイス試験機]5−1に対して第1の
試験項目を開始させるための指示を行う。
この例の場合、装置インターフェイス試験機15−1は
第1の試験項目を実施するための指示を受けると、イン
ターフェイス線16−1に接続された製品装置17−1
に対して試験を実施する。
第1の試験項目を実施するための指示を受けると、イン
ターフェイス線16−1に接続された製品装置17−1
に対して試験を実施する。
装置インターフェイス試験機15−1は試験が完了する
と、その結果を共通試験機13へ報告する。
と、その結果を共通試験機13へ報告する。
共通試験機13はこの結果を内蔵するメモリに格納し、
装置インターフェイス試験機15−1に対して第2の試
験項目の実施の指示を行う。このようにして全試験項目
の実施が完了すると、共通試験機13はパーソナルコン
ピュータ11に対して実行した全項目の結果と共に終了
報告を行う。
装置インターフェイス試験機15−1に対して第2の試
験項目の実施の指示を行う。このようにして全試験項目
の実施が完了すると、共通試験機13はパーソナルコン
ピュータ11に対して実行した全項目の結果と共に終了
報告を行う。
パーソナルコンピュータ11はこの結果をモニタデイス
プレィIIBに表示する。
プレィIIBに表示する。
以上の説明では、複数の装置インターフェイス試験81
5,2.15−2、・・・・・15−Nの中から1つの
試験機を指定して試験を実施したが、全装置インターフ
ェイス試験機15−L 15−2、・・・・・・15
−Nあるいはこれらの一部の複数の試験機を同時に動作
させて対象となる複数の製品装置17の試験を平行して
行うことも可能である。装置インターフェイス試験機1
5−1.15−2、・・・・・15−Nが異なる機能を
実行する場合でも同様である。
5,2.15−2、・・・・・15−Nの中から1つの
試験機を指定して試験を実施したが、全装置インターフ
ェイス試験機15−L 15−2、・・・・・・15
−Nあるいはこれらの一部の複数の試験機を同時に動作
させて対象となる複数の製品装置17の試験を平行して
行うことも可能である。装置インターフェイス試験機1
5−1.15−2、・・・・・15−Nが異なる機能を
実行する場合でも同様である。
なお実施例では、実行する試験項目や内容を共通試験機
13および各装置インターフェイス試験機15−1.1
5−2、・・・・・・15−Nにそれぞれ内蔵している
ものとして説明した。しかしながら、これらの試験項目
や内容をプログラムとして準備しておき、試験の開始時
にパーソナルコンピュータ11から共通試験機13また
は各装置インターフェイス試験機15−1.15−2、
・・・・・・15Nにダウンロードするようにしてもよ
い。これにより、共通試験機13および各装置インター
フェイス試験機15−1.15−2、・・・・・・15
−Nを更に汎用的な試験機として使用することができる
ようになる。
13および各装置インターフェイス試験機15−1.1
5−2、・・・・・・15−Nにそれぞれ内蔵している
ものとして説明した。しかしながら、これらの試験項目
や内容をプログラムとして準備しておき、試験の開始時
にパーソナルコンピュータ11から共通試験機13また
は各装置インターフェイス試験機15−1.15−2、
・・・・・・15Nにダウンロードするようにしてもよ
い。これにより、共通試験機13および各装置インター
フェイス試験機15−1.15−2、・・・・・・15
−Nを更に汎用的な試験機として使用することができる
ようになる。
以上説明したように本発明の装置試験機は、装置インタ
ーフェイス試験機、共通試験機および入出力装置の3つ
の異なった階層の装置で構成されているので、装置イン
ターフェイス試験機に共通部分が存在せず、これ故、こ
の装置部分をコンパクトに作成することができ、更に製
品対応部分の開発コスト、フロアコスト、管理コスト等
の各種コストを低減させることができる。また、共通試
験機の部分に複数の装置インターフェイス試験機を接続
することができるようにしたので、同一品種または異な
った品種の製品装置を同時に多数試験する場合であって
も共通試験機の部分が少なくて済むという効果がある。
ーフェイス試験機、共通試験機および入出力装置の3つ
の異なった階層の装置で構成されているので、装置イン
ターフェイス試験機に共通部分が存在せず、これ故、こ
の装置部分をコンパクトに作成することができ、更に製
品対応部分の開発コスト、フロアコスト、管理コスト等
の各種コストを低減させることができる。また、共通試
験機の部分に複数の装置インターフェイス試験機を接続
することができるようにしたので、同一品種または異な
った品種の製品装置を同時に多数試験する場合であって
も共通試験機の部分が少なくて済むという効果がある。
第1図は本発明の一実施例における装置試験機の構成を
示すブロック図である。 11・・・・・・パーソナルコンビ二一夕、13・・・
・・・共通試験機、 15・・・・・・装置インターフェイス試験機、17・
・・・・・製品装置。 1B 第1図
示すブロック図である。 11・・・・・・パーソナルコンビ二一夕、13・・・
・・・共通試験機、 15・・・・・・装置インターフェイス試験機、17・
・・・・・製品装置。 1B 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、試験を行う製品装置とそれぞれ対応して接続され、
それらの製品装置固有の試験機能を有する複数の装置イ
ンターフェイス試験機と、 これら複数の装置インターフェイス試験機と接続され、
これらの試験進行を制御する機能を有する共通試験機と
、 この共通試験機と接続されマンマシンインターフェイス
機能を有する入出力装置 とを具備することを特徴とする装置試験機。 2、前記入出力装置は試験の開始に際して前記共通試験
機および各装置インターフェイス試験機に対して試験項
目や試験の内容をダウンロードすることを特徴とする請
求項1記載の装置試験機。 3、共通試験機は複数の装置インターフェイス試験機を
同時に動作可能に配置したことを特徴とする請求項1記
載の装置試験機。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2113431A JPH049775A (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | 装置試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2113431A JPH049775A (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | 装置試験機 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH049775A true JPH049775A (ja) | 1992-01-14 |
Family
ID=14612053
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2113431A Pending JPH049775A (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | 装置試験機 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH049775A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002071738A (ja) * | 2000-09-01 | 2002-03-12 | Toshiba Fa Syst Eng Corp | 電気機器の電気特性評価試験方法および装置 |
JP2005250531A (ja) * | 2004-03-01 | 2005-09-15 | Hitachi Ltd | コンピュータ装置の検査方法及び装置 |
JP2007104369A (ja) * | 2005-10-05 | 2007-04-19 | Sharp Corp | 携帯電話リモート試験 |
-
1990
- 1990-04-27 JP JP2113431A patent/JPH049775A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002071738A (ja) * | 2000-09-01 | 2002-03-12 | Toshiba Fa Syst Eng Corp | 電気機器の電気特性評価試験方法および装置 |
JP2005250531A (ja) * | 2004-03-01 | 2005-09-15 | Hitachi Ltd | コンピュータ装置の検査方法及び装置 |
JP2007104369A (ja) * | 2005-10-05 | 2007-04-19 | Sharp Corp | 携帯電話リモート試験 |
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