JPH0493768A - 流速センサ - Google Patents
流速センサInfo
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- JPH0493768A JPH0493768A JP2209226A JP20922690A JPH0493768A JP H0493768 A JPH0493768 A JP H0493768A JP 2209226 A JP2209226 A JP 2209226A JP 20922690 A JP20922690 A JP 20922690A JP H0493768 A JPH0493768 A JP H0493768A
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Landscapes
- Measuring Volume Flow (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、気体の流速を測定する流速センサに係わり、
特にダイアフラム構造の流速センサに関するものである
。
特にダイアフラム構造の流速センサに関するものである
。
[従来の技術]
一般に気体の流速測定には、各種の構造の流速センサが
提案されており、その1つとして例えば特開昭60−1
42268号公報には、半導体製造技術を用いて製作さ
れた熱式流速センサが提案されている。この熱式流速セ
ンサは、第6図に要部拡大平面図で示すように半導体基
板1にこの半導体基板1と熱的に絶縁する空隙部2を介
して薄a状のブリッジ部3が形成されており、このブリ
ッジ部3上の表面中央部にはヒータエレメント4および
このヒータエレメント4の両側に熱感知用の測温抵抗エ
レメント5,6が形成されて構成されている。なお、7
は空隙部2に連通された開口である。
提案されており、その1つとして例えば特開昭60−1
42268号公報には、半導体製造技術を用いて製作さ
れた熱式流速センサが提案されている。この熱式流速セ
ンサは、第6図に要部拡大平面図で示すように半導体基
板1にこの半導体基板1と熱的に絶縁する空隙部2を介
して薄a状のブリッジ部3が形成されており、このブリ
ッジ部3上の表面中央部にはヒータエレメント4および
このヒータエレメント4の両側に熱感知用の測温抵抗エ
レメント5,6が形成されて構成されている。なお、7
は空隙部2に連通された開口である。
このように構成される流速センサは、ヒータエレメント
4に電流を流して加熱し、気体の流れの中に置いたとき
に矢印方向8から気体が移動すると、上流側の測温抵抗
エレメント5は気体の流れよって冷却されて降温し、一
方、下流側の測温抵抗エレメント6は温度が上昇する。
4に電流を流して加熱し、気体の流れの中に置いたとき
に矢印方向8から気体が移動すると、上流側の測温抵抗
エレメント5は気体の流れよって冷却されて降温し、一
方、下流側の測温抵抗エレメント6は温度が上昇する。
この結果、上流側の測温抵抗エレメント5と下流側の測
温抵抗エレメント6との間に温度差が生じ、抵抗値が変
化する。このため、上流側の測温抵抗エレメント5と下
流側の測温抵抗エレメント6とをホイートストンブリッ
ジ回路に組み込み、その抵抗値の変化を電圧に変換する
ことにより、気体の流速に応じた電圧出力が得られ、そ
の結果、気体の流速を検出することができる。
温抵抗エレメント6との間に温度差が生じ、抵抗値が変
化する。このため、上流側の測温抵抗エレメント5と下
流側の測温抵抗エレメント6とをホイートストンブリッ
ジ回路に組み込み、その抵抗値の変化を電圧に変換する
ことにより、気体の流速に応じた電圧出力が得られ、そ
の結果、気体の流速を検出することができる。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、従来の流速センサにおいて、ブリッジ部
3上の表面にヒータエレメント4の両側に配置されたと
測温抵抗エレメント5.6は、その抵抗体パターンの全
体形状がヒータエレメント4とほぼ同等の矩形状を有し
て形成されているので、矢印方向8からの例えば秒速2
cm程度の低流速の気体の流れに対して発生したヒータ
エレメント4を中心とする円弧状の温度分布の変化を効
果的に検出できないという問題があった。また、ヒータ
エレメント4の近傍に配置された測温抵抗エレメント5
,6は、ヒータエレメント4からの熱が大きく伝導され
、測温抵抗エレメント5.6の初期温度が不必要に高く
なり、ダストの付着による検出誤差の影響や上流側測温
抵抗エレメント5と下流側測温抵抗エレメント6との間
の温度係数(TCR)ミスマツチドリフトなどの影響を
受は易いという問題があった。
3上の表面にヒータエレメント4の両側に配置されたと
測温抵抗エレメント5.6は、その抵抗体パターンの全
体形状がヒータエレメント4とほぼ同等の矩形状を有し
て形成されているので、矢印方向8からの例えば秒速2
cm程度の低流速の気体の流れに対して発生したヒータ
エレメント4を中心とする円弧状の温度分布の変化を効
果的に検出できないという問題があった。また、ヒータ
エレメント4の近傍に配置された測温抵抗エレメント5
,6は、ヒータエレメント4からの熱が大きく伝導され
、測温抵抗エレメント5.6の初期温度が不必要に高く
なり、ダストの付着による検出誤差の影響や上流側測温
抵抗エレメント5と下流側測温抵抗エレメント6との間
の温度係数(TCR)ミスマツチドリフトなどの影響を
受は易いという問題があった。
[課題を解決するための手段]
このような課題を解決するために本発明による第1の流
速センサは、発熱体の風上側測温抵抗体の抵抗体パター
ン長を風上側から風下側に向がって発熱体によって生じ
る温度分布と同じように順次長くして配列形成し、風下
側測温抵抗体の抵抗体パターン長を風上側から風下側に
向かって同様に発熱体によって生じる温度分布と同じよ
うに順次短くして配列形成したものである。
速センサは、発熱体の風上側測温抵抗体の抵抗体パター
ン長を風上側から風下側に向がって発熱体によって生じ
る温度分布と同じように順次長くして配列形成し、風下
側測温抵抗体の抵抗体パターン長を風上側から風下側に
向かって同様に発熱体によって生じる温度分布と同じよ
うに順次短くして配列形成したものである。
本発明による第2の流速センサは、第1の流速センサに
おいて、発熱体の両側に形成された測温抵抗体の発熱体
側に近接する抵抗体パターンの形状を湾曲状に配列した
ものである。
おいて、発熱体の両側に形成された測温抵抗体の発熱体
側に近接する抵抗体パターンの形状を湾曲状に配列した
ものである。
本発明による第3の流速センサは、第1の流速センサに
おいて、発熱体の両側に形成された測温抵抗体はその発
熱体に近接する側の抵抗体パターンを対象気体の高流速
または高流量域における感度低下が許容できる範囲で発
熱体から離間させたものである。
おいて、発熱体の両側に形成された測温抵抗体はその発
熱体に近接する側の抵抗体パターンを対象気体の高流速
または高流量域における感度低下が許容できる範囲で発
熱体から離間させたものである。
本発明による第4の流速センサは、第1の流速センサに
おいて、発熱体の両側に形成されな測温抵抗体の外側に
測温抵抗体として動作しない抵抗体パターンを設けたも
のである。
おいて、発熱体の両側に形成されな測温抵抗体の外側に
測温抵抗体として動作しない抵抗体パターンを設けたも
のである。
[作用]
本発明による第1の流速センサにおいては、」−流側測
温抵抗体および下流側測温抵抗体は、発熱体によって生
じた温度分布か気体の流れによって大きく変化する部分
のみに集中して配置される。
温抵抗体および下流側測温抵抗体は、発熱体によって生
じた温度分布か気体の流れによって大きく変化する部分
のみに集中して配置される。
本発明による第2および第3の流速センサにおいては、
上流側測温抵抗体および下流側測温抵抗体か発熱体の発
熱による熱伝導を必要以上に受けなくなり、初期温度を
低下させる。
上流側測温抵抗体および下流側測温抵抗体か発熱体の発
熱による熱伝導を必要以上に受けなくなり、初期温度を
低下させる。
本発明による第4の流速センサにおいては、上流側測温
抵抗体と下流側測温抵抗体との気体の流れによって生じ
る温度変化が大きくなる。
抵抗体と下流側測温抵抗体との気体の流れによって生じ
る温度変化が大きくなる。
[実施例]
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第1図は本発明による流速センサの一実施例による構成
を示す平面図であり、前述の図と同一または相当部分に
は同一符号を付しその説明は省略する。同図において、
半導体基板1の表面中央部分には、この半導体基板1に
対して空隙部2を介して熱的に絶縁された薄膜状のダイ
アフラム部3aが形成されており、このダイアフラム部
3aの中央部分には、ヒータエレメント4が形成され、
さらにこのヒータエレメント4の両側にはそれぞれ独立
した測温抵抗エレメント5.6が形成されている。また
、この半導体基板1上の表面には、この半導体基板1の
エツチングのための多数のスリット11が開設され、ヒ
ータエレメント4および測温抵抗エレメント5,6の周
辺部を、その半導体基板1の表面に開設された多数の細
かいスリット11を介して例えば異方性エツチングを行
うことにより、内側に逆台形状の空気スペースを有する
空隙部2が形成されている。これによってこの空隙部2
の上部には、半導体基板1からダイアフラム状に空間的
に隔離され、この半導体基板】からヒータエレメント4
および両側の測温抵抗エレメント5.6が熱的に絶縁さ
れて支持されたダイアフラム部3aが形成される構造と
なっている。なお、11□、112.113.11.4
はダイアフラム部3aにおいて、風上側から風下側に向
かって各測温抵抗エレメント5.ヒータエレメント4.
測温抵抗エレメント6の配列前後に空隙部2と連通して
連続的に開設されたスリット部である。また、第2図に
要部拡大平面図で示すようにこのダイアフラム部3aに
設けられた上流側の測温抵抗エレメント5は、気体の流
れる矢印方向8と交差する長手方向の抵抗体パターン長
が風上側から風下方向に向かって順次長くなるように形
成され、さらに上記同様に下流側の測温抵抗エレメント
6は、その長手方向の抵抗体パターン長が風上側から風
下方向に向かって順次短くなるように形成されている。
を示す平面図であり、前述の図と同一または相当部分に
は同一符号を付しその説明は省略する。同図において、
半導体基板1の表面中央部分には、この半導体基板1に
対して空隙部2を介して熱的に絶縁された薄膜状のダイ
アフラム部3aが形成されており、このダイアフラム部
3aの中央部分には、ヒータエレメント4が形成され、
さらにこのヒータエレメント4の両側にはそれぞれ独立
した測温抵抗エレメント5.6が形成されている。また
、この半導体基板1上の表面には、この半導体基板1の
エツチングのための多数のスリット11が開設され、ヒ
ータエレメント4および測温抵抗エレメント5,6の周
辺部を、その半導体基板1の表面に開設された多数の細
かいスリット11を介して例えば異方性エツチングを行
うことにより、内側に逆台形状の空気スペースを有する
空隙部2が形成されている。これによってこの空隙部2
の上部には、半導体基板1からダイアフラム状に空間的
に隔離され、この半導体基板】からヒータエレメント4
および両側の測温抵抗エレメント5.6が熱的に絶縁さ
れて支持されたダイアフラム部3aが形成される構造と
なっている。なお、11□、112.113.11.4
はダイアフラム部3aにおいて、風上側から風下側に向
かって各測温抵抗エレメント5.ヒータエレメント4.
測温抵抗エレメント6の配列前後に空隙部2と連通して
連続的に開設されたスリット部である。また、第2図に
要部拡大平面図で示すようにこのダイアフラム部3aに
設けられた上流側の測温抵抗エレメント5は、気体の流
れる矢印方向8と交差する長手方向の抵抗体パターン長
が風上側から風下方向に向かって順次長くなるように形
成され、さらに上記同様に下流側の測温抵抗エレメント
6は、その長手方向の抵抗体パターン長が風上側から風
下方向に向かって順次短くなるように形成されている。
つまり上流側の測温抵抗エレメント5および下流側の測
温抵抗エレメント6の外形形状がヒータエレメント4を
中心として半円ないしは台形状を有して形成されている
。さらにこれらの測温抵抗エレメント5および測温抵抗
エレメント6は、その抵抗体パターンのヒータエレメン
ト4と近接する側の中央部には抵抗体パターンが形成さ
れておらず、さらに抵抗体パターンがヒータエレメント
4から一定の距5uuaされて形成されている。つまり
上流側の測温抵抗エレメント5は風上側に寄せて形成配
置され、下流側の測温抵抗エレメント6は風下側に寄せ
て形成配置されてヒータエレメント4の両側が比較的広
い湾曲状の平面領域12が形成されている。この場合、
測温抵抗ニレメン1〜5.6は、例えば半導体基板1の
寸法を1400μm角、ダイアフラム部3aの四方角を
500μmとしたとき、ヒータエレメント4のエツジか
らの長さで80〜300μmの範囲内に形成されること
が好ましい。
温抵抗エレメント6の外形形状がヒータエレメント4を
中心として半円ないしは台形状を有して形成されている
。さらにこれらの測温抵抗エレメント5および測温抵抗
エレメント6は、その抵抗体パターンのヒータエレメン
ト4と近接する側の中央部には抵抗体パターンが形成さ
れておらず、さらに抵抗体パターンがヒータエレメント
4から一定の距5uuaされて形成されている。つまり
上流側の測温抵抗エレメント5は風上側に寄せて形成配
置され、下流側の測温抵抗エレメント6は風下側に寄せ
て形成配置されてヒータエレメント4の両側が比較的広
い湾曲状の平面領域12が形成されている。この場合、
測温抵抗ニレメン1〜5.6は、例えば半導体基板1の
寸法を1400μm角、ダイアフラム部3aの四方角を
500μmとしたとき、ヒータエレメント4のエツジか
らの長さで80〜300μmの範囲内に形成されること
が好ましい。
このような構成によると、測温抵抗エレメント5.6は
、その外形形状が半円ないしは台形状有して形成したこ
とによって矢印方向8からの気体の流れによる温度変化
の大きい部分のみに有効的に配置され、無駄な部分がな
くなることになり、検出感度を大幅に向上させることが
できる。また、測温抵抗エレメント5.6の外形形状に
加えてヒータエレメント4の周辺部に比較的広い湾曲状
の平面領域12を設けたことにより、ヒータエレメント
4の発熱が測温抵抗エレメント5,6に必要以上に伝導
されなくなり、初期温度をさらに低Fさせるので、低流
速域における検出感度をより一層向上させることかでき
るとともにダストの付着による検出誤差の影響や上流側
測温抵抗エレメント5と下流側測温抵抗エレメント6と
の間の温度係数(TCR)ミスマツチドリフトなどの影
響を受けにくくなる。さらにヒータエレメント4と測温
抵抗エレメント5,6との間にその抵抗体パターンの長
さ方向に沿ってスリット部11□。
、その外形形状が半円ないしは台形状有して形成したこ
とによって矢印方向8からの気体の流れによる温度変化
の大きい部分のみに有効的に配置され、無駄な部分がな
くなることになり、検出感度を大幅に向上させることが
できる。また、測温抵抗エレメント5.6の外形形状に
加えてヒータエレメント4の周辺部に比較的広い湾曲状
の平面領域12を設けたことにより、ヒータエレメント
4の発熱が測温抵抗エレメント5,6に必要以上に伝導
されなくなり、初期温度をさらに低Fさせるので、低流
速域における検出感度をより一層向上させることかでき
るとともにダストの付着による検出誤差の影響や上流側
測温抵抗エレメント5と下流側測温抵抗エレメント6と
の間の温度係数(TCR)ミスマツチドリフトなどの影
響を受けにくくなる。さらにヒータエレメント4と測温
抵抗エレメント5,6との間にその抵抗体パターンの長
さ方向に沿ってスリット部11□。
113を設けたことにより、上記効果をさらに向上させ
ることができる。
ることができる。
第3図は本発明による流速センサの他の実施例による構
成を示す要部平面図であり、前述の図と同一または相当
部分には同一符号を付し、その説明は省略する。同図に
おいて、第2図と異なる点は、上流側測温抵抗エレメン
ト5および下流側測温抵抗エレメント6のヒータエレメ
ント4の長さ方向両端部には、複数の棒状パターンの集
合体からなる抵抗体パターン13が形成配置されている
。これらの抵抗体パターン13は、測温抵抗エレメント
5,6の形成と同一工程で例えばパーマロイまたは白金
などにより形成されている。
成を示す要部平面図であり、前述の図と同一または相当
部分には同一符号を付し、その説明は省略する。同図に
おいて、第2図と異なる点は、上流側測温抵抗エレメン
ト5および下流側測温抵抗エレメント6のヒータエレメ
ント4の長さ方向両端部には、複数の棒状パターンの集
合体からなる抵抗体パターン13が形成配置されている
。これらの抵抗体パターン13は、測温抵抗エレメント
5,6の形成と同一工程で例えばパーマロイまたは白金
などにより形成されている。
このような構成によると、測温抵抗エレメント5.6は
、ダイアフラム部3a上の気体の流れによって生じる温
度変化の大きい部分にのみに形成配置されて抵抗変化率
が大きくなり、さらにその周囲のある程度の温度変化の
ある部分に抵抗体パターン13を配置することで冷却フ
ィンとしての放熱機能が得られ、測温抵抗エレメント5
.6の温度変化がさらに良好となる。また、両側の測温
抵抗エレメント5,6の端部に抵抗体パターン13を配
設したことにより、測温抵抗エレメント5.6の初期温
度をさらに低下させることができるので、ダストの付着
による検出誤差の影響や上流側測温抵抗エレメント5と
下流側測温抵抗エレメント6との間の温度係数(TCR
)ミスマツチドリフトなどの影響をさらに受けにくくな
る。
、ダイアフラム部3a上の気体の流れによって生じる温
度変化の大きい部分にのみに形成配置されて抵抗変化率
が大きくなり、さらにその周囲のある程度の温度変化の
ある部分に抵抗体パターン13を配置することで冷却フ
ィンとしての放熱機能が得られ、測温抵抗エレメント5
.6の温度変化がさらに良好となる。また、両側の測温
抵抗エレメント5,6の端部に抵抗体パターン13を配
設したことにより、測温抵抗エレメント5.6の初期温
度をさらに低下させることができるので、ダストの付着
による検出誤差の影響や上流側測温抵抗エレメント5と
下流側測温抵抗エレメント6との間の温度係数(TCR
)ミスマツチドリフトなどの影響をさらに受けにくくな
る。
なお、それぞれの棒状の抵抗体パターン13の一端を測
温抵抗エレメント5,6に接続して形成しても良く、こ
の構成によると、抵抗体パターン13と測温抵抗エレメ
ント5,6との熱伝導が良くなるため、測温抵抗体5,
6の抵抗値にほとんど影響を与えずに上述した効果をさ
らに高めることができる。
温抵抗エレメント5,6に接続して形成しても良く、こ
の構成によると、抵抗体パターン13と測温抵抗エレメ
ント5,6との熱伝導が良くなるため、測温抵抗体5,
6の抵抗値にほとんど影響を与えずに上述した効果をさ
らに高めることができる。
第4図は本発明による流速センサのさらに他の実施例に
よる構成を示す要部平面図であり、前述の図と同一また
は相当部分には同一符号を付しその説明は省略する。同
図において、第3図と胃なる点は、上流側測温抵抗エレ
メント5の風上側および下流側測温抵抗エレメント6の
風下側には、上記抵抗体パターン13と同一構成の抵抗
体パターン14が形成配置されている。
よる構成を示す要部平面図であり、前述の図と同一また
は相当部分には同一符号を付しその説明は省略する。同
図において、第3図と胃なる点は、上流側測温抵抗エレ
メント5の風上側および下流側測温抵抗エレメント6の
風下側には、上記抵抗体パターン13と同一構成の抵抗
体パターン14が形成配置されている。
このような構成によると、第3図に示す流速センサと同
様の効果をさらに高めるとともにダイアフラム部3aの
機械的強度を補強することができる。なお、第5図に示
すように板状の抵抗体パターン15を形成しても上記同
様の作用効果が得られる なお、前述した実施例においては、半導体基板の一部に
空隙部を設けて形成した薄膜部構造を、ダイアフラムF
l、 Mとした場合について説明したが、本発明はこれ
に限定されるものではなく、マイクロブリッジ構造に適
用しても前述とほぼ同等の効果が得られることは言うま
でもない。
様の効果をさらに高めるとともにダイアフラム部3aの
機械的強度を補強することができる。なお、第5図に示
すように板状の抵抗体パターン15を形成しても上記同
様の作用効果が得られる なお、前述した実施例においては、半導体基板の一部に
空隙部を設けて形成した薄膜部構造を、ダイアフラムF
l、 Mとした場合について説明したが、本発明はこれ
に限定されるものではなく、マイクロブリッジ構造に適
用しても前述とほぼ同等の効果が得られることは言うま
でもない。
また、前述した実施例においては、基台として半導体基
板を用いた場合について説明したが、本発明はこれに限
定されるものではなく、例えばアルミニウム、ステンレ
スなどの金属基板を用い、ダイアフラム部をSi 02
.5j3N4などの絶縁膜で形成しても上述と同様な効
果が得られることは言うまでもない。
板を用いた場合について説明したが、本発明はこれに限
定されるものではなく、例えばアルミニウム、ステンレ
スなどの金属基板を用い、ダイアフラム部をSi 02
.5j3N4などの絶縁膜で形成しても上述と同様な効
果が得られることは言うまでもない。
また、前述した実施例においては、ダイアフラム部の形
成に異方性工・ソチングを用いた場合について説明した
が、例えば弗酸と硝酸との混合液による等方性エツチン
グなどによるエツチング方法を用いても同様に形成でき
ることは勿論である。
成に異方性工・ソチングを用いた場合について説明した
が、例えば弗酸と硝酸との混合液による等方性エツチン
グなどによるエツチング方法を用いても同様に形成でき
ることは勿論である。
また、ダイアフラム部の形成方法は、エツチングに限ら
れるものではなく、エンドミル レーザなどによる加工
でも形成可能であり、もしくは基板とダイアフラム部と
を別々に製作し、両者を張り合わせても同様に形成でき
ることは勿論であ[発明の効果1 以上、説明したように本発明による流速センサによれば
、風上側の測温抵抗体は抵抗体パターン長を風上側から
風下側に向かって順次長くして配列して形成され、風下
側の測温抵抗体は抵抗体パターン長を風上側から風下側
に向かって順次短くして配列して形成したことにより、
両者の測温抵抗体は気体の流れによって発生する温度変
化の大きい部分のみに集中して配置されるので、抵抗変
化率が大きくなり、検出感度を大幅に向上させることが
できる。また、発熱体の両側に形成された測温抵抗体は
、その発熱体側に近接する抵抗体パターン形状を湾曲状
に形成したことにより、発熱体の熱が必要以上に伝導さ
れなくなり、両側の測温抵抗体の初期温度を低下させ、
ダストによる影響およびTCRミスマツチドリフトなど
の影響を受は難くなるとともに検出感度をさらに向上さ
せることができる。さらに発熱体の両側に形成された測
温抵抗体を発熱体から離間させたことによリ、その効果
が顕著に得られる。また、両側の測温抵抗体の外側に測
温抵抗体として動作しない抵抗体パターンを設けたこと
により、各測温抵抗体間の温度変化がさらに効率良く得
られるとともに初期温度をさらに一層低下させることが
できるなどの極めて優れた効果が得られる。
れるものではなく、エンドミル レーザなどによる加工
でも形成可能であり、もしくは基板とダイアフラム部と
を別々に製作し、両者を張り合わせても同様に形成でき
ることは勿論であ[発明の効果1 以上、説明したように本発明による流速センサによれば
、風上側の測温抵抗体は抵抗体パターン長を風上側から
風下側に向かって順次長くして配列して形成され、風下
側の測温抵抗体は抵抗体パターン長を風上側から風下側
に向かって順次短くして配列して形成したことにより、
両者の測温抵抗体は気体の流れによって発生する温度変
化の大きい部分のみに集中して配置されるので、抵抗変
化率が大きくなり、検出感度を大幅に向上させることが
できる。また、発熱体の両側に形成された測温抵抗体は
、その発熱体側に近接する抵抗体パターン形状を湾曲状
に形成したことにより、発熱体の熱が必要以上に伝導さ
れなくなり、両側の測温抵抗体の初期温度を低下させ、
ダストによる影響およびTCRミスマツチドリフトなど
の影響を受は難くなるとともに検出感度をさらに向上さ
せることができる。さらに発熱体の両側に形成された測
温抵抗体を発熱体から離間させたことによリ、その効果
が顕著に得られる。また、両側の測温抵抗体の外側に測
温抵抗体として動作しない抵抗体パターンを設けたこと
により、各測温抵抗体間の温度変化がさらに効率良く得
られるとともに初期温度をさらに一層低下させることが
できるなどの極めて優れた効果が得られる。
第1図は本発明による流速センサの一実施例による構成
を示す平面図、第2図は第1図の要部拡大平面図、第3
図は本発明による流速センサの他の実施例による構成を
示す平面図、第4図は本発明による流速センサのさらに
他の実施例による構成を示す平面図、第5図は本発明に
よる流速センサの他の実施例による構成を示す平面図、
第6図は従来の流速センサの構成を示す要部平面図であ
る。 1・・・・半導体基板、2・・−一空隙部、3a・ ・
・ダイアフラム部、4・・・・ヒータエレメント、5・
・・・上流側測温抵抗エレメント、6 ・・・下流側測
温抵抗エレメント、8・・・・矢印方向、11・・・・
スリット、11□、11□、113,11. ・・・・
スリット部、12・・・・平面領域、13,14.15
抵抗体パターン。
を示す平面図、第2図は第1図の要部拡大平面図、第3
図は本発明による流速センサの他の実施例による構成を
示す平面図、第4図は本発明による流速センサのさらに
他の実施例による構成を示す平面図、第5図は本発明に
よる流速センサの他の実施例による構成を示す平面図、
第6図は従来の流速センサの構成を示す要部平面図であ
る。 1・・・・半導体基板、2・・−一空隙部、3a・ ・
・ダイアフラム部、4・・・・ヒータエレメント、5・
・・・上流側測温抵抗エレメント、6 ・・・下流側測
温抵抗エレメント、8・・・・矢印方向、11・・・・
スリット、11□、11□、113,11. ・・・・
スリット部、12・・・・平面領域、13,14.15
抵抗体パターン。
Claims (4)
- (1)基台と、前記基台の一部に空間を設けて薄肉状に
形成されたダイアフラム部と、前記ダイアフラム部に形
成された発熱体と、前記発熱体の両側に形成された測温
抵抗体とを備え、前記測温抵抗体の風上側は抵抗体パタ
ーン長を風上側から風下側に向かって順次長くして配列
して形成され、前記測温抵抗体の風下側は抵抗体パター
ン長を風上側から風下側に向かって順次短くして配列し
て形成されたことを特徴とする流速センサ。 - (2)請求項1において、前記発熱体の両側に形成され
た測温抵抗体は、その発熱体側に近接する抵抗体パター
ン形状が湾曲状に形成されたことを特徴とする流速セン
サ。 - (3)請求項1において、前記発熱体の両側に形成され
た測温抵抗体は、その発熱体に近接する側の抵抗体パタ
ーンが発熱体から離間されたことを特徴とする流速セン
サ。 - (4)請求項1において、前記発熱体の両側に形成され
た測温抵抗体の外側に測温抵抗体として動作しない抵抗
体パターンを設けたことを特徴とする流速センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2209226A JP2562076B2 (ja) | 1990-08-09 | 1990-08-09 | 流速センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2209226A JP2562076B2 (ja) | 1990-08-09 | 1990-08-09 | 流速センサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0493768A true JPH0493768A (ja) | 1992-03-26 |
JP2562076B2 JP2562076B2 (ja) | 1996-12-11 |
Family
ID=16569441
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2209226A Expired - Lifetime JP2562076B2 (ja) | 1990-08-09 | 1990-08-09 | 流速センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2562076B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5804720A (en) * | 1995-09-07 | 1998-09-08 | Ricoh Company, Ltd. | Flow sensor apparatus including a thin film sensor |
WO2020100433A1 (ja) * | 2018-11-15 | 2020-05-22 | 株式会社デンソー | 流量計測装置 |
CN114442703A (zh) * | 2020-11-04 | 2022-05-06 | 中国科学院理化技术研究所 | 闭式干燥系统的控制方法及控制系统 |
WO2024116230A1 (ja) * | 2022-11-28 | 2024-06-06 | 日立Astemo株式会社 | 流量センサ |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6188532A (ja) * | 1984-10-01 | 1986-05-06 | ハネウエル・インコーポレーテツド | 集積半導体デバイスとその製造方法 |
-
1990
- 1990-08-09 JP JP2209226A patent/JP2562076B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6188532A (ja) * | 1984-10-01 | 1986-05-06 | ハネウエル・インコーポレーテツド | 集積半導体デバイスとその製造方法 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5804720A (en) * | 1995-09-07 | 1998-09-08 | Ricoh Company, Ltd. | Flow sensor apparatus including a thin film sensor |
WO2020100433A1 (ja) * | 2018-11-15 | 2020-05-22 | 株式会社デンソー | 流量計測装置 |
JP2020085463A (ja) * | 2018-11-15 | 2020-06-04 | 株式会社デンソー | 流量計測装置 |
US11346696B2 (en) | 2018-11-15 | 2022-05-31 | Denso Corporation | Flow rate measuring device |
CN114442703A (zh) * | 2020-11-04 | 2022-05-06 | 中国科学院理化技术研究所 | 闭式干燥系统的控制方法及控制系统 |
WO2024116230A1 (ja) * | 2022-11-28 | 2024-06-06 | 日立Astemo株式会社 | 流量センサ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2562076B2 (ja) | 1996-12-11 |
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