JP2005250531A - コンピュータ装置の検査方法及び装置 - Google Patents

Abstract

【課題】複数の検査対象コンピュータ装置が備えるＩ／Ｏポートのポート数に対し、冶具Ｉ／Ｏデバイスの個数が不足している場合でも、冶具Ｉ／Ｏデバイスの再接続を必要とする事なく全てのＩ／Ｏポートの検査を連続して行う事が可能な検査方法を提供する。
【解決手段】Ｉ／Ｏポートを備えた複数の検査対象コンピュータ装置に対して、複数の検査対象コンピュータ装置の検査状況を一元管理する生産管理サーバと、複数の検査対象コンピュータ装置と生産管理サーバを接続するネットワーク網と、複数の検査対象コンピュータ装置が備えるＩ／Ｏポートを検査する冶具Ｉ／Ｏデバイスと、各Ｉ／Ｏポートと冶具Ｉ／Ｏデバイスを接続する複数のＩ／ＯポートでＨＤＤなどのＩ／Ｏデバイスを共有出来るネットワーク網とを備える検査環境により、Ｉ／Ｏポートの検査を連続して行う。生産管理サーバは、検査対象コンピュータ装置の検査状況を監視し、Ｉ／Ｏポートの検査状況と冶具Ｉ／Ｏデバイスの使用状況を管理する。
【選択図】 図１

Description

本発明はＩ／Ｏ機能を備えたポートを持つサーバ、ワークステーションおよびパーソナルコンピュータ等のコンピュータ機器全般の生産時に行われるコンピュータ装置の検査方法及び装置に関する。

従来、コンピュータ装置の検査において、ｉＳＣＳＩやＦｉｂｅｒ Ｃｈａｎｎｅｌ、ＵＳＢ等のＩ／Ｏ機能を検査する場合、各Ｉ／ＯポートにそれぞれＨＤＤ等の冶具Ｉ／Ｏデバイスを接続して各Ｉ／Ｏポートの検査を行っていた。しかし、一度に多数のコンピュータ装置の生産を行う場合や、複数のＩ／Ｏポートを備えたコンピュータ装置の生産を行う場合には、冶具Ｉ／Ｏデバイスの個数が不足してしまい一度に全てのコンピュータ装置のＩ／Ｏポートを検査する事が出来ない。

この場合、各Ｉ／Ｏポートの検査は、まず冶具Ｉ／Ｏデバイスを接続したＩ／Ｏポートの検査を行い、検査が完了したら一旦コンピュータ装置の電源を切り、Ｉ／Ｏポートから冶具Ｉ／Ｏデバイスを取り外す。次に、未検査のＩ／Ｏポートへ冶具Ｉ／Ｏデバイスを再接続して再度テストを行う処理を、全てのＩ／Ｏポートの検査が完了するまで繰り返しを行っていた。

このような検査方法において問題となるのは、各Ｉ／Ｏポートと冶具Ｉ／Ｏデバイスの再接続が何度も行われると、検査工数、検査時間が増大してしまい、生産コストが増大すると共に、作業上の効率が悪くなるという事である。また、検査が必要なＩ／Ｏポートのポート数に比べ冶具Ｉ／Ｏデバイスの個数が極端に少ない場合には、再接続を行う回数が増大してしまうため、作業効率もさる事ながら、検査済みのＩ／Ｏポートの判別ミスが発生する危険が増大し、二重に検査をしてしまい無駄な作業を発生させてしまったり、未検査のまま作業を終了させてしまったりする危険がある。

この問題を解決する手段としては、前記検査対象コンピュータ装置の数に対して十分な個数の冶具Ｉ／Ｏデバイスを準備する事であるが、生産ラインのピーク時の状況に合わせて冶具Ｉ／Ｏデバイスの個数を揃える事はコスト面でマイナスとなると共に、ピーク時以外には冶具Ｉ／Ｏデバイスが余ってしまうため、冶具の効率的な運用が出来ないという問題がある。

またこのようなコンピュータ装置の検査方法別の手段として、特許文献１に記載の例がある。これは,冶具Ｉ／Ｏデバイスの再接続を検査対象のコンピュータ装置の電源を切ることなく行うことを可能とする事で、各Ｉ／Ｏポートの検査を連続して行えるようになり、検査時間の短縮を実現する方法である。また検査プログラムの起動時間を短縮する方法が、特許文献２や特許文献３で提案されている。しかしこれらの検査方法でも、検査プログラムの起動時間を短縮する方法は提案されているが、検査対象のコンピュータ装置に対する治具Ｉ／Ｏデバイスの再接続処理は依然として必要である。

特開平１１−２１９３３４号公報

特開平１０-１０５４２５号公報 特開２００１-３３１３０８号公報

上述した従来の検査方法において、各Ｉ／Ｏポートと冶具Ｉ／Ｏデバイスの再接続が何度も行われると、検査工数、検査時間が増大する事になり、生産コストが増大すると共に、作業上の効率が悪くなるという問題があった。さらに、検査が必要なＩ／Ｏポートのポート数に比較して冶具Ｉ／Ｏデバイスの個数が極端に少ない場合には、再接続を行う回数が頻発するため、作業効率もさる事ながら、作業者による検査済みＩ／Ｏポートの判別ミスが発生する危険が増大し、二重に検査をしてしまい無駄な作業を発生させてしまったり、未検査のまま作業を終了させてしまったりする危険があった。

さらに、本来検査対象ではない治具Ｉ／Ｏデバイスに不具合が発生した場合、発生した不具合がＩ／Ｏポートが原因によるものか、治具Ｉ／Ｏデバイスが原因によるものかの判断に時間が掛かり、検査効率を悪くするという問題があった。

そこで本発明の目的は、上記問題点を解決し、複数の検査対象コンピュータ装置が備えるＩ／Ｏポートのポート数に対し、冶具Ｉ／Ｏデバイスの個数が不足している場合でも、冶具Ｉ／Ｏデバイスの再接続を必要とする事なく全てのＩ／Ｏポートの検査を連続して行う事が可能な検査方法及び装置を提供する事にある。

また、本発明の他の目的は、検査済みのＩ／Ｏポートを自動で判定し、検査済みのＩ／Ｏポートの重複した検査や、未検査のまま作業が終了する事を防ぎ効率良く確実に全てのコンピュータ装置が備えるＩ／Ｏポートの検査を行う事が可能な検査方法及び装置を提案する事にある。
さらに本発明の他の目的は、治具Ｉ／Ｏデバイスに不具合が発生した場合に、容易にその治具Ｉ／Ｏデバイスを特定する事が可能な検査方法を提案する事にある。

本発明は、検査対象である複数のコンピュータ装置と生産管理サーバとを接続する検査管理ネットワークと、コンピュータ装置のＩ／Ｏポートを検査するための治具Ｉ／Ｏデバイスと、前記複数のコンピュータ装置と前記治具Ｉ／Ｏデバイスとを接続する検査デバイスネットワークとを備えた検査環境において、検査プログラムを用いて前記コンピュータ装置の検査を行う方法であって、前記検査デバイスネットワークに接続される前記治具Ｉ／Ｏデバイスの数が、該検査デバイスネットワークに接続し得る前記コンピュータ装置のＩ／Ｏポートのポート数よりも少ない検査環境における、前記Ｉ／Ｏポートの検査の実行優先度を定義し、前記複数のコンピュータ装置のＩ／Ｏポートと前記治具Ｉ／Ｏデバイスとを接続した状態で、前記優先度に基いて、前記治具Ｉ／Ｏデバイスを使用して、前記プログラムにより前記各コンピュータ装置のＩ／Ｏポートの検査を行うことを特徴とする。

より具体的には、本発明によるコンピュータ装置の検査方法は、Ｉ／Ｏポートを備えた複数の検査対象コンピュータ装置に対して、複数の検査対象コンピュータ装置の検査状況を一元管理する生産管理サーバと、複数の検査対象コンピュータ装置と生産管理サーバを接続するネットワーク網と、複数の検査対象コンピュータ装置が備えるＩ／Ｏポートを検査する冶具Ｉ／Ｏデバイスと、各Ｉ／Ｏポートと冶具Ｉ／Ｏデバイスを接続するストレージ・エリア・ネットワーク（ＳＡＮ）のような複数のＩ／ＯポートでＨＤＤなどのＩ／Ｏデバイスを共有出来るネットワーク網とを備える検査環境により実現される。

本発明の他の特徴は、検査対象である複数のコンピュータ装置と生産管理サーバとを接続する検査管理ネットワークと、前記コンピュータ装置のＩ／Ｏポートを検査するための複数の治具Ｉ／Ｏデバイスと、前記複数のコンピュータ装置と前記治具Ｉ／Ｏデバイスとを接続する検査デバイスネットワークとを備えたコンピュータ装置の検査システムであって、検査環境として前記検査デバイスネットワークに前記複数のコンピュータ装置のＩ／Ｏポートの数に比較して少ない数の前記治具Ｉ／Ｏデバイスが接続された場合における、検査の実行優先度を前記検査対象コンピュータ装置の構成モジュール毎に定義する機能と、前記治具Ｉ／Ｏデバイスの使用状況を管理する機能と、前記実行優先度に基づき、前記治具Ｉ／Ｏデバイスにより前記コンピュータ装置のＩ／Ｏポートを検査する機能とを備えたことにある。

本発明によれば、生産管理サーバで検査対象コンピュータ装置の検査状況を監視し、Ｉ／Ｏポートの検査状況と冶具Ｉ／Ｏデバイスの使用状況を管理する事で、各Ｉ／Ｏポートが冶具Ｉ／Ｏデバイスを競合して使用する事なく、未検査のＩ／Ｏポートを順次検査する事によりＩ／Ｏポートと冶具Ｉ／Ｏデバイスの再接続を必要とせずに各検査対象コンピュータ装置が備えるＩ／Ｏポートを全て検査する事が可能となる。

また、本発明によれば、生産管理サーバで検査状況の管理と検査の実行を自動で行うため、Ｉ／Ｏポートの二重検査や、検査漏れを防止する事が可能となる。さらに、複数のＩ／Ｏポートで一台の治具Ｉ／Ｏデバイスを使用するため、治具Ｉ／Ｏデバイスに不具合が発生した場合には、不具合が発生したＩ／Ｏデバイスを使用して検査した複数のＩ／Ｏポートで同一の不具合現象が発生するため、不具合原因を容易に特定する事が可能となる。

また、治具Ｉ／Ｏデバイスの動作状況を生産管理サーバで管理する事で、治具Ｉ／Ｏデバイスのデバイス寿命等により発生するであろう不具合を未然に防止して、治具Ｉ／Ｏデバイスの交換を促す事が可能となる。

本発明によれば、検査対象コンピュータ装置が備えるＩ／Ｏポートのポート数に比較して冶具Ｉ／Ｏデバイスの個数が少ない場合、全Ｉ／Ｏポートを検査するためにＩ／Ｏボートと治具Ｉ／Ｏデバイスを再接続する必要がなくなり、検査工数、検査時間を大幅に削減する事が可能となり、検査の効率を向上とコストダウンを実現できる。また、検査環境を構築する際に準備する治具Ｉ／Ｏデバイスの個数を減らす事が可能となり、検査環境の構築のためのコスト削減も実現できる。

本発明によれば、検査対象コンピュータ装置が備えるＩ／Ｏポート数に対して、治具Ｉ／Ｏデバイスの個数が少ない場合にも、治具Ｉ／Ｏデバイスを複数のＩ／Ｏポートでシェアする事でＩ／ＯポートとＩ／Ｏデバイスの再接続を必要とせずに全てのＩ／Ｏポートの検査を行う事が出来るので、検査時間、検査工数の削減を実現できコストダウンが可能となる。また、少ない治具Ｉ／Ｏデバイスで検査環境を構築可能となり、低コスト化を実現できる。

次に、本発明によるコンピュータ装置の検査システムおよび検査方法を図面により詳しく説明する。
図１は、本発明の一実施例に基づくコンピュータ装置の検査環境の構成図である。図１に示した一実施例に基づく検査環境は、生産管理サーバ１ａと、この生産管理サーバ１ａにより検査状況を管理される複数（ｎ台）の検査対象コンピュータ装置１ｂ１，１ｂ２，１ｂ３，・・・，１ｂｎ、検査対象のコンピュータ装置に備えられたＩ／Ｏポートを検査するための冶具Ｉ／Ｏデバイス１ｃ１，１ｃ２，１ｃ３と、生産管理サーバと検査対象コンピュータ装置を接続する検査管理ネットワーク１ｄと、検査対象コンピュータ装置に備えられたＩ／Ｏポートと冶具Ｉ／Ｏデバイスを接続する検査デバイスネットワーク１ｅとから構成される。
検査対象の各コンピュータ装置は、装置毎に１ないし複数のＩ／Ｏポート１ｂ１ａ，１ｂ１ｂ，・・・、１ｂ１ｎを備えている。

生産管理サーバ１aは、図３に示すように、ＣＰＵ３やメモリ４、通信制御機能５、Ｉ／Ｏ等を備えたコンピュータで構成されており、検査管理プログラム１００や、検査プログラム２をｃｋ記憶装置に保持している。検査管理プログラム１００は、冶具Ｉ／Ｏデバイスを用いた対象コンピュータ装置の検査処理全体を制御するコンピュータ装置検査機能１０２を備えている。また、管理プログラムの実行時に検査環境（各検査対象コンピュータ装置１ｂｉの構成等）の情報や検査の経過状態を記録するための検査対象コンピュータ管理テーブル１０４や、冶具Ｉ／Ｏデバイスの使用状況を記録するための冶具Ｉ／Ｏデバイス管理テーブル１０６などを備えている。

また検査管理プログラム１００は、治具Ｉ／Ｏデバイス１cｉの動作状況を記録し、治具Ｉ／Ｏデバイスに不具合が発生した場合に、不具合が発生した治具Ｉ／Ｏデバイスを特定するための治具Ｉ／Ｏデバイス診断機能１０８も備えている。

なお、生産管理サーバ１ａに保持された検査プログラム２は、ネットワークを利用して各検査対象コンピュータ装置１ｂｉのメモリ上にロードして、検査を行うものである。予め、検査対象の各コンピュータ装置のＨＤＤディスクに検査プログラム２をインストールしておいても良い。

図１の実施例において、生産管理サーバ１ａと各検査対象コンピュータ装置１ｂｉ（ｉ＝１，２，・・・，ｎ）は、検査管理ネットワーク１ｄを介して相互に接続されている。これにより生産管理サーバ１ａと各検査対象コンピュータ装置１ｂｉは双方向で通信可能となり、生産管理サーバ１ａから各検査対象コンピュータ装置１ｂｉに対して検査プログラム２の起動、実行の通知を発行する事が出来、各検査対象コンピュータ装置１ｂｉから生産管理サーバ１ａに対して各検査対象コンピュータ装置１ｂｉの構成、検査の進行状況等の通知を発行する事が出来る。

また、各検査対象コンピュータ装置１ｂｉが備える全てのＩ／Ｏポートと冶具Ｉ／Ｏデバイス１ｃｊ（ｊ＝１，２，３）は、検査デバイスネットワーク１ｅを介して相互に接続されている。これにより検査対象コンピュータ装置１ｂｉで検査プログラム２が起動されると、各検査対象コンピュータ装置１ｂｉが備える全てのＩ／Ｏポートから全ての冶具Ｉ／Ｏデバイス１ｃｊが認識されアクセス可能状態となる。

Ｉ／Ｏデバイスは、例えばハードディスクやテープドライブあるいはＣＤ−ＲＯＭであり、本実施例では３台のＩ／Ｏデバイスが検査デバイスネットワーク１ｅに接続されている。検査デバイスネットワーク１ｅには、Ｉ／Ｏデバイスの数よりも多い数の検査対象コンピュータ装置を同時に接続可能であり、例えば、同時に１００台の検査対象コンピュータ装置を、検査デバイスネットワーク１ｅに接続できるように構成しても良い。

検査時には、検査デバイスネットワーク１ｅを経由して接続された検査対象コンピュータ装置のＩ／Ｏポートに、テスト用信号、例えばテスト用データのリード／ライト信号を送り、Ｉ／Ｏデバイスからの出力状況から、そのＩ／Ｏポートなど検査対象コンピュータ装置の機能が正常か否かのテストを行う。

また、検査対象コンピュータ装置は検査デバイスネットワーク１ｅを経由してＩ／Ｏデバイスに接続する構成となっているため、検査が終了した検査対象コンピュータ装置のネットワークからの取り外しや、新たな検査対象コンピュータ装置のネットワークへの接続を、ネットワークに接続されて検査中の他の検査対象コンピュータ装置１ｂｉの検査に影響を与える事なく、行う事が出来る。

図２は、コンピュータ装置を検査するための検査プログラム２の一例である。図２に示した検査プログラムの例では、検査プログラム２の動作を制御するモニタモジュール２ａ、モニタモジュール２ａにより制御される検査対象コンピュータ装置の構成モジュール毎のテストを制御するテスト制御モジュール２ｂ、テスト制御モジュールで制御される各構成モジュールのテストであるＣＰＵテストモジュール２ｂ１、メモリテストモジュール２ｂ２、Ｉ／Ｏテストモジュール２ｂ３、テスト結果を確認するログ解析モジュール２ｃ、及び生産管理サーバ１ａと通信を行う通信部２ｄから構成される。

図２に示した検査プログラムの例では、ＣＰＵテストモジュール２ｂ１、メモリテストモジュール２ｂ２、Ｉ／Ｏテストモジュール２ｂ３は、各々個別にテストを実行する事が可能である。また、この検査プログラムの起動方法としては、ＦＤＤやＣＤ−ＲＯＭなどのメディアにより各検査対象コンピュータ装置１ｂｉで起動する方法と、各検査対象コンピュータ装置１ｂｉに内蔵されているＨＤＤディスクに予めインストールをしておきＨＤＤから起動する方法と、生産管理サーバ１ａよりネットワークを利用して各検査対象コンピュータ装置１ｂｉのメモリ上にプログラムをロードして起動する方法が可能である。

図４Ａは、生産管理サーバ１ａが管理する検査対象コンピュータ管理テーブル１０４、すなわち検査の優先度の設定や検査の経過状態を表したマトリクスの一例である。図４Ａの例で表したマトリクスには、検査対象コンピュータ装置１ｂｉの装置番号と構成モジュール毎に、その状態として、予め設定された実行優先度、実行許可、状態、結果が表されている。図４Ａの例で実行優先度は、優先度の高いものから順に５〜１の５段階で指定され、優先度の高いコンピュータ装置から優先して検査が行われる。優先度の設定方法としては、出荷日が近いコンピュータ装置や、検査時間がかかるコンピュータ装置の優先度を高く設定する。また検査実行中であっても変更可能である。図４Ａの例では、検査対象コンピュータ装置１ｂｉの構成モジュールとして、ＣＰＵ２つ、メモリ、Ｉ／Ｏポート３つが認識されており、Ｉ／Ｏポート１と２は治具Ｉ／Ｏデバイスを使用してテスト中であり、Ｉ／Ｏポート３は治具Ｉ／Ｏデバイスの空きが出来るのを待機中の状態である。

また図４Ｂは、冶具Ｉ／Ｏデバイス管理テーブル１０６、すなわち冶具Ｉ／Ｏデバイス１ｃｊの使用状況を表したマトリクスの一例である。図４Ｂの例で表したマトリクスには、冶具Ｉ／Ｏデバイス１ｃｊを使用している検査対象コンピュータ装置１ｂｉの装置番号と、検査対象コンピュータ装置１ｂｉが備えるＩ／Ｏポート番号が表されており、治具Ｉ／Ｏデバイス１ｃｊを使用している検査対象コンピュータ装置１ｂｉが備えるＩ／Ｏポートが一意に定められる。

次に、図５のフローチャートを参照して、検査管理プログラム１００による検査処理フローを説明する。すなわち、図１のコンピュータ装置の検査環境の実施例において、実際に検査が行われる流れを説明する。最初に、検査環境の情報として、生産管理サーバ１ａに使用可能な冶具Ｉ／Ｏデバイスの個数と、各検査対象コンピュータ装置１ｂｉの製品番号等の複数のコンピュータ装置を区別できる装置番号と、その装置番号の優先度を入力しておく（ステップＳ５１）。このステップＳ５１で、図４Ａの管理テーブル１０４にマトリクスで示した項目＃１，＃２の装置番号やモニタと、その優先度や実行許可が入力される。また、図４Ｂの管理テーブル１０６にマトリクスで示した冶具Ｉ／Ｏデバイス番号が入力される。

続いて、各検査対象コンピュータ装置１ｂｉの電源を入れ生産管理サーバ１ａから検査管理ネットワーク１ｄを介して各検査対象コンピュータ装置１ｂｉのメモリ上に、図２の検査プログラム２をロードして起動する（ステップＳ５２）。ここで起動するのは検査プログラム２のモニタモジュール２ａのみである。

各検査対象コンピュータ装置１ｂｉで検査プログラム２が起動したら、検査プログラムがＣＰＵ数、メモリ容量、Ｉ／Ｏポート数等の検査対象コンピュータ装置１ｂｉの構成と、検査対象コンピュータ装置の装置番号を認識し、検査管理ネットワーク１ｄを介してこの構成情報と装置番号を生産管理サーバ１ａに通知する（ステップＳ５３）。このステップＳ５３では、図４Ａの管理テーブル１０４にマトリクスで示したモジュール名の項目＃３〜＃８が入力される。

生産管理サーバ１ａは、各検査対象コンピュータ装置１ｂｉから通知された構成情報と装置番号から、装置番号毎にテスト実行を許可する構成モジュールと許可しない構成モジュールの判定を行う（ステップＳ５４）。すなわち、構成モジュールのうちＩ／Ｏポートの数が予め登録されていた冶具Ｉ／Ｏデバイスの個数より少ない場合には、全ての検査対象コンピュータ装置のＩ／Ｏポートの検査実行を許可する。一方、構成モジュールのＩ／Ｏポートの数が冶具Ｉ／Ｏデバイスの個数より多い場合には、設定されている優先度に基づいて冶具Ｉ／Ｏデバイスの個数分だけＩ／Ｏポートの検査を許可する。

このステップＳ５４で、図４Ａのマトリクスで示した実行許可の項目と使用冶具の項目と、図４Ｂのマトリクスで示した装置番号、Ｉ／Ｏポートの項目が入力される。

生産管理サーバ１ａは、実行が許可された構成モジュールを備えた装置番号に対して動作中の検査プログラムに各構成モジュールのテスト起動通知を発行する（ステップＳ５５）。このステップＳ５５で図４Ａのマトリクスで示した状態の項目が更新される。テスト起動通知を受け取った各検査対象コンピュータ装置１ｂｉで動作している検査プログラムは、各構成モジュール毎にテストを実行する（ステップＳ５６）。起動通知の無かったＩ／Ｏポートは待機状態となる。

各構成モジュールのテストが終了したら、構成モジュール毎に検査プログラムから生産管理サーバ１ａにテスト終了通知を発行する（ステップＳ５７）。

テスト終了通知を受け取った生産管理サーバ１ａは、図４Ａのマトリクスで示した状態の項目を更新した後、テスト終了通知を発行したコンピュータ装置の構成モジュールの中にまだテストが終了していないモジュールがあるかを判定する（ステップＳ５８）。

生産管理サーバ１ａによるテストが終了していないモジュールが無い、すなわち全ての構成モジュールのテストが終了している場合は、次に、テスト結果の内容が正常か否かがチェックされる（ステップＳ６０）。構成モジュールのすべてが正常であると判定されれば、テスト終了と判定されテスト終了通知を発行する。テスト終了通知を受け取ったコンピュータ装置１ｂｉは検査プログラムにより電源がOFFされ検査が終了する（ステップＳ５ａ）。

一方、ステップＳ６０で、正常でないと判定されたモジュールが含まれていた場合、そのモジュールに異常があるのか、あるいは冶具Ｉ／Ｏデバイス側に異常があるのかを判定する。例えば、同じ、冶具Ｉ／Ｏデバイスでテストされた他のモジュールも異常との判定結果が出ている場合、その冶具Ｉ／Ｏデバイス自体をチェックする必要がある。これは、治具Ｉ／Ｏデバイス診断機能１０８で処理される。一方、他のモジュールで異常との判定結果が出ていない場合、異常と判定されたモジュールを新たなモジュールと交換して、再度テストを実行する。（ステップＳ６１）
一方、ステップＳ５８の判定で、テストが終了していないモジュールがある場合には、受け取ったテスト終了通知がＩ／Ｏポートからのものであるか判定する（ステップＳ５９）。テスト終了通知がＩ／Ｏポートからであった場合、冶具Ｉ／Ｏデバイスに空きが出来たと判定し、ステップＳ５４でテスト実行が不許可と判定されていたＩ／Ｏポートのうち、図４Ａのマトリクスに示す優先度の高いモジュールを実行許可に変更する（ステップＳ５４）。このＩ／Ｏポートを備えたコンピュータ装置で動作している検査プログラムに対してテスト起動通知を発行する（ステップＳ５５）。

テスト起動通知を受け取った各検査対象コンピュータ装置で動作している検査プログラムは、起動対象の構成モジュールのテストを実行する（ステップＳ５６）。

ステップＳ５９で冶具Ｉ／Ｏデバイスに空きがない場合、実行中のモジュールのテストの終了を待つ（ステップＳ５ｂ〜ステップＳ５７）。

上述したステップＳ５４〜ステップＳ５ｂの処理を繰り返す事により、各検査対象コンピュータ装置が備えた構成モジュール全てに対して冶具Ｉ／Ｏデバイスを再接続する必要なしに検査を行う事が可能となる。検査管理ネットワーク１ｄには、例えば、１００台の検査対象のコンピュータ装置を同時に接続可能であり、検査対象のコンピュータ装置が例えば１０００台あるとすると、一度に１００台ずつ接続してＩ／Ｏポートの検査を連続して行う。これを１０回繰り返すことで、全体の検査を行うことができる。あるいは、検査の終了したコンピュータ装置から順次検査管理ネットワーク１ｄへ接続し直しても良い。したがって、Ｉ／Ｏポートのポート数に対し、冶具Ｉ／Ｏデバイスの個数が不足している場合でも、冶具Ｉ／Ｏデバイスの再接続を必要とする事なく全てのＩ／Ｏポートの検査を連続して行う事が可能である。

またこの実施例において、検査が終了したコンピュータ装置は自動的に電源が切られるため、随時検査環境から取り外す事が可能となる。

検査対象コンピュータ装置を追加する場合には、検査管理ネットワーク１ｄと検査デバイスネットワーク１ｅに検査対象コンピュータ装置を接続し、生産管理サーバ１ａに装置番号と優先度を登録する。これだけで、検査を実行中のほかのコンピュータ装置に影響を与えずに、検査対象コンピュータ装置の追加が行なえる。

検査結果の確認は、検査環境から取り外されたコンピュータ装置それぞれの状態を確認する必要なく、生産管理サーバ１ａに登録されている図４Ａのマトリクスを確認する事で、全ての検査対象コンピュータ装置の結果と、現在の検査状況を確認する事が可能である。

次に、治具Ｉ／Ｏデバイス診断機能１０８について、図６のフローチャートで説明する。まず、生産管理サーバ１ａにより冶具Ｉ／Ｏデバイス１ｃｊの使用状況を把握する。各治具Ｉ／Ｏデバイス１ｃｊの使用回数Ｎｊをチェックするために、最初にｎ＝０とし、冶具Ｉ／Ｏデバイス１ｃｊがＩ／Ｏポートの検査に使用された回数Ｎｊをカウントする。そして、検査での使用回数が所定の回数Ｎｊｍになったら（Ｓ６０３）、デバイス寿命等の表示を行う（Ｓ６０４）。これにより、デバイス寿命等による不具合を未然に防止し、治具Ｉ／Ｏデバイスの交換を促す事が可能となる。

一方、検査での使用回数が所定の回数Ｎｊｍに満たない場合には、その冶具Ｉ／Ｏデバイス１ｃｊを用いてＩ／Ｏポートを検査した結果がＮＧとなった回数Ｐのデータを管理テーブル１０４や管理テーブル１０６から取得し、所定の数Ｐｍより多い場合（Ｓ６０５）、さらに、その冶具Ｉ／Ｏデバイス１ｃｊによるＮＧの比率をチェックし、所定の比率Ｅｍより高い場合、治具Ｉ／Ｏデバイス自体に不具合があると判定し、その旨表示する（Ｓ６０６〜Ｓ６０７）。本発明では、共通の冶具Ｉ／Ｏデバイス１ｃｊを複数のＩ／Ｏポートの検査に使用し管理テーブル１０４や管理テーブル１０６で管理しているため、不具合の発生した治具Ｉ／Ｏデバイスの特定が容易であり、治具Ｉ／Ｏデバイスの不具合による検査環境への影響を最小限に押さえる事が可能である。

尚、本実施例では、治具Ｉ／Ｏデバイスを３台としているが、検査環境により自由に増減する事が可能である。

以上説明したように本発明のコンピュータ装置の検査方法では、検査対象コンピュータ装置が備えるＩ／Ｏポート数に対して、治具Ｉ／Ｏデバイスの個数が少ない場合にも、治具Ｉ／Ｏデバイスを複数のＩ／Ｏポートでシェアする事でＩ／ＯポートとＩ／Ｏデバイスの再接続を必要とせずに全てのＩ／Ｏポートの検査を行う事が出来るので、検査時間、検査工数の削減を実現でき、コストダウンを可能とする。また、少ない治具Ｉ／Ｏデバイスで検査環境を構築可能となり低コスト化を実現できる。

また、治具Ｉ／Ｏデバイスの寿命管理を行うと共に、不具合の発生した治具Ｉ／Ｏデバイスの特定も行うため、治具Ｉ／Ｏデバイスの不具合による検査環境への影響を最小限に押さえる事が可能である。

本発明は、次の形体をとることもできる。即ち、
前記コンピュータ装置の検査方法であって、前記Ｉ／Ｏポートの検査結果の情報を用いて、前記治具Ｉ／Ｏデバイスの不具合を診断することを特徴とするコンピュータ装置の検査方法。または、
前記コンピュータ装置の検査方法であって、前記各治具Ｉ／Ｏデバイスの使用回数に基き、該治具Ｉ／Ｏデバイスの寿命を判定することを特徴とするコンピュータ装置の検査方法。

本発明の一実施例に基づくコンピュータ装置の検査環境の概略図である。 本発明の一実施例に基づく検査プログラムの構成図である。 生産管理サーバの機能を示すブロック図である。 本発明の一実施例に基づく検査経過を表すマトリクスである。 本発明の一実施例に基づく治具Ｉ／Ｏデバイスの使用状況を表すマトリクスである。 図１の検査環境において検査が行われる流れを示すフローチャートである。 治具Ｉ／Ｏデバイス診断機能による処理の流れを示すフローチャートである。

符号の説明

１ａ：生産管理サーバ
１ｂｉ（ｉ＝１，２，・・・，ｎ）：検査対象コンピュータ装置
１ｂｊ（ｊ＝１，２，３）：治具Ｉ／Ｏデバイス
１ｄ：検査管理ネットワーク
１ｅ：検査デバイスネットワーク
２ａ：モニタモジュール
２ｂ：テスト制御モジュール
２ｂ１：ＣＰＵテストモジュール
２ｂ２：メモリテストモジュール
２ｂ３：Ｉ／Ｏテストモジュール
２ｂ４：ログ解析モジュール
２ｂ５：サーバ通信モジュール。

Claims (5)

1. 検査対象である複数のコンピュータ装置と生産管理サーバとを接続する検査管理ネットワークと、コンピュータ装置のＩ／Ｏポートを検査するための治具Ｉ／Ｏデバイスと、前記複数のコンピュータ装置と前記治具Ｉ／Ｏデバイスとを接続する検査デバイスネットワークとを備えた検査環境において、検査プログラムを用いて前記コンピュータ装置の検査を行う方法であって、
   前記検査デバイスネットワークに接続される前記治具Ｉ／Ｏデバイスの数が、該検査デバイスネットワークに接続し得る前記コンピュータ装置のＩ／Ｏポートのポート数よりも少ない検査環境における、前記Ｉ／Ｏポートの検査の実行優先度を定義し、
   前記複数のコンピュータ装置のＩ／Ｏポートと前記治具Ｉ／Ｏデバイスとを接続した状態で、前記優先度に基いて、前記治具Ｉ／Ｏデバイスを使用して、前記プログラムにより前記各コンピュータ装置のＩ／Ｏポートの検査を行うことを特徴とするコンピュータ装置の検査方法。
2. 請求項１に記載のコンピュータ装置の検査方法であって、検査対象となるコンピュータ装置の構成モジュール毎に前記優先度を定義し、検査対象コンピュータ管理テーブルにより、前記優先度、検査実行許可の有無、実行状態、使用中の治具Ｉ／Ｏデバイス、及び検査結果を記録管理することを特徴とするコンピュータ装置の検査方法。
3. 請求項１に記載のコンピュータ装置の検査方法であって、冶具Ｉ／Ｏデバイス管理テーブルにより、各治具Ｉ／Ｏデバイスを使用している検査対象のコンピュータ装置のＩ／Ｏポートの状況を記録管理することを特徴とするコンピュータ装置の検査方法。
4. 検査対象である複数のコンピュータ装置と生産管理サーバとを接続する検査管理ネットワークと、前記コンピュータ装置のＩ／Ｏポートを検査するための複数の治具Ｉ／Ｏデバイスと、前記複数のコンピュータ装置と前記治具Ｉ／Ｏデバイスとを接続する検査デバイスネットワークとを備えたコンピュータ装置の検査システムであって、
   検査環境として前記検査デバイスネットワークに前記複数のコンピュータ装置のＩ／Ｏポートの数に比較して少ない数の前記治具Ｉ／Ｏデバイスが接続された場合における、検査の実行優先度を前記検査対象コンピュータ装置の構成モジュール毎に定義する機能と、
   前記治具Ｉ／Ｏデバイスの使用状況を管理する機能と、
   前記実行優先度に基づき、前記治具Ｉ／Ｏデバイスにより前記コンピュータ装置のＩ／Ｏポートを検査する機能とを備えたことを特徴とするコンピュータ装置の検査システム。
5. 複数のコンピュータ装置と生産管理サーバとを接続する検査管理ネットワークと、前記コンピュータ装置が備えるＩ／Ｏポートを検査するための治具Ｉ／Ｏデバイスと、前記複数のコンピュータ装置と前記治具Ｉ／Ｏデバイスとを接続する検査デバイスネットワークとを備えた検査環境において、検査プログラムを用いて前記コンピュータ装置の検査を行うための検査管理用のプログラムであって、
   前記生産管理サーバを、
   検査対象コンピュータ装置の構成モジュール毎に、前記治具Ｉ／Ｏデバイスが接続された前記検査デバイスネットワークに前記治具Ｉ／Ｏデバイスの数よりも多い数の前記コンピュータ装置のＩ／Ｏポートが接続された環境下における実行優先度を定義する手段と、
   前記生産管理サーバで前記治具Ｉ／Ｏデバイスの使用状況を管理する手段と、
   前記実行優先度に基づき前記治具Ｉ／Ｏデバイスを使用して前記検査プログラムにより前記コンピュータ装置のＩ／Ｏポートを検査する手段、
   として機能させるための検査管理用のプログラム。

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