JPH0496021A - アクティブマトリクス型表示装置 - Google Patents

アクティブマトリクス型表示装置

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JPH0496021A
JPH0496021A JP2211570A JP21157090A JPH0496021A JP H0496021 A JPH0496021 A JP H0496021A JP 2211570 A JP2211570 A JP 2211570A JP 21157090 A JP21157090 A JP 21157090A JP H0496021 A JPH0496021 A JP H0496021A
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JP
Japan
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thin film
pixel
dot
lines
switching elements
Prior art date
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Pending
Application number
JP2211570A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiro Takahara
高原 和博
Michiya Oura
大浦 道也
Tetsuya Hamada
哲也 浜田
Tadahisa Yamaguchi
山口 忠久
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要] 冗長構成を備えたアクティブマトリクス型表示装置に関
し、 欠陥検出や修正を行うことなく、表示欠陥が生じないよ
うにすることを目的とし、 直交配置したハスラインの交点に、スイッチング素子を
介して表示電極を接続して構成した画素をマトリクス状
に配列したアクティブマトリクス型表示装置に於いて、
前記画素を複数のドツトにより構成し、各ドツト電極に
それぞれ複数のスイッチング素子を接続して構成した。
〔産業上の利用分野] 本発明は、冗長構成を備えたアクティブマトリクス型表
示装置に関するものである。
アクティブマトリクス型表示装置は、単純マトリクス型
表示装置に比較して表示品質が優れているが、大面積で
表示容量が大きい表示パネルを製作する場合、スイッチ
ング素子の欠陥による歩留り低下が問題となっている。
又欠陥により表示情報の一部が失われることから、無欠
陥化が要望されている。
(従来の技術] 一方のガラス基板上にデータバスラインとスキャンハス
ラインとを直交して配置し、それらの交点に薄膜トラン
ジスタを介して画素電極を接続し、他方のガラス基板上
に共通電極を形成して、一方と他方とのガラス基板間に
液晶を封入したアクティブマトリクス型液晶表示装置は
周知であり、1個の画素電極に1個の薄膜トランジスタ
が接続されることになる。
このようなアクティブマトリクス型表示装置に於ける薄
膜トランジスタの障害による表示欠陥を救済する為に、
従来は、1画素に複数の薄膜トランジスタを設けて、欠
陥薄膜トランジスタを検出し、欠陥薄膜トランジスタを
データバスラインとスキャンバスラインとから切離して
修正する冗長構成が提案されている。
このような欠陥薄膜トランジスタの検出、修正処理は、
多大な時間と労力と高価な設備とを必要とするので、コ
ストダウンが困難であった。そこで、欠陥検出及び修正
処理を不要とする冗長構成が提案されている。この冗長
構成は、例えば、第7図に示すように、1画素33を4
分割してドツト電極34−1〜34−4にそれぞれ1個
の薄膜トランジスタ35−1〜35−4を設け、この薄
膜トランジスタ35−1〜35−4のドレインをデータ
バスライン31に接続し、ゲートをスキャンバスライン
32に接続し、ソースをそれぞれドツト電極34−1〜
34−4に接続した構成が知られている。
このような構成により、例えば、斜線を施したドツト電
極34−4に接続された薄膜トランジスタ3’ 5−4
が欠陥の場合でも、残りの3個のドツト電極34−1〜
34−3により表示動作が行われることになる。
1画素を1ドツト構成とした場合と、第7図に示すよう
に、4ドツト構成とした場合とに於いて、欠陥による表
示内容は、例えば、第8図の(a)、 Cb)に示すよ
うになる。即ち、「A」を表示した時、1画素を1ド・
ノド構成とした場合の斜線を施した画素が欠陥となると
、明らかに表示欠陥となるが、1画素を4ドツト構成と
した場合の斜線を施したドツト電極34−4が欠陥とな
っても、1画素の3/4により表示することができるか
ら、この場合の欠陥は目立たないものとなる。
〔発明が解決しようとする課題〕
1画素を4ドツト構成とすることにより、1画素1ドツ
ト構成の場合に比較して、欠陥の検出修正処理が不要と
なる利点があるが、しかし、欠陥が白欠陥(偏光板の配
置によりノーマリホワイトモードで、薄膜トランジスタ
がオープン不良)の場合、黒欠陥(薄膜トランジスタが
ショート不良)の場合よりもその欠陥が目立つものであ
る。
即ち、第7図に示すように、1画素を4ドツト構成とし
た場合でも、薄膜トランジスタ35−1〜35−4の何
れか一つがオープン不良(不動作状態)となると、その
ドツト電極34−4は白表示となるから、黒表示状態と
した場合の画素の一部が光ることになり、欠陥が目立つ
ことになる。即ち、表示欠陥が生じることになる。
本発明は、欠陥検出や修正を行うことなく、表示欠陥が
生じないようにすることを目的とするものである。
(課題を解決するための手段〕 本発明のアクティブマトリクス型表示装置は、1画素を
複数ドント構成、複数スイッチング素子構成としたもの
であり、第1図を参照して説明する。
直交配置したデータバスラインやスキャンハスライン等
のハスライン1,2の交点に、薄膜トランジスタ等のス
イッチング素子を介して表示電極を接続して構成した画
素3をマトリクス状に配列したアクティブマトリクス型
表示装置に於いて、画素3を複数のドツトにより構成し
、各ドツト電極4にそれぞれ複数のスイッチング素子5
を接続したものであり、第1図に於いては、1画素を4
ドツト構成とし、各ドツト電極4に2個のスイッチング
素子5を接続した場合を示す。
又工画素を複数ドツト構成とすると共に、データバスラ
イン又はスキャンバスラインの何れか一方又は両方を、
各列又は各行対応に複数本構成とし、1画素3を構成す
るドツト電極4対応のスイッチング素子5を、複数本の
バスラインの何れかに接続するものである。
又各列又は各行対応の複数本のバスライン間を、複数個
所で相互に接続した構成とするものである。
〔作用〕
1画素3を複数ドツト構成、例えば、4ドツト構成とし
、各ドツト電極4に複数のスイッチング素子5を接続し
たことにより、ドツト電極4対応の複数のスイッチング
素子5が総てオープン不良となる確率は非常に小さいの
で、白欠陥となることがなくなり、従って、表示品質の
低下を防止することかできる。
又データバスライン又はスキャンバスライン等のバスラ
インを各列又は各行対応に複数本の構成とすることによ
り、バスライン1,2の断線等によるオープン不良と同
様な状態が生じても、1画素を構成する複数ドツトには
白欠陥が生じないことになる。従って、表示品質の低下
を防止することができる。
又各列又は各行対応の複数本のハスライン間を相互に接
続することにより、完全並列型のハスラインが構成され
ることになり、断線による白欠陥が生じないことになる
〔実施例] 以下図面を参照して本発明の実施例について詳細に説明
する。
第1図は本発明の第1の実施例の説明図であり、1画素
3を4ドツト構成とした場合を示し、データバスライン
1とスキャンバスライン2との交点に、ドツト電極4対
応に2個の薄膜トランジスタ(スイッチング素子)5を
接続したもので、各ドツト電極4対応に更に多くの薄膜
トランジスタ5を設けることも可能である。又1画素3
を更に多数のドツトに分割することも可能である。
ドツト電極4対応の2個の薄膜トランジスタ5の中の1
個がオープン不良となっても、他の1個が正常に動作す
る場合は、そのドツト電極4に正常なデータ電圧を印加
することができるから、白欠陥どなることを防止できる
。即ち、欠陥の検出や修正処理を行う必要がないと共に
、薄膜トランジスタ5の欠陥による白欠陥を確実に救済
することができる。なお、ショート不良の場合は、前述
のように黒欠陥となるが、白表示画素の輝度が多少低下
するだけで、目立つような表示欠陥とはならない。
第2図は本発明の第2の実施例の説明図であり、1画素
13を前述の実施例と同様に4ドツト構成とし、ドツト
電極14−1〜14−4を縦方向に配列し、又スキャン
バスライン12を各行対応に2本のバスライン12−1
.12−2とした場合を示す。
二の実施例に於いて、データバスライン11にドレイン
が接続された薄膜トランジスタ15−1〜15−4のソ
ースを、各ドツト電極14−1〜14−4に接続し、薄
膜トランジスタ15−115−2のゲートをスキャンバ
スライン12−1ニ接続し、薄膜トランジスタ15−3
 15−4のゲートをスキャンハスラインに接続したも
ので、スキャンハスライン12−1.12−2の一端及
び他端は共通に接続している。
スキャンハスライン12が2本並列に形成されているこ
とになるから、例えば、スキャンバスライン12−2の
×印のA点に於いて断線が生した場合、A点より右側は
オープン不良と同様に白欠陥となるが、スキャンハスラ
イン12−1の他端からA点の右側にスキャン電圧が供
給されるから、白の線欠陥を防止することができる。
又1画素13を4ドツト以外の複数ドツト構成とするこ
とも可能であり、又各ドツト電極141〜14−4対応
に第1の実施例と同様に複数の薄膜トランジスタを設け
ることもできる。又スキャンバスライン12を更に多数
本の構成とすることも可能である。又前述の実施例では
、画素13が縦長となるから、カラー表示に適用する場
合に、3個の画素13によりカラーR,G、Bからなる
1画素を構成することが容易となる。
第3図は本発明の第3の実施例の説明図であり、第2図
と同一符号は同一部分を示す。この実施例は、各行対応
のスキャンバスライン12を2本構成とし、複数個所で
スキャンバスライン12−1゜12−2間を接続線16
により接続したものである。即ち、薄膜トランジスタ1
5−1〜15−4のゲートをスキャンバスライン12−
1..12−2に接続すると共に、スキャンバスライン
12−1 12−2間を接続したものである。
第4図はその等価回路を示し、X印の複数個所の断線が
生しても、スキャン電圧を各薄膜トランジスタ15−1
〜15−4に供給することが可能となり、白の線欠陥が
生じないことになる。
第5図は本発明の第3の実施例のパターン説明図であり
、第3図と同一符号は同一部分を示し、Dはドレイン、
Gはゲート、Sはソースで、アモルファスシリコン層や
データバスライン11とスキャンバスライン12−1.
12−2との交点の絶縁層等の図示を省略している。
各行対応の2本のスキャンバスライン12−1゜12−
2は、薄膜トランジスタ15−1〜15−4のゲートG
を延長した接続線16により、相互間が接続されること
になり、従って、接続線16はゲートGを形成する時に
同時に形成することができるから、2本のスキャンバス
ライン12−1゜12−2間を相互に接続する為に製造
工程が特に複雑化することはなく、前述のように、白の
線欠陥を確実に防止することができる。
第6図は本発明の第4の実施例の説明図であり、データ
バスライン21を各列対応に2本のデータバスライン2
1−1.21−2とした場合を示し、前述の各実施例と
同様に1画素23を4ドツト構成とし、各ドツト電極2
4−1〜24−4に薄膜トランジスタ25−1〜25−
4のソースを接続し、ゲートをスキャンハスライン22
に接続し、薄膜トランジスタ25−1.25−2のドレ
インをデータバスライン21−1に接続し、薄膜トラン
ジスタ25−3 25−4のドレインをデータバスライ
ン21−2に接続し、データバスライン21−1.21
−2の一端と他端とを接続したものである。
従って、データバスライン21−1.21−2の断線に
よっても、各ドツト電極24−1〜244にデータ電圧
が供給されるから、白欠陥が生しることが無くなる。又
データバスライン211.21−2間を点線で示すよう
に、相互に接続することも可能であり、その場合には、
複数個所の断線によっても、白欠陥が生しないことにな
る。
又前述の各実施例と同様に、画素23を更に多数のドン
トにより構成することも可能であり、又ドツト電極24
−1〜24−4対応に複数の薄膜トランジスタを設ける
こともできる。又この実施例と第2又は第3の実施例と
組合せることも可能である。即ち、各列対応に2本のデ
ータバスライン21−1.21−2と、各行対応に2本
のスキャンバスライン11−1.12−2とを設けるこ
とも可能である。
(発明の効果〕 以上説明したように、本発明は、1画素3を複数ドント
構成とし、各ドツト電極4対応に複数の薄膜トランジス
タ等のスイッチング素子5を設けたものであるから、ス
イッチング素子5の欠陥の検出処理や修復処理を行うこ
となく、スイッチング素子5のオープン不良による白欠
陥を確実に防止し、表示品質を改善することができる。
又データバスラインやスキャンバスライン等のハスライ
ン1.2を各列又は各行対応に複数本の構成とし、且つ
1画素3を複数ドツト構成とし、複数本のバスラインの
何れかとドツト電極との間にスイッチング素子を接続し
たことにより、ハスラインの断線による白の線欠陥を防
止することができる利点がある。
又各列又は各行対応に複数本としたハスライン間を相互
に複数個所に於いて接続することにより、複数個所の断
線に対しても、白の線欠陥を確実に防止することができ
る利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第3図は本発明の第1乃至第3の実施例の説
明図、第4図は第3図のスキャンバスラインの等価回路
、第5図は本発明の第3の実施例のパターン説明図、第
6図は本発明の第4の実施例の説明図、第7図は従来例
の画素分割構成の説明図、第8図は欠陥による表示の説
明図である。 1.2はバスライン、3は画素、4はドツト電極、5は
スイッチング素子である。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、直交配置したバスライン(1、2)の交点に、
    スイッチング素子を介して表示電極を接続して構成した
    画素(3)をマトリクス状に配列したアクティブマトリ
    クス型表示装置に於いて、前記画素(3)を複数のドッ
    トにより構成し、各ドット電極(4)にそれぞれ複数の
    スイッチング素子(5)を接続したことを特徴とするア
    クティブマトリクス型表示装置。
  2. (2)、直交配置したバスライン(1、2)の交点に、
    スイッチング素子を介して表示電極を接続して構成した
    画素(3)をマトリクス状に配列したアクティブマトリ
    クス型表示装置に於いて、前記画素(3)を複数のドッ
    トにより構成し、前記バスライン(1、2)を各列又は
    各行対応に複数本とし、該複数本のバスラインにそれぞ
    れスイッチング素子(5)を介してドット電極(4)を
    接続したことを特徴とするアクティブマトリクス型表示
    装置。
  3. (3)、前記各列又は各行対応の複数本のバスライン間
    を、複数個所で相互に接続したことを特徴とする請求項
    2記載のアクティブマトリクス型表示装置。
JP2211570A 1990-08-13 1990-08-13 アクティブマトリクス型表示装置 Pending JPH0496021A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2006064789A1 (ja) * 2004-12-14 2008-06-12 シャープ株式会社 液晶表示装置および液晶表示装置の欠陥修正方法
WO2010137230A1 (ja) * 2009-05-25 2010-12-02 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板、液晶パネル、液晶表示装置、テレビジョン受像機
JP2011232568A (ja) * 2010-04-28 2011-11-17 Seiko Epson Corp 電気光学装置及び電子機器

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2006064789A1 (ja) * 2004-12-14 2008-06-12 シャープ株式会社 液晶表示装置および液晶表示装置の欠陥修正方法
US7903190B2 (en) 2004-12-14 2011-03-08 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display and a defect correcting method for the same
JP2011191791A (ja) * 2004-12-14 2011-09-29 Sharp Corp 液晶表示装置の欠陥修正方法
JP4841438B2 (ja) * 2004-12-14 2011-12-21 シャープ株式会社 液晶表示装置および液晶表示装置の欠陥修正方法
WO2010137230A1 (ja) * 2009-05-25 2010-12-02 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板、液晶パネル、液晶表示装置、テレビジョン受像機
US8665202B2 (en) 2009-05-25 2014-03-04 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate, liquid crystal panel, liquid crystal display device, and television receiver
JP2011232568A (ja) * 2010-04-28 2011-11-17 Seiko Epson Corp 電気光学装置及び電子機器

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